第六章 光学检测技术-张静
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张静同志主要事迹
张静,女,1979年7月出生,中共党员,研究生学历,博士学位,现为生命科学学院讲师。
该同志主要从事电化学生物传感
技术、光学可视化传感技术和电致化
学发光传感技术及其在真菌毒素、基
因、蛋白和金属离子检测方面的研究。
目前主持国家自然科学基金青年项目1项、福建省自然科学基金1项、福建省高校杰出青年基金1项、福建省医学创新基金和福建省卫生厅青年基金各1项。
近年来在SCI收录的Biosensors and Bioelectronics、Chemistry Communications、Analytical Chemistry及Electrochemistry Communications等刊物上发表论文二十多篇,第一作者的SCI 总影响因子达45,其中影响因子大于5.0的7篇。
获福建省优秀博士论文三等奖,福建省自然科学优秀学术论文奖3项(二等奖1项、三等奖2项,均排名第二)。
实验一:数字干涉测量方法及实验一、实验目的和实验内容(1) 了解激光干涉的近代方法——数字干涉技术的原理和方法;(2)掌握干涉的实时检测技术;(3)了解数字干涉方法的特点及应用场合。
二、基本原理随着电子技术与计算机技术的发展,并与传统的干涉检测方法结合,产生了一种新的位相检测技术——数字干涉技术,这是一种位相的实时检测技术。
这种方法不仅能实现干涉条纹的实时提取,而且可以利用波面数据的存储功能消除干涉仪系统误差,消除或降低大气扰动及随机噪声,使干涉技术实现λ/100的精度,这是目前干涉仪精度最高的近代方法其原理如下图所示。
图中的实验系统仍采用T-G干涉仪,但参考镜2由压电陶瓷PZT驱动,产生位移。
此位移的频率与移动量由计算机控制。
设参考镜的瞬时位移为li,被测表面的形貌(面形)为w(x,y),则参考光路和测试光路可分别用下式表示:U R=a·exp[i2k s+li] (1)U t=b·exp{ i2k s+w(x,y)} (2)式中a,b为光振幅常数。
参考光与测试光相干产生干涉条纹,其瞬时光强由式1与式2,可得:I(x,y,li)=1+rcos2k[w x,y−li] (3) 式中r=2ab(a2+b2)是干涉条纹的对比度。
式3说明,干涉场中任意一点的光强都是li 的余弦函数。
由于li 随时间变化,因此式3的光强是一个时间周期函数,可用傅里叶级数展开。
设r=1,则I x,y,li=a0+a1cos2kli+b1sin2kli(4)式中:a0=a2+b2,a1=2abcos2kw x,y,b1=2absin2lw x,y由三角函数的正交性,可求出Fourier 级数的各个系数,即从而求得被测波面,由下式给出:式中为进一步降低噪声,提高测量精度,可用P个周期进行驱动扫描,测量数据作累加平均,即式7 说明孔径内任意一点的位相可由该点上的n×p个光强的采样值计算出来,因此,可获得整个孔径上的位相。
我问了出题老师,说复试和我们期末考试重点和题型差不多,期末划的重点如下
第一章
1 光电检测技术3个基本组成部分
2 光电检测技术基本工作原理
3 光电变换5种形式(期末考试考了1和3 填空)
第二章
1 直读法,指零法,差动法,补偿法(概念)
2 光通量的波数,频率,时间,相位测量(期末考试考了测距离,要求画图,原理)
3 调制的相关概念(期末考试考了名词解释)
4 光学目标(简单光学目标复杂光学目标)光学目标两个检测方法(几何中心,亮度中心)(期末考试考了名词解释)
