RTD1296硬件方案测试预研报告
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研发部测试报告 raid卡功能测试验证文件编号:201912021517产品名称: RAID卡检验类别:研发测试受控状态:受控测试人:测试时间:2019/11/29 -2019/12/03测试地点:研发测试室测试产品:RAID 卡测试数量: 2测试型号及供应商: 9260-8I (SN:SV43882489)、9271-8I(SN:SK73972352)测试项目:质量及性能测试测试依据: 《产品配件入厂检验规范》《产品通用技术要求及交收检验规范》GB/T9813-2000《微型计算机通用规范》一、测试环境二、测试工具restart.sh、restart_write.sh、zftesthdspeed、zftesthdspeedwrite、a.txt、Burnin Test for Linux三、外观检查9260-8I:整体外观无脏污、破损、撞件9271-8I:整体外观无脏污;C2B11电容掉件、C416电容附近变色C2B11掉件:局部变色:整体外观:四、功能测试9271-8I :使用三块硬盘做Raid5;Raid 设置配置为write through 无cache ;安装系统到raid 硬盘组后安装Testhdspeed 、burnin test 进行raid 硬盘组的速度及稳定性测试,测试时间12H读取速度:写入速度:9260-8i:在启动界面及BIOS界面均识别不到raid卡,卡上报警红灯常亮。
五、测试结论9271-8i卡有掉件及过热局部变色现象;I/O速度测试正常,压力12H后稳定无死机、重启现象,此板卡功能性、稳定性均正常,可以正常使用。
9260-8i卡外观无损坏,在超微、Intel、华硕平台均识别不到,为个例不良品。
硬件试验方案(详尽版)1. 试验目的本次硬件试验的主要目的是对产品进行全面的性能评估,以确保其在满足设计要求的同时,也能满足用户的实际需求。
试验还将关注产品的可靠性和稳定性,以便为后续的产品优化提供有力支持。
2. 试验依据本次试验依据的相关标准和要求包括:- 国家及行业相关标准- 产品设计规范和需求文档- 用户使用环境和场景3. 试验范围与内容3.1 试验范围本次试验的范围包括:- 硬件组件的功能性能- 硬件组件的兼容性- 硬件组件的可靠性和稳定性3.2 试验内容本次试验的内容包括:- 功能性能测试- 兼容性测试- 可靠性测试- 稳定性测试4. 试验方法与步骤4.1 试验方法本次试验采用以下方法:- 实验室环境测试- 实地环境测试- 模拟场景测试4.2 试验步骤本次试验的步骤如下:1. 准备试验环境和设备2. 制定试验计划和方案3. 进行功能性能测试4. 进行兼容性测试5. 进行可靠性测试6. 进行稳定性测试7. 收集和分析试验数据8. 编制试验报告5. 试验条件与设备5.1 试验条件本次试验的条件如下:- 环境温度:10℃~35℃- 相对湿度:20%~80%- 电源:AC 220V,50Hz5.2 试验设备本次试验所需的设备如下:- 测试仪器:XXX测试仪- 计算机:XXX台- 网络设备:XXX台- 其他辅助设备:XXX台6. 试验数据收集与分析试验过程中,需要对各项测试指标进行数据收集,包括:- 功能性能指标数据- 兼容性指标数据- 可靠性指标数据- 稳定性指标数据收集到的数据将进行整理和分析,以便评估产品的性能和稳定性,并为后续的产品优化提供依据。
7. 试验结果判定试验结果的判定依据以下标准:- 功能性能测试:所有测试项目均达到设计要求即为合格- 兼容性测试:产品在各种环境下均能正常工作即为合格- 可靠性测试:产品在规定条件下无故障运行时间为规定时间即为合格- 稳定性测试:产品在长时间运行过程中性能无明显下降即为合格8. 试验安全与环保试验过程中,应严格遵守国家及行业相关安全规定,确保试验人员和设备的安全。
XXX项目总结报告目录1引言 (1)1.1编写目的 (1)1.2项目背景 (1)1.3定义 (1)1.4项目基本信息 (1)2开发结果 (2)2.1交付成果 (2)2.2主要功能及性能 (2)2.3进度 (2)3开发工作评价 (2)3.1对生产效率的评价 (2)3.2对开发质量的评价 (2)3.3对技术方法的评价 (2)4经验教训总结 (2)5附录-硬件开发 (3)5.1硬件开发工作关键事件的记录 (3)5.2硬件开发工作评价总结 (3)5.3硬件开发过程统计 (3)5.4项目进度统计 .......................................................................................... 错误!未定义书签。
