LED加速寿命试验方法

随着 Ｌ Ｄ应用领域的拓展 ，白光 功率 Ｌ Ｄ Ｅ Ｅ 正在迅速发展， 它将成为未来新一代 的照 明 光源 ，其可靠 性受到高度关注。 由于 Ｌ Ｄ Ｅ 很少 因停止发光而 失效 。但光输 出却 因其
长，所谓 Ｌ Ｄ的工作寿命为 １ Ｅ ０万小时，主 光功率 Ｌ Ｄ可靠 性随芯片的类型和封装结 Ｅ
＝ 、 试 验 方 法
１样吕 ． 试 验 器件 应 是 同一 类型 ，取 自同一
生产线中 ，包括管壳结 构、封装材料 、芯 片结构 、封装 工艺 完全 相同。本实验所 用
器 件 为 十 三 所 研 制 的 Ｆ００８ 型 功 率 型 Ｌ Ｄ，采 用厦 门三安电子公 司的硅载体倒 Ｅ
摘要 ：本文按照阿伦尼斯模型给 出的公式 ，采用温度作为恒定 加速应力 ， 中国 电子科技 用
集团第十三研究所研 制的 Ｆ０ 型 白光功率 ＬＤ 出了 １ ５Ｃ、１ ５Ｃ、１５Ｃ的加速寿命的试验 ０８ Ｅ给 ６ ７ ８。 数据 ，推算出 ２。 下失效判据 ５ ％时的期望寿命为 ８ １ Ｘ １ ５Ｃ ０ 。１ ０ 小时 ，２ 。 下失效判据 ７ ％时 ５Ｃ ０ 的期望寿命 为 ４ １ ０ ．７Ｘ １ 小时，并 以此为例 ， 出一种通过功率 ＬＤ加速寿命试 验来推算实温 给 Ｅ 期望寿命的方法 ，这种方法还可 用于 其它单色功 率 Ｌ Ｄ。 Ｅ
装芯片封装， 结构 如图 １ 其 所示 ，考虑到器 件要在高温下试验， 芯片与管壳底盘采用高 温 焊料共 晶焊 连接 ，荧光粉 用硅胶 调配 。 并全 部用硅胶灌封 ，由硅胶 自然形成 的拱
形球 面取代 玻璃透 镜 ，以防止 因 “ 层 ” 分 而 引 起 的光 衰 ，且 耐 高温 。
Ｐ ｘ （ １ ｔ ＝Ｐ ｅ ｐ 一 ３ ）
＜ ＞ １

一、可靠性理论基础1.可靠度：如果有N个LED产品从开始工作到t时刻的失效数为n(t)，当N足够大时，产品在t时刻的可靠度可近似表示为：随时间的不断增长，将不断下降。

它是介于1与0之间的数，即。

2.累积失效概率：表示发光二极管在规定条件下工作到t这段时间内的失效概率，用F(t)表示，又称为失效分布函数。

如果N个LED产品从开始工作到t时刻的失效数为n(t)，则当N足够大时，产品在该时刻的累积失效概率可近似表示为：3.失效分布密度：表示规定条件下工作的发光二极管在t时刻的失效概率。

失效分布函数的导函数称为失效分布密度，其表达式如下：•早期失效期；•偶然失效期(或稳定使用期) ；•耗损失效期。

二、寿命老化：LED发光亮度随着长时间工作而出现光强或光亮度衰减现象。

器件老化程度与外加恒流源的大小有关，可描述为：B t为t时间后的亮度，B0为初始亮度。

通常把亮度降到B t=0.5B0所经历的时间t称为二极管的寿命。

1. 平均寿命如果已知总体的失效分布密度f（t），则可得到总体平均寿命的表达式如下：2. 可靠寿命可靠寿命T R是指一批LED产品的可靠度下降到r时，所经历的工作时间。

T R可由R（T R）=r求解，假如该产品的失效分布属指数分布规律，则：即可求得T R如下:3. 中位寿命中位寿命T0.5指产品的可靠度R(t)降为50%时的可靠寿命，即：对于指数分布情况，可得：二、LED寿命测试方法LED寿命加速试验的目的概括起来有：•在较短时间内用较少的LED估计高可靠LED的可靠性水平•运用外推的方法快速预测LED在正常条件下的可靠度；•在较短时间内提供试验结果，检验工艺；•在较短时间内暴露LED的失效类型及形式，便于对失效机理进行研究，找出失效原因；•淘汰早期失效产品，测定元LED的极限使用条件1. 温度加速寿命测试法由于通常LED寿命达到10万小时左右，因此要测得其常温下的寿命时间太长，因此采用加速寿命的方法。

