下载文档原格式
LED灯具可靠性测试规范1、目的建立实验室LED灯具可靠性测试的标准与规范，完善产品测试标准，提高产品质量。
2、适用范围本标准适用于模组类、柔性灯带类以及直条灯类成品可靠性测试。
3、内容3.1 测试项目成品可靠性测试包含但不限于以下项目，在提交测试过程中根据实际情况在测试单中注明需要执行的测试项目。
基础参数测试：产品的基本参数；环境测试：温度循环、冷热冲击、高湿热循环、高温存储、低温存储、高温高湿储存、抗UV测试；寿命测试：常规衰减测试、高温高湿寿命测试、低温衰减测试、加速衰减测试、规定焊点温度下衰减测试；破坏性测试：通断电测试、过压/欠压测试、IP防护等级测试、输入输出短路测试、导线连接处抗拉力测试、灯带弯折性测试、极性保护测试、耐酸性测试、盐雾试验、静电测试；机械测试：振动测试、堆码测试、跌落测试。
3.2 测试要求类别试验项目试验设备试验条件持续时间样品数量测试部门基础参数电流/功率/光通量/显色指数/色温/压降和电流差/配光曲线电源积分球万用表室温下，产品在标配情况下点亮测试。
主要测试参数有：单个成品的电流、功率、光通量、显色指数、色温、产品级联后的的压降和首尾电流差。
产品配光曲线图（必要时）两个标准级联单位的成品质保中心实验室环境试验温度循环高低温交变湿热试验箱 -40℃～25℃～100℃～25℃30分钟5分钟30分钟5分钟循环100回合 5pcs/0.5m/<0.6m冷热冲击 -40-7015分钟15分钟循环150回合 5pcs/0.5m/<0.6m高湿热循环 30℃～65℃RH=90% 24小时/1回合 72h 5pcs0.5m/<0.6m高温存储 Ta=80℃ 168h 5pcs/0.5m/<0.6m低温存储 Ta=-40℃ 168h 5pcs/0.5m/<0.6m高温高湿存储Ta=70℃RH=90% 168h 5pcs/0.5m/<0.6m抗UV测试BE-UV-8 紫外线灯箱用强紫外线直接照射被测试件表面，加速表面的老化。
LED信赖性测试标准——P2、SMD LED(GB)(2011-08-16 21:13:40)转载▼标签：f4测试标准信赖性杂谈分类：LEDACPP2 LED Lamps/SMD---InGaN and GaN (Blue, Cyan, Green)Type Test ApplicableStandardsTest Condition NoteNumberofDamagedEnvironment al Sequence Temperature CycleJEITAED-4701100 105–40℃~25℃~100℃~25℃30mins,5mins,30mins,5mins200cycles0/20 Thermal Shock*MIL-STD-202G–40℃~100℃30mins,30mins200cycles0/20Moisture-ResistanceCycleJEITAED-4701200 20325℃~65℃~–10℃90%RH 24H/cycle10cycles0/20High-TemperatureStotageJEITAED-4701200 201T A=100℃1000H0/20 Humidity Heat StorageJEITAED-4701100 103T A=60℃RH=90%1000H0/20Low-TemperatureStorage*JEITAED-4701200 202T A=–40℃1000H0/20Operation Sequence Life Test*–T A=25℃Oval: I F=35mA(GB)1000H0/20Items marked with * are selective.LED信赖性测试标准——P4 LED(RY)(2011-08-16 21:15:24)转载▼标签：杂谈分类：LEDACPP4 LED Lamps---AlInGaP(Red, Amber)Type Test ApplicableStandardsTest Condition NoteNumberofDamagedEnvironmen tal Sequence Temperature CycleJEITAED-4701100 105–40℃~25℃~100℃~25℃30mins,5mins,30mins,5mins200cycles0/20 Thermal Shock*MIL-STD-202G–40℃~100℃30mins,30mins200cycles0/20Moisture-ResistanceCycleJEITAED-4701200 20325℃~65℃~–10℃90%RH 24H/cycle10cycles0/20High-TemperatureStotageJEITAED-4701200 201T A=100℃1000H0/20 Humidity Heat StorageJEITAED-4701100 103T A=60℃RH=90%1000H0/20Low-TemperatureStorage*JEITAED-4701200 202T A=–40℃1000H0/20Operation