不破坏镀层测厚仪

膜厚测试仪测试介绍
膜厚测试仪是一种用于测量涂覆在物体表面的膜层的厚度的仪器。

它
可以快速、准确地测量各种材料的膜层厚度，包括涂料、涂层、陶瓷、塑
料和金属等。

膜厚测试仪的主要原理是通过测量膜层与基底的界面之间的
干涉信号来确定膜层的厚度。

膜厚测试仪通常包括一个光源、一个反射镜和一个检测器。

光源产生
一束光线，经过反射镜后照射到待测样品的表面上。

一部分光线会被样品
的表面反射，形成反射光；另一部分光线会穿过膜层并与基底的界面发生
干涉，形成透射光。

透射光和反射光会重新汇集到检测器上，检测器会将
光信号转化为电信号进行处理。

为了获得准确的测量结果，膜厚测试仪通常需要进行一些校准和调整。

首先，需要校准仪器的零点，即在没有任何膜层的基准样品上进行零点校准。

然后，需要调整光源和检测器以确保光入射和光检测的准确性。

最后，进行测量时需要选择适当的参数，如光源强度、角度和测量时间等。

总之，膜厚测试仪是一种用于测量涂覆在物体表面的膜层厚度的仪器。

它基于光学干涉原理，通过测量干涉条纹的特征来确定膜层的厚度。

膜厚
测试仪具有快速、准确、非破坏性的优点，广泛应用于材料研究、质量控
制和品质检验等领域。

CMI700操作说明书1、仪器说明CMI700系列产品是非破坏性的表面覆盖层厚度测量仪器。

本仪器是为精确测量不同基材上的各种涂镀层而设计。

CMI700可以同时配置3种测量模块：微电阻模块（MRX）,贝它射线模块（BMX），涡流及磁感应模块（EMX）。

EMX模块可配置导磁，涡流化合物及镍的测量。

2、仪器安装打开包装，可以看到仪器背面如下图所示：ON/OFF：电源开关12－19V AC 1.6ANP：电源接口，接外部低压电源FOOTSWICH：脚踏开关接口RS-232：连接电脑接口PARALLEL PRINTE：并行打印机接口BMX RROBES：BMX模块区MRX PROBES：MRX模块区SRP：SRP-1,SRP-2,SRP-3探头接口TRP：TRP探头接口ETP：ETP探头接口EMX PROBES：EMX模块区SMP：SMP探头接口ECP：ECP探头接口NIP：NIP探头接口3、仪器按键说明仪器正面如下如所示：主要按键说明如下：：软件画面选择键，显示屏在对应键的位置显示功能，按键选择该功能：在测量界面下按此键进入程序编辑菜单：进入现有程序的再校准菜单。

测量界面下进入再校准菜单：进入所选程序的测量界面。

该按键只能在程序清单界面下才可使用：在手动测量模式下按此键进行一次测量，在扫描模式下把最后一个读数读入仪器内。

在程序清单界面下按此键可进入测量模式：在操作过程中取消该操作并返回到前次操作界面：清除本次输入或在测量界面下清除最后一个读数：并清除前一个字符使光标回到上次字符位：保存当前输入或接受当前选择。