按照标准要求：LED灯具寿命测试过程:可以分成加速寿命测试和控制测试（即常温下常亮测试）加速寿命测试的一个周期分为四个步骤：1、在85℃和85%RH环境下进行测试，灯具开一小时，关一小时。

共计六小时2、冷热冲击试验：从-50℃到120℃进行冷热冲击试验，在每个极值温度下保持30分钟进行测试。

灯具点亮时间周期与温度变化周期是不一致的。

具体的可参见下图。

冷热温度切换时间不得超过5分钟。

3、在85℃和85%RH环境下进行测试，灯具开一小时，关一小时。

共计六小时4、在120℃高温下工作15个小时，灯具开一个小时，关一个小时。

一个加速寿命测试循环周期为42个小时，当一个加速周期完毕后，我们进行灯具的光度和色的测试，光度用于评价是否已经失效，而色度是用于监控辅助，并不真正进入的失效评判依据之中。

标准中推荐采用一个45公分直径的小积分球配合美能达的彩色照度计进行测试。

当每五个周期结束后，要将灯具放入一个1.65米的积分球中，需要按照LM79进行光色度的测试。

测试结束后，按照时间顺序记录光通量衰减率，通过威布尔分布函数进行失效分析。

硬件要求：1、高低温试验箱温度范围：-50℃~120℃箱体大小：标准箱体1m*1m*1m内箱升温降温速率：从最低温-50℃到最高温度120℃，时间小于五分钟。

内置夹具，可用于灯具装夹，保证向下向上射光灯具可以方便安装。

可程控。

内有彩色照度计进行光度色度采集。

2、光度采集系统（1）光度探头或者色度探头（2）2米积分球系统MCS1000（当需要严格按照标准执行时，必须配备积分球光谱仪系统进行光度色度测试）3、标准机柜内含电气连接线，供电电源，电表，程控设备。

供电电源负责给被测灯进行供电，电源为程控。

电表负责监控每只被测灯的电参数。

标准机柜表面预留接线插头，满足客户不同的接电要求（例如是否将驱动器一并接入高温箱）4、控制和信号采集系统控制系统负责整个系统的控制，有上层软件进行控制，操作人员可按照标准要求或自身试验需要设置相关的参数进行测试，可控制高温箱温度，维持时间，温度变换时间，被测灯的供电通断，信号采集，系统报警。

基本设计思想， 可以广泛地应用于常见电子元器件的器件产品质量认证或可靠性评估等试验设计中。
关键词： 发光二极管； 可靠性评估； 置信度； 加速寿命试验； 加速试验设计
中图分类号： TN312+.8
文献标识码： A
文章编号： 1672-5468 （2009） 03-0020-06
Accelerated Life Test Design for the Reliability Assessment of LEDs
m；
电流为 I2 时， 失效时间记为 t2i， i=1， 2， …，
m。
（7）
将式 （7） 结果分别代入式 （4）， 解得 C 和 n
表达式如下：
（8）

（9） 其中：
（10）
对 于 任 意 一 个 工 作 电 流 Iop， 由 下 式 即 可 预 计 失效时间 top 为：
（11） 在上述加速寿命试验中， 在其它外界环境条件 因素保持不变的前提下， 加速应力参数即为电流。 已知失效时间 top， 那么与失效时间相关的其它参量 均可确定： 式 （5） 中的 μ’ 可 依 据 式 （6） 通 过 lntop 求出， 而 σ’ 在对数正态分布中不是加速应力 的函数， 可以通过式 （7） 的试验结果得到。 同时， 可以确定式 （5） 所示的失效概率密度分布函数， 参考式 （1） 提出的失效判据， 设定变量上下限， 对函数积分， 即可得到工作条件下的失效概率或可 靠度。
常在几千小时以上。 当性能要求或失效判据条件不
同时， 器件的工作环境条件决定了它是否能处于正
常的工作状态中。
对于一般的发光器件， 功率输出一般通过测量
发 光 强 度 来 确 定 ， 单 位 ： 坎 德 拉 （candela） 注 ②，

