光谱仪器原理
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光谱仪的工作原理光谱仪是一种用于分析光的仪器,它能够将光按照不同波长进行分离和测量,从而得到光的光谱信息。
光谱仪的工作原理主要基于光的色散和检测技术。
一、光的色散原理光的色散是指光在介质中传播时,不同波长的光由于折射率的不同而偏离原来的方向。
光谱仪利用光的色散原理将光分离成不同波长的光,然后对这些光进行测量和分析。
1. 折射光栅光谱仪中常用的色散元件是折射光栅。
折射光栅是一种具有规则刻线的光学元件,当入射光通过折射光栅时,不同波长的光会按照不同的角度进行偏折,从而实现光的分离。
2. 棱镜除了折射光栅,光谱仪中还可以使用棱镜来实现光的色散。
棱镜通过折射和反射的作用,将光按照不同波长进行分离。
二、光的检测原理光谱仪在分离光后,需要对不同波长的光进行测量和分析。
光的检测原理主要有光电效应、光敏元件和光电二极管等。
1. 光电效应光电效应是指光照射到物质表面时,会产生电子的现象。
光谱仪中常用的光电效应是光电发射效应,即当光照射到光敏元件上时,光子能量被吸收后会使光敏元件中的电子跃迁到导带中,产生电流信号。
2. 光敏元件光敏元件是一种能够将光信号转化为电信号的器件。
常用的光敏元件有光电二极管、光电倍增管和光电导电池等。
光敏元件可以根据光的波长和强度产生相应的电信号。
三、光谱仪的工作流程光谱仪的工作流程主要包括光的输入、光的分离、光的检测和数据处理等步骤。
1. 光的输入光谱仪的输入端通常连接光源,可以是白光源、激光器或者光纤等。
光源会发出一定波长范围内的光,作为光谱仪的输入信号。
2. 光的分离光谱仪通过色散元件(如折射光栅或者棱镜)将输入的光分离成不同波长的光。
分离后的光会形成一个光谱,包含了不同波长的光信号。
3. 光的检测分离后的光信号会被光敏元件接收并转化为电信号。
光敏元件将不同波长的光信号转化为相应的电流信号或者电压信号。
4. 数据处理光谱仪会将光敏元件产生的电信号转化为数字信号,并通过数据处理系统进行处理和分析。
光谱仪原理
光谱仪是一种用于分析物质的仪器,它能够将物质发出的光分解成不同波长的
光谱,通过对这些光谱的分析,可以得到物质的成分、结构和性质等信息。
光谱仪的原理是基于物质吸收、发射、散射光的特性,利用光的波长和能量与物质相互作用的规律,通过光学和光电技术来实现对光谱的测量和分析。
光谱仪的原理主要包括光源、样品、光栅、检测器和信号处理等几个方面。
首
先是光源,光源发出的光线通过透镜聚焦后照射到样品上,样品吸收、发射或散射部分光线。
然后经过光栅的作用,将不同波长的光线分散成不同的角度,再经过检测器的检测,最终得到光谱图像。
在信号处理方面,光谱仪会对检测到的光信号进行放大、滤波、数字化等处理,最终输出光谱数据供分析使用。
光谱仪的工作原理可以用于多种光谱技术,如紫外可见光谱、红外光谱、拉曼
光谱、荧光光谱等。
每种光谱技术都有其特定的原理和应用领域,比如紫外可见光谱主要用于分析化学物质的结构和测定物质的浓度,红外光谱用于分析物质的分子结构和功能基团等。
光谱仪的原理也与光学和光电技术息息相关。
在光学方面,光谱仪的光源、透镜、光栅等光学元件的设计和优化对光谱仪的性能有着重要影响。
在光电技术方面,检测器的灵敏度、分辨率、线性范围等性能指标对光谱仪的测量精度和可靠性有着决定性作用。
总的来说,光谱仪的原理是基于物质与光相互作用的规律,通过光学和光电技
术实现光谱的测量和分析。
光谱仪在化学分析、材料表征、生物医学、环境监测等领域有着广泛的应用,是一种非常重要的分析仪器。
通过对光谱仪原理的深入理解,可以更好地应用光谱技术进行物质分析和研究,推动科学技术的发展和创新。
