表面粗糙度测量

表面粗糙度测量方法表面粗糙度测量方法比较法将表面粗糙度比较样块，根据视觉和触觉与被测表面比较，判断被测表面粗糙度相当于那一数值，或测量其反射光强变化来评定表面粗糙度(见激光测长技术)。

样块是一套具有平面或圆柱表面的金属块，表面经磨、车、镗、铣、刨等切削加工，电铸或其他铸造工艺等加工而具有不同的表面粗糙度。

有时可直接从工件中选出样品经过测量并评定合格后作为样块。

利用样块根据视觉和触觉评定表面粗糙度的方法虽然简便，但会受到主观因素影响，常不能得出正确的表面粗糙度数值。

触针法利用针尖曲率半径为 2微米左右的石触针沿被测表面缓慢滑行，石触针的上下位移量由电学式长度传感器转换为电信号，经放大、滤波、计算后由显示仪表指示出表面粗糙度数值，也可用记录器记录被测截面轮廓曲线。

一般将仅能显示表面粗糙度数值的测量工具称为表面粗糙度测量仪，同时能记录表面轮廓曲线的称为表面粗糙度轮廓仪（简称轮廓仪），这两种测量工具都有电子计算电路或电子计算机，它能自动计算出轮廓算术平均偏差R，微观不平度十点高度RZ，轮廓*大高度Ry和其他多种评定参数，测量效率高，适用于测量R为0.025～6.3微米的表面粗糙度。

光切法光线通过狭缝后形成的光带投射到被测表面上，以它与被测表面的交线所形成的轮廓曲线来测量表面粗糙度。

由光源射出的光经聚光镜、狭缝、物镜1后，以45的倾斜角将狭缝投影到被测表面，形成被测表面的截面轮廓图形，然后通过物镜 2将此图形放大后投射到分划板上。

利用测微目镜和读数鼓轮，先读出h值，计算后得到H 值。

应用此法的表面粗糙度测量工具称为光切显微镜。

它适用于测量RZ和Ry为0.8～100微米的表面粗糙度，需要人工取点，测量效率低。

干涉法利用光波干涉原理 (见平晶、激光测长技术)将被测表面的形状误差以干涉条纹图形显示出来，并利用放大倍数高（可达500倍）的显微镜将这些干涉条纹的微观部分放大后进行测量，以得出被测表面粗糙度。

应用此法的表面粗糙度测量工具称为干涉显微镜。

实验三表面粗糙度测量实验3—1 用双管显微镜测量表面粗糙度一、实验目的1、了解用双管显微镜测量表面粗糙度的原理和方法。

2、加深对微观不平度十点高度R的理解。

z二、实验内容用双管显微镜测量表面粗糙度的R值。

z三、测量步骤1、根据被测工件表面粗糙度的要求，选择合适的物镜组，分别安装在投射光管和观察光管的下端。

2、接通电源。

3、擦净被测工件，把它安放在工作台上，并使被测表面的切削痕迹的方向与光带垂直。

当测量圆柱形工件时，应将工件置于V形块上。

4、粗调节：用手托住支臂，松开锁紧螺钉，缓慢旋转支臂调节螺母，使支臂上下移动，直到目镜中观察到绿色光带和表面轮廓不平度的影象。

然后，将螺钉固紧。

要注意防止物镜与工件表面相碰，以免损坏物镜组。

5、细调节：缓慢而往复转动调节手轮，调焦环和调节螺钉，使目镜中光带最狭窄，轮廓影象最清晰并位于视场的中央。

6、松开螺钉，转动目镜测微器，使目镜中十字线的一根线与光带轮廓中心线大致平行（此线代替平行于轮廓中线的直线）。

然后，将螺钉固紧。

7、根据被测表面粗糙度R的数值，按国家标准GB/T1031-1995的规定选z取取样长度和评定长度。

8、旋转目镜测微器的刻度套筒，使目镜中十字线的一根与光带轮廓一边的峰（或谷）相切，并从测微器读出被测表面的峰（或谷）的数值，把测量结果填入实验报告（见下表）。

以次类推。

在取样长度范围内分别测出五个最高点（峰）和五个最低点（谷）的数值，并把测量结果填入实验报告（见下表）。

9、计算出R的数值，判断轴径的合格性，并把测量结果填入实验报告（见z下表）。

实验3—1 用双管显微镜测量表面粗糙度。

表面粗糙度的测量表面粗糙度的测量方法有光切法，光波干涉法及触针法（又称针描法）等，工厂常用的还有粗糙度样板直接和被测工件对照的比较法，以及利用塑性和可铸性材料将被测工件加工表面的加工痕迹复印下来，然后再测量复印的印模的印模法。