LED用稀土荧光粉试验方法第8部分：高压加速老化寿命的测定1范围本文件规定了350nm~480nm紫外光到蓝光激发LED用稀土荧光粉高压加速老化寿命的试验方法。

本文件适用于350nm~480nm紫外光到蓝光激发LED用稀土荧光粉高压加速老化寿命的测定。

2规范性引用文件下列文件对于本文件的应用是必不可少的。

凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。

凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。

GB/T5838荧光粉名词术语GB/T8170数值修约规则与极限数值的表示和判定GB/T24982白光LED用石榴石结构铝酸盐系列荧光粉3术语和定义GB/T5838确立的以及下列术语和定义适用于本文件。

3.1相对亮度relative brightnessBr在规定的激发条件下，荧光粉试样与对应的标准荧光粉的亮度之比。

3.2色品坐标chromaticity coordinate用来表征荧光粉被激发后发光颜色的一组参数，根据CIE-1931标准色度观察者规则计算获得。

3.3高压加速老化寿命测试pressure cooker test荧光粉在121℃，100%相对湿度，2atm极端条件下存储48h性能的变化情况，主要是其色品坐标和亮度的变化情况。

注：本文件中包含相对亮度变化值ΔBp ，以及色品坐标的变化值Δxp、Δyp。

4方法原理将高压加速老化试验箱的温度、相对湿度、箱内压强设置至规定值，待温度、相对湿度、压强达到设定值时，放入荧光粉样品，存储至规定时间，随即取出，烘干并处理为粉末状。

对未处理过的样品和高压加速老化处理过的样品进行相对亮度、色品坐标或其它有关性能的測定，用两者之间差异的绝对值来表示所试验的荧光粉的高压加速老化寿命。

5仪器与装置5.1高压加速老化寿命试验箱：精度±1℃、±2%RH、±0.01atm。

5.2天平：精度0.1g。

5.3培养皿：35×10mm。

LED的寿命试验方法LED（发光二极管）是一种半导体器件，可以将电能转化为可见光能量。

相比传统的光源，LED具有更长的寿命，更低的能耗和更高的亮度。

但是，为了确保其质量和可靠性，需要进行寿命试验。

下面将介绍一种常见的LED寿命试验方法。

一、理论背景LED的寿命测试是通过长时间的运行来模拟使用条件，以观察LED光衰和颜色偏移。

寿命测试主要以光通量衰减和光色变化为指标进行评估。

光通量衰减是指LED发出的光强度随时间的增加而减少，光色变化是指LED的光谱分布在寿命期间发生变化。

二、测试方法1.设定运行条件：根据实际应用情况，设置LED的工作电流、工作温度和工作时间。

2.制作测试样品：根据所需测试的LED型号和数量，制作测试样品。

3.安装测试样品：将测试样品安装在测试装置中，确保良好的散热条件以保证测试结果的精确性。

4.运行测试样品：将测试样品通电运行，记录初始的光通量和光色参数。

5.定期测试：每隔一定时间，如1000小时、2000小时等，对测试样品进行测试。

测试项目包括光通量衰减和光色变化。

6.测试数据分析：将每次测试的数据记录下来，根据光通量衰减和光色变化的情况进行分析，得出寿命测试结果。

7.统计处理：根据测试结果，计算出平均寿命和故障率等指标。

三、注意事项1.温度控制：在进行寿命测试时，需要严格控制测试样品的工作温度，因为温度是影响LED寿命的关键因素之一2.典型样品选择：在进行寿命测试时，应选择具有代表性的典型样品进行测试，以保证测试结果的准确性和可靠性。

3.测试记录：对每次测试的数据进行详细的记录，包括测试时间、光通量、光色参数等，以便进行后续的数据分析和处理。

4.测试环境：为确保测试结果的可靠性，需要在恒温、湿度和尘埃等影响因素较小的环境中进行测试。

5.寿命评估：通过光通量衰减的情况可以评估LED的寿命，一般认为光通量衰减到初始值的70%时为LED的寿命。

综上所述，LED寿命试验方法包括设定运行条件、制作测试样品、安装测试样品、运行测试样品、定期测试、数据分析和统计处理等步骤。

使用HAST加速老化箱的LED（二极管）加速寿命试验方法HAST加速老化箱的目的、意义：寿命试验是在试验室模拟各种使用条件来进行的，为了缩短试验时间在不改变失效机理的条件下，用加大应力的方法来进行试验，通过加速寿命试验可以评价产品的可靠性水平。

