厦大数电实验二TTL与非门电路参数测试

实验二TTL与非门的参数和特性测试实验目的：测试TTL与非门的参数和特性实验器材：1.TTL与非门电路板2.电源3.示波器4.逻辑分析仪5.连接线6.其他必要的辅助器件（如电阻、电容等）实验原理：TTL与非门（英文全称：Transistor-Transistor Logic NOT Gate）是一种常用的数字逻辑门电路，它是由晶体管和电阻等元器件构成的。

TTL与非门的主要功能是将输入信号取反，并输出到输出端。

在TTL与非门的电路中，输入信号为低电平时，输出信号为高电平；输入信号为高电平时，输出信号为低电平。

实验步骤：1.将TTL与非门电路板连接到电源上，并将示波器和逻辑分析仪连接到电路板上相应的引脚上。

2.开启电源，使电路板正常工作。

3.测量并记录输入端和输出端的电压。

输入端的电压为高电平时，记录输出端的电压，输入端的电压为低电平时，记录输出端的电压。

4.分析所测得的数据，并绘制输入电压和输出电压的关系曲线。

5.测试TTL与非门的最大工作频率。

通过改变输入信号的频率，逐渐增大频率直到输出信号出现错误，记录频率值。

6.测试TTL与非门的功耗特性。

测量输入电压为高电平时的功耗，以及输入电压为低电平时的功耗，并对测得的数据进行比较和分析。

实验结果：根据实验步骤和实验原理进行实验后，我们可以得到以下结果：1.输入端和输出端的电压关系。

根据测得的数据，绘制出输入电压和输出电压的关系曲线图。

2.最大工作频率。

记录输出信号出现错误的频率值，作为TTL与非门的最大工作频率。

3.功耗特性。

测量输入电压为高电平时的功耗和输入电压为低电平时的功耗，并对比分析。

实验分析：根据实验结果，我们可以对TTL与非门的参数和特性进行分析。

1.输入电压和输出电压关系。

通过绘制输入电压和输出电压的关系曲线图，可以分析出TTL与非门的转换特性和输入输出电平的范围。

2.最大工作频率。

通过得到的最大工作频率值，可以判断TTL与非门的响应速度和应用场合。

实验二 TTL 与非门电路参数测试一、实验目的·掌握TTL 与非门主要参数的测试方法。

·掌握TTL 与非门电压传输特性的测试方法。

·熟悉集成元器件管脚排列特点。

二、实验原理TTL 集成与非门是数字电路中广泛使用的一种基本逻辑门，使用时必须对它的逻辑功能、主要参数和特性曲线进行测试，以确定其性能好坏。

本实验采用TTL 集成元器件74LS00与非门进行测试。

它是一个2输人端4与非门，形状为双列直插式，逻辑表达式为F ＝A ·B ，其逻辑符号及外引线排列图如图1—1(a)(b)(c)(d)所示。

1．TTL与非门主要参数(1)输出高电平V OH和输出低电平V OLV OH是指与非门一个以上的输入端接低电平或接地时，输出电压的大小。

此时门电路处于截止状态。

如输出空载，V OH必须大于标准高电平(V SH＝2.4V)，一般在3.6V左右。

当输出端接有拉电流负载时，V OH将降低。

V OL是指与非门的所有输人端均接高电平时，输出电压的大小。

此时门电路处于导通状态。

如输出空载，V OL必须低于标准低电平(V SL＝0.4V)，约为0.1V左右。

接有灌电流负载时，V OL将上升。

(2)低电平输入电流I ILI IL是指当一个输入端接地，而其他输入端悬空时，输入端流向接地端的电流，又称为输入短路电流。

I IL的大小关系到前一级门电路能带动负载的个数。

(3)高电平输入电流I IHI IH是指当一个输入端接高电平，而其他输入端接地时，流过接高电平输入端的电流，又称为交叉漏电流。

它主要作为前级门输出为高电平时的拉电流。

当I IH太大时，就会因为“拉出”电流太大，而使前级门输出高电平降低。

(4)输入开门电平V ON和关门电平V OFFV ON是指与非门输出端接额定负载时，使输出处于低电平状态时所允许的最小输入电压。

换句话说，为了使与非门处于导通状态，输入电平必须大于V ON。

V OFF是指使与非门输出处于高电平状态所允许的最大输人电压。

ttl与非门的测试及功能转换实验报告一、实验目的本次实验的主要目的是深入了解 TTL 与非门的工作原理，掌握其测试方法，并探索如何实现其功能转换。

通过实际操作和测量，加深对数字逻辑电路的理解，提高电路分析和设计的能力。

二、实验原理（一）TTL 与非门的逻辑功能TTL 与非门是一种基本的数字逻辑门电路，其逻辑表达式为：＄Y ＝＼overline{AB}＄，即当输入 A 和 B 均为高电平时，输出 Y 为低电平；否则，输出 Y 为高电平。

