17-1相干光 分波阵面法干涉
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分振幅干涉和分波面干涉
分振幅干涉和分波面干涉是光学干涉现象的两种主要类型,它们在光学实验和技术中有不同的应用。
以下是对这两种干涉的简要解释:
1.分振幅干涉(Amplitude Division Interference):
•原理:分振幅干涉是通过分割入射光波的振幅,使其沿不同光程传播,然后重新合成,产生干涉现象。
这通常涉
及将光波分成两个或多个振幅不同的部分。
•应用:分振幅干涉常用于Michelson干涉仪等设备中,用于测量光学元件的表面形状、厚度差异等。
2.分波面干涉(Wavefront Division Interference):
•原理:分波面干涉是通过分割入射光波的波面,使其沿不同光程传播,然后重新合成,产生干涉现象。
这涉及光
波的相位差异,而不是振幅。
•应用:分波面干涉广泛应用于干涉仪器,例如Twyman-Green干涉仪和Fizeau干涉仪。
它可用于测量光学表面
的平整度、透明膜的厚度、折射率差异等。
这两种干涉现象的共同点是都涉及将光波分成两个或多个部分,然后再合成,通过干涉条纹来测量光学性质。
区别在于分振幅干涉关注振幅差异,而分波面干涉关注波面差异。
在实际应用中,选择使用分振幅干涉还是分波面干涉取决于具体的实验需求和测量目标。
这两种方法都为光学领域提供了强大的工具,用于精密测量和实验研究。
第三章 光的干涉一、基本知识点光程差与相位差的关系:2c L v λφπ∆=∆光的叠加原理:在真空和线性介质中,当光的强度不是很强时,在几列光波交叠的区域内光矢量将相互叠加。
相干叠加: 当两列光波同相时,即2k φπ∆=,对应光程差L k λ∆=,0,1,2,k =±±,则合振幅有最大值为max 12A A A =+,光强也最大;当两列光波反相时,即()21k φπ∆=+,对应光程差()212L k λ∆=+,0,1,2,k =±±,则合振幅有最小值为min 12A A A =-,光强也最小。
这样的振幅叠加称为相干叠加。
光的干涉:振幅的相干叠加使两列光同时在空间传播时,在相交叠的区域内某些地方光强始终加强,而另一些地方光强始终减弱,这样的现象称为光的干涉。
产生干涉的条件: ① 两列光波的频率相同;② 两列光波的振动方向相同且振幅相接近; ③ 在交叠区域,两列光波的位相差恒定。
相干光波:满足干涉条件的光波。
相干光源:满足干涉条件的光源。
获得相干光的方法:有分波阵面法和分振幅法。
分波阵面法: 从同一波阵面上分出两个或两个以上的部分,使它们继续传播互相叠加而发生干涉。
分振幅法: 使一束入射光波在两种光学介质的分界面处一部分发生反射,另一部分发生折射,然后使反射波和折射波在继续传播中相遇而发生干涉。
杨氏双缝干涉:图3-1杨氏双缝干涉实验装置如图3-1所示,亮条纹和暗条纹中心分别为D x kaλ=±,0,1,2,...k =:亮条纹中心 ()212D x k a λ=±-,1,2,k =:暗条纹中心式中,a 为双缝间距;D 为双缝到观察屏之间的距离;λ为光波的波长。
杨氏双缝干涉条件:a ≈λ;x <<D 。
杨氏双缝干涉条纹间距: 干涉条纹是等间距分布的,任意相邻亮条纹(或暗条纹)中心之间的距离1k k Dx x xa λ+∆=-=杨氏双缝干涉条纹的特点:(1) 以O点(0k=的中央亮条纹中心)对称排列的平行的明暗相间的条纹;(2) 在θ角不太大时条纹等间距分布,与干涉级k无关。
4.11光的干涉—-牛顿环要观察到光的干涉图象,如何获得相干光就成了重要的问题,利用普通光源获得相干光的方法是把由光源上同一点发的光设法分成两部分,然后再使这两部分叠起来。
由于这两部分光的相应部分实际上都来自同一发光原子的同一次发光,所以它们将满足相干条件而成为相干光。
获得相干光方法有两种。
一种叫分波阵面法,另一种叫分振幅法。
牛顿环是一种用分振幅方法实现的等厚干涉现象,最早为牛顿所发现,所以叫牛顿环。
在科学研究和工业技术上有着广泛的应用,如测量光波的波长,精确地测量长度、厚度和角度,检验试件表面的光洁度,研究机械零件内应力的分布以及在半导体技术中测量硅片上氧化层的厚度等。
【实验目的】1. 通过实验加深对等厚干涉的理解。
2. 学会使用读数显微镜并通过牛顿环测量透镜的曲率半径。
3. 学会使用读数显微镜测距。
4. 学会用图解法和逐差法处理数据。
【实验仪器】读数显微镜,牛顿环仪,钠光灯。
【实验原理】牛顿环仪是由曲率半径较大的平凸透镜L 和磨光的平玻璃板P 叠和装在金属框架F 中构成,如图4-11-1所示。
框架边上有三个螺旋H用来调节L 和P 之间的接触,以改变干涉条纹的形状和位置。
调节H 螺旋不可旋得过紧,以免接触压力过大引起透镜弹性形变,甚至损坏透1114--图镜。
