加速寿命试验的理论模型与试验方法

1 明确试验方案的具体目的在电子产品温度加速寿命试验中，主要目的就是明确产品的实际寿命情况，根据试验结果进行合理的研究与分析，开展管理工作，提升寿命管理工作效果。

对于寿命较长的产品而言，在温度试验的过程中，可实现合理的管理工作，开展合理的分析工作，在明确试验条件下具体情况之后，了解应力水平之下的寿命特点，开展正常应力水平之下的分析工作，以此形成良好的寿命管理工作模式。

对于电子产品而言，在实际试验的过程中，会受到应力方面与可靠性方面的因素影响，因此，需建设加速应力模型，开展温度类型、湿度类型与电场类型的试验工作，在试验期间了解具体的平衡性与寿命特征，了解无故障时间的平衡情况。

电子产品寿命试验，主要针对产品的应力情况与可靠性特点等进行严格分析，建立加速模型，例如：阿伦纽斯与逆幂率等模型，能够通过模型的支持，全面优化整体试验工作体系，了解当前电子产品的寿命特点与具体情况，提高整体试验工作的应用效果。

2 电子产品温度加速寿命试验概念与理论分析在电子产品温度加速寿命试验的过程中，需了解具体的概念与理论内容，实现合理的管理工作，了解当前产品寿命试验的内容与特点，全面提高整体工作效果。

■2.1 概念分析在加速寿命试验的过程中，需开展工程与统计假设等工作，合理试验物理失效等管理方式创建统计模型，了解正常情况下的具体情况，开展加速环境之下的信息转换管理工作，明确额定应力之下的具体产品特点，开展数值估计的管理工作，提升应力管理工作效果。

在实际工作中，应开展失效机制的管理工作，明确应力情况，筛选最佳的试验方式，提高管理工作效果。

管理工作，明确参数情况，提升整体管理工作效果，优化整体参数的管理模式。

在加速寿命方程建设过程中，需创建合理的管理体系，建设先进模型。

对于产品剩余寿命而言，在实际试验的过程中，应开展合理的假设工作，实现寿命数据的计算工作。

■2.3 加速寿命试验类型分析在加速寿命试验的过程中，应开展可靠性的试验工作，针对电子产品的寿命进行严格控制，筛选最佳的试验方法，创建合理的电子产品管理机制，提升加速寿命试验管理工作效果，满足当前的工作要求。