半导体照明用发光二极管（LED）可靠性要求是LED器件能否应用于半导体照明的重要考量。

因此，规定适当的寿命要求、测量与试验方法是规范行业有序竞争的首要条件，此标准的制定对于促进我国半导体照明产品应用和行业产业化发展具有重大意义。

范围和主要技术内容：1、范围：平均寿命是电子元器件最常用的可靠性参数，发光二极管（LED）一般以光输出的衰减值作判断来获取试验数据，常规的方法需要较长的时间，本标准给出了一种可缩短试验时间获取试验数据的方法和比较简易的数据处理程序。

本标准规定了LED产品加速寿命试验的程序。

它适用于各种可见光和非可见光LED光输出的慢退化模式。

通过试验数据可求得该产品的平均寿命。

2、主要研究内容：规定LED产品加速寿命试验的程序；适用于各种可见光和非可见光LED光输出的慢退化模式；通过加速寿命试验来计算产品的平均寿命和评价产品的可靠性水平。

国内外情况简要说明：国内已有标准：GB.2689.1-81 恒定加速寿命和加速寿命试验方法总则、GB.2-81寿命试验和加速寿命的图估法（用于威布尔分布）、GB.2689.3-81寿命试验和加速寿命的简单线性无偏估计法（用于威布尔分布）、GB.2689.4-81命试验和加速寿命的最好线性无偏估计法（用于威布尔分布）、SJ/T11099-96寿命试验用表最好线性无偏估计用表（极值分布、威布尔分布）。

本标准是针对我国半导体照明产品的发展要求，参照上述标准制订的。

功率Pt较小时可以忽略不计。 Rj-c为结到壳的热阻；Rc-h为壳到热沉的热阻， 当Rc-h在最佳情况下，计算时可以忽略不计；Rh-a为热沉到环境的热阻
9.3 激活能 通过公式<8.2-1>、<9.2-1>、 <9.2-2>求出激活能Ea
Ea
=
K
ln
Lc,(i－1) Lc,i
1 －1
T T j,(i-1)
前言
平均寿命是电子元器件最常用的可靠性参数，发光二极管的平均寿命一般以光通量（光 功率)的衰减值作为单一失效判据来获取试验数据，这时采用本标准给出的一种可缩短试 验时间获取试验数据的方法和比较简易的数据处理程序（简称退化系数外推解析法）。当 白光LED需要考虑色温漂移时，以色温漂移为单一判据的白光LED或同时考虑色温漂移和 光通量衰减具有2个失效判据的白光LED，则采用常规的定数截尾法获取试验数据，并采 用已有的国家标准：寿命试验和加速寿命的简单线性无偏估计法（GB 2689.3－81）、寿 命试验和加速寿命的最好线性无偏估计法（GB 2689.4－81）来进行数据处理，然而这 种情况则需要较长的试验时间，而且数据处理的方法也比较复杂。 因此我们在制定“LED寿命试验方法”的标准分为2个阶段： （1）以光通量（光功率)的衰减值作为单一失效判据来获取试验数据，采用退化系数外推
GB 2689.3－81 寿命试验和加速寿命试验的简单线性无偏估计法（用于威布尔分布）
GB 2689.4－81 寿命试验和加速寿命试验的最好线性无偏估计法（用于威布尔分布）
GB/T 4589.1 －2006 分立器件和集成电路总规范
SJ/T 2355-2006 半导体发光器件测试方法
4
2020/1/22

数 的控 制要 求 。
室 内相 对 湿 度 还 可 以采 用 机 器 露 点 温 度 恒 定或不 恒定 的 方 式 进 行 控 制 。 当 室 内散 湿 量 较
大时， 宜采 用机器 露点 温度 不恒定 的方 式 。

