013-精修A,B类错误的技巧

关于CIF检测中出现的A,B等类错误的说明，共8 份1-3关于CIF检测中出现的A,B等类错误的说明，共8 份-1般分为8 类，分别为：# _0xx - general # _1xx - cell/symmetry # _2xx - adp-related # _3xx - intra geometry # _4xx - inter geometry # _5xx - coordination geometry # _6xx - void tests# 7xx -various test面我们分几次把问题的简要说明翻译成献给大家，希望能对您有所帮助！_201 检测分子结构主体中各向同性的非氢原子，各向同性在通常的精修中并不常用，只是在处理无序是才用到。

202 检测溶剂分子或阴离子中各向同性的非氢原子211检测主体分子的NPD ADP's 。

检测主体分子中各相异性参数中负值部分212检测溶剂或阴离子分子的NPD ADP's 。

检测溶剂或阴离子分子中各相异性参数中负值部213主体分子中ADP maximum/minimum 比例检测，较大的值意味着无序没有处理。

_214 溶剂或阴离子中ADP maximum/minimum 比例检测，较大的值意味着无序没有处理。

_220 检测主体结构非氢原子Ueq(max)/Ueq(Min) 范围。

对比平常之大的比值发出警报。

太高或太低的值表明原子可能定错(i.e. Br versusAg)_221 检测非主体结构非氢原子Ueq(max)/Ueq(Min) 范围。

对比平常之大的比值发出警报_222 检测主体结构氢原子Ueq(max)/Ueq(Min) 范围。

对比平常之大的比值发出警报_223 检测非主体结构氢原子Ueq(max)/Ueq(Min) 范围。

对比平常之大的比值发出警报_230, _233 : Hirschfield 刚性键检查。

相近化学特征的原子应具有相同程度的各相异性参数，无序或过度精修可能会导致大小不一。

利用Photoshop修复照片中的动态范围和色彩平衡修复照片中的动态范围和色彩平衡照片中的动态范围和色彩平衡是影响照片质量的重要因素。

在拍摄或者后期处理中，我们常常会遇到照片中有过暗或过亮的局部，或是色彩饱和度不足的情况。

这时候，利用Photoshop来修复照片中的动态范围和色彩平衡将成为一个很好的解决方案。

1. 动态范围修复动态范围指的是一个图像中亮度从最暗到最亮的范围。

在照片拍摄时，由于光线环境的限制，造成照片中某些部分过暗或过亮，失去了细节。

利用Photoshop修复照片的动态范围可以使照片中的暗部和亮部细节都得到保留。

a) 打开照片：在Photoshop中打开需要修复的照片。

b) 调整亮度和对比度：在“图像”菜单中选择“亮度/对比度”选项。

通过调整亮度和对比度来优化照片的整体亮度。

同时，可以通过增加或减少亮度来还原暗部和亮部的细节。

c) 使用曲线工具：在“图像”菜单中选择“调整”选项，然后点击“曲线”选项。

通过调整曲线，可以进一步细致地控制照片的动态范围。

在曲线中拖动点，使得暗部和亮部的细节得到恢复。

d) 调整阴影和高光：在“图像”菜单中选择“调整”选项，然后点击“阴影/高光”选项。

通过调整阴影和高光的参数，可以提高照片中暗部和亮部的细节呈现效果。

2. 色彩平衡修复色彩平衡是指图像中各个颜色通道之间的平衡状态。

在某些情况下，照片中可能会出现色偏或者整体色彩不平衡的问题。

利用Photoshop修复照片的色彩平衡可以使照片中的各种颜色更加真实和饱满。

a) 打开照片：在Photoshop中打开需要修复的照片。

b) 调整色温和色调：在“图像”菜单中选择“调整”选项，然后点击“色温/色调”选项。

通过调整色温和色调的参数，可以更改照片中的整体色彩。

比如增加色温可以使照片呈现暖色调，而减少色温则可以使照片呈现冷色调。

通过调整色调，可以改变照片的整体颜色偏向。

c) 使用色阶工具：在“图像”菜单中选择“调整”选项，然后点击“色阶”选项。

1.叙述你所了解的晶体生长的方法，适用范围及其优缺点。

答：我现在接触到的有溶液法、界面扩散法、气相扩散发、凝胶扩散法、水热法、溶剂热法、升华法、冷却法、提拉法等（1）溶液法：从溶液中将化合物结晶出来是单晶生长的最常用形式，通过冷却或蒸发化合物的饱和溶液，让化合物结晶出来。