6附录-系统软件 .. (5)6.1CBB的总结 (5)6.2经验教训 (5)6.3遗留缺陷及规避措施 (5)7附录-网管软件 (6)7.1CBB的总结 (6)7.2经验教训 (6)7.3遗留缺陷及规避措施 (6)8附录-硬件测试 (7)8.1硬件测试工作总结 (7)8.2重大缺陷和遗留问题 (7)8.3硬件测试进度执行情况 (7)8.4提交测试次数统计 (7)8.5缺陷汇总表 (7)9附录-系统测试 (8)9.1系统测试工作总结 (8)9.2系统测试完成情况 (8)10附录-产品工程 (10)11附录-工艺 (12)12附录-文档 (13)12.1文档开发工作总结 (13)12.2文档开发过程统计 (13)12.3实际文档开发结果统计 (13)13附录-采购 ..................................................................................................... 错误!未定义书签。
14附录-客服 . (14)15附录-裁剪指南 ............................................................................................. 错误!未定义书签。
PCI-Express硬件测试方法目录1PCI-E物理层概述 (5)PCI-E电气子块(Ver 1.0) (62)2.1电气子块规则 (6)2.1.1规则:时钟 (6)2.1.2规则:AC耦合 (7)2.1.3规则:互连 (7)2.1.4规则:终端匹配 (7)2.1.5规则:DC共模电压 (7)2.1.6规则:ESD (7)2.1.7规则:短路 (7)2.1.8规则:接收检测 (7)2.1.9规则:电气空闲态 (9)2.2电气信号规则 (9)2.2.1规则:信号定义 (9)2.2.2规则:损耗 (10)2.2.3规则:抖动Jitter和误码率BER (10)2.2.4规则:去加重De-emphasis (10)2.2.5规则:Beacon唤醒信号 (11)2.3发送端眼图模板 (12)接收端眼图模板.2.4 (12)一致性测试负载................................................................................................. 2.5 13 PHY电气测试项目......................................................................................................... 3 13 3.1通用测试项目.. (14)发送端测试项目 3.2 (14)接收端测试项目. 3.3 (16)共页第2, 27页3.4母板测试项目 (17)插卡测试项目..................................................................................................... 13.5 7TEK测试方案简介.4 (18)4.1两个SMA通道连接 (18)一个带4.2SMA输入差分探头P7350SMA测试 (18)两个单端有源探头P72604.3测试 (19)一个差分探头P73xx测试................................................................................... 4.4 195PHY电气测试用例 (20)5.1符合性_PCI-E时钟精度测试 (20)符合性_SSC扩频时钟测试................................................................................ 25.2 0符合性_PCI-E一致性测试 5.3 (21)符合性_PCI-E5.4眼图测试 (23)符合性_PCI-E抖动测试 5.5 (25)符合性_PCI-E通道间偏斜测试......................................................................... 2 5.66符合性_PCI-E插卡功耗测试 5.7 (26)6参考文档......................................................................................... 错误!未定义书签。
硬件测试报告范文模板摘要:一、引言1.测试背景2.测试目的3.测试环境二、测试项目1.外观设计2.性能参数3.功能测试4.稳定性测试5.兼容性测试6.安全性测试三、测试结果与分析1.外观设计分析2.性能参数分析3.功能测试结果4.稳定性测试结果5.兼容性测试结果6.安全性测试结果四、总结与建议1.产品优点2.产品不足3.改进建议4.推荐程度正文:一、引言1.测试背景随着科技的不断发展,硬件产品日新月异,为更好地了解市场上各类硬件产品的性能和特点,我们对其进行了详细的测试。