加速试验方案引言在科学研究和工程设计中，加速试验是一项重要的手段，可以有效地评估产品或材料在实际使用过程中的性能和可靠性。

本文将探讨加速试验的概念、分类和常见的试验方法，以及其在实际应用中的意义和局限性。

一、加速试验的概念加速试验是指通过模拟实际使用条件，使用更高的温度、湿度、振动等环境参数来快速推断产品或材料在长时间使用中的性能、寿命以及可能存在的故障模式。

通过将试验条件加速，可以缩短试验周期和成本，提前发现潜在问题，从而改进产品和材料的设计和制造。

二、加速试验的分类根据试验对象和目标，加速试验可以分为产品加速试验和材料加速试验两种类型。

产品加速试验主要针对具体的产品系统进行，如电子设备、汽车零部件、化妆品等。

试验中，通过模拟产品在使用过程中可能遇到的各种环境因素，来验证产品的可靠性、耐久性和性能稳定性。

例如，对汽车零部件进行振动试验，以模拟车辆在不同路况下的振动情况，从而评估零部件的抗振性能。

材料加速试验主要关注材料的性能和寿命特性，通过在加速条件下对材料进行试验，来模拟材料在实际使用过程中的老化。

常见的材料加速试验包括热老化试验、湿热试验、紫外辐射试验等。

试验结果可以帮助材料科学家和工程师了解材料的变化规律，优化材料的制备工艺，提高材料的使用寿命。

三、常见的加速试验方法1. 热老化试验：通过暴露样品在高温环境下，模拟材料长时间使用后的性能变化。

该试验方法可以快速评估材料的老化特性和抗老化能力。

2. 湿热试验：将样品置于高温高湿的环境中，模拟材料在潮湿环境下的使用情况。

通过观察样品的性能、外观和形状变化，可以评估材料对潮湿环境的适应能力和耐久性。

3. 振动试验：通过给样品施加不同频率和幅度的振动，模拟产品在使用过程中可能受到的振动载荷。

该试验方法可以评估产品在振动环境下的稳定性、抗振性能和损坏程度。

四、加速试验的意义和局限性加速试验的意义在于提前发现潜在问题，减少产品和材料在使用过程中出现故障的风险。

1.加速寿命试验的种类时间:2006-12-14 03:13来源:作者:admin 点击:1073次加速寿命试验的种类施加于电子元器件的加速应力方式有恒定应力加速、周期应力加速、序进应力加速和步进应力加速四种。

恒定应力加速试验是施加在样品上的应力不变(单一应力或复合应力)，用来了解器件失效时间的分布；周期应力加速试验是周期性重复对器件施加应力，用来了解应力对器件失效的影响情况；序进应力加速试验是对器件施加的应力随时间连续增加，用来了解影响器件寿命的应力分布情况；步进应力加速试验是对器件施加的应力按每隔一定时间的步进方式增加，用来了解在哪一级步进应力下产生失效。

利用这些加速试验方法，可以确定器件的失效界限，所以也称为临界试验。

通过临界试验可以知道临界寿命，还可以了解器件对机械强度、电浪涌等能承受的耐量2.加速寿命试验理论依据时间:2006-12-14 02:59来源:作者:点击:1603次加速寿命试验理论依据电子元器件的失效原因与器件本身所选用的材料、材料之间、器件表面或体内、金属化系统以及封装结构中存在的各种化学、物理的反应有关。

器件从出厂经过贮存、运输、使用到失效的寿命周期，无时无刻不在进行着缓慢的化学物理变化。

在各种外界环境下，器件还会承受了各种热、电、机械应力，会使原来的化学物理反应加速，而其中温度应力对失效最为敏感。

实践证明，当温度升高以后，器件劣化的物理化学反应加快，失效过程加速，而Arrhenius模型就总结了由温度应力决定的化学反应速度依赖关系的规律性，为加速寿命试验提供了理论依据。

1. 以温度应力为加速变量的加速方程由Arrhenius总结的经验公式如下（8.5）式中，dM/dt是化学反应速率，A是常数，E a是引起失效或退化过程的激活能，k 是玻尔兹曼常数，T是绝对温度。

当器件在t0时刻处于正常状态数为M0，到t1时刻，器件处于失效状态数为M1。

如果温度与时间无关，则积分式（8.1）得（8.6）令DM=M1-M0，t=t1-t0，得到（8.7）取对数（8.8）可写成（8.9）其中（8.10）上式就是根据Arrhenius模型得到的以温度应力为加速度变量的加速方程。

电子元器件加速寿命试验方法的对比介绍1引言加速寿命试验分为恒定应力、步进应力和序进应力加速寿命试验。

将一定数量的样品分成几组，对每组施加一个高于额定值的固定不变的应力，在到达规定失效数或规定失效时刻后停止，称为恒定应力加速寿命试验〔以下简称恒加试验〕；应力随时刻分段增强的试验称步进应力加速寿命试验〔以下简称步加试验〕；应力随时刻连续增强的试验称为序进应力加速寿命试验〔以下简称序加试验〕。