（二）TTL 与非门的电气特性TTL 与非门具有一些重要的电气特性，如输入低电平电压＄V_{IL}＄、输入高电平电压＄V_{IH}＄、输出低电平电压＄V_{OL}＄、输出高电平电压＄V_{OH}＄、输入电流＄I_{IL}＄、输入电流＄I_{IH}＄、输出电流＄I_{OL}＄、输出电流＄I_{OH}＄等。

（三）功能转换通过对 TTL 与非门输入和输出的组合，可以实现其他逻辑功能，如与门、或门、非门等。

三、实验设备与器材1、数字电路实验箱2、双踪示波器3、数字万用表4、 TTL 与非门芯片 74LS00四、实验步骤（一）测试 TTL 与非门的逻辑功能1、将 74LS00 芯片插入实验箱的插座中，按照芯片引脚图连接电路。

2、分别将输入 A 和 B 接高电平（＋5V）或低电平（0V），使用数字万用表测量输出 Y 的电平，并记录结果。

3、改变输入 A 和 B 的电平组合，重复上述测量，验证 TTL 与非门的逻辑功能。

（二）测试 TTL 与非门的电气特性1、测量输入低电平电压＄V_{IL}＄：将输入 A 接地，逐渐增加输入电压，直到输出 Y 从高电平变为低电平，此时的输入电压即为＄V_{IL}＄。

2、测量输入高电平电压＄V_{IH}＄：将输入 A 接＋5V，逐渐降低输入电压，直到输出 Y 从低电平变为高电平，此时的输入电压即为＄V_{IH}＄。

3、测量输出低电平电压＄V_{OL}＄：将输入 A 和 B 均接高电平，使用数字万用表测量输出 Y 的电压，即为＄V_{OL}＄。

厦⼤数电实验⼆TTL与⾮门电路参数测试实验⼆ TTL 与⾮门电路参数测试⼀、实验⽬的1、掌握TTL 与⾮门参数的物理意义。

2、掌握TTL 与⾮门参数的测试⽅法。

3、了解TTL 与⾮门的逻辑功能。

⼆、实验原理7400是TTL 型中速⼆输⼊四与⾮门。

下图为其内部电路原理图和管脚排列图。

TTL 内部原理图管脚排列图1.与⾮门参数(1)输⼊短路电流I IS ：与⾮门某输⼊端接地时，该输⼊端流⼊地的电流.(2)输⼊⾼电平电流I IH ：与⾮门某输⼊端接Vcc ，其他输⼊端悬空或接Vcc 时，流⼊该输⼊端的电流. (3)开门电平V ON ：使输出端维持V OL 所需的最⼩输⼊⾼电平，通常以Vo=0.4V 时的Vi 定义。

(4)关门电平V OFF ：使输出端维持V OH 所允许的最⼤输⼊低电平，通常以Vo=0.9V OH 时的Vi 定义。

阈值电平V T ：V T =（V OFF +V ON ）/2（5）开门电阻R ON某输⼊端对地接⼊电阻，使输出端维持低电平所需的最⼩电阻值。

（6）关门电阻R OFF某输⼊端对地接⼊电阻，使输出端维持⾼电平所允许的最⼤电阻值。

TTL 与⾮门输⼊端的电阻负载特性曲线：(7)平均传输延迟时间tpd ：开通延迟时间t OFF ：输⼊正跳变上升到1.5V 相对输出负跳变下降到1.5V 的时间间隔;关闭延迟时间t ON ：输⼊负跳变下降到1.5V 相对输出正跳变上升到1.5V 的时间间隔;平均传输延迟时间：开通延迟时间与关闭延迟时间的算术平均值，t pd =（t OFF +t ON ）/2。

2.与⾮门电压传输特性： 3.TTL 与⾮门的逻辑特性：三、实验仪器⽰波器1台函数信号发⽣器1台数字万⽤表1台多功能电路实验箱1台四、实验内容1．测量输⼊短路电流：测试⽅法:将与⾮门的每个输⼊端依次经过电流表接地，电流表读数为IIS。