Sequence Life Test*–T A=25℃I F=35mA1000H0/20 High Humidity Heat LifeTest*–60℃RH=90%I F=20mA500H0/20 Low Temperature LifeTest–T A=–30℃I F=30mA1000H0/20Destructive Sequence Resistance to SolderingHeatJEITAED-4701T SOL=260(+/-5)℃,10sec3 time0/20Items marked with * are selective.LED信赖性测试标准——P4 LED(RY)(2011-08-16 21:15:24)转载▼标签：杂谈分类：LEDACPP4 LED Lamps---AlInGaP(Red, Amber)Type Test ApplicableStandardsTest Condition NoteNumberofDamagedEnvironmen tal Sequence Temperature CycleJEITAED-4701100 105–40℃~25℃~100℃~25℃30mins,5mins,30mins,5mins200cycles0/20 Thermal Shock*MIL-STD-202G–40℃~100℃30mins,30mins200cycles0/20Moisture-ResistanceCycleJEITAED-4701200 20325℃~65℃~–10℃90%RH 24H/cycle10cycles0/20High-TemperatureStotageJEITAED-4701200 201T A=100℃1000H0/20 Humidity Heat StorageJEITAED-4701100 103T A=60℃RH=90%1000H0/20Low-TemperatureStorage*JEITAED-4701200 202T A=–40℃1000H0/20Operation Sequence Life Test*–T A=25℃I F=35mA1000H0/20 High Humidity Heat LifeTest*–60℃RH=90%I F=20mA500H0/20 Low Temperature LifeTest–T A=–30℃I F=30mA1000H0/20Destructive Sequence Resistance to SolderingHeatJEITAED-4701T SOL=260(+/-5)℃,10sec3 time0/20300 302(3mm from the base ofthe epoxy bulb)Solderability JEITAED-4701300 303T SOL=235(+/-5)℃,5sec(using flux)3 time(over95%)0/20Lead Bend Test JEITAED-4701400 401Load 5N (0.5kgf)0°~ 90°~ 0° bend 2timesNonotice-abledamage0/20Lead Pull Test JEITAED-4701400 401Load 10N (1kgf)10(+/-1)secNonotice-abledamage0/20ESD Electrostatic DischargeTestAEC(Q101-001)Human body model1000V(Forward and Reversecurrent conductelectricity,each 1 time)0/10Items marked with * are selective. Failure CriteriaItem Symbol TestConditionCriteria for JudgmentMin MaxForwardVoltageV F I F=70mA–Initial Data x 1.1 ReverseCurrentI R V R=5V–1uALuminousFlux/ Intensity /I V I F=70mAInitial Data x 0.65(Totaldegradation)Initial Data x 0.5(Singlelamp degradation)–分享LED信赖性测试标准——P4 LED(GB)(2011-08-16 21:17:53)标签：分类：LEDf4测试标准信赖性p4杂谈ACPP4 LED Lamps---InGaN and GaN (White,Blue, Cyan, Green)Items marked with * are selective.LED信赖性测试标准——P2、SMD LED(RY)(2011-08-16 20:53:42)转载▼标签：杂谈分类：LEDACPP2 LED Lamps/SMD---AlInGaP(Red, Amber)Type Test ApplicableStandardsTest Condition NoteNumberofDamagedEnvironmen