如图4-11-2所示平凸透镜的凸面与玻璃平板之间的空气层厚度从中心到边缘逐渐增加,若以平行单色光垂直照射到牛顿环上,则经空气层上、下表面反射的二光束存在光程差,它们在平凸透镜的凸面相遇后,将发生干涉。
从透镜上看到的干涉花样是以玻璃接触点为中心的一系列明暗相间的圆环(如图4-11-3所示),称为牛顿环。
由于同一干涉环上各处的空气层厚度是相同的,因此它属于等厚干涉。
••• •• 由图4-11-2可见,如设透镜的曲率半径为R,与接触点O相距为r处空气层的厚度为d,其几何关系式为:222)(r d R R +-=2222rd Rd R ++-=由于R>>d,可以略去d 2得Rr d 22= (4-11-1)•• 光线应是垂直入射的,计算光程差时还要考虑光波在平玻璃板上反射会有半波损失,从而带来λ/2的附加光程差,所以总光程差为•• 22λ+=∆d (4-11-2)产生暗环的条件是:• ∆=(2k+1)2λ(4-11-3)其中k=0,1,2,3,...为干涉暗条纹的级数。
波动光学第一节 光的干涉一、光波的相干叠加1、光波叠加原理:每一点的光矢量等于各列波单独传播时在该点的光矢量的矢量和。
2、光波与机械波相干性比较:(1)相同点:相干条件、光强分布。
(2)不同点:发光机制不同。
3、从普通光获得相干光的方法:(1)分波阵面法:将同一波面上不同部分作为相干光源。
(2)分振幅法:将透明薄膜两个面的反射(透射)光作为相干光源。
4、光程与光程差:(1)光程:即等效真空程:Δ=几何路程×介质折射率。
(2)光程差:即等效真空程之差。
5、光程差引起的相位差:Δφ=φ2-φ1+λ∆∏2,Δ为光程差,λ为真空中波长。
(1)Δφ=2k ∏时,为明纹。
(2)Δφ=(2k+1)∏时,为暗纹。
6、常见情况:(1)真空中加入厚d 的介质,增加(n-1)d 光程。
(2)光由光疏介质射到光密介质界面上反射时附加λ/2光程。
(3)薄透镜不引起附加光程。
二、分波面两束光的干涉1、杨氏双缝实验:(1)Δ=±k λ时,(k=0,1,2,3……)为明纹。
Δ=±(2k-1)2λ时,(k=1,2,3……)为暗纹。
(2)x=λdD k ±时,为明纹。
x=2)12(λd D k -±时,为暗纹。
(k=0,1,2,……) (3)条纹形态:平行于缝的等亮度、等间距、明暗相间条纹。
(4)条纹亮度:Imax=4I1,Imin=0.(5)条纹宽度:λdD x =∆. 2、其他分波阵面干涉:菲涅耳双棱镜、菲涅耳双面镜。
三、分振幅干涉1、薄膜干涉:2sin 222122λ+-=i n n e Δ反(2λ项:涉及反射,考虑有无半波损失) 透Δi n n e 22122sin 2-=(无2λ项) 讨论:(1)反Δ/透Δ=k λ时,(k=1,2,3……)为明纹,(2k+1)2λ时,(k=0,1,2……)为暗纹。
(2)等倾干涉:e 一定,Δ随入射角i 变化。
(3)等厚干涉:i 一定,Δ随薄膜厚度e 变化。
《光的干涉》知识清单一、光的干涉现象当两列光波在空间相遇时,如果它们的频率相同、振动方向相同,并且在相遇点的相位差恒定,就会发生光的干涉现象。
在干涉区域内,有些地方光强增强,有些地方光强减弱,形成明暗相间的条纹。
最常见的光的干涉现象是杨氏双缝干涉实验。
通过在光源和屏幕之间放置一个带有两条狭缝的挡板,光通过两条狭缝后在屏幕上形成明暗相间的条纹。
二、光的干涉条件1、频率相同两列光波的频率必须相同,否则它们无法保持稳定的相位差,也就无法产生干涉现象。
2、振动方向相同光波的振动方向需要相同,这样才能使两列光的振动在叠加时相互加强或减弱。
3、相位差恒定在相遇点处,两列光的相位差要保持恒定。
这意味着它们的传播路径差是固定的。
三、相干光源能够产生干涉现象的光源称为相干光源。
在实际情况中,普通光源发出的光通常不是相干光,因为它们包含了大量不同频率和相位的光波。
为了获得相干光源,可以采用以下方法:1、分波阵面法如杨氏双缝干涉实验,通过将同一波阵面分成两部分,从而获得相干光。
2、分振幅法利用反射和折射将一束光的振幅分成两部分,例如薄膜干涉。
四、杨氏双缝干涉1、实验装置由光源、单缝、双缝和屏幕组成。
2、条纹特点(1)明暗相间的等间距条纹。
(2)中央为亮条纹,两侧对称分布着明暗相间的条纹。
3、条纹间距公式Δx =λL / d其中,Δx 是条纹间距,λ 是光的波长,L 是双缝到屏幕的距离,d 是双缝间距。
4、光强分布根据光的叠加原理,可以计算出干涉区域的光强分布。
五、薄膜干涉1、原理当一束光照射到薄膜上时,在薄膜的上、下表面反射的两束光发生干涉。
2、常见例子(1)肥皂泡上的彩色条纹。
(2)增透膜和增反膜,通过控制薄膜的厚度和折射率来实现特定波长光的增强或减弱。
3、等厚干涉当薄膜厚度相同的地方,光程差相同,干涉条纹也相同。
例如,用劈尖干涉测量微小厚度。
六、光的干涉的应用1、测量微小长度和角度利用干涉条纹的间距和变化,可以精确测量微小的长度、角度等物理量。