2.测量输⼊⾼电平电流：测量⽅法：将与⾮门的每个输⼊端依次经过电流表接5V电源，电流表读数为I IH。

实验二TTL逻辑电路测试一、实验目的1、认识集成门电路74LS00管脚排列。

2、熟悉门电路的逻辑功能及测试方法。

3、进一步熟悉常用仪器的使用方法。

二实验内容1 逻辑功能测试2 输出电压测试3 输入短路电流I IL4 扇出系数测试三实验元件主要74LS00（四二输入“与非门” ）外引线排列图：2.1 74LS00引脚排列图在系统电路设计时，往往要用到一些门电路，而门电路的一些特性参数的好坏，在很大程度上影响整机工作的可靠性。

门电路的参数通常分两种：静态参数和动态参数。

1．TTL逻辑门的主要参数有：(1) 扇入系数N i和扇出系数N O：能使电路正常工作的输入端数目和电路正常工作能带动的同型号门的数目。

(2) 输出高电平V OH：一般为V OH≥2.4V(3) 输出低电平V OL：一般为V OL≤0.4V(4) 电压传输特性曲线、开门电平V On和关门电平V off(5) 输入短路电流I IS：一个输入端接地，其它输入端悬空时，流过该接地输入端的电流为输入短路电流。

(6) 空载导通功耗P on：指输入全部为高电平、输出为低电平且不带负载时的功率损耗。

(7) 空载截止功耗P off；指输入有低电平、输出为高电平且不带负载时的功率损耗。

(8) 抗干扰噪声容限：电路能够保持正确的逻辑关系所允许的最大干扰电压值。

(9) 平均传输延迟时间：t pd = (t pdl + t pdh ) / 2(10) 输入漏电流I IH：指一个输入端接高电平，另一个输入端接地时，流过高电平输入端的电流。

. 2．“与非”门特性参数的测量方法（1）空载导通功耗PccL是指输入全为高电平、输出为低电平且不接负载时的功率损耗。

P CCL=V CC I CCL 式中: V CC——电源电压；I CCL——导通电源电流。

（2）空载截止功耗P CCH是指输出端空载，所有输入端全接地时的功率损耗。

P CCH= I CCH U CC。

给输入端全低平，测量电源电流值，2.2 输入低电平电流测试电路（3）输入低电平电流I ILI IL也称短路电流，是被测输入端接地，其它输入端悬空，从被测输入端流出的电流。

实验二TTL与非门电路参数测试实验目的：本实验旨在通过测试TTL与非门电路的参数，了解其工作原理和性能特点。

实验器材：数字逻辑实验箱、集成电路74LS04、电压源、示波器、数字多用表、电线等。

实验原理：TTL与非门是一种常用的数字逻辑门电路，常用于数字电路的设计和实现。

它具有逻辑非的功能，即实现对输入信号的取反。

TTL与非门电路的输入输出关系可以用逻辑表达式表示为：Y=A'，其中Y为输出信号，A为输入信号。

实验步骤：1.将74LS04集成电路插入数字逻辑实验箱中，注意要正确插入。

2.连接电源和接地线，并调整电源输出电压为5V。

3.连接输入信号线和输出信号线：a.将一个电线连接到IC上与A端子相对应的脚，将另外一端连接到任意电路板上指定的地线上。

b.将另一个电线连接到IC上与Y端子相对应的脚，将另外一端连接到示波器的输入端。

4.打开电源，示波器波形显示器显示的为输入信号脉冲波形。

通过调整输入信号线连接的电路板上的电源按键，可以控制输入信号的高低电平。

5.分别测量输入信号电压高低电平的值，记录在实验报告中。

6.同样地，分别测量输出信号电压高低电平的值，记录在实验报告中。

7.将输入信号反转，重新进行步骤4-6，并记录测量结果。

8.关闭电源，并将实验器材恢复到初始状态。

实验数据记录与分析：根据实验步骤记录数据，我们可以得出如下实验结果：测量参数输入高电平输入低电平输出高电平输出低电平电压值(V)5.000.004.900.10通过测量数据，我们可以得出以下结论：1.输入高电平的值为5V，输入低电平的值为0V，符合TTL电平标准。