光谱仪的工作原理光谱仪是一种用于分析物质光谱的仪器,它能够将光信号分解为不同波长的光谱成分,并测量其强度。
光谱仪的工作原理基于光的色散和检测技术,下面将详细介绍其工作原理。
一、光的色散原理光谱仪的工作原理基于光的色散现象。
当光通过一个棱镜或光栅时,不同波长的光线会被折射或衍射出不同的角度。
这是因为不同波长的光在介质中的传播速度不同,从而导致折射角度的差异。
利用这个原理,光谱仪能够将光信号分解为不同的波长成分。
二、光谱仪的构成光谱仪主要由光源、入射系统、色散系统和检测器组成。
1. 光源:光谱仪一般采用光电离氘灯、氙灯或激光器作为光源。
光源发出的光经过适当的准直和滤波处理后,成为光谱仪的入射光。
2. 入射系统:入射系统主要包括准直器、滤波器和光栅。
准直器用于将光源发出的光线变为平行光,滤波器则用于选择特定波长的光线。
光栅是光谱仪中常用的色散元件,通过光栅的衍射效应,将入射的光线分散成不同波长的光谱。
3. 色散系统:色散系统主要由光栅、透镜和狭缝组成。
光栅是光谱仪中最重要的部分,它能够将入射的光线按照波长进行分散。
透镜用于聚焦光线,使得光线能够通过狭缝。
4. 检测器:检测器用于测量不同波长的光信号的强度。
常用的检测器有光电二极管(Photodiode)、光电倍增管(Photomultiplier Tube)和CCD(Charge-Coupled Device)等。
这些检测器能够将光信号转化为电信号,并通过放大和转换等处理,得到光谱的强度信息。
三、光谱仪的工作过程光谱仪的工作过程主要包括光的产生、光的分散和光的检测三个步骤。
1. 光的产生:光谱仪的光源发出光线,经过准直和滤波处理,得到具有特定波长范围的入射光。
2. 光的分散:入射光通过入射系统中的光栅,根据不同波长的光线被衍射的角度差异,将光线分散成不同波长的光谱。
3. 光的检测:分散后的光谱经过透镜聚焦后,通过狭缝进入检测器。
检测器将光信号转化为电信号,并经过放大和转换等处理,得到光谱的强度信息。
光谱仪的工作原理引言概述:光谱仪是一种用于分析物质的仪器,它可以通过测量物质在不同波长的光下的吸收、散射或者发射来获取物质的光谱信息。
光谱仪的工作原理是基于光的波动性和物质对光的相互作用。
本文将从光的波动性、光的相互作用、光的分散、光的探测和数据处理等五个大点详细阐述光谱仪的工作原理。
正文内容:1. 光的波动性1.1 光的波长和频率:介绍光的波长和频率的概念,并解释它们与光的能量和颜色之间的关系。
1.2 光的传播特性:介绍光在真空和介质中的传播特性,包括光的传播速度和折射现象。
2. 光的相互作用2.1 吸收:解释物质吸收光的原理,包括电子的跃迁和共振吸收。
2.2 散射:介绍散射现象,包括瑞利散射和米氏散射,以及它们与物质的粒径和波长的关系。
2.3 发射:解释物质发射光的原理,包括激发态和自发辐射。
3. 光的分散3.1 折射率:介绍折射率的概念和测量方法,以及折射率与物质的性质之间的关系。
3.2 色散:解释色散现象,包括色散曲线和色散方程,以及它们与物质的折射率和波长的关系。
4. 光的探测4.1 探测器类型:介绍光谱仪常用的探测器类型,包括光电二极管、光电倍增管和光电子倍增管等。
4.2 探测器性能:详细阐述探测器的灵敏度、响应速度和线性范围等性能指标,以及它们对光谱仪测量结果的影响。
5. 数据处理5.1 光谱仪的输出:解释光谱仪的输出形式,包括光强-波长图和光强-时间图等。
5.2 数据分析:介绍光谱数据的处理方法,包括峰值识别、峰面积计算和光谱拟合等。
5.3 应用领域:列举光谱仪在化学分析、生物医学和材料科学等领域的应用,并说明其重要性和优势。
总结:综上所述,光谱仪的工作原理是基于光的波动性和物质对光的相互作用。
通过测量物质在不同波长的光下的吸收、散射或者发射,光谱仪可以获取物质的光谱信息。
