数字电容测试仪课程设计
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数字电子技术课程
设计报告
项目名称:数字电容测试仪班级:1611电子姓名:李
瑞(2016111123)
程家豪(2016111104)
胡焱(2016111115)
胡永凯(2016111116)
指导老师:王正强1.1引言
电容器在电子线路中得到广泛的应用,它的容量大小对电路的性能有重要的
影响,此次我们的课程设计就是用数字显示方式对电容进行测量。它由测试电路
和显示电路两部分组成。通过使用测试电路中555定时器做多谐振荡器,电容配
合电阻充放电产生一系列的方波脉冲,再通过计数器记数算出电容的值,从而实
现数码管显示被测电容的容值。该电容测量仪相对比较直观,且误差较小,将在
电容测量方面显示出它读数方便,精确的优越性。
1.2设计任务及要求
1.2.1基本要求
(1)被测电容的容量在0.01μF至100μF范围内。
(2)设计测量量程。
(3)用3位数码管显示测量结果,测量误差小于20%。
1.2.2发挥部分(选做)
(1)另增一个测量量程,使被测电容的容量扩大到100PF至100μF范围内。
(2)测量误差小于10%。
1.2.3设计任务及目标
(1)根据原理图分析各单元电路的功能;
(2)熟悉电路中所用到的各集成块的管脚及其功能;
(3)进行电路的装接、调试,直到电路能达到规定的设计要求;
(4)写出完整、详细的课程设计报告。
2.1设计原理本设计中用555振荡器产生一定周期的矩形脉冲作为计数器的CP脉冲也就
是标准频率。同时把待测电容C转换成宽度为tw的矩形脉冲,转换的原理是单
稳态触发器的输出脉宽tw与电容C成正比。用这个宽度的矩形脉冲作为闸门信
号控制计数器计数,合理处理计数系统电路,可以使计数器的计数值即为被测电
容值。或者把此脉冲作为闸门时间和标准频率脉冲相“与”,得到计数脉冲,该
计数脉冲送计数—锁存—译码显示系统就可以得到电容量的数据。外部旋钮控制
量程的选择。用计数器控制电路控制总量程。
2.2单元电路设计分析
2.2.1用555定时器构成的多谐振荡器
电路图及其输出波形如图2所示,其工作原理如下:
由图2所示,可以求得电容C1上的充电时间T1和放电时间T2:
T1=(R1+R2)C㏑2≈0.7(R1+R2)C
T2=R2C㏑2≈0.7R2C
所以输出波形的周期为T=T1+T2=(R1+2R2)C㏑2≈0.7(R1+2R2)C
R1=4.7k,R2=12k,T≈2ms
振荡频率f=1/T≈1.44/[(R1+2R2)C]≈500Hz
占空比q=(R1+R2)/(R1+2R2)≈58.2%
定时电路多谐振荡器计数器译码器数码显示器
微分电路自动调零
图1原理框图被测电容
4图2多谐振荡电路及输出波形
2.2.2用555定时器构成的单稳态电路
用555定时器构成的单稳态触发器及其工作波形如图3所示,其工作原理如
下:
接通电源瞬间,Vc=0,输出Vo=1,放电三极管T截止。Vcc通过R给C充
电。当Vc上升到2Vcc/3时,比较器C1输出变为低电平,此时基本RS触发器
置0,输出Vo=0.同时放电三极管T导通,电容C放电,电路处于稳态,稳态时
Vi=1.
当输入负脉冲时,触发器发生翻转,使Vo=1,电路进入暂稳态。由于Vo=1,
三极管T截止,电源Vcc可通过R给C充电。当电容C充电至Vc=2Vcc/3时电
路又发生翻转,输出Vo=0,T导通,电容C放电,电路自动恢复至稳态。可见,
暂稳态时间由RC电路参数决定。
若忽略T的饱和压降,则电容C上电压从0V上升到2Vcc/3的时间,即输
出脉冲宽度tw为:tw=RC㏑3≈1.1RC
5图3单稳态电路及输出波形
2.2.374LS160构成的计数器
74LS160是集成同步十进制计数器,该计数器具有同步预置、异步清零、计
数和保持四种功能有进位信号输出端,可串接计数使用。由三个71604LS160构成的计数器电路如图4所示
图4计数电路
2.2.474LS273
锁存器由74LS273构成的锁存电路对计数值进行锁存。74LS273工作原理是:MR
为高电平,当CLK输入为上升沿时对输入信号进行锁存,锁存后输出不再随输
入信号变动,直至下一个上升沿到来。这里的CLK输入由单稳态输出接反相器
得到。当单稳态输出为低电平时,表示定时结束,同时锁存电路对计数值进行锁
存。以正确显示电容值。电路如图5所示:
图5锁存电路
2.2.574LS247译码器
74LS247芯片的功能即将四位二进制表示的数进行译码,以驱动共阳的七段
数码管显示其值。电路图如图6所示:
图6译码电路
2.2.6数码管显示电路由任务要求知,用三位数码管显示被测电容值的大小。因为译码电路用的是74LS247,并且0.01uf-1uf档位的设计采用1-100乘以0.01,所以这里选用八段
共阳数码管,当量程为0.01uf-1uf时,第一位数码管的小数点亮。
图7数码管显示电路
2.2.7单位显示电路
单位的显示与量程的选择一致,即当量程为0.01uf-1uf或1uf-100uf时,单