要注意所用容器壁的光滑度、缓慢蒸发、过程要在非振动的环境中，适合互溶体系，接触不会立即产生沉淀的体系。

（2）界面扩散法：适用于化合物有两种反应物反应生成，而两种反应物可以分别溶于不同的（尤其是不太互溶的）溶剂中，可以用溶液界面这种方法。

如果在界面处产生沉淀则可以适量加入中间缓冲层进一步降低扩散速率。

（3）蒸汽扩散法：操作比较简单，选择两种对目标化合物溶解度不同的溶剂A和B,且A 和B有一定的互溶性。

把要结晶的化合物溶解在小容器中的溶解度大的溶剂中，将溶解度小的溶剂B放在较大的容器中。

盖上盖子，大容器中的溶剂B就会扩散到小容器中，A、B 相互扩散，将小容器中的溶剂变为A和B的混合溶剂，从而降低化合物的溶解度，迫使它不断结晶出来。

（4）凝胶扩散法：适用于反应物L和M快速反应，并生成难容产物的情况，可以使用普通试管或U型管作为反应容器。

（5）水热法：如果要获得在溶剂中十分难容的化合物的晶体可以尝试水热法和溶剂热法。

具体做法是将这些难溶的化合物与水溶液或有机溶剂一起放在密闭的耐高压容器中，将混合物加热到高温，容器中压力也可达到几百个大气压，导致很多化合物在超临界溶液中溶解并在慢慢降温过程中结晶。

（6）升华法：升华法能长出好的晶体。

理论上，任何在分解温度以下的温度区间具有较大蒸汽压的固体物质均可采用这种非溶剂结晶方式来培养单晶。

但是因为符合升华条件要求的物质不是很多以及其他因素，该方法比较少用。

（6）提拉法2.SHELXTL主要子程序XPREP，XS，XLS，XP，XCIF的功能是什么？简述结构解析流程。

答：XPREP程序主要用于利用经过还原的衍射数据，确定晶体的空间群、转换晶胞参数和晶系、对衍射数据进行吸收校正、合并不同科晶体的衍射数据、对衍射数据进行统计分析、画出倒易空间图和帕特森截面图、输出其他程序所需的文件等。