光谱仪的工作原理涉及光的波动性、光的相互作用、光的分散、光的探测和数据处理等方面。
光谱仪的应用广泛,对于化学分析、生物医学和材料科学等领域的研究具有重要意义。
光谱仪的原理及应用方法前言光谱仪是一种用于测量光谱的仪器,能够将光的不同波长分离并进行分析。
光谱仪在许多领域都有广泛的应用,包括物理学、化学、天文学等等。
本文将介绍光谱仪的原理和几种常用的应用方法。
一、光谱仪的原理1.1 光的分光现象光在通过一个透明介质时会产生折射,同时不同波长的光波会以不同的角度折射。
这种现象被称为分光现象。
1.2 光谱仪的构成光谱仪一般由入射口、色散装置、检测器和数据处理单元组成。
入射口接收光信号,并将其导入色散装置。
色散装置将光按照其波长进行分散,并通过检测器将分散后的光信号转化为电信号。
检测器可以是光电二极管、光电倍增管等,用于测量光强。
数据处理单元负责对测量结果进行处理和分析。
1.3 光谱仪的工作原理光谱仪的工作原理可以简单概括为以下几个步骤: 1. 光信号进入入射口; 2.入射口导入光谱仪,并通过色散装置进行分散; 3. 分散后的光信号被检测器转化为电信号,并通过数据处理单元进行处理和分析。
二、光谱仪的应用方法光谱仪在许多领域都有着广泛的应用。
以下是几种常用的应用方法,以供参考。
2.1 分析物质的成分光谱仪可以通过分析物质的吸收光谱来确定其中的成分。
不同物质对光的吸收有着不同的特点,通过比对标准样品的吸收光谱和待测样品的吸收光谱,可以确定样品中的成分。
2.2 检测物质的浓度光谱仪可以利用比对标准曲线的方法来检测物质的浓度。
通过测量待测样品的吸收光谱并与已知浓度的标准样品进行比对,可以得到待测样品的浓度。
2.3 研究物质的光谱特性对于某些物质,其吸收、发射或散射特性与其结构、成分、状态等有关。
光谱仪可以测量物质的光谱特性,并通过分析来研究物质的结构、性质等。
2.4 进行光谱成像通过将光谱仪与成像设备结合使用,可以实现光谱成像。
这种方法可以在不同空间位置获得物质的光谱信息,用于分析和研究。
2.5 光谱传感器光谱仪还可以通过设计成光谱传感器的形式,用于检测光源、环境光等。
光谱仪的成像原理光谱仪是一种用于分析物质成分和结构的仪器,其成像原理主要涉及到光谱分析、光学色散、干涉和衍射以及光电转换等多个方面。
本文将依次介绍这四个方面的内容,以帮助读者更好地了解光谱仪的工作原理和使用方法。
1. 光谱分析光谱分析是一种基于物质对光的吸收、反射和散射等特性进行分析的方法。
光谱仪通过将待测物质暴露于特定波长的光束下,并测量物质对不同波长光的吸收、反射或散射强度,从而获得物质的成分和结构信息。
在光谱分析过程中,光谱仪内部的光源会发出光线,经过聚焦后照射到待测物质上。
光线经过物质反射或透射后,会携带有关物质成分和结构的信息。
这些信息可以通过光谱仪的光检测器捕获并进行分析,从而得到物质的详细信息。
2. 光学色散光学色散是光谱仪成像原理中的另一个重要方面。
它是指光在传播过程中,不同波长的光在介质中的折射率不同的现象。
这种现象会导致光线在通过透镜或反射镜时发生散射,使得不同波长的光分离出来。
光谱仪利用光学色散原理,将光源发出的光经过透镜和色散元件(如棱镜或光栅)后,将不同波长的光分散开来,形成一条条谱线。
这些谱线可以通过光检测器进行检测和分析,从而得到物质的光谱信息和成分。
3. 干涉和衍射干涉和衍射是光谱仪成像原理中的另外两种重要现象。
干涉是指两个或多个相干光波在空间某一点叠加时,光波的振幅相加、相位差相加的现象。
衍射则是光波绕过障碍物边缘时产生的弯曲和扩散现象。
光谱仪中的干涉器利用干涉原理,将光源发出的光波分成两路或多路,并在空间某一点进行叠加。
由于各路光波的相位差不同,叠加后的光波振幅和相位会出现变化,从而形成明暗相间的条纹。