tal Sequence Temperature CycleJEITAED-4701100 105–40℃~25℃~100℃~25℃30mins,5mins,30mins,5mins200cycles0/20 Thermal Shock*MIL-STD-202G–40℃~100℃30mins,30mins200cycles0/20Moisture-ResistanceCycleJEITAED-4701200 20325℃~65℃~–10℃90%RH 24H/cycle10cycles0/20High-TemperatureStotageJEITAED-4701200 201T A=100℃1000H0/20 Humidity Heat StorageJEITAED-4701100 103T A=60℃RH=90%1000H0/20Low-TemperatureStorage*JEITAED-4701200 202T A=–40℃1000H0/20Operation Sequence Life Test*–T A=25℃Oval: I F=20mA(GB)IF=30mA(R)Round:I F=20mA(GB)IF=30mA(R)1000H0/20High Humidity Heat LifeTest*–60℃RH=90%I F=20mA500H0/20 Low Temperature LifeTest–T A=–30℃I F=20mA1000H0/20Items marked with * are selective.LED信赖性测试标准——P2、SMD White (2011-08-16 20:49:44)转载▼标签：f4测试标准信赖性杂谈分类：LEDACPP2 White LED Lamps/SMDType Test ApplicableStandardsTest Condition NoteNumberofDamagedEnvironmen tal Sequence Temperature CycleJEITAED-4701100 105–40℃~25℃~100℃~25℃30mins,5mins,30mins,5mins200cycles0/20 Thermal Shock*MIL-STD-202G–40℃~100℃30mins,30mins200cycles0/20Moisture-ResistanceCycleJEITAED-4701200 20325℃~65℃~–10℃90%RH 24H/cycle10cycles0/20High-TemperatureStotageJEITAED-4701200 201T A=100℃1000H0/20 Humidity Heat StorageJEITAED-4701100 103T A=60℃RH=90%1000H0/20Low-TemperatureStorage*JEITAED-4701200 202T A=–40℃1000H0/20Operation Sequence Life Test*–T A=25℃Oval: I F=25mARound: I F=20mA1000H0/20High Humidity Heat LifeTest*–60℃RH=90%I F=20mA500H0/20 Low Temperature Life –T A=–30℃1000H0/20Test I F=20mADestructive Sequence Resistance to SolderingHeatJEITAED-4701300 302T SOL=260(+/-5)℃,10sec(3mm from the base ofthe epoxy bulb)3 time0/20 SolderabilityJEITAED-4701300 303T SOL=235(+/-5)℃,5sec(using flux)3 time(over95%)0/20 Lead Bend TestJEITAED-4701400 401Load 5N (0.5kgf)0°~ 90°~ 0° bend 2timesNonotice-abledamage0/20 Lead Pull TestJEITAED-4701400 401Load 10N (1kgf)10(+/-1)secNonotice-abledamage0/20ESD Electrostatic DischargeTestAEC(Q101-001)Human body model1000V(Forward and Reversecurrent conductelectricity,each 1 time)0/10Items marked with * are selective. Failure CriteriaItem Symbol TestConditionCriteria for JudgmentMin MaxForwardVoltageV F I F=20mA–Initial Data x 1.1 ReverseCurrentI R V R=5V–1uALuminousFlux/ Intensity /I V I F=20mAInitial Data x 0.7(Totaldegradation)Initial Data x 0.5(Singlelamp degradation)–大功率LED一般的可靠性试验标准2012年05月03日11:28 | 分类：经验总结LED封装常用原物料的质量要求：。