一、实验目的1.建立对表面粗糙度的感性认识；2.了解用双管显微镜测量表面粗糙度的原理及方法。

二、实验内容用双管显微镜测量表面粗糙度的Rz值。

三、测量原理及仪器说明双管显微镜又撑光切显微镜，它是利用被测表面能反射光的特性，根据“光切法原理”制成的光学仪器，其测量范围取决于选用的物镜的放大倍数，一般用于测量0.8-80微米的表面粗糙度Rz值。

仪器外型如图1所示，它由底座6，支柱5，横臂2，测微目镜13，可换物镜8及工作台7等部分组成。

仪器备有四种不同倍数（7X,14X,30X,60X）物镜组，被测表面粗糙度大小（估测）来选择相应倍数的物镜组（见表1）。

表1 双管显微镜测量参数物镜放大倍数N 总放大倍数目镜视场直径（mm）物镜与工件距离（mm）测量范围Rz（µm）换算系数E(微米/格)7X 60X 2.5 9.5 30~30 1.2514X 120X 1.3 2.5 6.3~20 0.6330X 260X 0.6 0.2 1.6~6.3 0.29460X 510X 0.3 0.04 0.8~1.6 0.147测量原理如图2所示，被测表面为P1-P2阶梯表面，当一平行光束从45度方向投射到阶梯表面时，即被折成S1和S2两段，从垂直于光束的方向上就可以在显微镜内看到S1和S2两段光带的放大像S1'S2'，同时距离h也被放大为h1'。

通过测量和计算，可求得被测表面的不平度高度h。

这种方法类似在零件表面斜切一刀，然后观察其剖面的轮廓形状，因此称为光切法。

图3为双管显微镜的光学系统图，由光源1发出的光，经聚光镜2，狭缝3，物镜4以45度方向投射到北测表面上，调整仪器使反射光束经物镜5成像在目镜分划板6上，光束被测上表面的S1点反射，在下表面S2点反射，它们各成像于分划板6的S1'和S2'，距离h1被放大为h1'，通过目镜可观察到凹凸不平的光带（图4（b））,光带边缘即工件表面上被照亮了的h1的放大轮廓像h1'，测量h1'即可求出被测表面的不平高度h2。

表面粗糙度的测量表面粗糙度的测量方法有光切法，光波干涉法及触针法（又称针描法）等，工厂常用的还有粗糙度样板直接和被测工件对照的比较法，以及利用塑性和可铸性材料将被测工件加工表面的加工痕迹复印下来，然后再测量复印的印模的印模法。

一、实验目的1.建立对表面粗糙度的感性认识；2.了解用双管显微镜测量表面粗糙度的原理及方法。

二、实验内容用双管显微镜测量表面粗糙度的Rz值。

三、测量原理及仪器说明双管显微镜又撑光切显微镜，它是利用被测表面能反射光的特性，根据“光切法原理”制成的光学仪器，其测量范围取决于选用的物镜的放大倍数，一般用于测量0.8-80微米的表面粗糙度Rz值。

仪器外型如图1所示，它由底座6，支柱5，横臂2，测微目镜13，可换物镜8及工作台7等部分组成。

仪器备有四种不同倍数（7X,14X,30X,60X）物镜组，被测表面粗糙度大小（估测）来选择相应倍数的物镜组（见表1）。

表1 双管显微镜测量参数测量原理如图2所示，被测表面为P1-P2阶梯表面，当一平行光束从45度方向投射到阶梯表面时，即被折成S1和S2两段，从垂直于光束的方向上就可以在显微镜内看到S1和S2两段光带的放大像S1'S2'，同时距离h也被放大为h1'。