位显示为UF,当量程为100pf-0.01uf时,单位显示为PF.,单位后的小数点亮表
示被测电容值为显示的数值乘以100。
图8单位显示电路
3.1
电路参数选择以电容值47uF为例,因为测试电容的原理是:闸门信号Tw=1.1RCx,而振
荡器输出周期为T=0.7(R1+2R2)C的基准脉冲,我们设置电路使0.7(R1+2R2)
C*N=1.1RCx,等式两边同时约去N和Cx,那么在闸门信号闸门内有N个基准脉
冲,电容值就为N(Cx)。
3.2产品使用说明
将被测电容安装在单稳态电路中电容C3位置处,选择一个量程的开关合上,
并点击运行开关。若显示值在1-100之间,则说明量程选择正确;若显示值为000,
则说明量程选择大,应调小量程;若显示值大于100,则说明量程选择太小,应
调大量程。后两种情况下,量程选择错指示灯会亮。如果单位显示为PF.,说明
被测电容值测量结果应为显示值乘以100。
3.3安装与调试
(1)按照总电路图接好电路,检查无误后即可通电调试。本设计在proteus软件
里调试,并用Altiumdesigner设计制作PCB,用实物测试调校。
(2)仿真过程中,当点击运行按钮时,555多谐振荡器开始工作,输出周期为T=0.7(R1+2R2)C的方波信号。将多谐振荡器输出的脉冲送往74LS160开始计
数,同时将输出信号结至单稳态电路输入端,触发单稳态电路进行定时功能。
(3)在多谐振荡器输出输出周期性脉冲的时候,555单稳态触发器的输入端会
不断地输入方波脉冲,由555单稳态的性质我们可以知道,当负脉冲到来时,单
稳态触发器会输出为宽度为是Tw=1.1RC的正脉冲;
(4)从理论上讲,我们可以通过74LS160输出所测电容的大小,但是由于555
单稳态触发器输出的负脉冲时间非常短,我们几乎从显示器上无法确定单稳态负
脉冲的到来,因此我们用了一个74LS273做成的锁存器。当555单稳态输出负
脉冲时,我们将此信号经过一个非门,去控制74LS273的CP脉冲,在555输出正脉冲时锁存器不输出数据,只有555单稳态触发器输出负脉冲时,控制74LS273
的CP脉冲输出当前的数据;
(5)根据课程设计的要求,我们设计了三个量程,分别由接在555单稳态触发
器6、8脚的电阻器来完成的。通过控制电阻的大小,可以控制输出正脉冲的宽
度,即定时时间长短,间接的控制输出电容的量程,同时在输出不同的量程的时
候,我们通过电路控制不同的单位显示加以区别;
(6)在测试1-100uf电容的过程中,可能是由于电路的影响,显示的电容值在
某一个范围里不停的变动,为此,我们在设计该量程时在多谢振荡器的C2电容
两端并联了电容,以加大输出波形的周期,同时为了不使测量结果发生变化,将
该量程下的单稳态电路6、8间的电阻扩大至同样的倍数。这样设计后,显示很
稳定。
调试正常后,选取了6个待测电容进行测量,数据如下表4-1所示。其中部分仿
真结果如下图所示:
图9100pf被测电容仿真结果
图100.47uf被测电容仿真结果图1168uf被测电容仿真结果
表3-1调试结果记录被测电容标称值测量值测量误差C1100pF(101)1*100pF0
C22000pF(332)21*100pF5%
C30.01uF(103)0.01uF0
C40.47uF(333)0.47uF0
C51uF(684)1uF0C668uF68uF0
(7)在实物测试过程中,发现1-100uf量程测试不准,显示数值严重跳动,1uf-0.01uf与100pf-0.01uf量程测试精度达到设计要求。判断1-100uf量程电路由
于存在元件精度不足,跳线干扰等因素,致使改量程未能实现设计测量任务。其
中部分测试结果如下图所示:
图1210nf被测电容实测结果图13510pf被测电容实测结果图1410nf被测电容实测结果图15100nf被测电容实测结果
图161uf被测电容实测结果图17470nf被测电容实测结果
图1810uf被测电容实测结果图1822uf
被测电容实测结果图1847uf被测电容实测结果4.1总结
该数字电容测试仪完成了设计任务的基本要求和发挥部分要求,同时增加了单位显示部分。仪表具有性能可靠、精度高、操作简单,显示直观等特点。不足之处在于当被测电容值100pf-0.01uf之间时,测量误差略大。这是因为设计要求用三个数码管显示,而该量程为0.0001uf-0.01uf或者说是100pf-10000pf,设计该量程时采用显示值乘以100的方法来表示被测电容值,这样一来虽然三个量程的显示值都在1-100之间,但100pf-0.01uf档位的误差就较大了。其次,1uf-100uf量程在被测电容大于22UF时,测量数值存在问题。原理图及PCB设计过程中有许多设计失误,所以该数字电容测试仪仍有很大改进空间。
【参考文献】[1]阎石.数字电子技术基础(第四版/第五版)[M].北京:高等教育出版社,2006:174-184,278-298,489-497.[2]童诗白,华成英.模拟电子技术基础[M].北京:高等教育出版社,2006:11—29.[3]金唯香,谢玉梅.电子测试技术[M].长沙:湖南大学出版社,2008.
附录A总仿真电路图