场效应管的主要参数意义及其测试方法
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场效应管参数含义1、BVdss漏极耐压测试漏极电压测试是测试管子的漏极最大承受电压的值,其测试条件将设置栅极-源极电压VGS=0,并将漏电流限制在规定值以内,进行的耐压测试。
范围:50V~1000V。
2、Vgs(th)开启电压测试开启电压测试是测试管子的栅极的电压值,其测试条件将设置栅极电压等于源极电压VGS=VDS,并将漏电流限制规定值的恒流条件下,进行的开启电压测试。
范围:2V~4V。
3、Igss栅极漏电流测试栅极漏电流测试是测试栅极在一定的电压条件下的漏电流,其测试条件将设置VDS=0,并将栅极电压设置规定值,进行栅极漏电流测试。
范围:〈100nA 。
4、Idss漏极漏电流测试漏极漏电流测试是测试漏极在一定的电压条件下的漏电流,其测试条件将设置VGS=0,并将漏极电压设置规定值,进行漏极漏电流测试。
范围:〈100uA;〈500 uA;〈1000uA。
5、Id(on)漏极通态电流测试漏极通态电流测试是测试漏极在一定的电压条件下的通态电流,其测试条件将设置VGS=10V,并将漏极电压、电流设置规定值,进行漏极通态电流测试。
6、Rds漏极与源极内阻漏极与源极内阻测试是测试漏极对源极在一定的条件下的内阻,其测试条件将设置VGS=10V,并将漏极电压、电流设置规定值,进行漏极内阻测试。
7、Gfs跨导跨导是反映场效应管的栅极电压的变化,使漏极电流产生变化,这种特性称之为跨导。
其测试条件将设置VGS置于某一值,测试此时漏极的“电流值1”,然后将设置VGS增加一定值,测试此时漏极的“电流值2”,并计算漏极电流差值与栅极电压差值之比。
此仪器配合相应的软件可以测试三极管、二极管、可控硅、IGBT 等分离器件的参数。
因此可实现一台仪器代替多台仪器使用场效应管参数符号意义作者:时间:2007-01-30 来源: 浏览评论推荐给好友我有问题个性化定制关键词:场效应管Cds---漏-源电容Cdu---漏-衬底电容Cgd---栅-源电容Ciss---栅短路共源输入电容Coss---栅短路共源输出电容Crss---栅短路共源反向传输电容D---占空比(占空系数,外电路参数)di/dt---电流上升率(外电路参数)dv/dt---电压上升率(外电路参数)ID---漏极电流(直流)IDM---漏极脉冲电流ID(on)---通态漏极电流IDQ---静态漏极电流(射频功率管)IDS---漏源电流IDSM---最大漏源电流IDSS---栅-源短路时,漏极电流IDS(sat)---沟道饱和电流(漏源饱和电流)IG---栅极电流(直流)IGF---正向栅电流IGR---反向栅电流IGDO---源极开路时,截止栅电流IGSO---漏极开路时,截止栅电流IGM---栅极脉冲电流IGP---栅极峰值电流IF---二极管正向电流IGSS---漏极短路时截止栅电流IDSS1---对管第一管漏源饱和电流IDSS2---对管第二管漏源饱和电流Iu---衬底电流Ipr---电流脉冲峰值(外电路参数)gfs---正向跨导Gp---功率增益Gps---共源极中和高频功率增益GpG---共栅极中和高频功率增益GPD---共漏极中和高频功率增益ggd---栅漏电导gds---漏源电导K---失调电压温度系数Ku---传输系数L---负载电感(外电路参数)LD---漏极电感Ls---源极电感rDS---漏源电阻rDS(on)---漏源通态电阻rDS(of)---漏源断态电阻rGD---栅漏电阻Rg---栅极外接电阻(外电路参数)RL---负载电阻(外电路参数)R(th)jc---结壳热阻R(th)ja---结环热阻PD---漏极耗散功率PDM---漏极最大允许耗散功率PIN--输入功率POUT---输出功率PPK---脉冲功率峰值(外电路参数)to(on)---开通延迟时