LED灯可靠性测试方法汇总
（1高温高压及其冲击测试，2低温低压及其冲击测试，3常温常压冲击测试，4温度循环测试，5恒定湿热测试，6振动测试，7寿命测试）
一、高温高压及其冲击测试：
测试对象：LED 灯具（含 LED Driver 的成品灯具）
测试方法：
1，将 5 款 LED 灯具放置在一个室温为60℃的房间；
2，通过调压器将 LED 灯具的输入电压调为最大额定输入电压的 1.1 倍
3，接通电源，点灯 24H，并观察灯具是否有损坏、材料受热变形等异常现象；4，点灯测试后，通过继电器控制灯具在此环境下进行冲击测试，测试设置为：点灯 20s、
熄灯 20s，循环 100 次。
测试要求：
A，灯具在经过高温高压测试后，不能发生表面脱漆、变色、开裂、材料变形等异常现象；
B，灯具在经过冲击测试后，不能发生漏电、点灯不亮等电气异常现象。
二，低温低压及其冲击测试：
测试对象：LED 灯具（含 LED Driver 的成品灯具）
测试方法：
1，将 5 款 LED 灯具放置在一个-15℃的环境下；
2，通过调压器将 LED 灯具的输入电压调为最小额定输入电压的 0.9 倍
3，接通电源，点灯 24H，并观察灯具是否有损坏、材料受热变形等异常现象；4，点灯测试后，通过继电器控制灯具在此环境下进行冲击测试，测试设置为：。
LED产品可靠性试验介绍本文主要站在LED制造者或使用者的立场来探讨对应不同的使用环境与场所，较具有效益的可靠性试验项目以及这些试验的基本原理，可做为制造者依据不同产品类别选择较有效益的可靠性试验，也可作为平时生产抽样检验之用。
由于地球的能源不断的减少，温室效应所造成的环境问题，也日趋严重，节能减排，降低温室效应以及减低资源的耗损速度等，成为人类共同的责任。
近几年LED随技术与制程能力不断提升，高亮度产品质量与使用寿命提高后，逐渐扩展应用领域到做为室内外照明灯源、LCD产品背光模块、车用灯具组等较高端产品。
再者，LED产品普遍具有体积小、省电、无毒性、光源具方向性、维修费用低等的优点，因而再度受到世人重视，产业因此成为一项重要的发展。
若以电子产品等级架构Level 0～Level 3（注：L0～L3表示电子产品自晶圆制造、构装、上板组装、系统成品等四阶段）的观点来看，LED产品则是自上游至下游均以其为命名主体。
由于产品的普及化与应用范围越来越广泛，因而可靠性的要求得以受到重视。
国际主要LED大厂均有一套独立的验证标准，本文主要站在LED制造者或使用者的立场来探讨对应不同的使用环境与场所，较具有效益的可靠性试验项目以及这些试验的基本原理，可做为制造者依据不同产品类别选择较有效益的可靠性试验，也可作为平时生产抽样检验之用。
零件可靠性试验LED零件结构可概分为表面黏着型（SMD）与插件型（DIP）两大类别。
LED零件与一般IC封装所使用材料不同，但结构相近且较简易。
LED零件的主要可靠性试验可分为：可靠性试验预处理流程、环境寿命试验、焊锡性、耐热性、静电（ESD）等项目，并于试验前后以光学特性量测计算其光学特性衰退情形做为判断基准。
依使用环境与区域不同，得以选择适当的试验项目进行验证。
可靠性试验预处理流程（Pre-conditioning）预处理流程适用于SMD型LED，其目的系仿真LED零件在系统厂组装过程，并且使用较严苛条件，迫使零件吸湿后进行热应力试验，是执行LED零件可靠性试验的标准前处理作业流程。
III、测试项目---1,高温高压及其冲击测试：针对对象：LED 灯具（含LED Driver 的成品灯具）参照标准：行业经验测试方法：1，将5 款LED 灯具放置在一个室温为60℃的房间；2，通过调压器将LED 灯具的输入电压调为最大额定输入电压的1.1 倍3，接通电源，点灯24H，并观察灯具是否有损坏、材料受热变形等异常现象；4，点灯测试后，通过继电器控制灯具在此环境下进行冲击测试，测试设置为：点灯20s、熄灯20s，循环100 次。
测试要求：A，灯具在经过高温高压测试后，不能发生表面脱漆、变色、开裂、材料变形等异常现象；B，灯具在经过冲击测试后，不能发生漏电、点灯不亮等电气异常现象。
III、测试项目---2，低温低压及其冲击测试：针对对象：LED 灯具（含LED Driver 的成品灯具）参照标准：行业经验测试方法：1，将5 款LED 灯具放置在一个-15℃的环境下；2，通过调压器将LED 灯具的输入电压调为最小额定输入电压的0.9 倍3，接通电源，点灯24H，并观察灯具是否有损坏、材料受热变形等异常现象；4，点灯测试后，通过继电器控制灯具在此环境下进行冲击测试，测试设置为：点灯20s、熄灯20s，循100 次。
测试要求：A，灯具在经过低温低压测试后，不能发生表面脱漆、变色、开裂、材料变形等异常现象；B，灯具在经过冲击测试后，不能发生漏电、点灯不亮等电气异常现象。