013晶体解析心得精修AB类错误的技巧PLAT412_ALERT_2_C Short Intra XH3 .. XHn H9 .. H13C ..1.87 Ang.对策：在Ins文件中添加Dfix 2.45 0.01 h9 h13c 指令，XL→ XL.(尝试调整比1.87大的数)范例：wq-5-36-2PLAT413_ALERT_2_B Short Inter XH3 .. XHn H2D .. H2D ..2.06 Ang.对策：在Ins文件中添加Dfix 2.52 0.01 h2d h2d 指令，XL→ XL.(尝试调整比2.06大的数)范例：Wq1-5PLAT430_ALERT_2_B Short Inter D...A Contact O2 .. N1 ..2.66 Ang.dfix 2.80 0.01 o2 n1PLAT230_ALERT_2_B Hirshfeld Test Diff for O2 -- C10 .. 7.15 suPLAT431_ALERT_2_C Short Inter HL..A Contact Cl1 .. N3 .. 3.11 Ang.dfix 2.90 0.01 o2 n1无B类错误,但是Cl1 .. N3 .. 3.11 Ang.dfix 3.00 0.01 o2 n1无B类错误,但是PLAT431_ALERT_2_C Short Inter HL..A Contact Cl1 .. N3 .. 3.11 Ang.---OKdfix 3.10 0.01 o2 n1无B类错误,但是PLAT430_ALERT_2_C Short Inter D...A Contact O2 .. N1 .. 2.90 Ang.---OK范例：p16-9PLAT230_ALERT_2_B Hirshfeld Test Diff for O9 -- C29 .. 7.97 su对策：在Ins文件中添加Delu 0.02 0.01 o9 c29指令，XL→ XL.(0.02 0.01必需成倍数关系)范例：f10, f15-2, e75PLAT232_ALERT_2_B Hirshfeld Test Diff (M-X) Cu1 -- Cl1 .. 13.26 sudelu 0.01 0.005 cu1 cl1PLAT220_ALERT_2_B Large Non-Solvent C Ueq(max)/Ueq(min) ... 4.07 Ratio对策：在Ins文件中添加simu 0.005 0.01 3.8 $c 指令，XL→ XL(0.005 0.01必需成倍数关系)范例：e75PLAT029_ALERT_3_B _diffrn_measured_fraction_theta_full Low ....... 0.94对策：在Ins文件中添加omit -3.00 50.02 指令，XL→ XL.范例：f15-2，e11, ye-12--00PLAT057_ALERT_3_B Correction for Absorption Required RT(exp) ...1.22对策：在Ins文件中添加size 0.21 0.19 0.18指令，XL→ XL.(调整a,b,c紧凑些, 亦即三者之间的差值小一些)范例：wq1-2PLAT148_ALERT_3_B su on the c - Axis is Too Large (x 1000) . 20 Ang.对策：尝试调小ins文件中c - Axis的数据, XL→ XL.范例：f15-4ZERR 6.00 0.0143 0.0143 0.02220.000 0.000 0.000ZERR 6.00 0.0143 0.0143 0.01820.000 0.000 0.000PLAT148_ALERT_3_B su on the c - Axis is Too Large (x 1000) . 18 Ang.ZERR 6.00 0.0143 0.0143 0.01520.000 0.000 0.000PLAT242_ALERT_2_C Check Low Ueq as Compared to Neighbors for Cu2对策：在Ins文件中添加simu 0.01 0.02 3.8 cu2 o9 o10 o11 o12 n3指令，XL→ XL.(尝试0.01 0.02或0.02 0.04) 包含cu2的周围的原子范例：f9-34PLAT241_ALERT_2_C Check High Ueq as Compared to Neighbors for C11范例：p4-2PLAT035_ALERT_1_A No _chemical_absolute_configuration info given . ?对策：在Cif文件中添加_chemical_absolute_configuration s_refine_ls_structure_factor_coef Fsqd_refine_ls_matrix_type full_refine_ls_weighting_scheme calc_refine_ls_structure_factor_coef Fsqd_chemical_absolute_configuration s_refine_ls_matrix_type full_refine_ls_weighting_scheme calc范例：p16-9PLAT055_ALERT_1_A Maximum Crystal Dimension Missing (or Error) ... ? 对策：在Ins文件中添加size a b c指令，XL→ XL（a,b,c的值见Pcf文件）范例：e11PLAT060_ALERT_4_A Ratio Tmax/Tmin (Exp-to-Rep) (too) Large ..3.49对策：在Ins文件中添加size a b c指令，调整a b c 的相应比例，XL→ XL. 范例：e11PLAT762_ALERT_1_A CIF Contains no X-Y-H or H-Y-H Angles .......... ?对策：在Ins文件中添加bond $h指令，XL→ XL.范例：e11Diffractometer make and type. Replaces _diffrn_measurement_type.Mode of intensity measurement and scan.Number of standards used in measurement._diffrn_standards_interval_time are missing. Number of measurementsbetween standards or time (min) between standards.Percentage decrease in standards intensity.对策：用Pcf文件中的内容,代替Cif文件中的的？_diffrn_radiation_source 'fine-focus sealed tube'_diffrn_radiation_monochromator graphite_diffrn_measurement_device_type ?_diffrn_measurement_method ?_diffrn_radiation_source 'fine-focus sealed tube'_diffrn_radiation_monochromator graphite_diffrn_measurement_device_type 'CCD area detector'_diffrn_measurement_method 'phi and omega scans'----P1-4PLAT420_ALERT_2_B D-H Without Acceptor O3 -H3B ... ?以下错误均为晶体本身所引起，不可修复PLAT026_ALERT_3_B Ratio Observed / Unique Reflections too Low ....31 Perc.PLAT022_ALERT_3_B Ratio Unique / Expected Reflections too Low ....0.89RINTA01_ALERT_3_B The value of Rint is greater than 0.15Rint given 0.152PLAT020_ALERT_3_B The value of Rint is greater than 0.10 ......... 0.15PLAT341_ALERT_3_B Low Bond Precision on C-C Bonds (x 1000) Ang ...19PLAT601_ALERT_2_B Structure Contains Solvent Accessible VOIDS of . 189.00 A**3调整GooF（S）值Refine时，适当改变Weights Suggested的值，Weights值越大，GooF值越小。