序加试验能够瞧作步进应力的阶梯取非常小的极限情况。

加速寿命试验常用的模型有阿伦尼斯〔Arrhenius〕模型、爱伦〔Eyring〕模型以及以电应力为加速变量的加速模型。

实际中Arrhenius模型应用最为广泛，本文要紧介绍基于这种模型的试验。

Arrhenius模型反映电子元器件的寿命与温度之间的关系，这种关系实质上为化学变化的过程。

方程表达式为式中：为化学反响速率；E为激活能量〔eV〕；k为波尔兹曼常数0.8617×10-4eV/K；A为常数；T为尽对温度〔K〕。

式⑴可化为式中：式中：F0为累计失效概率；t(F0)为产品到达某一累计失效概率F(t)所用的时刻。

算出b后，那么式⑵是以Arrhenius方程为根底的反映器件寿命与尽对温度T之间的关系式，是以温度T为加速变量的加速方程，它是元器件可靠性猜测的根底。

2试验方法2.1恒定应力加速寿命试验目前应用最广的加速寿命试验是恒加试验。

恒定应力加速度寿命试验方法已被IEC标准采纳[1]。

其中3.10加速试验程序包括对样品周期测试的要求、热加速电耐久性测试的试验程序等，可操作性较强。

恒加方法造成的失效因素较为单一，正确度较高。

国外差不多对不同材料的异质结双极晶体管〔HBT〕、CRT阴极射线管、赝式高电子迁移率晶体管开关〔PHEMTswitch〕、多层陶瓷芯片电容等电子元器件做了相关研究。

Y.C.Chou等人对GaAs和InPPHEMT单片微波集成电路〔MMIC〕放大器进行了恒加试验[2]。

【加速老化实验】,加速老化试验计算公式【加速老化实验】加速老化试验计算公式加速寿命试验寿命试验(包括截尾寿命试验)方法是基本的可靠性试验方法。

在正常工作条件下，常常采用寿命试验方法去估计产品的各种可靠性特征。

但是这种方法对寿命特别长的产品来说，就不是一种合适的方法。

因为它需要花费很长的试验时间，甚至来不及作完寿命试验，新的产品又设计出来，老产品就要被淘汰了。

所以这种方法与产品的迅速发展是不相适应的。

经过人们的不断研究，在寿命试验的基础上，找到了加大应力、缩短时间的加速寿命试验方法。

加速寿命试验是用加大试验应力(诸如热应力、电应力、机械应力等)的方法，加快产品失效，缩短试验周期。

运用加速寿命模型，估计出产品在正常工作应力下的可靠性特征。

下面就加速寿命试验的思路、分类、参数估计方法及试验组织方法做一简单介绍。

1 问题高可靠的元器件或者整机其寿命相当长，尤其是一些大规模集成电路，在长达数百万小时以上无故障。

要得到此类产品的可靠性数量特征，一般意义下的载尾寿命试验便无能为力。

解决此问题的方法，目前有以下几种：（１）故障数r=0的可靠性评定方法。

如指数分布产品的定时截尾试验θL=2S(t0)2χα(2)22S(t)χαα00为总试验时间。

为风险, =0.1时，.1(2)=4.605≈4.6；当α=0.05时，χ02.05(2)=5.991≈6。

（２）加速寿命试验方法如，半导体器件在理论上其寿命是无限长的，但由于工艺水平及生产条件的限制，其寿命不可能无限长。

在正常应力水平S0条件下，其寿命还是相当长的，有的高达几十万甚至数百万小时以上。

这样的产品在正常应力水平S0条件下，是无法进行寿命试验的，有时进行数千小时的寿命试验，只有个别半导体器件发生失效，有时还会遇到没有一只失效的情况，这样就无法估计出此种半导体器件的各种可靠性特征。