在测量清单界面下按两次进入所选程序的测量界面：时钟设定时改变时间/日期的增加、减少方向。

在扫描测量模式下改变扫描读数显示的间隔时间——：数据输入或功能设置时输入数值：输入数值时小数点的输入4、ETP探头的使用及程序建立1、程序的建立打开电源，跳过预热，进入MRX模块1．选择NEW，建立一个新的程序2．选择MRX ETP，建立一个ETP探头测量程序，按数字键选择3．输入程序编号，编号可从1－100，不能与以前编号重复，按数字键输入编号4．输入程序名称5．输入程序标识6．单位选择，直接按数值键选择7．精度选择，小数点后面小数个数8．测量次数选择，即测量多少次出来一个读数9．极限最大值设定（选OFF关闭,选ON需输入最大值）10．极限最小值设定（选OFF关闭,选ON需输入最小值）11．板厚设定，设定所要测量板的板厚12．基材铜设定，设定板材极板铜是多少盎司13．蚀刻设定，设定所要测量的孔是否蚀刻14．最多存储读数个数设定，设定该程序可存储的读数15．X&R特性曲线组的大小16．设定在下次进入该程序时是否清除上次测量说得的统计量即特性曲线17．偏移量设定，设定该值后，测量时显示的读数为测量值加上该偏移量18．传导率系数设定，设定该值后，测量时显示值为测量值乘以该值19．程序建立完成，按任意键保存并推出2、ETP探头校准建立ETP程序完成后，一般情况下需要进行校准，校准方法为：1．返回主页面，按Setup键2．进入安装界面，按Turning&CAL键3．进入校准界面，按CAL ETP键，进行ETP探头校准4．提示把探头放在空气中，按键，把探头放于空气中，按键5．选择校准时测量标准片的次数6．把探头放在标准片上，按键7．输入单位8．输入标准片孔铜的厚度，按回车确认9．校准完毕，选择Back键返回到主页面3、ETP探头测量孔铜校准完毕后，就可以进行测量。

漆膜厚度检测仪原理
漆膜厚度检测仪是一种用于测量涂料、漆膜等表面涂层厚度的仪器。

其原理是根据涂层对光的反射和传播的特性来测量涂层的厚度。

漆膜厚度检测仪通常使用光学原理来进行测量。

具体而言，它利用了光的干涉原理。

当一束光从空气进入涂层的表面时，一部分光会被涂层表面反射，而另一部分光会穿透涂层进入涂层下方的基材中，然后再次反射回到涂层的表面。

涂层表面反射的光和穿透涂层的光在一定的光程差下会发生干涉，形成明暗的干涉条纹。

通过观察和分析这些干涉条纹的形状和密度，可以确定涂层的厚度。

漆膜厚度检测仪通常配备了光源和探测器。

光源发出一束光，该光经过涂层反射回探测器。

探测器接收到反射的光并将其转化为电信号。

根据接收到的电信号的强度和干涉条纹的形态，可以计算出涂层的厚度。

需要注意的是，漆膜厚度检测仪的测量结果可以受到多种因素的影响，例如涂层的光学特性、光源的稳定性和探测器的准确性等。

因此，在使用漆膜厚度检测仪进行测量时，需要对仪器进行合适的校准和标定，以确保测量结果的准确性和可靠性。

电测镀层测厚仪安全操作及保养规程为保证电测镀层测厚仪的正常运行和使用的安全性，应该按照以下规程执行操作和进行保养。

安全操作规程1. 操作前检查在使用电测镀层测厚仪之前，需要检查仪器的安全性。

检查内容包括但不限于以下几个方面：•仪器表面是否虏蚁目清洁，是否有损坏、变形、腐蚀等情况；•测厚仪配件是否完好，并且配件连接是否良好；•测厚仪的电源是否是交流电220V±10%、50Hz、稳定供电。

电源插头应与市电插座相适应，需保持电源接线良好。

2. 操作时注意事项•避免测量人员身体与測試对象电路发生接触；•仪器的工作环境应该保持干燥、清洁；•确定测厚仪的测量原点，确定测量引线的长度，保持测量的稳定性；•使用测膜质量检验，确保测膜划痕、裂痕、变形情况的符合要求。

3. 操作后处理使用完毕之后，应该及时关掉电源，否则会导致损坏测量仪器或测量引线。

注意事项包括但不限于以下几个方面：•仪器外表及测量引线应该清洁干净，防止粉尘与污垢积累；•测量引线应放置在干净、干燥的地方，避免被弯曲或扯断；•按照规定时间、方法对测量仪器的外观及电气性能进行校验、检查以及维护。

保养规程1. 保养周期测厚仪对測試结果敏感，对操作保真标准要求高。

建议每月对仪器进行一次保养，重要配件也应该根据实际情况进行检测、修理或更换。

2. 保养内容保养内容包括但不限于以下几个方面：•清理仪表表面：使用清洁剂除去污渍，避免粉尘积累；•检查仪表连线：要定期检查扣电池、导线、转换器的完成性；•更换电池：电池的会降低插入准确度，定期维护，更换电流更稳定、结构更好且寿命更长的电池。