2.输出高电平的值为4.90V，输出低电平的值为0.10V，符合TTL电平标准。

3.TTL与非门电路在输入信号取反的情况下，输出信号与输入信号完全相反，即输入高电平得到输出低电平，输入低电平得到输出高电平。

实验结论：通过对TTL与非门电路的测试，我们得到了其输入输出电平参数的测量结果，并验证了TTL与非门的工作原理。

实验 TTL与非门逻辑功能测试一、实验目的1.熟悉集成门电路的外观和引线排列2.掌握TTL与非门逻辑功能二、实验设备5VDC电源、面包板、数字万用表、导线若干、逻辑电平指示器一组、逻辑开关一组、4输入端双与非门（74LS20）、双输入端四与非门（74LS00）三、实验内容及要求1.测试74LS20与非门的逻辑功能（1）画出实验电路图，设计实验表格（包括输入端的各种逻辑状态、输出端的逻辑状态及电平）。

（2）搭试电路验证，用万用表测量输出电压。

2.用74LS00芯片组成与、或、或非门电路（均为2输入端）（1）写出逻辑表达式，画出实验电路图，标明各管脚；（2）搭试电路进行验证；（3）列状态表验证结果。

3.用74LS00芯片组成异或门电路（1）写出逻辑表达式，画出实验电路图；（2）搭试电路进行验证；（3）列状态表验证结果。

四、思考题1.逻辑值“1”是否是指电平为1V？2.在逻辑开关电路原理图中，没有1KΩ限流电阻行不行？为什么？3.在逻辑电平指示器电路原理图中，没有300Ω限流电阻行不行？为什么？五、附录1.逻辑开关及作用如图１所示，利用1kΩ电阻作为限流电阻，电键作为逻辑值输入（当电键按下，相对应的端子输出逻辑值“0”；当未按下电键，输出逻辑值为“1”）。

图1 逻辑开关电路原理图图2 逻辑电平指示器2.逻辑电平指示器及作用为了便于检验逻辑电路的输出逻辑值，我们采用发光二极管电路来检验逻辑电平的高低。

如图2所示，当某输入端为低电平时，对应的发光二极管不亮；当某输入端为高电平时，对应的发光二极管亮。

3.有关芯片外引线排列图如图3所示，分别为74LS20及74LS00芯片外引线排列图。

图3 芯片外引线排列图。

ttl与非门的应用实验报告一、实验目的和原理本实验旨在学习TTL与非门的应用，实现门电路的基本功能，测试器件的信号电平和电流等特性参数，并运用TTL与非门实现数字电路中的简单逻辑运算。

TTL与非门是一种基础的门电路，其原理是利用二极管的正反向导通特性实现信号的逻辑反转。

TTL与非门具有两个输入端口和一个输出端口，当A和B两个输入端口都为高电平（电压为3.4V ~ 5V）时，输出端口为低电平（电压为0V），否则输出端口为高电平。

二、实验器材和步骤本次实验需要用到以下器材：1. TTL与非门2. 面包板3. 电压表4. 开关5. 电池操作步骤：1. 将TTL与非门插入面包板中2. 将开关插入面包板，分别与TTL与非门的两个输入端口连接3. 将电池的正极通过电阻与TTL与非门的Vcc端口相连，将负极接地4. 用电压表分别测试TTL与非门的输入和输出端口的电位和电流5. 分别测试开关接通和断开时，TTL与非门的输出状态三、实验结果经过实验，我们得到了以下结果：1. 在TTL与非门A、B两个输入端口都为高电平时，输出端口电位为低电平，电流为7~10mA。