间td(off)---关断延迟时间ti---上升时间ton---开通时间toff---关断时间tf---下降时间trr---反向恢复时间Tj---结温Tjm---最大允许结温Ta---环境温度Tc---管壳温度Tstg---贮成温度VDS---漏源电压(直流)VGS---栅源电压(直流)VGSF--正向栅源电压(直流)VGSR---反向栅源电压(直流)VDD---漏极(直流)电源电压(外电路参数)VGG---栅极(直流)电源电压(外电路参数)Vss---源极(直流)电源电压(外电路参数)VGS(th)---开启电压或阀电压V(BR)DSS---漏源击穿电压V(BR)GSS---漏源短路时栅源击穿电压VDS(on)---漏源通态电压VDS(sat)---漏源饱和电压VGD---栅漏电压(直流)Vsu---源衬底电压(直流)VDu---漏衬底电压(直流)VGu---栅衬底电压(直流)Zo---驱动源内阻η---漏极效率(射频功率管)Vn---噪声电压aID---漏极电流温度系数ards---漏源电阻温度系数。
MOSFET参数理解及测试项目方法解读1.状态参数- 阈值电压(Vth):阈值电压是指MOSFET的栅极电压与源极电压之间的临界电压,达到该电压时MOSFET开始导通。
测试方法是将源极和汇极短路,逐渐增加栅极电压,观察当栅极电压超过阈值电压时,输出特性开始发生变化。
- 开态电流(Idss):开态电流是指当栅极电压为0时,MOSFET的汇极电流。
测试方法是将源极和汇极短路,将栅极电压设为0,通过测量汇极电流得到。
- 非饱和区电流(Id(on)):非饱和区电流是指当MOSFET处于非饱和区时的汇极电流。
测试方法是将源极和汇极短路,逐渐增加栅极电压,对应的汇极电流即为非饱和区电流。
2.动态参数- 反馈电容(Ciss):反馈电容是指MOSFET的栅极与源极之间的电容。
测试方法是将栅极与源极短路,通过施加低频正弦信号(例如100Hz),测量输入电流与输入电压之间的相位差来计算反馈电容。
- 输出电容(Coss):输出电容是指MOSFET的栅极与汇极之间的电容。
测试方法是将栅极与汇极短路,通过施加低频正弦信号,在输出电流为恒定值的条件下,测量输出电压与输出电流之间的相位差来计算输出电容。
- 衰减电容(Crss):衰减电容是指MOSFET的栅极与汇极之间的电容。
测试方法与输出电容类似,通过施加低频正弦信号,在固定频率下测量输出电压与输出电流之间的相位差来计算衰减电容。
3.其他参数- 开关时间(ton/off):开关时间是指MOSFET从导通到截止(或反之)所需要的时间。
测试方法是施加方波信号,测量开关时间。
- 漏极电阻(Rds(on)):漏极电阻是指MOSFET在导通状态下的漏极电阻。
测试方法是将源极和汇极短路,施加一定的栅极电压,测量导通状态下的漏极电阻。
- 热阻(θja/θjc):热阻是指MOSFET从芯片到环境之间的热传导阻力。
测试方法是在特定的温度下,测量不同功率下MOSFET的温度变化,通过计算得到热阻。
场效应管的测量方法场效应管(Field Effect Transistor,简称FET)是一种常见的半导体器件,用于放大电信号和控制电流流动。
它是现代电子技术中至关重要的组成部分,广泛应用于通信、计算机、电力、医疗设备等领域。
本文将从测量方法的角度对场效应管进行全面评估,并探讨其在实际应用中的价值和意义。
一、场效应管的基本原理1.1 堆叠型场效应管堆叠型场效应管是一种常见的结构,由源极、栅极和漏极组成。
其中,栅极是控制电流流动的关键部分,通过改变栅极电压来控制电流的大小。
当栅极电压为正时,沟道中的电子流可以被栅极电场引导,从而形成导电通路;当栅极电压为负时,电子流被屏蔽,无法通过沟道,电流几乎为零。
这种控制电流的特性使得场效应管成为一种理想的放大器和开关。
1.2 压敏型场效应管压敏型场效应管则是利用栅极与源极之间的电场形成PN结,具有较高的电压稳定性。