因此选一些比正常应力水平S0高的应力水平S1，S2，…，Sk，在这些应力下进行寿命试验，使产品尽快出现故障。

加速寿命试验中多应力加速模型综述
加速寿命试验是通过增加应力水平来模拟产品在使用过程中可能经历
的各种应力条件，从而预测产品寿命的试验方法。

多应力加速模型则
是一种将多种应力条件综合起来，模拟实际使用中的应力组合的模型。

多应力加速模型的基本原理是将各个应力因素的加速系数相加，得到
总的加速系数。

加速系数是一个常数，表示应力增加一倍所能导致的
寿命减少的倍数。

由于应力条件可能互相影响，所以不同应力因素的
加速系数并不是单纯相加，而是需要经过一定的修正。

目前，常见的多应力加速模型包括Snead模型、Bucher模型、CAE （Combined Activation Energy）模型等。

Snead模型采用线性叠加理论，即将各种应力因素的加速系数简单相加，不考虑互相影响。

Bucher模型则是在Snead模型的基础上引入
了互相影响的修正系数，从而更加准确地反映了实际情况下各种应力
条件的复合作用。

CAE模型则采用了更为复杂的计算方法，不仅考虑
了应力因素之间的相互影响，还将应力的作用时间考虑进去，更加贴
近实际使用情况。

不同的寿命试验需要选择适合的加速模型，以保证试验结果的准确性。

同时，加速寿命试验本身也存在一些局限性，例如无法考虑到产品在使用过程中可能受到的负载变化、温度变化等复杂因素，因此需要与实际情况相结合，进行综合分析。

总之，多应力加速模型是一种将多种应力条件综合起来模拟实际使用中的应力组合的模型，能够较准确地预测产品在不同应力条件下的寿命。

在选用和使用相应的加速模型时，需要考虑产品本身的特点和试验要求，以获得准确可靠的试验结果。

AUTO PARTS | 汽车零部件1　绪论随着汽车电气化乃至智能化的发展，汽车电子器件在车身各关键设备上的应用日渐广泛[1]。

汽车电子器件的工作状态、功能、寿命与汽车的正常行驶息息相关，若出现问题，轻则造成财产损失，重则造成人员伤亡。

因此，对汽车电子器件进行寿命分析，具有重大的实际意义。

1.1　加速寿命试验与加速模型为了快速地暴露产品的薄弱环节，在较高应力下以更短的试验时间推断正常应力下的寿命特征，常采取加速寿命试验（Life Accelerated Testing，ALT）。

即在失效机理不变的基础上，通过加速模型，利用加速应力水平下的寿命特征去外推评估正常应力水平下的寿命特征的试验技术。

加速寿命试验方法因其可缩短试验时间、提高试验效率、降低试验成本等优势已经被广泛应用于各类工程实际问题之中[2]。

为了能够利用ALT中搜集到的产品寿命信息外推产品在正常应力条件下的寿命特征，必须建立产品寿命特征与加速应力水平之间的关系，即加速模型。

常用的加速模型分为物理模型和统计模型，具体有阿伦尼斯模型、艾琳模型、广义艾琳模型、冲蚀磨损模型、逆幂律模型、Coffi n-Manson模型、Norris-Landzberg模型等[3]。

ALT的统计分析是通过估计寿命分布函数的参数和确定加速模型的参数，从而外推评估正常应力水平S0下的寿命特征。

1.2　贝叶斯理论在工程和实际试验中，对于待估计参数常常会有一定的现有经验和信息，为了利用好这一部分信息，同时通过新的数据对已有信息进行更新，则常用贝叶斯统计方法[4]进行统计推断。

()()()()f y pp ym yθθθ=()()()m y f y p dθθθ=∫p(θ|y)称为后验密度函数；p(θ)称为先验密度函数；m(y)是数据的边沿密度函数；f(y|θ)是数据的抽样密度函数。

由于汽车为批量生产的产品，因此其电子器件也具有相当多的历史信息，故采用基于贝叶斯统计ALT分析，能够更准确地评估汽车电子器件寿命，并对产品已有信息进行更新。

加速寿命试验一般执行寿命试验之目的在评估产品于既定环境下之使用寿命，耗时较久，且须投入大量的金钱，而产品可靠度信息又不能实时获得并加以改善，导致失去许多"商机"与"竞争力"。

因此，如何在实验室中以加速寿命试验(Accelerated Life Testing; ALT)的方法，在可接受的试验时间内评估产品的使用寿命，便成为整体可靠度试验工作中相当重要的一环，亦为可靠度试验中最具挑战性的课题。