通过测量和计算，可求得被测表面的不平度高度h。

这种方法类似在零件表面斜切一刀，然后观察其剖面的轮廓形状，因此称为光切法。

图3为双管显微镜的光学系统图，由光源1发出的光，经聚光镜2，狭缝3，物镜4以45度方向投射到北测表面上，调整仪器使反射光束经物镜5成像在目镜分划板6上，光束被测上表面的S1点反射，在下表面S2点反射，它们各成像于分划板6的S1'和S2'，距离h1被放大为h1'，通过目镜可观察到凹凸不平的光带（图4（b））,光带边缘即工件表面上被照亮了的h1的放大轮廓像h1'，测量h1'即可求出被测表面的不平高度h2。

h=h1cos45=(h1/N)cos45式中N——物镜的放大倍数影象高度h1'是利用目镜测微器来测量的，测微目镜头结构见图4（a）由于测微器中的十字刻线与测微器读数方向成45，所以当用十字线只能感的任一直线与影像蜂，谷相切来测量波高度时，波高h1=h1cos45h1”为刻度线移过的实际距离，即测微器量词读数差（见图4（b）），所以被测表面的不平高度为：h=h1cos45cos45/N=1/2N·h1式中，E为刻度套筒的分度值，或称为换算系数，它与投射角，目镜测微器的结构和物镜放大倍数有关，可在表1中查取。

粗糙度仪的四种测量粗糙度是表面质量的重要指标之一，它描述了表面细微的起伏和不规则程度。

粗糙度仪是一种用来测量物体表面粗糙度的工具。

本文将介绍粗糙度仪的四种常见测量方法。

1. Ra值测量Ra值是表面粗糙度的一个常见指标，表示表面上大量读数的平均值。

粗糙度仪通过使用一个滑动头，在物体表面采集多个数据点，并计算这些点之间的平均高度差来计算Ra值。

在Ra值测量中，需要将测量仪放在尽可能平整的表面上，按下开始按钮。

滑动头将沿着表面移动，采集多个数据点。

采集后，测量仪将计算这些点之间的平均高度差，并显示Ra值。

2. Rz值测量Rz值是描述表面粗糙度的另一种常见指标，表示整个表面上高度极差的平均值。

Rz值测量与Ra值测量类似，但是它使用的是高度极差而不是平均高度差来计算表面粗糙度。

在Rz值测量中，需要将测量仪放在尽可能平整的表面上，按下开始按钮。

滑动头将沿着表面移动，采集多个数据点。

采集后，测量仪将计算这些点之间的高度极差，并显示Rz值。

3. Rmax值测量Rmax值是表面粗糙度的最大值，表示表面上任意两个数据点之间的最大高度差。

Rmax值测量可以帮助确定表面在给定沟槽或凸起的区域上的极值。

在Rmax值测量中，需要将测量仪放在尽可能平整的表面上，按下开始按钮。

滑动头将沿着表面移动，采集多个数据点。

采集后，测量仪将计算这些点之间的高度差的最大值，并显示Rmax值。

4. Rt值测量Rt值表示表面上任意两个数据点之间的总高度差。

Rt值测量可以帮助确定表面的整体粗糙度程度，并帮助评估表面的适用性。

在Rt值测量中，需要将测量仪放在尽可能平整的表面上，按下开始按钮。

滑动头将沿着表面移动，采集多个数据点。

采集后，测量仪将计算这些点之间的总高度差，并显示Rt值。

总结粗糙度仪有多种测量方法，其中包括Ra值测量、Rz值测量、Rmax值测量和Rt值测量。

这些测量方法可以帮助确定表面的粗糙度程度和适用性，帮助有效地评估表面质量。

无论是在工业生产还是个人使用中，粗糙度仪都是非常有用的工具。

表面粗糙度的检测方法
表面粗糙度的检测是通过测量表面的微观形状和轮廓来评估表面质量的过程。

有多种方法可以用于表面粗糙度的检测，其中一些常见的方法包括：
表面轮廓仪（Surface Profilometer）：表面轮廓仪是一种用于测量物体表面轮廓的设备。