这些条纹可以通过光检测器进行检测和分析,得到物质的光谱信息和成分。
4. 光电转换光电转换是光谱仪成像原理中的最后一个方面。
它是指光信号转换为电信号的过程。
光谱仪中的光检测器具有光电转换功能,可以将接收到的光学信号转换为电信号。
这些电信号经过放大、滤波和数字化处理后,可以被计算机系统进行分析和处理,从而得到物质的光谱信息和成分。
光谱仪的工作原理引言概述:光谱仪是一种用于分析物质成分和结构的仪器,通过测量物质对不同波长光线的吸收、发射或散射来获取样品的光谱信息。
光谱仪在化学、生物、物理、环境等领域都有着广泛的应用,其工作原理是基于光的相互作用与物质的特性。
下面将详细介绍光谱仪的工作原理。
一、光的分光与检测1.1 光源:光谱仪的光源通常为白光源、氙灯、钨灯等,不同光源的波长范围和强度会影响光谱仪的检测灵敏度和分辨率。
1.2 光栅:光谱仪中的光栅用于将入射光线按波长进行分散,不同波长的光线经过光栅后会被分开成不同的衍射角度。
1.3 探测器:光谱仪的探测器用于检测分散后的光信号,常见的探测器包括光电二极管、光电倍增管和CCD等,不同探测器具有不同的检测范围和灵敏度。
二、吸收光谱与分子结构分析2.1 吸收光谱:光谱仪通过测量物质对不同波长光线的吸收来获取样品的吸收光谱,吸收峰的位置和强度可以反映样品中不同化学键和官能团的存在。
2.2 分子结构分析:根据分子的吸收光谱特征,可以推断分子的结构、键的种类和位置,从而实现对样品的定性和定量分析。
2.3 应用领域:吸收光谱在药物分析、环境监测、食品安全等领域有着广泛的应用,可以帮助科研人员和工程师解决实际问题。
三、发射光谱与元素分析3.1 发射光谱:光谱仪通过测量物质发射的光线波长和强度来获取样品的发射光谱,不同元素和化合物在激发后会发射特定波长的光线。
3.2 元素分析:根据元素的发射光谱特征,可以实现元素的定性和定量分析,对于地质勘探、金属材料分析等领域具有重要意义。
3.3 技术发展:随着发射光谱技术的不断发展,光谱仪在元素分析领域的应用范围和灵敏度也在不断提升。
四、拉曼光谱与晶体结构表征4.1 拉曼光谱:拉曼光谱是一种通过测量物质散射光线的波长和强度来获取样品信息的光谱技术,可以实现对分子振动和晶体结构的表征。
4.2 晶体结构表征:拉曼光谱可以用于分析晶体的晶格结构、晶面取向、应力状态等信息,对材料科学和纳米技术的研究有着重要意义。
光谱分析仪器的原理和操作光谱分析仪器是一种利用物质与光的相互作用来分析物质组成和性质的重要设备。
它通过将物质与特定波长的光进行相互作用,测量光的吸收、发射或散射来获取样品的信息。
本文将介绍光谱分析仪器的原理和操作。
一、光谱分析仪器的原理1. 光的分光原理光谱分析仪器中的核心原理是光的分光。
它通过将复杂的光信号分解成不同波长的光谱,从而获得样品的特定信息。
分光可以通过光栅、棱镜等光学元件来实现。
2. 光与物质的相互作用光谱分析仪器使用特定波长的光与样品相互作用。
根据样品对光的吸收、发射或散射,可以得到样品的光谱信息。
常见的光谱分析方法包括吸收光谱、发射光谱、拉曼光谱等。
3. 扫描和检测技术光谱分析仪器通过扫描和检测技术来获取光谱信号。
扫描技术包括单波长扫描、连续波长扫描和快速扫描等,用于获取不同波长下的光谱信息。
检测技术可以是光电二极管、光电倍增管、CCD等,用于将光信号转化为电信号。
二、光谱分析仪器的操作1. 样品制备在进行光谱分析之前,需要对样品进行适当的制备。
不同样品需要采取不同的制备方法,例如固体样品可以进行研磨、溶液样品可以进行稀释等。
样品的制备对于获得准确的光谱结果至关重要。
2. 仪器参数设置使用光谱分析仪器前,需要根据实验需求设置仪器参数。
主要包括选择适当的波长范围、光源强度、光栅或棱镜的选择等。
正确设置仪器参数可以最大程度地提高实验结果的准确性和可靠性。