基本上，加速寿命试验是在物理与时间上，加速产品的劣化肇因，以较短的时间试验，并据以推定产品在正常使用状态的寿命或失效率。

如果产品的劣化机构单纯，拟订加速寿命试验计划较容易。

但实际产品失效往往牵涉到很多失效机构，即使欲同时加速，加速程度也因失效机构而异，可能发生迥异于实际操作上的失效模式。

因此，加速寿命试验之基本条件是不能破坏原有特性，要尽量选择失效机构不变化的试验条件，或失效机构容易单纯化的试验条件，使加速寿命试验结果之适用范围明确化。

例如某信息设备的输入电压限制为100~130V，若规划以200V为输入，当然就破坏了原有的设计特性。

一般说来，加速寿命试验考虑的三个要素为「环境应力」、「试验样本数」及「试验时间」。

假如产品既复杂又昂贵，则样本数将较少，相对的须增加试验时间或环境应力，以加速其试验;反之如果产品造价较便宜，且数量多，则欲缩短试验时间的情况下，可考虑增加样本数或环境应力。

惟如前面所叙述，加速寿命试验下的失效模式．必须与正常操作环境下之寿命试验相同，其试验结果才有意义。

谈加速寿命试验，最重要的是如何掌握其加速因子(Accelerated Factor)。

假使相同产品，做二种不同应力(加速)条件的试验，其结果可得二个不同的特征寿命η1设为低应力试验条件)及η2(为高应力条件)，则η1/η2即为加速因子(高、低应力间相对的加速程度)，图6.20即为此种加速观念的示意图。

寿命试验的目的及加速试验理论基础寿命试验的目的了解和掌握产品的故障信息，解决产品寿命周期内质量问题。

13提供产品的寿命指标（包括质保期、首翻期、翻修间隔、总寿命）了解产品的寿命特征、失效规律。

2加速试验概述加速试验概述加速试验概述元器件的寿命与应力之间的关系，是以一定的物理模型为依据的。

常见的物理模型：◆失效率模型◆应力与强度模型◆最弱链条模型◆反应速度模型加速试验概述失效率模型失效率模型是将失效率曲线划分为早期失效、随机失效和磨损失效三个阶段，并将每个阶段的产品失效机理与其失效率相联系起来。

典型的失效率曲线)(t加速试验概述应力与强度模型研究实际环境应力与产品所能承受的强度的关系。

应力与强度均为随机变量，因此，产品的失效与否将决定于应力分布和强度分布。

随着时间的推移，产品的强度分布将逐渐发生变化，如果应力分布与强度分布一旦发生了干预，产品就会出现失效。

因此，研究应力与强度模型对了解产品的环境适应能力是很重要的。

最弱链条模型最弱链条模型是基于元器件的失效是发生在构成元器件的诸因素中最薄弱的部位这一事实而提出来的。

这种模型，对于研究电子产品在高温下发生的失效现象最为有效，因为这类失效正是由于元器件内部潜在的微观缺陷和污染，在经过制造和使用后而逐渐显露出来的。

暴露最显著、最迅速的地方，就是最薄弱的地方，也是最先失效的地方。

反应速度模型反应速度模型反映了反应速度与温度的关系。

元器件的失效是由于微观的分子与原子结构发生了物理或化学的变化而引起的，从而导致在产品特性参数上的退化，当这种退化超过了某一界限，就发生失效。

阿列尼乌斯模型和爱林模型。

【加速老化实验】,加速老化试验计算公式加速老化试验计算公式【加速老化实验】加速老化试验计算公式加速寿命试验寿命试验(包括截尾寿命试验)方法是基本的可靠性试验方法。