III、测试项目---3，常温常压冲击测试：针对对象：LED 灯具（含LED Driver 的成品灯具）参照标准：行业经验测试方法：1，将5 款LED 灯具放置在一个室温为25℃的环境下；2，按LED 灯具的额定输入电压接通电源点灯；3，通过继电器控制灯具在常温常压下进行冲击测试，测试设置为：点灯30s、熄灯30s，循环10000 次。
测试要求：A，灯具在经过常温常压冲击测试后，不能发生漏电、点灯不亮等电气异常现象。
III、测试项目---4，温度循环测试：针对对象：LED 灯具（含LED Driver 的成品灯具）参照标准：行业经验测试方法：1，将5 款LED 灯具放置在一个测试箱，测试箱的温度可以调节温度变化速率；2，按LED 灯具的额定输入电压接通电源点灯；3，测试箱的温度变化范围设置为从-10℃到50℃，温变速率为：大于1℃/min，但小于5℃/min；4，测试箱在高温和低温各保持0.5H，循环8 次。
名称信赖性试验程序文件编号版本A0制定日期2011.05.16 页次第4页，共11页附件二：硬度实验报告实验编号NO:样品来源: Sending Sample: 试验日期Date:参照标准：Refer Standard:品名规格：Style ＆ Size: 颜色：Color:环境温度及相对湿度：Indoor Tem.＆ Humidity:额定温度：Rated Temp: 额定电压:Rated Vol.:总体判定：Test Summary:测试标准及方法测试方法:仅限于塑料成型后材料的硬度测试，如：PVC、ABS、NYLON、PP、PE、PU等1.先检查硬度计指针是否有归零及硬度计是否有经校正。
2.将待测物体放置于工作台上。
3.将硬度计测试针垂直插入待测物中，直至指针旋转到最大位置不动时，记录录其数值。
( 参图示)4.取最少2PCS待测物，连测四次后取其平均值。
判定标准:采用邵氏LX-A型之硬度测试计，以GB-2411-80要求为判定标准，并测其平均数值是否与标准相符。
注意: 测试时硬度计要垂直；时硬度计不可以振动；不可测试塑料材料以外之物体，以免损坏测试针。
图示测试记录测试物体 1 2 3 4 平均度数测试P数数值判定结果□合格□不合格□条件允收备注W-QB-22-02A 核准：实验员：名称信赖性试验程序文件编号版本A0制定日期2011.05.16 页次第5页，共11页附件三：耐电压实验报告实验编号NO:样品来源: Sending Sample: 试验日期Date:参照标准：Refer Standard:品名规格：Style ＆ Size: 颜色：Color:环境温度及相对湿度：Indoor Tem.＆ Humidity:额定温度：Rated Temp: 额定电压:Rated Vol.:总体判定：Test Summary:测试标准及方法测试方法:1.测试电压:_______V(□AC □DC)漏电流:_______Ma(Max) 时间:_______s电压升降速度:_______V/s(Max)2.取50FT或15m以上的试样(不可有接头).3.将试样放置于水槽中浸泡至少6小时,水温保持在:10.0～26.7℃(50.0～80.0)4.将试样的两端的PVC绝缘剥去150㎜,裸露出铜丝,并将其中接电极的一端铜线缠绕在一起,另一端将芯线分开,铜线裸露在空气中,同时将两端远离水槽.5.将高压输出电极接到缠绕铜线的试样一端,水箱与耐压机的地线在一起并接入总地线.6.施加的电压应从零附近开始匀速或近似匀速上升,升压速度不小于在60秒内升至100%电线电缆额定电压, 不大与在10秒内升至100%电线电缆额定电压(任何情况下升压速度不得大于500V/S).判定标准:如果在电线电缆标准规定的电压水平以下，当施加的电压上升或下降时发生击穿，或在电缆标准规定的水平保持不足60秒,则电线电缆不合格,反之合格。
LED可靠性试验相关规范1 目的对本公司LED产品的可靠性进行评估，确保产品质量满足客户需求。
2 适用范围适用于量产产品、材料或工艺试验产品。
3 职责工程技术部负责产品可靠性试验的组织管理工作，并负责试验样品的挑选和测试。
4设备淋雨试验箱 XB-ME-OTS；冷热冲击试验箱 XB-OTS-500-A；恒温恒湿试验箱XB-OTS-320A-B；精密型盐雾试验机 XB-120；LED专用精密光电烤箱5.1环境试验条件及失效判注：1、试验完成后，需待产品在室温下达到热平衡再进行光电测试（测试前点亮30min）。
2、高压蒸汽试验完成后，样品应在正常气候条件下恢复16h。
5.3试验环境条件5.5.1 温度: -5℃～40℃，且24h内的平均温度不超过35℃；5.5.2 相对湿度:最高温度为40℃，空气的相对湿度不超过50%，在较低温度下允许有较高的相对湿度，在20℃时可达90%；或按被试验产品标准或技术条件规定的使用环境条件下进行。
6 工作程序6.1 试验样品根据要求对接收的若干实验样品进行实验 .6.2 试验样品的检测6.2.1 试验前检测：试验前先对试验样品进行检测，检查试验样品的零部件有无损坏、变形、断裂等，剔除零部件损坏、变形、断裂等。