它通过沿表面滑动或扫描，利用探测器检测高度变化，并生成相应的高度剖面图。

通过分析这些剖面图，可以得出表面的粗糙度参数。

激光干涉仪（Laser Interferometer）：激光干涉仪利用激光光束的干涉效应来测量表面的高度变化。

这种方法对于高精度的表面粗糙度测量很有效，可以提供亚微米级别的分辨率。

原子力显微镜（Atomic Force Microscope，AFM）：AFM是一种在原子尺度上测量表面形状和粗糙度的工具。

它使用微小的探针扫描样品表面，通过探测器的运动来生成高分辨率的表面图像。

表面粗糙度仪（Surface Roughness Tester）：这是一种专门用于测量表面粗糙度的便携式仪器。

通常采用钻头或球形探头，测量表面在垂直方向的高低变化，并输出相应的粗糙度参数，如Ra、Rz等。

光学显微镜：在一些情况下，使用光学显微镜可以对表面进行观察和评估。

虽然其分辨率较低，但对于一些较大尺度的粗糙度评估仍然有效。

在选择适当的检测方法时，需要考虑表面的特性、粗糙度范围和检测精度的要求。

根据具体的应用场景，可以选择最合适的工具和技术。

表面粗糙度怎么测量测量表面粗糙度的方法详解Standardization of sany group #QS8QHH-HHGX8Q8-GNHHJ8-HHMHGN#表面粗糙度怎么测量_ 测量表面粗糙度的方法内容来源网络，由深圳机械展收集整理！表面粗糙度的检测,我们常用的有以下几中方法1.显微镜比较法,；将被测表面与表面粗糙度比较样块靠近在一起，用比较显微镜观察两者被放大的表面，以样块工作面上的粗糙度为标准，观察比较被测表面是否达到相应样块的表面粗糙度；从而判定被测表面粗糙度是否符合规定。

此方法不能测出粗糙度参数值2.光切显微镜测量法，Rz：～100；光切显微镜(双管显微镜)是利用光切原理测量表面粗糙度的方法。

从目镜观察表面粗糙度轮廓图像，用测微装置测量Rz值和Ry值。

也可通过测量描绘出轮廓图像，再计算Ra值，因其方法较繁而不常用。

必要时可将粗糙度轮廓图像拍照下来评定。

光切显微镜适用于计量室3.样块比较法,直接目测：；用放大镜：～；以表面粗糙度比较样块工作面上的粗糙度为标准，用视觉法或触觉法与被测表面进行比较，以判定被测表面是否符合规定用样块进行比较检验时，样块和被测表面的材质、加工方法应尽可能一致；样块比较法简单易行，适合在生产现场使用4.电动轮廓仪比较法，Ra：～；Rz：～25；电动轮廓仪系触针式仪器。

测量时仪器触针尖端在被测表面上垂直于加工纹理方向的截面上，做水平移动测量，从指示仪表直接得出一个测量行程Ra值。

这是Ra值测量常用的方法。

或者用仪器的记录装置，描绘粗糙度轮廓曲线的放大图，再计算Ra或Rz 值。

此类仪器适用在计量室。

但便携式电动轮廓仪可在生产现场使用5干涉显微镜测量法，Rz：.032～；涉显微镜是利用光波干涉原理，以光波波长为基准来测量表面粗糙度的。

被测表面有一定的粗糙度就呈现出凸凹不平的峰谷状干涉条纹，通过目镜观察、利用测微装置测量这些干涉条纹的数目和峰谷的弯曲程度，即可计算出表面粗糙度的Ra值。

Ra 轮廓算术平均偏差：在取样长度内，轮廓偏距绝对值的算术平均值；Rz 微观不平度十点高度：在取样长度内最大的轮廓峰高的平均值与五个最大的轮廓谷深的平均值之和；Ry 轮廓最大高度：在取样长度内，轮廓峰顶线和轮廓谷底线之间的距离；3种都是用来表示表面粗糙度的。