警报 告 、 机维 修提 示 报告 、 风 系统 运行 报 告 、 回风
超 限报警 ； 冻保 护开 关 状 态监 测 ， 防冻 保 护 开关 动作 报警 ； 室外 温 、 湿度及 焓值 监测 。 ③ 监控 系统 中 央工 作 站 对该 系统 的 主 要管
理功 能 。各类 参 数 、 态 、 警 信 息 及 系统 动 态 状 报 流程 图和 参数趋 势记 录 图的显示 与存储 ； 可改 变 各设 备 的“ 自动 ” 态 ， 手／ 状 并对 设 置 为 “自动 ” 状 态 的设备 直接进 行起 停 控 制和 调 节 ， 可修 改 风 机 的起 停时 间表及 一些设 定 值 ；统计 风机 累计运 行 时 间和能 量消 耗 ；打 印各类 报告 和 图表 ， 括 报 包
［ ］ 程大章． ３ 智能 建筑 理论 与工 程实 践 ［ ］ 北 京 ： Ｍ ． 机
械 工 业 出 版社 。ｏ ９ ２ｏ． 收 稿 日期 ： ０ ２一 １— ０ ２ １ Ｏ ３
气 冷却器 ， 只是 直 接 控 制 室 内温 度 ， 对 室 内相 而
（ 完 ，０ ２年第 ３期待续 ） 未 ２１
丝 建
・
圜
专题讲 座 ・
Ｎｏ２Ｖｏ２ ｛ ｅ ｉｌ ．） ０ ２ ． １，Ｓ ｒ ２ ２１ ａ Ｎ０
态及 风机 运 行 状 态监 测 ， 机 运 行 时 间 累计 ， 风 风
对湿度 是 间接 控 制 。因此 ， 在运 行 中有 时 可能 会

LED加速老化测试技术【摘要】LED作为一种全新的光源技术，其应用越来越广泛。

怎样去测试LED的性能及使用寿命，一直受到行业和各使用部门的关注。

本文就基于LED 本身的发光原理，关键特性参数以及常见的使用环境去模拟测试出LED的寿命，从而给相关行业和部门以技术参考。

【关键词】LED; 输入功率; 寿命; 性能测试; 光输出功率; 加速老化; 积分球; 光谱曲线一、概述LED（Light Emitting Diode），又称发光二极管，它是利用固体半导体芯片作为发光材料，当两端加上正向电压，半导体中的载流子发生复合，放出过剩的光强而引起光子发射产生可见光，具有高亮度、长寿命、高效节能等显著优点。

基于目前的半导体制造技术，LED输入功率中只有大约5%～10%的能量转化为光能，其他的则转化为热能。

很多功率型LED的驱动电流可以达到70mA、100mA 甚至1A级，这样大的驱动电流会产出较高的热量。

如果LED器件和灯具的热系统或散热结构设计不完善，从PN结到LED外部环境（及空气）的热阻大，导致PN结结温过高，LED 芯片将快速劣化、器件寿命缩短。

资料显示在室温附近，温度每升高1℃，LED的发光强度会相应地减少1%左右。

因此对于大功率LED器件或灯具来说，热学特性、老化特性等越来越受到关注。

当LED，尤其是大功率LED应用在照明领域时，许多技术特性都是传统照明光源所不具有的，其光特征与白炽灯和荧光灯具有很大的区别，即使LED光源本身，灯具结构和LED分布也不相同，可以采用单颗LED，也可以采用多LED 集成，加之大功率LED光源产品种类的发展迅速，表现出许多特殊的发光特性。

同时由于目前LED还处于技术发展阶段，大功率LED的散热、稳定性等问题尤其突出，分析发光特性的同时必须考虑温度影响以及老化因素，需要全面综合的测试分析手段。

因此不能套用以前传统光源和基本LED标准，测试方法无法简单统一。

二、常用LED性能测试参数1.光度参数1.1 光通量光源在单位时间内所发出的光量称为光源的光通量，表示光源所有的光输出量。

LED加速寿命和可靠性试验时间：2012-05-09 15:28:39 来源：浙江省半导体照明测试作者：沈海平1. 概述随着近年来LED光效的不断提升，LED的寿命和可靠性越来越受到业界的重视，它是LED产品最重要的性能之一。

寿命是可靠性的终极表现，然而LED的理论寿命很长，像传统光源采用2h45min开、15min关的循环测试到寿命终了，对LED产品的测量显然不现实。

因此有必要对LED 产品采用加速老化寿命试验[1]，同时，也应当测试LED的热学特性、环境耐候性、电磁兼容抗扰度等与寿命和可靠性密切相关的性能，以综合分析LED的寿命。

2. LED可靠性和寿命相关的关键指标LED产品制造中的每一个元件和环节都会对其可靠性和寿命产生影响，例如，LED结和基板的虚焊、LED荧光粉的热猝灭和退化、封装材料的退化以及驱动器的失效等，最后退化的可能才是半导体(PN结)本身。

这些因素导致LED产品失效(退化)的方式也不尽相同，一般可分为缓变退化(gradual degradation)和瞬变退化(abrupt degradation)。