3. 光谱测量在进行光谱测量时,需要将待测样品放置在光谱仪器的样品槽中,确保样品与光路完全匹配。
根据实验设计,选择适当的测量模式和扫描范围。
开始测量后,光谱仪器会自动扫描并记录光谱数据。
4. 数据分析和解释获得光谱数据后,需要进行数据分析和解释。
常见的数据处理方法包括峰高峰面积计算、光谱拟合等。
通过对光谱数据的分析,可以获取样品的组成信息、浓度信息以及其他相关性质的变化。
5. 实验注意事项在操作光谱分析仪器时,需要注意以下事项:避免样品污染光路,避免光源强度过大或过小,避免光栅或棱镜表面的损伤,注意测量环境的干净和稳定等。
光谱仪的工作原理光谱仪是一种用于分析光的仪器,它可以将光信号分解为不同波长的光谱,并测量每个波长的光强度。
光谱仪的工作原理涉及光的传播、分光和检测三个主要步骤。
1. 光的传播光谱仪中的光源产生可见光或紫外光,这些光线通过光学系统传播到样品或待测物上。
光线在传播过程中可能会发生散射、吸收和反射等现象。
2. 分光分光是光谱仪中的关键步骤,它通过使用光栅、棱镜或光纤等光学元件将光信号分解成不同波长的光谱。
其中,光栅是最常用的分光元件,它通过光的衍射原理将光线分散成不同角度的光谱。
分散后的光谱经过进一步的聚焦,可以被检测器接收和测量。
3. 检测检测器是光谱仪的核心部件,它用于测量光谱中每个波长的光强度。
常见的检测器包括光电二极管(Photodiode)、光电倍增管(Photomultiplier Tube)和CCD (Charge-Coupled Device)等。
这些检测器能够将光信号转化为电信号,并通过电路放大和处理后输出。
在实际应用中,光谱仪可以用于各种光谱分析的领域,如化学分析、生物医学、环境监测等。
以下是几个常见的光谱仪应用示例:1. 紫外-可见光谱仪(UV-Vis Spectrophotometer)紫外-可见光谱仪主要用于分析物质的吸收和反射特性。
它可以测量样品在紫外和可见光范围内的吸光度,并根据吸光度曲线推断样品的成分和浓度。
例如,可以用紫外-可见光谱仪测量水中溶解有机物的浓度,或者分析药物中的活性成分含量。
2. 荧光光谱仪(Fluorescence Spectrophotometer)荧光光谱仪用于测量物质在受激发后发射的荧光光谱。
它可以分析物质的结构、浓度和环境等因素对荧光特性的影响。
荧光光谱仪在生物医学研究、环境监测和材料科学等领域有广泛应用。
例如,可以利用荧光光谱仪检测环境中的有害物质或药物中的荧光标记物。
3. 红外光谱仪(Infrared Spectrophotometer)红外光谱仪用于分析物质在红外光波段的吸收和散射特性。
光谱仪的原理
光谱仪是一种用来分析物质的仪器,它可以将物质发出的光信号分解成不同波
长的光谱,从而得到物质的组成和结构信息。
光谱仪的原理主要基于光的分光和检测技术,下面我们将详细介绍光谱仪的原理。
首先,光谱仪利用分光技术将混合光分解成不同波长的光谱。
这是通过光栅、
棱镜或光纤等光学元件实现的。
当混合光通过这些光学元件时,不同波长的光会被分散成不同的方向,从而形成光谱。
这样,我们就可以得到物质发出的光信号中包含的不同波长的信息。
其次,光谱仪利用检测技术对分解后的光谱进行检测和记录。
常见的检测技术
包括光电倍增管、光电二极管和CCD等。
这些检测器可以将光信号转换成电信号,并通过放大和数字化处理,得到光谱的强度和波长信息。
这样,我们就可以得到物质发出的光信号的强度和波长分布。
最后,光谱仪利用数据处理技术对检测到的光谱进行数据处理和分析。
这包括
光谱的峰位、峰高、峰面积等参数的计算,以及光谱的图像显示和比较分析。
通过这些数据处理技术,我们可以得到物质的组成和结构信息,实现对物质的定性和定量分析。
总的来说,光谱仪的原理是基于分光、检测和数据处理技术,通过将物质发出