具体关系不好说明...Ra是最主要的评定参数，Rz一般只用来表示比较短小的表面。

Ry基本不单独使用，算是一个极限偏差值吧。

3．2．5 表面粗糙度的评定国家标准《表面粗糙度参数及其数值》 GB1031 － 83 对表面粗糙度的合理评定作了规定。

（1）基本术语及定义1）取样长度取样长度是指用以判别具有表面粗糙度特征的一段基准长度，如图 3 － 43 所示。

在取样长度范围内，一般应包括 5 个以上的轮廓峰和轮廓谷。

规定取样长度是为了限制和减弱表面波度对表面粗糙度测量结果的影响。

图 3－43 取样长度、评定长度2）评定长度评定长度是指评定轮廓所必需的一段长度。

它包括一个或几个取样长度如上图。

3）轮廓偏距轮廓偏距是指在测量方向上，轮廓线上的点与基准线之间的距离。

4）基准线 :① 轮廓的最小二乘中线（m）轮廓中线是测量和评定表面粗糙度的基准线。

轮廓的最小二乘中线是指具有几何轮廓形状并划分轮廓的基准线，在取样长度内，使轮廓线上各点的轮廓偏距的平方和为最小，如图 3 － 44 。

图 3－44 轮廓偏距、轮廓最小二乘中线图3－45 轮廓的算术平均中线② 轮廓的算术平均中线轮廓的算术平均中线是指具有几何轮廓形状，在取样长度内，与轮廓走向一致的基准线，如图 3 － 45 。

5）轮廓峰、轮廓谷轮廓峰顶线是指在取样长度内，平行于基准线并通过轮廓最高点的线；轮廓谷底线是指在取样长度内，平行于基准线并通过轮廓最低点的线。

如图 3 － 46 。

图 3 － 46 轮廓峰、轮廓谷（2）评定参数1）与微观不平度高度特性有关的评定参数 :① 轮廓的算术平均偏差（Ra）轮廓的算术平均偏差是指在取样长度内，轮廓偏距绝对值的算术平均值。

表面粗糙度怎么测量_ 测量表面粗糙度的方法内容来源网络,由深圳机械展收集整理表面粗糙度的检测,我们常用的有以下几中方法1.显微镜比较法,；将被测表面与表面粗糙度比较样块靠近在一起,用比较显微镜观察两者被放大的表面,以样块工作面上的粗糙度为标准,观察比较被测表面是否达到相应样块的表面粗糙度；从而判定被测表面粗糙度是否符合规定;此方法不能测出粗糙度参数值2.光切显微镜测量法,Rz：～100；光切显微镜双管显微镜是利用光切原理测量表面粗糙度的方法;从目镜观察表面粗糙度轮廓图像,用测微装置测量Rz值和Ry值;也可通过测量描绘出轮廓图像,再计算Ra值,因其方法较繁而不常用;必要时可将粗糙度轮廓图像拍照下来评定;光切显微镜适用于计量室3.样块比较法,直接目测：；用放大镜：～；以表面粗糙度比较样块工作面上的粗糙度为标准, 用视觉法或触觉法与被测表面进行比较,以判定被测表面是否符合规定用样块进行比较检验时,样块和被测表面的材质、加工方法应尽可能一致；样块比较法简单易行,适合在生产现场使用4.电动轮廓仪比较法,Ra：～；Rz：～25；电动轮廓仪系触针式仪器;测量时仪器触针尖端在被测表面上垂直于加工纹理方向的截面上,做水平移动测量,从指示仪表直接得出一个测量行程Ra值;这是Ra值测量常用的方法;或者用仪器的记录装置,描绘粗糙度轮廓曲线的放大图,再计算Ra或Rz值;此类仪器适用在计量室;但便携式电动轮廓仪可在生产现场使用5干涉显微镜测量法,Rz：.032～；涉显微镜是利用光波干涉原理,以光波波长为基准来测量表面粗糙度的;被测表面有一定的粗糙度就呈现出凸凹不平的峰谷状干涉条纹,通过目镜观察、利用测微装置测量这些干涉条纹的数目和峰谷的弯曲程度,即可计算出表面粗糙度的Ra值;必要时还可将干涉条纹的峰谷拍照下来评定;干涉法适用于精密加工的表面粗糙度测量;适合在计量室使用而在现场工作中,我们用的多的是:样块比较法和电动轮廓检测法,样块比较法要求对粗糙度的敏感要求比较高,有些老师傅还是可以做到的,毕竟是凭经验和感觉去比较的,而电动轮廓检测法是靠仪器测量,这样测量出来的准确度就大大提高了,所以说,我们建议用电动轮廓检测法.用什么方法去检测1．比较法：将被测表面和表面粗糙度样板直接进行比较,多用于车间,评定表面粗糙度值较大的工件;2．光切法：是应用光切原理来测量表面粗糙度的一种测量方法;常用仪器——光切显微镜,双管显微镜; 该仪器适用于车.铣.刨等加工方法获得的金属平面;或外圆表面;主要测量Rz值,测量范围为~60μm;3、干涉法：是利用光波干涉原理测量表面粗糙度的一种测量方法;常用仪器是干涉显微镜;主要用于测量Rz值;测量范围为~μm;一般用于测量表面粗糙度要求高的表面;4、针描法：是一种接触式测量表面粗糙度的方法,常用的仪器是电动轮廓仪,该仪器可直接显示Ra值,适宜于测量Ra值~μm;5、印摸法：在实际测量中,常会遇到深孔,盲孔;凹槽,内螺纹等既不能使用仪器直接测量,也不能使用样板比较的表面;这是常用印摸法;印摸法是利用一些无流动性和弹性的塑性材料如石蜡等贴合在被测表面上;将被测表面的轮廓复制成模;然后测量印模,从而来评定被测表面的粗糙度;内容来源网络,由深圳机械展收集整理更多相关内容,就在深圳机械展。