第3章
1 光学干涉概念,光电干涉测量技术概念
2 相幅变换作用的方程式3为什么说干涉仪是光学调制和解调的组合?(必看,重点,要背下来)
4 相干光信息按调制解调分为哪些类型?(期末考试考了)
5 光外差探测特性和单频光干涉条纹检测
6 差频检测3种类型
7 多普勒效应,萨纳克效应(期末考试考了简答题)
第四章(考大题)
1主要看光栅及莫尔条纹法(期末考了,图和原理),再看下反射测量法及其特点
2辐射测温的比色法原理及框图(好像考了,记不清)3 电荧光法原理 4 比色法与荧光法区别
第五章
1 尺寸检测1)微小尺寸检测(期末考了)2)小尺寸
补充考点
1激光打印过程硒鼓带电扫描曝光静电成像着色转印热压定影清洗硒鼓(必考)
2测量几何尺寸方法总结1聚焦法2遮挡法3扫描法4反射法5成像法6开关法7干涉法8莫尔条纹法
我们期末考试的内容都在这里面,没划到的一般不考,你要是不放心稍微过一遍,主要看这些
题型为填空,名词解释,简答,考概念和原理,有一道设计题比如说测雨速,风速这样的。
一、实习背景光学检测技术是现代科技领域中不可或缺的一部分,广泛应用于光学元件制造、光学仪器研发、生物医学、航空航天等领域。
为了更好地掌握光学检测技术,提高自己的实践能力,我参加了为期两周的光学检测实习。
本次实习主要在光学检测实验室进行,实习内容涉及光学元件检测、光学仪器调试、光学参数测量等方面。
二、实习目的1. 熟悉光学检测实验室的基本布局和设备;2. 掌握光学元件检测、光学仪器调试、光学参数测量等基本技能;3. 培养动手操作能力和团队协作精神;4. 提高对光学检测技术的认识和兴趣。
三、实习内容1. 实验室参观实习的第一天,我们参观了光学检测实验室,了解了实验室的基本布局和设备。
实验室分为光学元件检测区、光学仪器调试区、光学参数测量区等。
主要设备有干涉仪、光谱仪、显微镜、投影仪等。
2. 光学元件检测光学元件检测是光学检测的基础,本次实习主要学习了以下几种检测方法:(1)干涉法检测:利用牛顿环、菲涅耳双棱镜等干涉仪检测光学元件的表面质量、厚度、曲率等参数。
(2)光谱法检测:利用光谱仪检测光学元件的透射率、反射率等光学特性。
(3)显微镜检测:利用显微镜观察光学元件的表面质量、划痕、气泡等缺陷。
3. 光学仪器调试光学仪器调试是保证光学仪器正常工作的重要环节,本次实习主要学习了以下几种调试方法:(1)望远镜调试:调整望远镜的焦距、放大倍数等参数,使其达到最佳观测效果。
(2)显微镜调试:调整显微镜的照明、聚焦、放大倍数等参数,使其达到最佳观测效果。
4. 光学参数测量光学参数测量是光学检测的重要环节,本次实习主要学习了以下几种测量方法:(1)折射率测量:利用阿贝折射仪测量光学材料的折射率。
(2)色散率测量:利用光谱仪测量光学材料的色散率。
(3)光束偏振度测量:利用偏振片测量光束的偏振度。
四、实习心得1. 实践是检验真理的唯一标准。
通过本次实习,我对光学检测技术有了更深入的认识,理论知识得到了巩固,实践能力得到了提高。
一、实验目的1. 熟悉光学测试技术的基本原理和实验方法。
2. 掌握光学测试仪器的操作技巧和数据处理方法。
3. 通过实验,验证光学测试技术在光学系统中的应用效果。
二、实验原理光学测试技术是利用光学原理和方法对光学系统进行测试和检测的技术。
其主要内容包括:光学元件的测量、光学系统的成像质量测试、光学系统的性能测试等。
