研发部门
Costa Mesa, 加州 Watsonville, 加州 Montreal, 加拿大
Middlefield, 美国康涅狄格州
3
Zygo 扫描白光干涉仪 SWLI
• • 高速,非接触测量,各种尺寸的样品都能提供高分辨率三维数据结果: 优势
– 在0.1nm到150微米的范围上使用一种测量方式,一种算法。
10
平面度测量
大尺寸拼接。
11
灵活选择的附件
ZYGO为工业应用提供广泛的物镜选择
标准工作距离
长工作距离
超长工作距离
2.75x
5x
5.5x
10x
20x
50x
100x
1x
(8mm)
2x
(20mm)
5x
(20mm)
10x
(18mm)
1x (40mm)
2.5x (40mm)
5x (40mm)
•
其他附件 – 4位塔台
– 可溯源台阶块
– 可溯源横向标准块 – 可溯源平面度标准块
12
谢谢
13
光强 信号包络
对物理高度的结果。 • 单波长激光干涉系统在测量粗糙样品时,就没 有这样的优点,移相法在处理每个像素的数据 时候会结合邻近像素相位结果,并且得到的原 始结果是基于相位的而不是物理距离。 • 这使在测量处理粗糙样品表面的数据时候,白 光干涉扫描具有很大优势,能测量粗糙或者有
条纹信号
-5
0 扫描距离 (microns) Nexview 典型的干涉条纹信号
4
白光干涉扫描轮廓仪的工作原理
• • 白光扫描干涉测量法是一种非接触的测 量方式,通过干涉条纹,来比较样品测 试表面跟理想参考面的偏差。 通过显微镜物镜的垂直扫描测试样品表 面,得到整个视场区域的测试结果----整幅的三维数据地图,而不是只有一条 剖面线的结果。