众所周知，表面粗糙度表征了机械零件表面的微观几何形状误差。

对粗糙度的评定，主要分为定性和定量两种评定方法，所谓定性评定就是将待测表面和已知的表面粗糙度比较样块相互比较，通过目测或者借助于显微镜来判别其等级；而定量评定则是通过某些测量方法和相应的仪器，测出被测表面的粗糙度的主要参数，这些参数是Ra，Rq，Rz，Ry ；他们代表的意义是：Ra 是轮廓的算术平均偏差，即在取样长度内被测轮廓偏距绝对值之和的算术平均值。

Rq 是轮廓的均方根偏差：在取样长度内轮廓偏距的均方根值。

Rz 是微观不平度的10点高度：在取样长度内5个最大的轮廓峰高与5个最大的轮廓谷深的平均值之和。

Ry 是轮廓的最大高度：在取样长度内轮廓的峰顶线与轮廓谷底线中线的最大距离。

目前常用的表面粗糙度测量方法主要有样板比较法，光切法，干涉法，触针法等。

1. 比较法它是在工厂里常用的方法，用眼睛或放大镜，对被测表面与粗糙度样板比较，或用手摸靠感觉来判断表面粗糙度的情况；这种方法不够准确，凭经验因素较大，只能对粗糙度参数值较大情况，给个大概范围的判断。

2. 光切法它是利用光切原理来测量表面粗糙度的方法。

在实验室中用光切显微镜或者双管显微镜就可实现测量，它的测量准确度较高，但它是与对Rz，Ry 以及较为规则的表面测量，不适用于对测量粗糙度较高的表面及不规则表面的测量。

3. 干涉法它是利用光学干涉原理测量表面粗糙度的一种方法。

这种方法要找出干涉条纹，找出相邻干涉带距离和干涉带的弯曲高度，就可测出微观不平度的实际高度；这种方法调整仪器比较麻烦，不太方便，其准确度和光切显微镜差不多；4. 触针法它是利用仪器的测针与被测表面相接触，并使测针沿其表面轻滑过测量表面粗糙度的测量方法。

采用这种方法的仪器最广泛的就是电动轮廓仪，它的特点是：显示数值直观，可测量许多形状的被测表面，如轴类，孔类，锥体，球类，沟槽类工件，测量时间少，方便快捷。

它可分为便携式和台式电动轮廓仪，便携式仪器可在现场进行测量，携带方便；带记录仪的电动轮廓仪，可绘制出表面的轮廓曲线，带微机的轮廓仪可显示轮廓的形状情况，并有打印机打印出数据和表面的轮廓线，便于分析和比较。

实验三表面粗糙度测量实验3—1用双管显微镜测量表面粗糙度一、实验目的1。

了解用双管显微镜测量表面粗糙度的原理和方法.2。

加深对粗糙度评圧参数轮娜最大髙度Rz的理解.二、实验内容用双管显微镜测量表而粗糙度的Rz值.三、测量原理及计量器具说明参看图1,轮廓最大髙度Rz是指在取样长度/r内，在一个取样长度范囤内，最大轮廓峰高与最大轮廓谷深76,之和称之为轮廓最大髙度.即Rz = Rp + Rv双管显微镜能测量80〜1 u m的粗糙度，用参数Rz来评定。