这种结构特点使得压敏型场效应管在防火、防雷等领域得到广泛应用。
二、场效应管的测量方法2.1 静态参数测量静态参数测量主要是通过电流-电压(I-V)特性曲线来评估场效应管的性能。
通过改变栅极电压和漏极电压,测量器件的电流变化,以确定其工作状态和性能指标。
常见的静态参数包括:- 零漏极电流(IDSS):在源极和栅极间施加零电压时,测量的漏极电流;- 转移特性曲线:以栅极电压为横轴,漏极电流为纵轴,绘制的特性曲线;- 漏极截止电压(VDS(off)):当栅极电压为零时,测量的漏极电压。
2.2 动态参数测量动态参数测量主要是评估场效应管的响应速度和频率特性。
常见的动态参数包括:- 开关时间:指场效应管从开关状态到导通状态所需的时间;- 内部电容:用于描述电荷移动的速度,在高频应用中尤为重要;- 过载能力:指器件在负载变化时的电流变化能力。
三、场效应管在实际应用中的价值3.1 放大器场效应管作为一种理想的放大器,具有高增益、低噪声和低失真等特点,被广泛应用于音频放大、射频放大等领域。
MOSFET参数及其测试方法MOSFET(金属-氧化物-半导体场效应晶体管)是一种常用的电子器件,被广泛应用于各种电子设备和电路中。
MOSFET的参数测试对于确保器件的性能和可靠性至关重要。
本文将介绍一些常见的MOSFET参数及其测试方法。
1. 阈值电压(Vth):阈值电压是指当MOSFET处于截止状态时,栅极电压与源级电压之间的电压差。
阈值电压可以通过静态测试方法来测量,即在MOSFET的栅极和源级之间施加一系列电压,测量源级电流,找到伏安特性曲线上的截止点。
2. 转导电阻(Rds):转导电阻是指MOSFET导通时,由于导通的电流和栅极-源级电压之间的斜率。
可以使用四线电压法测量Rds,即在MOSFET的栅极和源级之间施加一定的电压,通过源极和漏极之间的电压差和电流的比值得到转导电阻。
3. 饱和漏源电流(Idsat):饱和漏源电流是指当MOSFET处于饱和状态时,通过漏极的电流值。
可以通过直流测试方法来测量饱和漏源电流,即在MOSFET的栅极和源级之间施加一个恒定的栅极电压,测量漏极电流。
4.互导电阻(Gm):互导电阻是指MOSFET的输出电导,也称为跨导。
可以通过微小信号测试方法来测量互导电阻,即在MOSFET的栅极和源级之间施加一个小幅度的交流信号,测量源极和漏极之间的电压差和电流的比值。
5. 输出电容(Coss):输出电容是指MOSFET的栅极-源级电容和栅极-漏极电容。
可以通过测试方法来测量输出电容,即在MOSFET的栅极和源级之间施加一个恒定的栅极电压,将频率为1kHz的输入信号施加到栅极,测量输出电容。
6.开关速度:开关速度是指MOSFET的开关时间,即从关断到导通或从导通到关断的时间。
可以通过测试方法来测量开关速度,即在MOSFET的栅极和源级之间施加一个恒定的栅极电压,通过测量导通和关断时刻的时间差来得到开关速度。
综上所述,MOSFET的参数测试方法包括静态测试方法和动态测试方法。
MOSFET参数及其测试方法总结计划MOSFET(金属氧化物半导体场效应晶体管)是一种常用的半导体器件,广泛应用于各种电路和系统中。
在设计和应用中,了解MOSFET的参数并能够进行准确的测试是非常重要的。
本文将对MOSFET的参数及其测试方法进行总结。
一、MOSFET的参数1.沟道长度(L)和宽度(W):MOSFET的沟道长度和宽度决定了器件的电流承载能力和速度。
2.漏极电流(Id):MOSFET的漏极电流是其最重要的参数之一,代表了器件的工作状态。
3.漏极-源极截止电压(Vth):MOSFET在正常工作区域的电压范围。
4.漏极电流与栅极电压关系(Id-Vgs):MOSFET的输入输出特性。
5.漏极电流与漏极-源极电压关系(Id-Vds):MOSFET的输出特性。
6.互导(gm):MOSFET的互导是指输入信号对输出信号的放大程度,也称为跨导。