在正常工作条件下，常常采用寿命试验方法去估计产品的各种可靠性特征。

但是这种方法对寿命特别长的产品来说，就不是一种合适的方法。

因为它需要花费很长的试验时间，甚至来不及作完寿命试验，新的产品又设计出来，老产品就要被淘汰了。

所以这种方法与产品的迅速发展是不相适应的。

经过人们的不断研究，在寿命试验的基础上，找到了加大应力、缩短时间的加速寿命试验方法。

加速寿命试验是用加大试验应力(诸如热应力、电应力、机械应力等)的方法，加快产品失效，缩短试验周期。

运用加速寿命模型，估计出产品在正常工作应力下的可靠性特征。

下面就加速寿命试验的思路、分类、参数估计方法及试验组织方法做一简单介绍。

1 问题高可靠的元器件或者整机其寿命相当长，尤其是一些大规模集成电路，在长达数百万小时以上无故障。

要得到此类产品的可靠性数量特征，一般意义下的载尾寿命试验便无能为力。

解决此问题的方法，目前有以下几种：（１）故障数r=0的可靠性评定方法。

如指数分布产品的定时截尾试验θL=2S(t0) 2χα(2) 22S(t)χαα00为总试验时间。

为风险, =0.1时，.1(2)=4.605≈4.6；当α=0.05时，χ02.05(2)=5.991≈6。

（２）加速寿命试验方法如，半导体器件在理论上其寿命是无限长的，但由于工艺水平及生产条件的限制，其寿命不可能无限长。

在正常应力水平S0条件下，其寿命还是相当长的，有的高达几十万甚至数百万小时以上。

这样的产品在正常应力水平S0条件下，是无法进行寿命试验的，有时进行数千小时的寿命试验，只有个别半导体器件发生失效，有时还会遇到没有一只失效的情况，这样就无法估计出此种半导体器件的各种可靠性特征。

因此选一些比正常应力水平S0高的应力水平S1，S2，…，Sk，在这些应力下进行寿命试验，使产品尽快出现故障。

一、可靠性理论基础1.可靠度:如果有N个LED产品从开始工作到t时刻的失效数为n（t),当N足够大时，产品在t时刻的可靠度可近似表示为:随时间的不断增长,将不断下降。

它是介于1与0之间的数，即。

2.累积失效概率:表示发光二极管在规定条件下工作到t这段时间内的失效概率，用F（t)表示,又称为失效分布函数.如果N个LED产品从开始工作到t时刻的失效数为n（t），则当N足够大时，产品在该时刻的累积失效概率可近似表示为：3.失效分布密度：表示规定条件下工作的发光二极管在t时刻的失效概率。

失效分布函数的导函数称为失效分布密度，其表达式如下:•早期失效期；•偶然失效期(或稳定使用期）；•耗损失效期。

二、寿命老化：LED发光亮度随着长时间工作而出现光强或光亮度衰减现象。

器件老化程度与外加恒流源的大小有关，可描述为：B t为t时间后的亮度，B0为初始亮度。

通常把亮度降到B t=0。

5B0所经历的时间t称为二极管的寿命. 1。

平均寿命如果已知总体的失效分布密度f(t）,则可得到总体平均寿命的表达式如下：2. 可靠寿命可靠寿命T R是指一批LED产品的可靠度下降到r时，所经历的工作时间。

T R可由R（T R）=r求解,假如该产品的失效分布属指数分布规律，则：即可求得T R如下：3. 中位寿命中位寿命T0。

5指产品的可靠度R(t）降为50％时的可靠寿命，即:对于指数分布情况，可得：二、LED寿命测试方法LED寿命加速试验的目的概括起来有：•在较短时间内用较少的LED估计高可靠LED的可靠性水平•运用外推的方法快速预测LED在正常条件下的可靠度；•在较短时间内提供试验结果，检验工艺;•在较短时间内暴露LED的失效类型及形式，便于对失效机理进行研究，找出失效原因；•淘汰早期失效产品,测定元LED的极限使用条件1. 温度加速寿命测试法由于通常LED寿命达到10万小时左右，因此要测得其常温下的寿命时间太长，因此采用加速寿命的方法。