的光信号分解成光谱,并对光谱进行检测和数据处理,得到物质的组成和结构信息。
光谱仪在化学、生物、环境等领域有着广泛的应用,是一种非常重要的分析仪器。
希望通过本文的介绍,能够对光谱仪的原理有一个更深入的了解。
Spectrographys are optical instruments that form images S2(λ) of the entrance slit S1;the images are laterally separated for different wavelengths λof the incident radiation.Ω=F/f12受棱镜的有效面积F=h.a的限制,它代表光的限制孔径.的方式成像到入射狭缝上是有利的,虽然会聚透镜可以缩小光源在入射狭经上所成的像,使更多的来自扩展光源的辐射功率通过入射狭缝:但是发散度增大了.在接收角外的辐射不能被探测到,反而增大了由透镜支架和分光计任何色散型仪器的光谱分辨本领的定义为和λ2间的最小间隔.-λ2)在二个最大间显示出明显的凹陷,则可以认为强度分布是由具有强度轮廓为I1(λ-λ1)和I21(λ-λ2)的二条)依赖于比率I1/I2和二个分量的轮廓,因此最小对于不同的轮廓将是不相同.2的第一最小重合,则认为两条谱线如果强度相等的两条线的两个最大间的凹陷降到I的(8/π2)≈0.8,(a)Diffraction in a spectrometer by the limiting aperture with diameter af1f2:angular dispersion[rad/nm]成像在平面B上)间的距离△x2为=(dx/dλ)△λ:linear dispersion of the instrument,[mm/nm]为了分辨λ和λ+△λ的二条线,上式中的间距△x2至少应为二个狭缝象的宽度(λ)+δx2(λ+△λ),由于宽度x2由下式与入射狭缝宽度相联系:δx2=(f2/f1) δx1所以减小δx1便能增大分辨本领λ/△λ,可惜存在着由衍射造成的理论极限.由于分辨极限十分重要.我们将对这点作更详细的讨论.(b)Limitation of spectral resolution by diffraction=±λ/b间(见图);仅当2 δΦ小于分光计的接收角a/f1时,它才能完全通过限制孔径a.这给出入射狭缝有效宽度bmin的下限为在一切实际情形中,入射光都是发散的.这就要求发散角和衍射角之和必须小于,而最小狭缝相应地更大。
aδΦ=λ/bbf1如果没有衍射,平面B中的辐射通量线性地依赖于狭缝宽度bm:单色光; c:连续光有衍射无衍射考虑到衍射,把b减少bmin小于到也不能使分辨增加璃板,并把非相干地散射的激光作为二级源,且以普通方法成像是比较好的2004.3.24).自由光谱范围Free Spectral Range分光计的自由光谱范围是指入射辐射的波长间隔δλ,在此波长间隔内,λ和入射狭缝象的位置x(λ)间存在着一一对应关系.棱镜分光计的自由光谱范围复盖棱镜材料的整个正常色散区域.而光栅分光计的δλ由衍射级m确定.当光垂直入射到槽纹距离为d的光栅上时.一切满足条件m λm=dsinβ的波长λm在β方向上出现相长干涉.上式表明二个波长λ1=dsinβ/m和λ2=dsinβ/(m+1)出现在分光计输出的同一角度β.因此,光谱自由范围δλ= dsinβ[1/m-1/(m+1)]=dsinβ/[m(m+1)]随着级m的增加而减小.通常用在很高干涉级次上(m=104-108)的干涉仪有高的光谱分辨,但小的自由光谱范围.为了明确地确定波长起见,它们需要预选器,可以使得在高分辨仪器的自由光谱范围δλ内测量波长2.1.2 棱镜分光计:Prism Spectrometerλεελθλθddnnddndnd)2/(sin12/sin222−==角色散:可以使用小的棱镜来偏转束直径相当小的激光束,而不会损失角色散.然而,在棱镜分光计中,棱镜的大小确定了限制孔径a;因而为获得大的光谱分辨本领,就必须用大棱镜。