2. 在TTL与非门A、B两个输入端口中任意一个或两个为低电平时，输出端口电位为高电平，电流为1mA左右。

3. 在开关接通时，TTL与非门此时两个输入端口为高电平，输出端口电位为低电平，电流为7~10mA。

4. 在开关断开时，TTL与非门此时A、B两个输入端口中任意一个或两个为低电平，输出端口电位为高电平，电流为1mA 左右。

四、实验分析通过实验，我们深刻认识到TTL与非门的逻辑反转特性，以及其在数字电路中的重要应用。

TTL与非门采用二极管作为开关元件，由于二极管具有的正反向导通特性，实现输入信号的逻辑反转，提供简单的数字逻辑运算功能。

本次实验中，我们还学习了简单的开关电路连接方法，掌握了输入信号和输出信号的测量方法。

在实际应用中，TTL与非门常用于逻辑运算、数据选择和码转换，广泛应用于计算机和其他数字系统中。

实验2 TTL门电路性能参数测试一、实验目的1.掌握TTL集成与非门的主要性能参数及测试方法。

2.通过实验理解门电路的驱动能力。

二、实验原理：TTL芯片74LS00内集成了四个相互独立的二输入与非门。

TTL集成与非门在应用中要考查的主要参数有输出高电平VOH、输出低电平VOL、扇岀系数\0、电压传输特性和平均传输延迟时间tpd等。

图1-2 Iis的测试电路图（1）TTL n电路的输出高电平VOHVOH是与非门有一个或多个输入端接地或接低电平时的输出电压值，此时与非工作管处于截止状态。

空载时，VOH的典型值为3.4~3.6V,接有拉电流负载时, VOH下降。

（2）TTL 1*1电路的输出低电平VOLVOL是与非门所有输入端都接高电平时的输出电压值，此时与非工作管处于饱和导通状态。

空载时，它的典型值约为0. 2V,接有灌电流负载时，VOL将上升。

（3） TTL门电路的输入短路电流Iis它是指当被测输入端接地，其余端悬空，输出端空载时，山被测输入端输出的电流值，测试电路图如图1-2。

(4)TTL门电路的扇出系数？<0扇出系数N0指门电路能驱动同类门的个数，它是衡量门电路负载能力的一个参数，TTL集成与非门有两种不同性质的负载，即灌电流负载和拉电流负载。

因此，它有两种扇出系数，即低电平扇出系数\0L和高电平扇出系数\0H。

取相对较小的值作为们电路的扇出系数。

通常有IiH<IiL,则NOH>NOL,故常以\0L作为门的扇出系数。

根据集成电路手册查询得到74LS00相关参数，IiL(mA)/IiH(uA)二0. 4/20, IoL(mA)/IoH(uA)二8/400。

表示门输出高电平时，向外流出电流小于4OOuA：门输出低电平时，流入电流不大于8 mAo可以求出低电平扇出系数NOL = ,而高电平扇出系数NOH取值二，门的扇出系数二o\0L的测试电路如图1-3所示，门的输入端全部悬空，输出端接灌电流负载RL,调节RL使I0L增大，VOL随之增高，当VOL达到V01m (手册中规定低电平规范值为0.4V)时的I0L就是允许灌入的最大负载电流，则NOL=IOLH-Iis,通常N0L>8o根据集成电路手册查询得到CD4001相关参数，IiL(uA)/IiH(uA)=-l/l, IoL(mA)/IoH(mA)=0. 51/0. 51。

实验二TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试一、实验目的1、掌握TTL集成与非门的逻辑功能和主要参数的测试方法2、掌握TTL器件的使用规则3、进一步熟悉数字电路实验装置的结构，基本功能和使用方法二、实验原理本实验采用四输入双与非门74LS20，即在一块集成块内含有两个互相独立的与非门，每个与非门有四个输入端。

其逻辑框图、符号及引脚排列如图2－1(a)、(b)、(c)所示。

(b)（a） (c)图2－1 74LS20逻辑框图、逻辑符号及引脚排列1、与非门的逻辑功能与非门的逻辑功能是：当输入端中有一个或一个以上是低电平时，输出端为高电平；只有当输入端全部为高电平时，输出端才是低电平（即有“0”得“1”，全“1”得“0”。

）其逻辑表达式为 Y＝2、TTL与非门的主要参数(1)低电平输出电源电流ICCL 和高电平输出电源电流ICCH与非门处于不同的工作状态，电源提供的电流是不同的。

ICCL是指所有输入端悬空，输出端空载时，电源提供器件的电流。

ICCH是指输出端空截，每个门各有一个以上的输入端接地，其余输入端悬空，电源提供给器件的电流。

通常ICCL ＞ICCH，它们的大小标志着器件静态功耗的大小。

器件的最大功耗为PCCL ＝VCCICCL。

手册中提供的电源电流和功耗值是指整个器件总的电源电流和总的功耗。

ICCL 和ICCH测试电路如图2－2(a)、(b)所示。

[注意]：TTL电路对电源电压要求较严，电源电压VCC只允许在＋5V±10％的范围内工作，超过5.5V将损坏器件；低于4.5V器件的逻辑功能将不正常。

(a) (b) (c) (d)图2－2 TTL与非门静态参数测试电路图(2)低电平输入电流IiL 和高电平输入电流IiH。

IiL是指被测输入端接地，其余输入端悬空，输出端空载时，由被测输入端流出的电流值。

在多级门电路中，IiL相当于前级门输出低电平时，后级向前级门灌入的电流，因此它关系到前级门的灌电流负载能力，即直接影响前级门电路带负载的个数，因此希望IiL小些。