7.电容:包括输入电容(Cin)和输出电容(Cout)。
8.最大漏源电压(Vds,max)和最大漏流电流(Id,max):MOSFET的工作极限。
二、MOSFET参数测试方法1.沟道长度和宽度:沟道长度和宽度可以通过制造工艺参数来确定,也可以通过显微镜观察仪来测量。
2.漏极电流:通过将MOSFET连接到适当的电源和测量设备来测量漏极电流。
3.漏极-源极截止电压:将不同的栅极电压应用到MOSFET上,然后测量漏极-源极电流来确定截止电压。
4.漏极电流与栅极电压关系:通过改变栅极电压并测量相应的漏极电流,可以绘制出漏极电流与栅极电压之间的关系曲线。
5.漏极电流与漏极-源极电压关系:通过改变漏极-源极电压并测量相应的漏极电流,可以绘制出漏极电流与漏极-源极电压之间的关系曲线。
6.互导:通过改变栅极电压和测量相应的漏极电流来计算互导。
7.电容:可以通过测量输入/输出电荷和电压的变化来计算电容。
8.最大漏源电压和最大漏流电流:通过逐渐增加漏源电压来测量最大漏源电压,并通过增加漏极电流来测量最大漏流电流。
场效应管好坏测量方法场效应管是一种常用的半导体器件,广泛应用于放大、开关、滤波等电路中。
场效应管的好坏直接影响到整个电路的性能,因此对场效应管进行准确的测量和评估是非常重要的。
本文将介绍几种常用的场效应管好坏测量方法,希望能为大家提供一些参考。
首先,我们可以通过静态参数来评估场效应管的好坏。
静态参数包括漏极电流、饱和电流、开启电压等。
通过测量这些参数,我们可以初步了解场效应管的基本性能。
漏极电流是指在一定的栅极电压下,场效应管的漏极-源极间的电流,它反映了场效应管的导通能力。
饱和电流是指在一定的栅极电压下,场效应管的漏极-源极间的最大电流,它反映了场效应管的最大导通能力。
开启电压是指在一定的漏极电流下,场效应管的栅极电压,它反映了场效应管的导通起始点。
通过测量这些参数,我们可以初步判断场效应管的好坏。
其次,我们可以通过动态参数来评估场效应管的好坏。
动态参数包括开关时间、导通电阻、截止频率等。
开关时间是指场效应管从截止到导通或者从导通到截止所需要的时间,它反映了场效应管的开关速度。
导通电阻是指场效应管在导通状态下的电阻大小,它反映了场效应管的导通能力。
截止频率是指场效应管在高频条件下的截止频率,它反映了场效应管在高频条件下的性能。
通过测量这些参数,我们可以更全面地评估场效应管的好坏。
最后,我们可以通过温度特性来评估场效应管的好坏。
温度特性是指场效应管在不同温度下的性能表现。
由于场效应管在实际应用中会受到温度的影响,因此了解场效应管在不同温度下的性能表现对于评估其好坏非常重要。
通过测量场效应管在不同温度下的静态和动态参数,我们可以更准确地评估场效应管的好坏。
综上所述,对场效应管进行好坏测量是非常重要的。
我们可以通过静态参数、动态参数和温度特性来评估场效应管的好坏。
通过准确的测量和评估,我们可以更好地选择和应用场效应管,从而提高电路的性能和稳定性。
希望本文介绍的方法能够帮助大家更好地了解和应用场效应管。
场效应管的主要参数场效应管(Field Effect Transistor,简称FET)是一种常用的电子器件,常被用于放大、开关和调节电流等应用中。
它具有许多重要的参数,这些参数对于理解和设计电路至关重要。
本文将介绍场效应管的一些主要参数,并解释它们的作用和特点。
1. 漏极截止电压(VDS(off)):漏极截止电压是指当场效应管关闭时,漏极和源极之间的电压。
当VDS(off)为正值时,漏极电压高于源极电压,此时场效应管处于关闭状态。
VDS(off)的值取决于场效应管的工作状态和特性。
这个参数对于确定场效应管的工作状态和电路的稳定性非常重要。
2. 饱和漏极电压(VDS(sat)):饱和漏极电压是指当场效应管完全开启时,漏极和源极之间的最小电压。
在饱和区,场效应管的导通状态稳定,电流可以通过管子流动。