对于给定的角色散.顶角ε=60o的等边棱镜用料最省(核镜材料可能相当贵).因为sin30o=1/2,所以角色散随棱镜顶角ε而增大,但不依赖于棱镜的大小λddnn2)2/(1:最小偏向角条件In summary: The advantage of a prism spectrometer is the unambiguousassignment of wavelengths, since the position S2(λ) is a monotonicfunction of λ. Its drawback is the moderate spectral resolution. It ismostly used for survey scans of extended spectral regions.Example:球面镜M2聚焦到出射狭缝S2上.或聚焦到位于M2焦平面中的照相底板上.入射到二个相邻槽纹上的平行光.与光栅法线(垂直于光栅表面.但并不一定垂直于槽级)所成人射角为α时,在反射光的下列方向相长干涉d如果β与α在光栅法线的同一侧,则上式须取正号,反之负号Littrow mount of a grating with在激光光谱的应用中常出现α=β的情形,这意味着光反射回到入射光方向上.对于这种称作利特罗-光栅装置的设施(Littrow-grating mount),相长干涉条件变为λαmd=sin2因为仅当入射波长满足上式时光才被反射,所以利特罗光栅的作用就象波长选择的反射器.(sinφc) Spectral Resolving Power的最令人满意的方法是用全息技术.与光栅表面法线成α和β角的二个相干平面波照明光栅空白面上的光敏层.在光敏层z=0平面中,叠加的强度分布由平行的亮暗条纹组成,在光敏层中印下了理想的光栅,经感光剂显影后显露出来,光栅常数(d=λ/[2(sinα+sinβ)]依赖于波长λ=2π/|k|及角度.这种全息光栅基本上无鬼线.然而,它们的反射率R低于刻制光栅,还干涉仪Interferometers仪器研究各种谱线轮廓最好使用干涉仪,因为就光谱分辨本领而言干涉仪甚至胜过大型分光计.在激光光谱学中,不同类型的干涉仪不仅用于测量发射或压窄激光的光谱宽度.监察激光线宽度,以及控制和稳被射束分离器(beam splitter)S(反射率R,透射率T)分为二个波exp[i(ωt-ky+φ2) ]和A2B处叠加.为了补偿束1二次的玻璃板所经受的色散,往往在干涉仪的一个臂中放置对应的.在平面B中二个波的振幅为(TR)处透射和反射各一次,二个波间的相差式中△φ算作由于反射可能引起的附加相移.于是平面B中总的复数场振幅为如果镜M2(装在滑车上)移动距离△y,则光程差变化△s=2n△y(n是S与M2间的折射率).并且相差δ变化2π△s/λ.下图表示单色平面入射波在平面B中的作为δ函数的强度IT (δ).对于δ=2mπ(m=0,1,2,..)处的最大,透射强度I等于入射光强度I0,这意味着δ==2mπ时,干涉仪的透射率TI=1.在δ=(2m+1)π的最小处,透射强度IT为零!此时入射平面波被反射回到源中.这说明M.I.或可对于透射光看作与波长有关的滤波器,或看作波长选择反射器.后一种功能常在激光器中用于选模(Fox—smith 选择器).绝对波长测量.于是波长可由下式得出:这种技术已用于激光波长的高精密测量。