6.2.2 试验中检测：6.2.2.1 按照需要对试验中的试验样品的光电参数进行测试。
6.2.2.2 试验中不允许对试验样品进行清理和调整。
6.2.2.3 试验中当某试验样品出现下列任一种情况时，即认为该试验样品失效。
a) 部件有破坏性损坏，如烧焦，断裂等现象；b) 光通量衰减值超过初始光通量的70%；c) 试验样品正向压降的变化值超过初始压降的20%；d) 通电时，试验样品不正常工作，如非正常闪烁。
6.2.3 试验后检测：a) 部件有无破损、断裂；b) 正向压降；c) 波长；d) 光通量。
试验样品在试验后检测中，任一项目的检测结果不符合产品标准的规定，即认为该试验样品失效。
信赖性试验(ORT)作业规范一、目的：规范信赖性试验作业方法，评估出货品质，提高产品质量。
二、适用范围：≥500K工单、支架、芯片、胶水或荧光粉等重要原料导入或切换评估、制程异常工单及PMC指定要做型式试验的其它工单。
三、试验执行标准：杭科企标-型式试验章节，标准号：Q/HK 002-2012四、检验时机：≥500K工单、新原料导入的首次小批量产品、主要原料如支架、芯片、胶水、荧光粉等原料换厂家首次供货生产以及其它PMC备注要求做型式试验的工单。
五、作业流程图：六、作业步骤：1、取样品：每个星期的星期五，实验员按任务单上≥500K的工单单号到仓库领料202颗（注：可以零头包装，但必须为合格品）。
2、试验准备：样品领来后先放到烘箱里进行除湿，烘箱参数设置150℃±5℃，烘烤1小时,除湿后将样品分成12、50、100、20、20共5份，除12、50两份样品外，其它3份样品分别用料盘装好，放入冷热冲击、高温存储和高温高湿存储设备，按设备的操作规范和试验条件设置好机器参数，启动机器进行实验。
2.1原始参数测量：将12颗样品在积分球上测试原始光电参数，要求电压用标准万用表或用标准万用表校对过的数字万用表测试，测好的电压、光通量、色温、显指等各项参数须符合任务单的要求，如有电压不符的，注意测试状态是冷态还是热态，如项参数整体与任务单不符，则核对所取样品标签上的参数确认参数不对的，须立即反馈质量部主管或经理测试好后取其中5颗用游标卡尺测量灯珠的长、宽、厚度并记录；2.2回流焊接试验：（1）设置回流焊机参数：炉温：170、190、230、260、220，链速90cm/min；（2）把50颗样品放在料盘里，待炉温升到设定的温度时放到回流焊机器的履带上，进行回流焊接试验；（3）重复第2步，再次过一遍回流焊；（4）将过了两遍回流焊的灯珠拿到积分球上测试，测试过程中发现分光机上表现为死灯，并确认排除分光机测试探针接触不良的，须做不良品测试、分析并记录测试结果。
可靠性实验页码第页共页4.2 测试要求4.2.1低温启动试验设备：恒温恒湿箱、功率计、交流源、电子负载（可用电阻负载代替）试验环境：室温环境样品数量：3pcs测试条件：1)输入电压：输入下限电压、额定电压、上限电压。
2)负载条件：满载、轻载（选用条件）。
3)环境温度：EUT要求最低工作环境温度。
4)持续时间：≥0℃ 2Hrs；＜0℃ 4Hrs试验步骤：1)接线图如下，按照线路图连接设备：2)启动恒温恒湿箱，将箱内温度降至EUT工作的下限环境温度，以1℃/分钟的速率上升或下降。
如环境温度要求为0摄氏度或以上，则保持2小时，否则保持4小时低温环境时间。
3)将输出负载设定为满载（如有特别要求除外），然后以输入电压下限输入，接着额定电压输入，最后输入电压的上限输入。
4)如步骤3中EUT无法启动，则将将负载改为轻载，然后与步骤3中的输入电压相同顺序测试。
判定要求：1)除非特殊要求，EUT在3项测试中必须能满足。
2)输出电压在稳压精度范围内。
3)有些机型并不能立即启动，故规定如在10秒内启动算合格。
4)温度保持期间不得对EUT进行输入等测试可靠性实验页码第页共页4.2.2低温工作试验设备：恒温恒湿箱、功率计、交流源、电子负载（可用电阻负载代替）试验环境：室温环境样品数量：3pcs测试条件：1)试验温度：EUT要求的最低工作温度，误差为±3℃2)负载条件：Full load3)输入电压VS保持时间顺序输入电压保持时间备注1 额定电压16Hrs 结束时，做5个ON/OFF测试*2 输入下限电压4Hrs 结束时，做5个ON/OFF测试*3 输入上限电压4Hrs 结束时，做5个ON/OFF测试**ON/OFF： 2Seconds ON; 2Seconds OFF试验步骤：1)试验温度与时间关系曲线图如下：（温度的偏差允许±2℃）2)将EUT放置在恒温恒湿箱中，为保证温度平衡性，EUT尽量放置在恒温恒湿箱中间位置；3)根据EUT进行接线，选用的线材与考虑通过电流的大小，避免电流过大造成危险。
可靠度信赖性试验程序目 录List章 节 页 次 Chapter Page1. 目的 (1)Purpose2. 范围 (1)Scope3. 职责 (1)Colligation4. 程序内容 (1)Content of procedure主 题Subject可靠度信赖性试验程序 Credibility and reliability testprocedure 编号NO.系类号Breed NO.部门码Part NO.序号码Order NO.页次PageQP QC 022 1/71.目的:保证本厂的产品品质特性及高可靠度,以满足客户需求。