VDS(sat)的值取决于场效应管的特性和工作状态。
这个参数对于确定场效应管的工作范围和电路的性能至关重要。
3. 置零漏极电压(VDS(off) zero):置零漏极电压是指当场效应管完全关闭时,漏极和源极之间的电压。
当VDS(off) zero为正值时,漏极电压高于源极电压,此时场效应管处于完全关闭状态。
VDS(off) zero的值取决于场效应管的工作状态和特性。
这个参数对于确定场效应管的截止状态和电路的稳定性非常重要。
4. 阈值电压(Vth):阈值电压是指当场效应管开始导通时,栅极和源极之间的电压。
在阈值电压以上,场效应管开始导通,电流可以通过管子流动。
Vth的值取决于场效应管的类型和制造工艺。
这个参数对于确定场效应管的导通状态和电路的性能至关重要。
5. 压缩因子(K):压缩因子是指栅极电压变化与漏极电流变化之间的比率。
K的值取决于场效应管的类型和特性。
较大的K值意味着场效应管具有较好的放大能力和线性特性。
这个参数对于确定场效应管的放大能力和电路的线性度至关重要。
6. 输入电容(Ciss):输入电容是指场效应管的栅极和源极之间的电容。
场效应管的特点、参数及使用注意事项
1.场效应管的特点
场效应管是电压掌握型器件,它不向信号源索取电流,有很高的输入电阻,而且噪声小、热稳定性好,因此宜于做低噪声放大器,特殊是低功耗的特点使得在集成电路中大量采纳。
2.场效应管的主要参数
夹断电压U P :指当U DS 值肯定时,结型场效应管和耗尽型MOS 管的I D 减小到接近零时U GS 的值称为夹断电压。
开启电压U T :指当U DS 值肯定时,增加型MOS管开头消失I D 时的U GS 值称为开启电压。
跨导g m :指U DS 肯定时,漏极电流变化量Δ I D 与栅-源极电压变化量Δ U GS 之比。
最大耗散功率P CM :指管子正常工作条件下不能超过的最大可承受功率。
3.使用留意事项
(1)场效应管的栅极切不行悬空。
由于场效应管的输入电阻特别高,栅极上感应出的电荷不易泄放而产生高压,从而发生击穿损坏管子。
(2)存放时,应将绝缘栅型场效应管的三个极相互短路,以免受外电场作用而损坏管子,结型场效应管则可开路保存。
(3)焊接时,应先将场效应管的三个电极短路,并按源极、漏极、
栅极的先后挨次焊接。
烙铁要良好接地,并在焊接时切断电源。
(4)绝缘栅型场效应管不能用万用表检查质量好坏,结型场效应管则可以。
j113场效应管参数摘要:1.场效应管的基本概念2.场效应管的主要参数3.场效应管参数的测量方法4.场效应管参数对性能的影响5.结论正文:一、场效应管的基本概念场效应管(Field Effect Transistor,简称FET)是一种半导体器件,是基于半导体材料的电子运动方式而设计的。
场效应管是三种主要的晶体管之一,另外两种是双极晶体管和绝缘栅双极晶体管。
场效应管具有高输入电阻、低噪声和低功耗等特点,在电路设计中有着广泛的应用。
二、场效应管的主要参数场效应管的性能参数主要包括:1.源漏极电流ID:是指在特定电压下,从源极到漏极的电流。
2.源漏极电压VDS:是指在特定电流下,源极和漏极之间的电压。
3.栅源极电压VGS:是指在特定电压下,栅极和源极之间的电压。
4.阈值电压Vth:是指栅源极电压达到一定值时,源漏极电流开始流动的电压。
5.跨导gm:是指在特定电压下,源漏极电流变化引起的栅源极电压的变化。
6.输出电阻RDS(on):是指在特定电压下,源漏极电流流过时的等效电阻。
7.输入电阻RIS:是指在特定电压下,源漏极电流变化引起的源极电压的变化。
三、场效应管参数的测量方法场效应管参数的测量方法通常有:1.直流参数测试:通过施加直流电压,测量场效应管的源漏极电流和源漏极电压,从而得到ID-VDS 和ID-VGS 曲线,可以提取出FET 的阈值电压、跨导和输出电阻等参数。