三、实验仪器与材料1. 实验仪器:- 光学测试台- 光学元件(透镜、棱镜等)- 全息干涉仪- 激光器- 光学显微镜- 照相机- 计算机- 数据采集卡2. 实验材料:- 光学元件- 光学系统- 样品四、实验内容及步骤1. 光学元件测量(1)测量透镜的焦距将透镜放置在光学测试台上,调整光路,使激光束通过透镜后聚焦到光屏上。
通过测量光屏上的光斑直径,计算出透镜的焦距。
(2)测量透镜的球差将透镜放置在光学测试台上,调整光路,使激光束通过透镜后产生球差。
通过测量光屏上的球差曲线,计算出透镜的球差。
2. 光学系统成像质量测试(1)测试光学系统的像差将光学系统放置在光学测试台上,调整光路,使激光束通过系统后聚焦到光屏上。
通过测量光屏上的像差曲线,计算出光学系统的像差。
(2)测试光学系统的分辨率将光学系统放置在光学测试台上,调整光路,使激光束通过系统后聚焦到光屏上。
通过测量光屏上的衍射图样,计算出光学系统的分辨率。
3. 光学系统性能测试(1)测试光学系统的光通量将光学系统放置在光学测试台上,调整光路,使激光束通过系统后聚焦到光屏上。
通过测量光屏上的光强分布,计算出光学系统的光通量。
(2)测试光学系统的光谱特性将光学系统放置在光学测试台上,调整光路,使激光束通过系统后聚焦到光谱仪上。
通过测量光谱仪输出的光谱曲线,计算出光学系统的光谱特性。
五、实验结果与分析1. 光学元件测量结果(1)透镜焦距:f = 200mm(2)透镜球差:C = 0.02mm2. 光学系统成像质量测试结果(1)像差:RMS = 0.01mm(2)分辨率:R = 50lp/mm3. 光学系统性能测试结果(1)光通量:Φ = 80%(2)光谱特性:在可见光范围内,光学系统具有较好的光谱透过率。
一、实验目的1. 了解光学测量技术的原理和基本操作。
2. 掌握使用光学测量仪器进行实验的方法和技巧。
3. 通过实验,验证光学测量技术的准确性和可靠性。
二、实验原理光学测量技术是利用光学原理对物体进行精确测量的技术。
它主要包括干涉测量、激光测量、光学成像测量等方法。
本实验主要采用干涉测量法,通过干涉条纹的变化来计算物体的长度、厚度等参数。
三、实验仪器与材料1. 干涉仪:牛顿环干涉仪2. 待测物体:玻璃平板、透镜、标准尺等3. 其他辅助设备:读数显微镜、光源、滤光片等四、实验步骤1. 牛顿环干涉仪的调整(1)将牛顿环干涉仪放置在平稳的工作台上,调整水平。
(2)开启光源,调节光源强度,使干涉条纹清晰可见。
(3)将待测物体放置在牛顿环干涉仪的载物台上,调整待测物体与干涉仪的距离,使干涉条纹与载物台平行。
2. 测量牛顿环半径(1)使用读数显微镜观察牛顿环干涉条纹,选取清晰且等间距的干涉环。
(2)记录干涉环的半径,重复测量多次,取平均值。
3. 计算待测物体的厚度(1)根据牛顿环干涉公式,计算待测物体的厚度。
(2)利用公式计算厚度,并与实际值进行比较,分析误差。
4. 测量透镜的焦距(1)将透镜放置在牛顿环干涉仪的载物台上,调整距离,使干涉条纹清晰。
(2)记录干涉条纹的半径,重复测量多次,取平均值。
(3)根据透镜的焦距公式,计算透镜的焦距。
5. 分析实验结果(1)比较测量值与实际值,分析误差来源。
(2)讨论实验过程中遇到的问题及解决方法。
五、实验结果与分析1. 牛顿环半径测量待测物体的牛顿环半径测量结果如下:| 干涉环编号 | 半径(mm) || -------- | -------- || 1 | 1.23 || 2 | 1.25 || 3 | 1.28 || 4 | 1.30 |平均半径:1.25 mm2. 待测物体厚度计算根据牛顿环干涉公式,计算待测物体的厚度为:厚度= 2 R λ / m其中,R为牛顿环半径,λ为光源波长,m为干涉环编号。