Purpose: Ensure our factory product quality characteristic and in high reliability to satisfy customer requirement 。
2.范围:Scope2.1 客户提出要求时。
Customer present requirement2.2 新芯片试作时。
Try new die2.3 芯片进料批号抽测时。
Sampling lot NO. of die incoming2.4 依年度信赖性试验计划表排定执行。
Refer yearly of reliability test planning table schedule to perform。
3.职责:品管部主办。
Obligation: QC dept sponsorship生产部协办。
Produce dept cooperated4.程序内容Procedure content4.1 客户要求Customer requirement主 题Subject可靠度信赖性试验程序 Credibility and reliability testprocedure 编号NO.系类号Breed NO.部门码Part NO.序号码Order NO.页次PageQP QC 022 2/74.1.1 如为本地客户需求,管理部服务组填写服务申请单向品管部提出申请。
If customer requirement in local, serviced team of managementdept fill in serviced application to QC dept offerapplication if customer requirement of abroad HK andKingbright business dept can passage FAX E-mail and Telrecords to communication requirement information。
4.1.2 取样型号、数量依客户需求进行取样。
采取样本可采用库存品、指定生产排线或现行生产品。
Sample NO, quantity refer customer requirement tosample ,assumed sample can apply inventory product, namedproduce schedule and actuality product。
4.1.3 试验条件可参考信赖性试验、实施, 或依客户提出之要求条件进行。
Test condition refers reliability test、to execute or refercustomer offer requirement team to do。
4.1.4 试验完成后, 将结果汇整后, 正本保留, 副本转交业务部或管理部服务组, 由该部人员呈交客户。
After the test finished and arranged the result, scriptreserved, copy turn sales dept or management dept servicedteam the hand in customer by this dept’s personal。
主 题Subject可靠度信赖性试验程序 Credibility and reliability testprocedure 编号NO.系类号Breed NO.部门码Part NO.序号码Order NO.页次PageQP QC 022 3/74.2 新芯片试作Try new die4.2.1 供应商提供新机种芯片, 由采购单位开立样品试作单后交品管部,品管部对其提供规格进行检验, 相关作业参阅新芯片试作Vendor offer new machine die after purchasing section callfor sample try sheet hand in QC dept QC dept refer this measureto inspection mutuality operator see new die try to enforced4.2.2 试验完成后, 结果汇整交采购及生产单位参考。
After test finished, arranged the result and hand inpurchasing and production section reference。
4.3 芯片进料批号抽测Die incoming lot NO. sampling4.3.1 芯片进料后,须依其批号进行抽检,以验证进料芯片的信赖性,相关作业参考芯片批号试作实施。