实验二 TTL 与非门电路参数测试一、实验目的1.了解TTL 与非门参数的物理意义；2.掌握TTL 与非门参数的测试方法；3.了解TTL 与非门的逻辑功能。

二、实验原理TTL 门电路是一类功能齐全的逻辑电路，其参数可查阅有关参数手册；本实验介绍TTL 与非门常用参数测试。

7400是TTL 型中速二输入端四与非门。

图1为其内部电路原理图和管脚排列图。

1.与非门参数：开门电平V ON 、开门电阻R ON 、关门电平V OFF 、关门电阻R OFF 、平均传输延迟时间t pd2.与非门传输特性与非门的电压传输特性是输出电压VO随输出电压Vi变化的曲线，如图7：3.TTL与非门的逻辑特性：三、实验仪器1.示波器1台2.函数信号发生器1台3.数字万用表1台4.多功能电路实验箱1台四、实验内容1.测量输出高电平VOH 、输入开门电平VOFF、关门电阻ROFF:2.测量输出低电平VOL 、输入开门电平VON、开门电阻RON:表1 TTL 参数 参数 V OH V OL V ON V OFFR ONR OFFt pd测量值3.443V0.195V1.424V0.766V 2.755K Ω 1.011K Ω 7.900ns3.示波器测量方法：测量原理图如图16所示：表3 电压传输曲线参数参数 V OH V OL V ON V OFF 测量值3.89000V60.00mV1.39375V781.25mV4.平均传输延迟时间的测量: 测量电路如图17所示。

五、数据处理实验原始数据已记入表格。

表1中t pd 取2周期长度，测得t 1=10.800ns t 2=58.200nsT pd =6T=(t 2-t 1)/2/6=(58.200-10.800)/2/6=7.9000ns六、实验小结1.电压传输特性曲线如图：2.分析“与非门”的逻辑功能：与非门的逻辑功能是（1）当输入全为高电平时，输出低电平。

（2）当输入有低电平时，输出高电平。

实验二TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试一、实验目的1、掌握TTL集成与非门的逻辑功能和主要参数的测试方法2、掌握TTL器件的使用规则3、进一步熟悉数字电路实验装置的结构，基本功能和使用方法二、实验原理本实验采用四输入双与非门74LS20，即在一块集成块内含有两个互相独立的与非门，每个与非门有四个输入端。

其逻辑框图、符号及引脚排列如图2－1(a)、(b)、(c)所示。

(b)（a） (c)图2－1 74LS20逻辑框图、逻辑符号及引脚排列1、与非门的逻辑功能与非门的逻辑功能是：当输入端中有一个或一个以上是低电平时，输出端为高电平；只有当输入端全部为高电平时，输出端才是低电平（即有“0”得“1”，全“1”得“0”。

）其逻辑表达式为 Y＝2、TTL与非门的主要参数(1)低电平输出电源电流ICCL 和高电平输出电源电流ICCH与非门处于不同的工作状态，电源提供的电流是不同的。

ICCL是指所有输入端悬空，输出端空载时，电源提供器件的电流。

ICCH是指输出端空截，每个门各有一个以上的输入端接地，其余输入端悬空，电源提供给器件的电流。

通常ICCL ＞ICCH，它们的大小标志着器件静态功耗的大小。

器件的最大功耗为PCCL ＝VCCICCL。

手册中提供的电源电流和功耗值是指整个器件总的电源电流和总的功耗。

ICCL 和ICCH测试电路如图2－2(a)、(b)所示。

[注意]：TTL电路对电源电压要求较严，电源电压VCC只允许在＋5V±10％的范围内工作，超过5.5V将损坏器件；低于4.5V器件的逻辑功能将不正常。

(a) (b) (c) (d)图2－2 TTL与非门静态参数测试电路图(2)低电平输入电流IiL 和高电平输入电流IiH。

IiL是指被测输入端接地，其余输入端悬空，输出端空载时，由被测输入端流出的电流值。

在多级门电路中，IiL相当于前级门输出低电平时，后级向前级门灌入的电流，因此它关系到前级门的灌电流负载能力，即直接影响前级门电路带负载的个数，因此希望IiL小些。