本保养规程适用于所有电测镀层测厚仪的使用，操作人员应仔细阅读并严格遵守。

任何不合理的操作和行为都可能会对电测镀层测厚仪造成损坏，甚至可能对人员的生命安全造成危害。

如有任何疑问，请立即联系仪器供应商或维修服务机构。

光学干涉式薄膜测厚仪校准规范1 范围本校准规范适用于测量范围为（10-300）μm 、分辨力为0.01μm 光学干涉式薄膜测厚仪的校准。

2 引用文件本规范引用了下列文件：GB/T 14847-2010 重掺杂衬底上轻掺杂硅外延层厚度的红外反射测量方法 JJF 1306-2011 X 射线荧光镀层测厚仪校准规范使用本规范时，应注意使用上述引用文献的现行有效版本。

3 概述光学干涉式薄膜测厚仪是一种基于光学干涉方法的非破坏性分析仪器，主要用于薄膜厚度的测量，在微电子、半导体、液晶显示等领域中具有广泛的应用。

光学干涉式薄膜测厚仪测量原理为由光源发出的光经由光纤通过探头入射到薄膜样品的表面，经由薄膜样品的上、下表面与参考面反射光相干涉形成的干涉信号由探头接收传送到解调仪；解调仪将其测量数据传输到计算机后进行运算得到待测薄膜样品的厚度测量结果。

图1 光学干涉式薄膜测厚仪工作原理框图4 计量特性4.1 厚度测量重复性薄膜厚度测量相对重复性不超过2%。

4.2 厚度测量示值稳定性在1h 内其示值变化不超过仪器相对示值最大允许误差。

4.3 厚度测量示值误差薄膜厚度测量相对示值最大允许误差不超过6%。

光源薄膜样品解调仪计算机探头注：由于校准工作只给出测量结果，不判断合格与否，上述计量特性仅供参考。

5校准条件5.1环境条件a)校准室环境温度：（20±5）℃；b)相对湿度：≤75%RH；c)校准室内无影响测量的振动或噪音，无影响测量的气流扰动，放置被校仪器的工作台稳固、可靠。