本次测试的产品分别为:XX 硬盘、XX显卡、XX处理器等。
2.测试目的本次测试的主要目的是为广大消费者提供一份全面、客观、真实的硬件产品评价,帮助大家在购买时做出更好的选择。
3.测试环境本次测试均在标准的测试环境下进行,确保测试结果的准确性。
测试环境如下:操作系统:Windows 10主板:XX主板CPU:XX处理器内存:XX内存电源:XX电源二、测试项目1.外观设计我们对产品的包装、外观、接口等方面进行了详细的检查,评价其美观度、实用性和人性化设计。
2.性能参数我们对产品的性能参数进行了核实,包括处理器主频、显卡显存、硬盘容量等,以保证产品性能的准确性。
3.功能测试我们对产品的各项功能进行了实际操作测试,验证其功能是否正常运行,包括散热性能、硬盘读写速度等。
4.稳定性测试我们对产品进行了长时间运行的稳定性测试,观察其在高负荷状态下是否出现蓝屏、死机等问题。
5.兼容性测试我们针对市场上常见的操作系统、软件、游戏等,测试产品在不同环境下的兼容性。
6.安全性测试我们对产品进行了安全性测试,包括防病毒、数据加密等方面的检查,确保产品在使用过程中的信息安全。
三、测试结果与分析1.外观设计分析产品包装设计时尚、大方,符合消费者审美需求。
产品外观简约、美观,线条流畅。
接口布局合理,方便用户使用。
2.性能参数分析经核实,产品性能参数与官方宣传一致,具备较高的性能水平。
硬件模块单元测试报告编制: 日期:审核: 日期: 批准: 日期:目录目录 (1)第一章概述 (3)1.1目的和范围 (3)1.2测试概述 (3)第二章测试资源及环境 (4)2.1 硬件配置 (4)2.2 测试设备清单 (4)2.3 测试环境 (4)2.4 测试方式 (4)第三章测试数据 (6)3.1 主控板测试 (6)3.1.1短路测试 (6)3.1.2直流电压、纹波测试 (6)3.1.3接口通讯信号测试 (8)3.1.3.1主控板与按键板打印部分 (8)3.1.3.2主控板与核心板 (8)3.1.3.3主控板与液晶屏 (8)3.1.3.4主控板与触摸屏 (9)3.1.3.5主控板与感光板 (10)3.1.3.6主控板对按键板指示灯部分检测信号 (10)3.1.3.8主控板与WIFI板 (10)3.1.4充电测试 (11)3.1.5电源转换效率测试 (11)3.1.5.1 5V电源转换效率测试 (11)2.1.5.2 +8V电源转换效率测试 (13)3.1.6 DC_DC带负载测试 (14)3.2 按键板测试 (15)3.2.1短路测试 (15)3.2.2直流电压、纹波测试 (15)3.2.3接口通讯信号测试 (15)3.2.3.1 按键板与打印机 (15)第一章概述1.1目的和范围本文描述H3硬件模块的测试方法和步骤, 本方案的来源是《H3硬件总体需求》和《H3硬件总体方案》适用范围是:1.2测试概述在硬件模块测试阶段, 测试人员根据细化后的方案进行集成测试, 测试的重点是接口, 主要包括以下几个方面:1.各个板卡接口和测试点电压纹波测试2.控制/检测信号逻辑状态分析第二章测试资源及环境2.1 硬件配置2.3 测试环境环境温度: 0-55℃;大气压力: 700hPa~1060hPa;相对湿度:15% ~ 95%, 非凝2.4 测试方式内部测试第三章测试数据3.1 主控板测试3.1.1短路测试3.1.3接口通讯信号测试3.1.3.1主控板与按键板打印部分3.1.3.2主控板与核心板3.1.3.3主控板与液晶屏3.1.3.4主控板与触摸屏3.1.3.5主控板与感光板3.1.3.8主控板与WIFI板3.1.4充电测试使用电源交流100~240Vac 50Hz/60Hz 使用内置锂电池 12.6V/2600mA3.1.6 DC_DC带负载测试3.2 按键板测试3.2.1短路测试3.2.3接口通讯信号测试3.2.3.1 按键板与打印机。
完整的硬件试验方案1. 简介本文档旨在提供一份完整的硬件试验方案,以帮助开展相关实验并取得可靠的结果。
2. 实验目标本实验的目标是测试硬件设备的性能和功能,并验证其是否符合预期要求。
通过实验可以获得硬件设备的各项指标,为后续的产品开发和优化提供依据。
3. 实验准备在开始实验之前,需要准备以下材料和设备:- 硬件设备:列出需要进行测试的硬件设备清单,并确保其完好无损。
- 测试工具:根据不同的硬件设备,准备相应的测试工具,如示波器、万用表、逻辑分析仪等。
- 实验环境:为硬件设备提供合适的实验环境,包括电源供应、接线板、电缆等。
4. 实验步骤根据具体的硬件设备和测试要求,制定相应的实验步骤。
以下是一般的实验步骤示例:1. 检查硬件设备的外观和连接,确保没有损坏或松动的部分。
2. 配置实验环境,包括提供稳定的电源供应和连接必要的仪器设备。
3. 按照设备说明书或相关要求,设置硬件设备的参数和工作模式。
4. 运行测试工具,并记录相关数据和观察结果。
5. 分析数据和结果,评估硬件设备的性能和功能。
6. 如有必要,进行进一步的测试和调整,直到满足预期要求为止。