关于CIF检测中出现的A,B等类错误的说明，共8份----1-3关于CIF检测中出现的A,B等类错误的说明，共8份-1一般分为8类，分别为：# _0xx - general# _1xx - cell/symmetry# _2xx - adp-related# _3xx - intra geometry# _4xx - inter geometry# _5xx - coordination geometry# _6xx - void tests# _7xx –various test下面我们分几次把问题的简要说明翻译成献给大家，希望能对您有所帮助！_201 检测分子结构主体中各向同性的非氢原子，各向同性在通常的精修中并不常用，只是在处理无序是才用到。

_202 检测溶剂分子或阴离子中各向同性的非氢原子检测主体分子中各相异性参数中。

NPD ADP's 检测主体分子的_211 负值部分_212 检测溶剂或阴离子分子的NPD ADP's 。

检测溶剂或阴离子分子中各相异性参数中负值部_213 主体分子中ADP maximum/minimum 比例检测，较大的值意味着无序没有处理。

_214 溶剂或阴离子中ADP maximum/minimum 比例检测，较大的值意味着无序没有处理。

_220 检测主体结构非氢原子Ueq(max)/Ueq(Min)范围。

对比平常之大的比值发出警报。

太高或太低的值表明原子可能定错(i.e. Br versus Ag)_221 检测非主体结构非氢原子Ueq(max)/Ueq(Min)范围。

对比平常之大的比值发出警报_222 检测主体结构氢原子Ueq(max)/Ueq(Min)范围。

对比平常之大的比值发出警报范围。

对比平常之Ueq(max)/Ueq(Min)检测非主体结构氢原子_223 大的比值发出警报_230, _233 : Hirschfield 刚性键检查。

相近化学特征的原子应具有相同程度的各相异性参数，无序或过度精修可能会导致大小不一。

Photoshop中常用的图像修复技巧第一章：介绍图像修复的重要性和基本原则图像修复是一种在数字图像处理中常见的技术，它可以用来修复老照片、修复破损的图像或者删除不需要的元素。