实验二TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试一、实验目的1、掌握TTL集成与非门的逻辑功能和主要参数的测试方法2、掌握TTL器件的使用规则3、进一步熟悉数字电路实验装置的结构，基本功能和使用方法二、实验原理本实验采用四输入双与非门74LS20，即在一块集成块内含有两个互相独立的与非门，每个与非门有四个输入端。

其逻辑框图、符号及引脚排列如图2－1(a)、(b)、(c)所示。

(b)（a） (c)图2－1 74LS20逻辑框图、逻辑符号及引脚排列1、与非门的逻辑功能与非门的逻辑功能是：当输入端中有一个或一个以上是低电平时，输出端为高电平；只有当输入端全部为高电平时，输出端才是低电平（即有“0”得“1”，全“1”得“0”。

）其逻辑表达式为 Y＝2、TTL与非门的主要参数(1)低电平输出电源电流ICCL 和高电平输出电源电流ICCH与非门处于不同的工作状态，电源提供的电流是不同的。

ICCL是指所有输入端悬空，输出端空载时，电源提供器件的电流。

ICCH是指输出端空截，每个门各有一个以上的输入端接地，其余输入端悬空，电源提供给器件的电流。

通常ICCL ＞ICCH，它们的大小标志着器件静态功耗的大小。

器件的最大功耗为PCCL ＝VCCICCL。

手册中提供的电源电流和功耗值是指整个器件总的电源电流和总的功耗。

ICCL 和ICCH测试电路如图2－2(a)、(b)所示。

[注意]：TTL电路对电源电压要求较严，电源电压VCC只允许在＋5V±10％的范围内工作，超过5.5V将损坏器件；低于4.5V器件的逻辑功能将不正常。

(a) (b) (c) (d)图2－2 TTL与非门静态参数测试电路图(2)低电平输入电流IiL 和高电平输入电流IiH。

IiL是指被测输入端接地，其余输入端悬空，输出端空载时，由被测输入端流出的电流值。

在多级门电路中，IiL相当于前级门输出低电平时，后级向前级门灌入的电流，因此它关系到前级门的灌电流负载能力，即直接影响前级门电路带负载的个数，因此希望IiL小些。

实验二TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试一、实验目的1、掌握TTL集成与非门的逻辑功能和主要参数的测试方法2、掌握TTL器件的使用规则3、进一步熟悉数字电路实验装置的结构，基本功能和使用方法二、实验原理本实验采用四输入双与非门74LS20，即在一块集成块内含有两个互相独立的与非门，每个与非门有四个输入端。

其逻辑框图、符号及引脚排列如图2－1(a)、(b)、(c)所示。

(b)（a） (c)图2－1 74LS20逻辑框图、逻辑符号及引脚排列1、与非门的逻辑功能与非门的逻辑功能是：当输入端中有一个或一个以上是低电平时，输出端为高电平；只有当输入端全部为高电平时，输出端才是低电平（即有“0”得“1”，全“1”得“0”。

）其逻辑表达式为 Y＝2、TTL与非门的主要参数(1)低电平输出电源电流ICCL 和高电平输出电源电流ICCH与非门处于不同的工作状态，电源提供的电流是不同的。

ICCL是指所有输入端悬空，输出端空载时，电源提供器件的电流。

ICCH是指输出端空截，每个门各有一个以上的输入端接地，其余输入端悬空，电源提供给器件的电流。

通常ICCL ＞ICCH，它们的大小标志着器件静态功耗的大小。

器件的最大功耗为PCCL ＝VCCICCL。

手册中提供的电源电流和功耗值是指整个器件总的电源电流和总的功耗。

ICCL 和ICCH测试电路如图2－2(a)、(b)所示。

[注意]：TTL电路对电源电压要求较严，电源电压VCC只允许在＋5V±10％的范围内工作，超过5.5V将损坏器件；低于4.5V器件的逻辑功能将不正常。

(a) (b) (c) (d)图2－2 TTL与非门静态参数测试电路图(2)低电平输入电流IiL 和高电平输入电流IiH。

IiL是指被测输入端接地，其余输入端悬空，输出端空载时，由被测输入端流出的电流值。

在多级门电路中，IiL相当于前级门输出低电平时，后级向前级门灌入的电流，因此它关系到前级门的灌电流负载能力，即直接影响前级门电路带负载的个数，因此希望IiL小些。