2.交流参数测试:通过施加交流电压,测量场效应管的源漏极电流和源极电压,从而得到AC-VDS 和AC-VGS 曲线,可以提取出FET 的输入电阻和等效输入电容等参数。
3.小信号参数测试:通过施加小信号,测量场效应管的源漏极电压和源极电流的变化,从而得到小信号参数,可以提取出FET 的增益和带宽等参数。
四、场效应管参数对性能的影响场效应管的参数对器件性能有着重要的影响,其中:1.源漏极电流ID:决定了FET 的电流放大能力。
2.源漏极电压VDS:决定了FET 的电压放大能力。
MOSFET参数理解及测试项目方法解读MOSFET(金属氧化物半导体场效应晶体管)是一种常用的半导体器件,广泛应用于电子电路中。
在理解和测试MOSFET参数时,有以下几个重要的参数需要考虑和测量:门极阈值电压(Vth),漏电流(Idleakage),开关时间(ton,toff),静态电阻(RDS(on)),电流放大倍数(β)。
首先是门极阈值电压(Vth),门极阈值电压是指当MOSFET的栅极电压低于它时,其漏极和源极之间电流相对较小的电压。
Vth的测试方法一般是通过在不同的栅极电压下测量漏极与源极之间的电流,然后绘制I-V曲线,根据曲线的拐点处的电压值即为门极阈值电压。
漏电流是指MOSFET在关断状态下的漏极与源极之间的电流。
漏电流的测试方法一般是将栅极与源极保持断开,而漏极与源极间的电压维持一定值,然后测量漏电流。
开关时间是指MOSFET在从开关状态到关断状态或从关断状态到开关状态转换所需的时间。
开关时间的测试方法是通过测量驱动MOSFET的输入电压和输出电流的变化来确定。
静态电阻指的是MOSFET在导通状态时的电阻值,其测试方法是通过在MOSFET导通时测量漏极与源极之间的电压和电流,然后通过计算得到静态电阻值。
电流放大倍数是指MOSFET输出电流与输入电流之间的比值,它的测试方法是通过测量MOSFET的输出电流和输入电流,然后计算得到。
总之,理解和测试MOSFET参数需要对其基本原理有一定的了解,并使用合适的测试设备和测量方法进行测量。
通过使用合适的电路和仪器,可以准确地测量出MOSFET的各项参数,从而帮助我们更好地设计和应用电子电路。
场效应管的主要参数意义及其测试方法场效应管(Field Effect Transistor,FET)是一种三端器件,常用
于放大、开关和稳压等电路中。
场效应管的主要参数包括漏极-源极电流(IDSS)、漏极-源极截止电压(VGS(Off))、漏极电阻(RDS(On))和跨
导(Transconductance),其测试方法主要包括IDSS测试、VGS截止测试、RDS测试和跨导测试。
1.漏极-源极电流(IDSS):IDSS是指在给定源极-栅极电压下,场
效应管的漏极电流。
它反映了场效应管的导通能力,通常单位为毫安(mA)。
IDSS测试方法为:将场效应管的源极和栅极短接,连接好漏极
回路,将源极-漏极电压保持为0V,测量漏极电流。
2. 漏极-源极截止电压(VGS(Off)):VGS(Off)是指在给定漏极电流下,场效应管的截止电压。
它反映了场效应管在关闭状态下的电压阈值,
通常单位为伏特(V)。
VGS(Off)测试方法为:将场效应管的源极和栅极
短接,连接好漏极回路,并将漏极电流维持在预定值,测量栅极-源极电压。
3.漏极电阻(RDS(On)):RDS(On)是指在给定栅极-源极电压下,场
效应管的漏极电阻。
它反映了场效应管的导通状态下的电阻情况,通常单
位为欧姆(Ω)。
RDS测试方法为:将场效应管的源极和栅极短接,连接
好漏极回路,并将栅极-源极电压维持在预定值,测量漏极电阻。
4. 跨导(Transconductance):跨导是指在给定栅极-源极电压下,
场效应管的斜率。
它反映了场效应管的输入导通能力,通常单位为毫安/
伏特(mA/V)。
跨导测试方法为:将场效应管的源极和漏极短接,连接好
栅极回路,并将栅极-源极电压维持在预定值,测量漏极电流对应的变化。