LED的缓变退化(失效)指标主要包括：流明维持率下降，即光衰，一般以初始光通量为100%，当LED产品的流明维持率下降到初始值的70%或50%时，认为LED失效，流明维持寿命相应记为L50或L70;颜色漂移，受到荧光粉或封装材料的变化，LED的颜色会在寿命期间内发生漂移，该漂移应在指定范围以内(如△u’v’≤0.007)，超过范围则视为LED失效;电性能变化，电性能变化能更为直观地监测;开关次数，开关可能会对驱动等电路产生一定影响;热阻变化和其它热特性参数曲线，热特性与寿命息息相关，对热特性的测量和分析有助于找出LED可靠性的薄弱环节;LED的瞬变退化(失效)即LED的光输出突然降为0，其主要退化包括：抗电磁干扰能力：静电放电、雷击浪涌、快速群脉冲、周波跌落;高低温冲击耐受性特性;盐雾、耐湿、振动等。

led加速寿命试验方法LED加速寿命试验方法LED（Light Emitting Diode）是一种新型的半导体光源，具有高亮度、低功耗、长寿命等优点，被广泛应用于照明、显示等领域。

然而，由于LED灯具在使用过程中受到环境温度、湿度、电压等因素的影响，其寿命也会受到影响。

为了保证LED产品的质量和可靠性，需要进行加速寿命试验。

本文将介绍一种常用的LED加速寿命试验方法。

一、试样准备1.1 选择合适的试样根据实际需要选择合适的LED产品作为试样。

要求试样具有代表性，并且符合相关标准要求。

1.2 安装试样将所选试样安装在适当的测试设备上，如恒温恒湿箱或温度循环箱中。

二、试验条件设置2.1 温度条件设置根据实际情况选择合适的温度范围和温度变化规律。

一般情况下，常用的温度范围为-40℃~85℃，变化规律可以是恒定温度或者周期性变化。

2.2 湿度条件设置根据实际情况选择合适的湿度范围和湿度变化规律。

一般情况下，常用的湿度范围为10%~90%RH，变化规律可以是恒定湿度或者周期性变化。

2.3 电压条件设置根据实际情况选择合适的电压范围和电压变化规律。

一般情况下，常用的电压范围为0~500V，变化规律可以是恒定电压或者周期性变化。

三、试验过程3.1 开始试验将试样安装在测试设备中，并按照预设的温度、湿度、电压条件进行加速寿命试验。

3.2 定期检测在试验过程中，需要定期检测试样的光通量、颜色温度、漏光率等参数，并记录下来。

3.3 考虑人为因素在试验过程中，还需要考虑人为因素对试样寿命的影响。

例如，是否经常开关灯具、是否频繁调节亮度等因素都会影响LED灯具的寿命。

四、试验结果分析4.1 数据处理根据记录下来的数据进行处理和分析，包括统计分析和图表展示等。

4.2 结果判断根据处理和分析后的数据，判断试样的寿命是否符合要求。

如果不符合要求，则需要进一步调整产品设计或者制造工艺。

五、试验注意事项5.1 试验过程中需要严格控制温度、湿度、电压等条件，避免因环境因素对试样寿命的影响而导致实验结果不准确。

两种LED灯具寿命试验方法
LED 光源的最大特点就是寿命长，可达到50000~100000 小时，长时间的监测其光衰情况是不实际的，因此，本标准将通过一种加速寿命试验的方法来预测LED 灯具的寿命。

适用范围
●本标准适用于各类LED 灯具的寿命测试，不包含灯具的电源部分的测试。

技术要求
●把LED 灯具的光输出为初始光输出的70%作为寿命判断失效的指标。

试验方法一
●结温是影响LED 光衰减的重要原因。

结温的升高会使LED 光衰很快。

LED 在高电流下工作会产生更多得热量，从而加速老化。

●本试验方法采用不同的驱动电流，选取5 只LED 灯具，在25℃环境温度下，用不同电流进行加速寿命试验，得出光输出衰减的数学模型。

●数学模型
y=exp(-αt)
α=m×exp（nI）
其中y 表示相对光输出，α表示衰减常数，t 为点灯时间，m、n 为常数，
I 为测试电流。

●根据不同电流下的得到的关于y 和t 的测试数据，最终得出关于不同灯具的衰减系数α，从而得出光通维持率在70%的寿命值t70%
试验方法二
●采用温度作为恒定的加速应力，推算出在25℃下LED 灯具失效判据。