【加速老化实验】加速老化试验计算公式加速寿命试验寿命试验(包括截尾寿命试验)方法是基本的可靠性试验方法。

在正常工作条件下，常常采用寿命试验方法去估计产品的各种可靠性特征。

但是这种方法对寿命特别长的产品来说，就不是一种合适的方法。

因为它需要花费很长的试验时间，甚至来不及作完寿命试验，新的产品又设计出来，老产品就要被淘汰了。

所以这种方法与产品的迅速发展是不相适应的。

经过人们的不断研究，在寿命试验的基础上，找到了加大应力、缩短时间的加速寿命试验方法。

加速寿命试验是用加大试验应力(诸如热应力、电应力、机械应力等)的方法，加快产品失效，缩短试验周期。

运用加速寿命模型，估计出产品在正常工作应力下的可靠性特征。

下面就加速寿命试验的思路、分类、参数估计方法及试验组织方法做一简单介绍。

1 问题高可靠的元器件或者整机其寿命相当长，尤其是一些大规模集成电路，在长达数百万小时以上无故障。

要得到此类产品的可靠性数量特征，一般意义下的载尾寿命试验便无能为力。

解决此问题的方法，目前有以下几种：（１）故障数r=0的可靠性评定方法。

如指数分布产品的定时截尾试验θL=2S(t0)2χα(2)22S(t)χαα00为总试验时间。

为风险, =0.1时，.1(2)=4.605≈4.6；当α=0.05时，χ02.05(2)=5.991≈6。

（２）加速寿命试验方法如，半导体器件在理论上其寿命是无限长的，但由于工艺水平及生产条件的限制，其寿命不可能无限长。

在正常应力水平S0条件下，其寿命还是相当长的，有的高达几十万甚至数百万小时以上。

这样的产品在正常应力水平S0条件下，是无法进行寿命试验的，有时进行数千小时的寿命试验，只有个别半导体器件发生失效，有时还会遇到没有一只失效的情况，这样就无法估计出此种半导体器件的各种可靠性特征。

因此选一些比正常应力水平S0高的应力水平S1，S2，…，Sk，在这些应力下进行寿命试验，使产品尽快出现故障。

（３）故障机理分析方法研究产品的理、化、生微观缺陷，研究缺陷的发展规律，从而预测产品的故障及可靠性特征量。

寿命测试的原理和方法以寿命测试的原理和方法为标题，我们来探讨一下寿命测试的基本原理以及常用的方法。

一、寿命测试的原理寿命测试是指通过一系列的实验和观测，评估或预测一个产品、系统或设备的寿命期限。

其原理基于以下几个方面：1. 加速模型：寿命测试中常用的一个原理是加速模型，即通过模拟产品在实际使用中的环境、载荷和应力条件，加速产品的老化过程，以便在短时间内得到相对准确的寿命预测。