5.2校准所用标准器光学干涉式薄膜测厚仪校准用标准器为厚度标准片，厚度标准片标准厚度值的相对扩展不确定度应不大于2%（k=2）。

厚度标准片的技术要求见附录C。

6校准项目和校准方法6.1校准前准备校准前应目视观察及开机运行检查，包括光源、探头、解调仪、计算机等机构的功能可靠性。

在确保没有影响校准计量特性的因素后方可进行校准。

仪器开机预热不少于20min。

漆膜厚度仪使用方法
漆膜厚度仪是一种用于测量涂层的厚度的仪器。

下面是使用漆膜厚度仪的一般步骤：
1. 准备工作：将漆膜厚度仪放置在稳定的平面上，并确保其探测头干净且无任何污物。

2. 校准仪器：在使用之前，需要校准漆膜厚度仪。

按照仪器的说明书，选择适当的标准样品进行校准。

校准过程中可能需要调整仪器上的一些设置，确保仪器测量结果的准确性。

3. 测量涂层厚度：将漆膜厚度仪的探测头轻轻放置在要测量的涂层表面上。

确保探测头与表面保持垂直，并避免施加过大的压力，以防损坏涂层。

4. 读取测量结果：根据漆膜厚度仪的显示屏上的提示，等待几秒钟，直到仪器测量完成并显示出涂层的厚度。

5. 记录测量结果：将测量的涂层厚度记录下来，并确保将其与规范要求进行比较，以确定涂层是否符合要求。

6. 清洁仪器：使用后，将漆膜厚度仪的探测头清洁干净，以防止污物积累影响测量结果。

需要注意的是，使用漆膜厚度仪之前，应仔细阅读并遵循仪器的操作手册，并按规范要求进行使用。

涂镀层厚度检测方法
1.电磁涂层厚度计：电磁涂层厚度计是一种常用的非接触式涂层测量设备。

该仪器基于电磁感应原理，通过测量涂层表面的感应电流强度和感应磁场大小来确定涂层厚度。

电磁涂层厚度计广泛应用于汽车工业、航空航天、建筑工程等领域，准确度高，操作简单。

2.超声波涂层厚度计：超声波涂层厚度计利用超声波在材料中的传播速度和强度的变化，测量涂层厚度。

通过将传感器紧贴于被测物表面，发射和接收超声波信号，可以得到涂层厚度的测量结果。

超声波涂层厚度计适用于对涂层厚度进行快速、准确测量的场合。

3.X射线荧光光谱仪：X射线荧光光谱仪是一种能够非破坏性地检测涂层厚度的设备。

它通过射入样品表面的X射线激发样品表面的元素产生荧光，再通过检测荧光光谱来分析样品中元素的组成和涂层厚度。

X射线荧光光谱仪在材料分析、质量控制等领域有广泛的应用。

5.刮刀法：刮刀法适用于较厚的涂层厚度测量。

测量方法是用一把刮刀刮取样品表面的部分涂层，然后使用显微镜或影像测量仪测量涂层和基材分离的位置，根据分离的位置判断涂层的厚度。

由于需要刮取一部分涂层，所以该方法不适用于一些对涂层完整性有要求的情况。

这些涂镀层厚度检测方法各有特点，适用于不同的场景和材料。

根据具体需求，选择合适的方法进行涂镀层厚度的测量，将有助于提高产品质量和工艺控制。

镀层测厚仪操作规程一、引言镀层测厚仪是一种用于测量金属表面镀层厚度的仪器。

通过准确测量镀层厚度，可以评估金属制品的质量和耐腐蚀性能。

本文档旨在介绍如何正确操作镀层测厚仪，以确保测量结果的准确性和可靠性。

二、仪器准备1. 确保镀层测厚仪处于正常工作状态，电池电量充足。

2. 清洁测量头和金属表面，确保无尘、无污染。

3. 确定测量模式和相关参数，如测量范围、单位等。

三、操作步骤1. 开机准备a. 按下电源按钮，等待仪器启动。

b. 根据需要选择相应的测量模式。

c. 根据测量要求设置相关参数，如测量范围、单位等。

2. 测量准备a. 将测量头对准待测金属表面，确保与表面垂直接触。

b. 轻轻按下触发按钮，测量头会自动发出声音或显示相关指示，表示测量准备完毕。

3. 进行测量a. 将测量头轻轻按压在金属表面上，保持稳定。

b. 等待测量头发出声音或显示结果，表示测量完成。

c. 记录测量结果，并将测量头移开，完成一次测量。

4. 多点测量a. 如需进行多个点的测量，依次将测量头对准不同的位置。

b. 等待每次测量完成后，将测量头移开，记录测量结果。

5. 结束操作a. 关闭仪器，按下电源按钮，将测量头从金属表面拆离。

b. 清洁测量头和金属表面，确保无尘、无污染。

c. 将仪器妥善存放，避免损坏或误用。

四、注意事项1. 在进行测量前，应该对仪器进行校准，以确保测量结果的精确性。

2. 在测量时应该保持测量头与金属表面垂直接触，并保持稳定。

3. 避免将测量头使用在有尖锐物品或有腐蚀性的表面上，以防损坏测量头。

4. 定期对仪器进行保养和维护，以保证仪器的正常工作。

5. 在进行测量时要注意操作规程，遵循相关安全操作规范，确保人身安全。

五、总结镀层测厚仪是一种用于测量金属表面镀层厚度的重要工具。

正确操作镀层测厚仪，可以保证测量结果的准确性和可靠性。

本文档介绍了镀层测厚仪的操作规程，包括仪器准备、操作步骤、注意事项等。

希望该文档能够帮助用户正确使用和维护镀层测厚仪，提高工作效率和测量结果的质量。

五种常见镀层测厚仪类型及测厚方法镀层测厚仪是一种常用的工具，用于测量各种物体表面的镀层厚度。

常见的镀层测厚仪类型有磁性涂层测厚仪、涡流涂层测厚仪、超声波涂层测厚仪、光学涂层测厚仪和放射性测厚仪。

下面将逐一介绍这些类型的测厚仪及其测厚方法。

1.磁性涂层测厚仪磁性涂层测厚仪主要用于测量金属表面的非磁性涂层厚度，如油漆、漆膜等。

它通过测量在测量位置上的磁场强度来确定涂层的厚度。

测厚仪工作时，将磁性涂层测厚仪放置在被测物体表面，仪器会产生一定强度的磁场，当磁场通过被测涂层时，由于涂层的存在，磁场会发生变化，通过测量磁场变化的大小，就可以确定涂层的厚度。