LED照明产品加速衰减试验国标近年来，随着LED照明产品的广泛应用，人们对照明产品的品质和耐久性要求也越来越高。

为了规范LED照明产品的质量评定和耐久性测试，国家相关部门出台了LED照明产品加速衰减试验的国家标准。

本文将就LED照明产品加速衰减试验国标进行深入探讨，以便更好地理解和运用这一标准。

一、国标概述1.1 标准编号LED照明产品加速衰减试验国标的编号为GB/T 34726-2017。

1.2 适用范围该国标适用于LED照明产品的加速衰减试验，其目的是评估LED照明产品在短时间内的光衰减情况，以确定其光通量的变化规律和寿命预测。

1.3 试验内容LED照明产品加速衰减试验国标主要包括以下内容：（1）试验样品的选择和准备（2）试验条件的确定（3）试验过程的记录（4）试验结果的评定（5）报告的编制1.4 试验方法国标规定了LED照明产品的加速衰减试验方法，包括恒定温度潮湿度试验、温度循环试验、高温试验、低温试验等方法。

在试验过程中，需要对试验样品的光通量进行定期测试，以确定其光衰减情况。

1.5 试验结果的评定根据国标规定的方法和标准，对LED照明产品的试验结果进行评定，以确定其光衰减规律和寿命预测，为产品的质量评定提供依据。

二、个人观点和理解个人认为LED照明产品加速衰减试验国标的出台对LED照明产品行业具有重要意义。

这一国标对LED照明产品的质量评定提供了科学严谨的标准，有助于消费者了解和选择优质的LED照明产品。

国标要求LED照明产品在短时间内进行加速衰减试验，可以更快速地评估产品的质量和寿命，有利于生产企业及时改进产品设计和生产工艺，提升产品品质。

LED照明产品加速衰减试验国标的实施，有望推动LED照明产品行业的健康发展，促进技术创新和产品升级，推动产业升级和可持续发展。

三、总结LED照明产品加速衰减试验国标的出台，对LED照明产品的质量评定和行业发展具有积极的推动作用。

国标的适用范围、试验内容、方法和结果评定等方面都有详细规定，为LED照明产品的加速衰减试验提供了科学规范的依据。

电子技术与软件工程Electronic Technology&Software Engineering电力电子Power Electronic LED开发中的加速寿命试验方法刘强梅端*(广东海洋大学广东省湛江市524088)摘要：本文探讨基于加速寿命试验的LED可靠性评定方法及不同应力因子下的加速寿命试验模型，并对LED失效模式及失效原因进行讨论。

发光二极管(LED)为高可靠性节能元件，在一般照明、汽车照明和户外照明等应用中起着重要的作用。

关键词：加速寿命试验；发光二极管；LED开发LED因其具有高可靠性和节能性优点，广泛应用于一般照明、汽车照明和户外照明。

经过一定工作时间，LED的光输出会下降，不再满足应用需要，因此有必要在开发阶段对LED的寿命进行预测评估。

本文将讨论LED开发过程中的加速寿命试验方法、LED 失效模式及失效原因。

1LED加速寿命试验随着时间的推移，LED的光输出会降低。

LED的寿命可定义为不能为一个预期的应用提供足够的光输出的时间点。

美国固态照明系统与技术联盟建议将有效寿命定义为：对于一般照明，光输岀衰减到初始流明的70%(L70),装饰用LED下降到初始流明的50%(L50)o对于某些应用，可能需要高于70%的水平。