加速模型的建立需要对产品的应力-寿命关系进行分析和建模，以确定加速因子和寿命加速方程。

2. 应力源：寿命测试需要对产品施加一定的应力，以模拟实际使用环境中的应力情况。

常见的应力源包括温度、湿度、电压、电流、振动、冲击等。

通过控制和调整这些应力因素，可以对产品进行不同类型的寿命测试。

3. 故障分析：寿命测试的原理还包括对产品在寿命期间可能出现的故障进行分析。

通过观察和记录产品在测试过程中的故障情况，可以对产品的寿命进行评估和预测。

故障分析可以帮助确定产品的弱点和故障模式，进而改善产品的设计和制造过程。

二、寿命测试的方法1. 加速寿命测试：这是最常用的寿命测试方法之一。

加速寿命测试通过对产品施加加速应力，使其在较短时间内达到与实际使用条件下相当的老化程度。

加速寿命测试可以通过控制温度、湿度、电压等因素来实现。

例如，在电子产品的寿命测试中，可以通过提高温度和电压来加速产品老化。

2. 基于可靠性统计的寿命测试：这种方法是通过一定数量的产品进行寿命测试，并根据统计分析和可靠性理论来评估和预测产品的寿命。

该方法适用于大规模生产的产品，可以通过抽样测试来代表整个产品批次的寿命情况。

3. 试验台架寿命测试：这种方法适用于某些特定类型的产品，例如发动机、机械设备等。

通过搭建试验台架，模拟产品在实际使用中的工作环境和载荷，对产品进行长时间的运行和测试，以评估其寿命。

4. 加速退化测试：这种方法是通过对产品进行加速退化测试，观察和记录产品在不同寿命阶段的性能变化情况，以评估其寿命。

印制电路板加速寿命试验方法综述刘立国 张永华 高 蕊（无锡江南计算技术研究所军用印制板质量检测中心，江苏 无锡 ２１４０８３）摘 要 寿命试验是一种重要的可靠性试验，基于加速寿命试验方法和大数据分析的印制板可靠性评估技术，未来应用前景广大。

文章综合阐述了可应用于印制板加速寿命试验的常用加速寿命试验模型、加速因子计算和加速寿命试验方法，希望能够为业内相关研究和应用者提供一定指导和帮助。

关键词 印制电路板；加速模型；加速因子；试验方法中图分类号：TN41 文献标识码：A 文章编号：1009-0096（2021）01-0033-06Summary of accelerated life test method forPrinted Circuit BoardLiu Liguo Zhang Yonghua Gao RuiAbstract Life test is an important reliability test. The future application prospects of the printed circuit board reliability evaluation technology based on accelerated life test methods and big data analysis is broad. This article mainly comprehensively expounds the commonly used accelerated life test models, acceleration factor calculations and accelerated life test methods that can be applied to the accelerated life test of printed boards. The article hope to providecertain guidance and assistance to relevant researchers and users in the industry.Key words Printed Circuit Board; Acceleration Model; Acceleration Factor; Test Method1 概述寿命试验是一种重要的可靠性试验，是对产品的可靠性进行测试、分析和评价的一种常用方法。

产品可靠性试验6.2.1 可靠性试验的意义与分类可靠性试验是为分析、评价、提高或保证产品的可靠性水平而进行的试验。

产品的研制者通过试验获得产品设计、鉴定所需的可靠性数据（可靠性测定试验）。

通过试验暴露产品缺陷，改进设计并获得可靠性增长信息（可靠性增长试验）。

产品的制造者通过试验剔除零件批中的不合格品或暴露整机缺陷，消除早期故障（可靠性筛选或老化试验老化试验不是消除早期故障的）产品使用者通过试验验证产品批可靠性水平以保证接收的产品批达到规定要求（可靠性接收试验）。

政府或行业管理部门通过试验获得数据库所需基础可靠性数据（可靠性测定试验），认证产品可靠性等级（可靠性验证试验），进行产品的可靠性鉴定与考核（可靠性鉴定试验）。

本节主要介绍可靠性测定试验，这是为获得产品可靠性特征量的估计值而进行的试验，根据需要可由试验结果给出可靠性特征量的点估计值和给定置信度下的区间估计。

由于可靠性试验往往是旷日持久的试验，为节省时间与费用常采用加速试验的方式。

本节将介绍某些加速寿命试验的理论模型与试验方法。

6.2.2 指数分布可靠性测定试验大多数电子元器件、复杂机器及系统的寿命都服从指数分布。

其待估参数为故障率λ，其他可靠性指标可利用估计值进行计算MTBF已经有平均的意思了1．定时截尾试验（1）点估计试验进行至事先规定的截尾时间t c停止试验，设参与试验的n个样本中有r个发生关联故障，则由极大似然估计理论得出的故障率点估计值为式中t i——第I个关联故障发生前工作时间（i=1，…，r）。

若在试验过程中及时将已故障产品修复或替换为新产品继续试验，则为有替换的定时截尾试验。

此时λ的点估计为12（2）区间估计 对于无替换和有替换的定时截尾试验，其给定置信度为1－α的双侧置信区间为[λL ，λU ]，则式中——自由度为υ的分布的概率为的下侧分位点；T ——总试验时间（3）零故障数据的区间估计 当定时截尾试验在（0，t c ）内的故障数r=0时，可由式（4）给出。