2.涡流涂层测厚仪涡流涂层测厚仪是用于测量金属表面涂层的工具。

它通过感应涡流的大小来确定涂层的厚度。

在测量过程中，测厚仪与被测物体表面接触，仪器会生成一定频率的交流电磁场，通过测量交流电磁场感应出来的涡流大小，就可以确定涂层的厚度。

3.超声波涂层测厚仪超声波涂层测厚仪是通过超声波的传播速度来确定涂层厚度的。

仪器会发射超声波，当超声波通过涂层时，会反射回来，通过测量超声波的传播时间和速度，就可以计算出涂层的厚度。

4.光学涂层测厚仪光学涂层测厚仪是用于测量透明涂层（例如玻璃、塑料等材料）的厚度。

测厚仪会发射一束可见光，当光线穿过透明涂层时，会发生反射和折射，通过测量反射和折射光的强度和角度，就可以计算出涂层的厚度。

5.放射性测厚仪放射性测厚仪是一种使用放射性同位素进行测量的测厚仪。

测厚仪内部放置有一个放射性同位素源，放射性同位素通过射线照射被测物体表面，当射线穿过涂层时，会发生衰减，通过测量射线衰减的程度，就可以确定涂层的厚度。

综上所述，常见的镀层测厚仪类型有磁性涂层测厚仪、涡流涂层测厚仪、超声波涂层测厚仪、光学涂层测厚仪和放射性测厚仪。

每种测厚仪都有其适用于不同材料和涂层类型的测厚方法，选择合适的测厚仪和测厚方法可以提高测量的准确性和精度。

x射线荧光光谱仪测镀层厚度摘要：1.X 射线荧光光谱仪的概念与原理2.X 射线荧光光谱仪在测镀层厚度中的应用3.X 射线荧光光谱仪的优势与局限性4.结论正文：一、X 射线荧光光谱仪的概念与原理X 射线荧光光谱仪（X-ray Fluorescence Spectrometer，简称：XRF 光谱仪）是一种非破坏性的物质测量方法，可以用于检测样品中的元素组成和含量。

它利用高能量X 射线或伽玛射线轰击材料时激发出的次级X 射线进行分析。

当材料暴露在短波长X 光或伽马射线中，其组成原子可能发生电离，随后回补过程会释放出多余的能量，这些能量以光子形式释放。

X 射线荧光光谱仪通过分析样品中不同元素产生的特征荧光X 射线波长（或能量）和强度，可以获得样品中的元素组成与含量信息，达到定性定量分析的目的。

二、X 射线荧光光谱仪在测镀层厚度中的应用X 射线荧光光谱仪在测镀层厚度方面具有广泛应用。

在测镀层厚度时，X 射线荧光光谱仪可以分析从轻元素的钠（Z11）到铀（Z92）等各个元素。

测镀层厚度的方法主要有两种：直接法和间接法。

直接法是将X 射线照射到待测镀层上，通过测量产生的特征X 射线的强度来确定镀层厚度。

间接法则是通过测量镀层中的元素含量，结合该元素在镀层中的分布规律，推算出镀层厚度。

三、X 射线荧光光谱仪的优势与局限性X 射线荧光光谱仪在测镀层厚度方面具有许多优势，例如：测量速度快、非破坏性、精度高、范围广等。

然而，它也存在一些局限性，例如：对于轻元素的测量精度较低、受到样品形状和尺寸的限制、需要对不同样品进行校准等。

四、结论总的来说，X 射线荧光光谱仪在测镀层厚度方面具有很大的优势，为工业生产和科研领域提供了一种高效、准确的检测手段。