LED寿命与光输出关系如图1所示。

随着LED制造技术的进步，LED寿命可达50000小时，甚至100000小时。

在LED开发中采用加速寿命试验方法预测LED寿命，可缩短试验时间，降低试验成本。

通过加速寿命试验进行寿命预测主要是运用与物理失效规律相关的统计模型，将在超出正常应力水平下获得的寿命信息转换为LED在正常应力水平下寿命的…种试验方法。

LED产品加速寿命试验基本原理如图2所示。

2LED加速寿命试验模型加速寿命试验的关键是加速寿命试验模型的确定。

选取不同的应力进行加速寿命试验，代表物理失效规律的加速模型不同。

加速寿命试验应力因子的选择取决于LED使用环境，通常为温度、电流、湿度和温度循环等应力因子。

研究课题：LED光源加速寿命试验姓名：***班级：工业工程121班学号：**********目录1.LED光源相关简介 (1)1.1什么是LED光源 (1)1.2LED光源的发光原理 (2)1.3LED光源的优点及存在的问题 (2)1.4LED寿命定义 (3)2.LED光源使用寿命的影响因素 (3)2.1散热效果对LED寿命的影响 (3)2.2驱动电源对LED寿命的影响 (4)2.3 LED芯片对LED寿命的影响 (4)3.加速寿命试验方案 (4)3.1寿命试验的种类 (5)3.2加速寿命试验的基本原理 (5)3.3加速寿命试验的过程 (6)3.4加速寿命试验的方法 (6)3.5LED光源加速寿命试验方案 (7)3.5.1电流加速寿命试验方案 (7)3.5.2温度加速寿命试验方案 (8)4.LED灯具寿命评价方法 (8)5.总结与展望 (9)参考文献 (9)LED光源加速寿命实验摘要本文首先对LED光源做了相关的简介，描述了LED光源的定义、发光原理、优缺点以及LED 寿命的理解。

然后对LED光源使用寿命的影响因素进行研究，发现散热效果、驱动电源和LED芯片都会对LED的寿命产生影响。

并根据以上影响因素，从电流和温度俩个方面角度考虑，制定了LED光源的加速寿命试验方案。

最后，基于LED光源加速寿命试验方案的设计，提出了LED灯具寿命的评价方法—模糊综合评价法。

因为LED 灯具系统不同于 LED 光源，影响其寿命的因素众多且复杂，而且每个因素对它的影响程度都各不相同，模糊综合评价法可以很好的解决模糊的、难以量化的问题。

关键词：LED光源、使用寿命、影响因素、加速寿命试验、模糊综合评价法1.LED光源相关简介1.1什么是LED光源LED光源就是发光二极管（LED）为发光体的光源。

发光二极管发明于20世纪60年代，在随后的数十年中，其基本用途是作为收录机等电子设备的指示灯。

这种灯泡具有效率高、寿命长的特点，可连续使用10万小时，比普通白炽灯泡长100倍。

led照明产品加速衰减试验国标摘要：一、LED 照明产品传统可靠性测试方法的局限性二、LED 照明产品光通量衰减加速试验的意义三、LED 照明产品光通量衰减加速试验的方法四、试验结果的评估与应用五、LED 照明产品光通量衰减加速试验在我国的发展情况正文：一、LED 照明产品传统可靠性测试方法的局限性随着LED 照明技术的不断发展，LED 照明产品已经在市场上占据重要地位。

然而，传统的LED 照明产品可靠性测试方法存在时间长、成本高等问题，这限制了新产品的市场推广速度。

对于光通量衰减预估寿命25000h 的LED 照明产品，通常需要对产品或其光学模组进行至少6000h 的试验，这无疑增加了企业的研发成本和产品上市的时间。

二、LED 照明产品光通量衰减加速试验的意义为了解决这一问题，LED 照明产品光通量衰减加速试验应运而生。

这种试验方法可以在不影响可靠性评价精度的前提下，大大缩短试验时间。

通过光通量衰减加速试验，企业可以更快地评估新产品的可靠性，从而提高产品的研发效率和市场推广速度。

三、LED 照明产品光通量衰减加速试验的方法LED 照明产品光通量衰减加速试验通常采用以下方法：1.设定不同的温度、湿度、电压等试验条件，以模拟不同环境下产品的使用情况；2.对产品进行长时间的点亮试验，观察其光通量衰减情况；3.利用数学模型分析试验数据，预测产品在实际使用过程中的光通量衰减情况。

四、试验结果的评估与应用试验结果可以用于评估LED 照明产品的可靠性和寿命。

对于光通量衰减较快的产品，企业可以通过优化设计、选用更高质量的材料等方式提高其可靠性；对于光通量衰减较慢的产品，企业可以在保证可靠性的前提下，降低成本，提高市场竞争力。

此外，试验结果还可以为企业提供产品维修、更换等售后服务的依据。

五、LED 照明产品光通量衰减加速试验在我国的发展情况近年来，我国LED 照明产业快速发展，LED 照明产品光通量衰减加速试验技术也取得了显著进步。