双管显微镜的外形如图2所示。

它由底座1、工作台2、观察光管3、投射光管11、支臂7和立柱8等几部分组成。

双管显微镜是利用光切原理来测量表面粗糙度的，如图3所示。

被测表而为R、巳阶梯表而，当一平行光朿从4 5 °方向投射到阶梯表而上时，就被折成S |和S?两段.从垂直于光朿的方向上就可在显微镜内看到S |和S2两段光带的放大象S；和S；。

同样S和S?之间距离h也被放大为S：和S；之间的距离兀。

通过测量和汁算，可求得被测表而的不平度髙度he 图4为双管显微镜的光学系统图。

由光源1发岀的光，经聚光镜2、狭缝3、物镜4以 4 5°方向投射到被测工件表而上。

调整仪器使反射光朿进入与投射光管垂宜的观察光管内，经物镜5成象在目镜分划板上，通过目镜可观察到凹凸不平的光带（图5 b）。

光带边缘即工件表而上被照亮了的加的放大轮娜象为,测量亮带边缘的宽度加'，可求岀被测表而的不平度高度仙：图3为了测量和汁算方便，测微目镜中十字线的移动方向（图5a ）和被测量光带边缘宽度 力r 成45°斜角 h l （图5b ）・故目镜测微器刻度套简上读数值与不平度髙度的关系为: 所以式中, 1 2N C 为刻度套筒的分度值或称为换算系数，它与投射角0.目镜测微器的结构和物镜放大倍数有关。

cos45°Nh cos 2 45" J C 。

表面粗糙度怎么测量_ 测量表面粗糙度的方法内容来源网络，由深圳机械展收集整理！表面粗糙度的检测,我们常用的有以下几中方法1.显微镜比较法,Ra0.32；将被测表面与表面粗糙度比较样块靠近在一起，用比较显微镜观察两者被放大的表面，以样块工作面上的粗糙度为标准，观察比较被测表面是否达到相应样块的表面粗糙度；从而判定被测表面粗糙度是否符合规定。

此方法不能测出粗糙度参数值2.光切显微镜测量法，Rz：0.8～100；光切显微镜(双管显微镜)是利用光切原理测量表面粗糙度的方法。

从目镜观察表面粗糙度轮廓图像，用测微装置测量Rz值和Ry值。

也可通过测量描绘出轮廓图像，再计算Ra值，因其方法较繁而不常用。

必要时可将粗糙度轮廓图像拍照下来评定。

光切显微镜适用于计量室3.样块比较法,直接目测：Ra2.5；用放大镜：Ra0.32～0.5；以表面粗糙度比较样块工作面上的粗糙度为标准，用视觉法或触觉法与被测表面进行比较，以判定被测表面是否符合规定用样块进行比较检验时，样块和被测表面的材质、加工方法应尽可能一致；样块比较法简单易行，适合在生产现场使用4.电动轮廓仪比较法，Ra：0.025～6.3；Rz：0.1～25；电动轮廓仪系触针式仪器。

测量时仪器触针尖端在被测表面上垂直于加工纹理方向的截面上，做水平移动测量，从指示仪表直接得出一个测量行程Ra值。

这是Ra值测量常用的方法。

或者用仪器的记录装置，描绘粗糙度轮廓曲线的放大图，再计算Ra或Rz值。

此类仪器适用在计量室。

但便携式电动轮廓仪可在生产现场使用5干涉显微镜测量法，Rz：.032～0.8；涉显微镜是利用光波干涉原理，以光波波长为基准来测量表面粗糙度的。

被测表面有一定的粗糙度就呈现出凸凹不平的峰谷状干涉条纹，通过目镜观察、利用测微装置测量这些干涉条纹的数目和峰谷的弯曲程度，即可计算出表面粗糙度的Ra值。

必要时还可将干涉条纹的峰谷拍照下来评定。

干涉法适用于精密加工的表面粗糙度测量。