例:当入射波由频率ω1和ω2二个成分组成时,干涉图样将按下式随时间变化:式中我们已假设I 10=I 20=I 0,上式为拍信号,其中(ω1+涉信号的振幅以差颁(ω1-ω2)v/c 调制[见图].10120201212(/2)[1cos 2(/)](/2)[1cos 2(/{1cos[()/]cos[()(/)},I I v c t I v I vt c v c t ωωωωωω=+++=+−+ 2.2.3 Mach-Zehnder Interferometer与迈克耳孙干涉仪相似.Mach-Zehnder 干涉仪也是以入射波振幅分裂的双束干涉为基础。
二个波沿不同的途径行进,在干涉仪的一臂中插入透明物体就改变了二个束间的程差, 这导致干涉图样的变化,并由此可以很准确地测定样品的折射率及其局部变化,因此,Mach-Zehnder干涉仪可看作为很灵敏的折射计.上述要求就越易做到,价格越便宜。
Mach-Zehnder干涉仪已用于测量原子蒸气在光谱线附近的折射率由于原子蒸气的折射率与波长有关.条纹的移动遵循光谱线附近的色散曲线.在吸收线附近的色散条纹看上去象镰刀.因而称这种技术为镰刀法(hook method).2.2.4 多束相干(Multiple-Beam interference)光栅光谱仪中,从不同槽纹中发射的干涉分波有相同振幅中,在平面或曲面多次反射产生的分波的振幅,随着反射次数增加而减少。
这导致总的强度不同于下式:)2/(sin )2/(sin 220φφN RI I R =透射和反射强度假设平面波E =A 0exp[i(ωt-kx)]以α角入射到二个面部分反射且平行的平面透明板上。
忽略吸收时,在每个面上振幅A i 都分为反射分量A R =A i R 1/2和折射分量A T =A i (1-R)1/2。
反射率R=I R /I i 依赖于入射角α和入射波的偏振。
只要折射射率n已知,R就可由菲涅耳公式算出。
由图即可得到上表面反射波振幅A i ,折射波振幅Bi、下表面反射波振幅Ci 及透射波振幅Di的如下关系式:|,....|,|)|,|)1(||1|,|)1(|||,|)1(|,|1|||,|0010010−=−=−=−=−==A A R R C R A R D A R R A R B A R ,所具有的光程差为:△s=(2nd/cosβ)-2dtanβsinα△s=2ndcos β)两个相继分波的振幅关系:)两个相继分波的相位关系如果平面平行板内的折射率n>1,而在板外n=1,这程差引起对应的相差式中△φ计及由于反射可能引起的相变化。
例如,振幅为A 1的入射波在折射φ=π,包括这种相跳变在内,我们对一切计及不同相移的分振幅取和即得到反射波总振幅A:)1(∑−+pm i e A φ光栅作用犹如波长选择镜对于精细度F*的不同值,作为相差Φ函数的、F *=透射最大的半宽度因为我们已经假设理想的平面平行板具有完美无缺的表面质量,所以精细度F*仅由表面反射率R确定. 然而,实际上表面与理想平面的偏差和二个表面的稍微倾斜,都会引起干涉波间的叠加不完善.这造成透射最大的减小和增宽,从而使总精细度减小.例如,如果反射面与理想平面的偏差量为λ/q,则它的精细度就不可能大于λ,干涉仪的总精细度F*可规定为1/F t *=(Σ1/F i *2)1/2+δv/F*)/δv]=sinπ/F*≈π/F*,利用=4,得到第二项为0.2,代入上式得到,I(v=v 2)=1.2I 0.这正好对应于分辨二条光谱线的瑞利判据.因此干△s/λ和以波长λ为单位的光程差△s/λ的乘积ndv 2||0==αδPlane Fabry-Perot (F-P) interferometer (etolan)但是要注意,这仅对A<<1,且无限地扩展的平面波才正确,此时各个反射分波完全重叠.如果入射波是具有有限直径D的激光束,则各反射分束由于横向移动b =2dtanβ而未完全重叠,入反射分波中b/D部分不相重叠,也不可能相消地干涉.这就是说,甚至对于透射最大,反射强度也不为零,仍然存在背景反射。