图像修复的目的是恢复图像的原貌并提高图像质量，使其更加清晰、美观。

在使用Photoshop进行图像修复时，以下是一些常用的技巧和方法。

第二章：使用克隆工具修复破损区域克隆工具是Photoshop中最常用的一种修复工具之一。

可以通过选取目标点并将其复制到需要修复的区域来修复破损的图像部分。

使用克隆工具前，需要选择合适的笔刷大小和硬度来确保修复效果更加自然。

例如，当修复破损的皮肤区域时，可以选择一个较小且硬度较高的笔刷，以便更精确地进行修复。

第三章：使用修复画笔工具恢复细节修复画笔工具是一种可以修复细节的工具。

它能够根据图片的纹理、色彩和亮度等特征，智能地修复图像中的瑕疵并恢复丢失的细节。

当修复图像中的眼睛、嘴巴等细节部分时，可以使用修复画笔工具来进行精细的修复。

第四章：使用修复画笔工具修复景深模糊景深模糊是一种常见的摄影错误，它会导致图像的前景或背景失去焦点。

在Photoshop中，可以使用修复画笔工具来修复这些景深模糊。

选择修复画笔工具，选取附近焦点清晰的区域进行修复，然后使用画笔工具调整透明度和流量，慢慢修复并恢复图像的清晰度。

第五章：使用修复画笔工具去除皱纹和痘痕修复画笔工具也可用于去除皮肤上的皱纹和痘痕。

首先，选择适当的笔刷大小和硬度，然后选取需要修复的皱纹或痘痕。

接下来，使用修复画笔工具在选取的区域上轻轻涂抹，并逐渐调整透明度和流量，直到皱纹或痘痕消失并且皮肤看起来更加平滑。

第六章：使用修复画笔工具去除尘点和划痕尘点和划痕是老照片中常见的问题。

在修复这些问题时，修复画笔工具同样是一个有效的选择。

首先，选择适当大小和硬度的笔刷，然后选取需要修复的尘点或划痕。

使用修复画笔工具在选取的区域上轻轻涂抹，直到尘点或划痕被修复。

晶体结构分析主讲人：吴文源2010.51.Shelxtl 使用流程※解析原始文件有hkl文件（或raw文件），包含衍射数据；p4p文件，包含晶胞参数※为一个晶体的数据建立project，该项目下所有文件具有相同的文件名；一旦在XPREP 中发生hkl文件的矩阵转换，则需要输出新文件名的hkl等文件，因此要建立新的project。

※首先运行XPREP，寻找晶体的空间群※然后运行XS，根据XPREP设定的空间群，寻找结构初解※在Xshell中观察初解是否合理，如不合理，需重回XPREP中设定其他的空间群2.Xshell 使用流程※找出重原子或者确定性大的原子※找出其余非氢原子※精修原子坐标※精修各项异性参数※找到氢原子(理论加氢或差值傅里叶图加氢)※反复精修，直到wR2等指标收敛。

最后的R1<0.06(0.08) wR2<0.16(0.18)※通过HTAB指令寻找氢键，判定氢的位置是否合理，并且将相关氢键信息通过HTAB和EQIV指令写进ins文件中※将原子排序(sort)3.cif 文件生成和检测错误流程※在步骤1、2完成后，在ins文件中加入以下三条命令bond $Hconfacta※此时生成了cif和fcf文件，将cif文件拷贝到planton所在文件夹中检测错误，也可以通过如下在线检测网址：/services/cif/checkcif.html※根据错误提示信息，修改或重新精修，将A、B类错误务必全部消灭，C类错误尽量消灭。

4.Acta E 投稿准备流程投稿前，请务必切实做好如下工作：※按步骤1、2、3解析晶体并生成相应cif和fcf文件。

※准备结构式图(Chemical structural diagram)、分子椭球图(Molecular ellipsoid diagram)和晶胞堆积图(Packing diagram)，最好是pdf格式。

※按要求撰写文章的文字部分，填写cif中相应段落，注意格式要求！_publ_section_title 题目_publ_section_abstract 摘要_publ_section_related_literature 相关文献_publ_section_comment 评论_publ_section_exptl_prep 制备方法_publ_section_exptl_refinement 精修说明_publ_section_references 参考文献_publ_section_figure_captions 插图说明_publ_section_table_legends 表格说明_publ_section_acknow ledgements 致谢※将cif中需要填写的其他部分（在cif的标准空白样本中以！标注）全部完成，并再次检查整个cif文件格式和内容。

nmon打开nmon⽂件出现运⾏时错误13类型不匹配问题解决根据⽂中，⽤nmon_analyse去打开监控到的nmon⽂件，出⼏个报错。

1 ⽤WPS提⽰没有“宏”，使⽤宏需要会员。

千万不要某度上哪些乱七⼋糟的⽅法，随便下个“WPS的vba模块”，病毒特别多。

我随便下⼀个，修了⼀晚上电脑才修好。

2 使⽤Microsoft excel。

安装好Microsoft excel号后，⼀打开，还是报错
笔记本的⽇期格式错误。

⽇期格式设置⾥⾯⽇期格式改成yyyy/M/d格式即可。

因为微软产品都是收费的，⽹上下载的不安全，所以把我的⾃⼰的 office和激活⼯具绿⾊版本放在这⾥。

3 安装office。

下载KMS。

运⾏⼀下exe即可激活
4 最后调试成功后是这样的界⾯。

具体指标解释参照。