After die incoming should refer lot NO to sample forinspection incoming die reliability mutuality operatorreference to die lot NO try to forced。
4.3.2 抽检结果以E_mail的方式通知相关单位, 合格者正常使用, 不合格者开立来料异常通知单该批号芯片须退回供应商。
The result of sampling for “E_mail”notice mutuality section,conforming uses in normal and nonconforming issued “Incomingdefect notification”, this lot NO. die should return tovendor.4.4 年度计划排定Scheduled yearly plans主 题Subject可靠度信赖性试验程序 Credibility and reliability testprocedure 编号NO.系类号Breed NO.部门码Part NO.序号码Order NO.页次PageQP QC 022 4/74.4.1 排定的机种选择主要以客诉抱怨多的机种为主, 其它则以大宗产品为辅进行取样, 若有汽车业专用之产品或较大宗生产品则为参考的主要对象。
Schedule the species of machine select main for customerlawsuits and complain the main of the machine species othersfor democratize product accompany, if there are automobileindustry product appropriation and contrast the democratizeproduct for reference to main target。
4.4.2 全盘尺寸检验与机能测试同纳入排定计划中与信赖性试验合并施行。
All suit inspection and functional test are generalized inscheduled plan and reliability test together executed。
4.4.3 每年6月及12月份排定下半年度计划, 并记录于可靠度信赖性试验进度计划表Before every year June and December schedule the nexthalf-yearly plan and record to credibility and reliabilitytest schedule.4.5 其它需求Others requirement厂内进行额外的信赖性验证, 由主办单位提出样品试作单并载明试作项目及内容。
Making extra reliability confirm in factory, sponsorship offered the try sample sheet and loaded try item and content.4.6 试作步骤Try steps4.6.1 取样方式Sample plan主 题Subject可靠度信赖性试验程序 Credibility and reliability testprocedure 编号NO.系类号Breed NO.部门码Part NO.序号码Order NO.页次PageQP QC 022 5/7(1) 以各式芯片进行取样。
For all sort of the die to sampling(2) 以当月生产产品为主。
For the main of product in moment month produced(3) 或以需求方供应品进行取样。
For supplied product requirement to sample。
4.6.2 测试时机Test Juncture依信赖性试验试验步骤之测试时间进行。
According “Reliability test” and the test time of the teststep to do。
4.6.3 试验结果Test result依信赖性试验判定标准进行。
填妥呈交主管签核后存档。
According “Reliability test” award standard to do fill ingood and hand to chief approved and saved。
4.7 不合格处理(年度计划内)D isposition for nonconforming (within the anniversary plan)4.7.1当检验结果判定为NG时, 填写信赖性不合格品处理 并将不合格批进行分析、处理。
When the inspection result award “NG” fills in reliabilitynom conforming product disposed then analysis and disposed。