5. 安全注意事项在进行硬件试验时,需要注意以下安全事项:- 确保实验环境安全,防止电源短路、火灾等意外事件发生。
- 遵守设备使用说明书和相关安全规范,正确操作仪器设备。
- 使用绝缘手套、护目镜等个人防护装备,保护自身安全。
6. 数据分析与结果验证完成实验后,需要对所获得的数据进行分析和结果验证。
根据实验目标,评估硬件设备的性能和功能是否符合预期要求。
分析结果应准确、可靠,并提供相应的结论和建议。
7. 实验总结与改进根据实验结果和数据分析,总结实验过程中的问题和不足之处,并提出改进措施。
实验总结应详细、清晰,为后续的实验工作提供指导和参考。
8. 参考资料列出本文档编写过程中参考的资料和文献,确保实验方案的可靠性和准确性。
以上是一份完整的硬件试验方案,以帮助您在实验过程中获得可靠的结果。
光通信产品硬件预测试报告模板修订记录目录1硬件版本信息 (3)2测试仪器与设备 (4)3电源特性测试 (4)3.1产品功耗测试 (4)3.1.1测试方法 (4)3.1.2功耗测试数据 (4)3.2电源纹波以及电压精度测试 (4)3.2.1测试方法 (4)3.2.2测试数据 (4)4时钟信号测试 (5)4.1测试方法 (5)4.2时钟测试数据 (5)5总线时序测试 (8)5.1测试方法 (8)5.2总线时序测试数据 (8)5.2.1SSMII时序测试 (8)6产品热测试 (8)6.1测试方法 (8)6.2热测试测试数据 (8)7LED指示灯和用户接口测试 (8)8产品功能、性能测试 (9)8.1VOIP功能测试: (9)8.2无线性能测试 (9)8.3光接口指标测试 (11)8.4USB读写测试 (12)8.4.1测试方法 (12)8.4.2测试结果 (12)8.5环境测试 (12)8.5.1测试业务配置 (12)8.5.2常温长期丢包率 (13)8.5.3高温高湿长期丢包率 (13)9EMC测试项目及数据 (13)10其他 (13)1 硬件版本信息PCB版本:BOM版本:2在以上的表格中列出测试用到的仪器及其型号3 电源特性测试3.1 产品功耗测试3.1.1 测试方法常温下,记录产品在空载和满载时的电压值及电流值,连续测试半小时以上,记录最大值,判定是否满足产品要求。
3.1.2 功耗测试数据3.2 电源纹波以及电压精度测试3.2.1 测试方法常温下,产品满负荷运行,测试产品主要芯片管脚、电源芯片或模块输出的电压值、纹波噪声;判定是否满足产品及芯片要求。
(注:测试带宽均为20Mhz)3.2.2 测试数据说明:芯片输入脚电源命名规则:芯片名称_电压值_测试位置(如电容item)4 时钟信号测试说明:可选,需要在执行自测试之前同测试负责人等确认需要执行时钟信号测试位置。
4.1 测试方法常温下,产品满负荷持续运行,测试产品所有晶体/晶振时钟、接口时钟输出特性,判定是否满足芯片要求。
硬件测试报告模板
测试目的:
本次硬件测试的主要目的是验证硬件设备的性能指标是否符合要求,包括性能稳定性、功耗、温度、电压等方面的测试。
测试对象:
本次测试对象为(硬件设备名称及型号)。
测试环境:
测试环境包括硬件设备的使用环境以及测试设备的配置情况。
测试方法:
测试过程中采用了(测试方法名称)的测试方案,并严格按照测试方案的要求进行测试。
测试结果:
1. 性能稳定性测试结果
经过(测试时间)的长时间运行测试,硬件设备的性能表现稳定,未出现明显的性能下降或故障现象。
2. 功耗测试结果
在(功耗测试环境)环境下进行了功耗测试,硬件设备的功耗表现符合设计要求,未出现异常的功耗波动。
3. 温度测试结果
在(温度测试环境)环境下进行了温度测试,硬件设备的温度表现正常,未出现超温情况。
4. 电压测试结果
经过多次测试,硬件设备的电压表现稳定,符合设计要求,
未出现异常的电压波动。
测试结论:
通过本次硬件测试,我们可以得出结论,硬件设备的性能指标符合设计要求,性能稳定、功耗、温度、电压等方面表现良好,可以满足产品的正常使用要求。
硬件集成测试方案概述硬件集成测试是指对一个系统的硬件进行测试,以验证其在不同组件之间的正确连接和协调工作。
本文档将详细介绍硬件集成测试的目的、测试流程和测试方法,以确保硬件系统的可靠性和性能。
目的硬件集成测试的目的是验证不同硬件组件之间的正确连接和协调工作,检测硬件系统是否满足设计要求并能正常工作。
通过测试,可以发现和解决硬件相关的问题,确保系统的可靠性和性能,提高用户体验。
测试流程硬件集成测试包括以下几个阶段的测试流程:1. 硬件组装和连接测试在硬件集成测试前,需要先进行硬件组装和连接测试,确保硬件组件正确安装和连接到主板上。
这一步可以通过目视检查和测量电压、电流等方式进行。
功能测试是验证硬件系统是否满足设计要求的关键步骤。
测试人员应按照设计要求和测试计划,对硬件系统的各个功能模块逐一进行测试。
例如,对于一个电子设备,测试人员可以测试其电源、显示、输入输出等功能是否正常工作。
3. 性能测试性能测试是测试硬件系统在正常工作状态下的性能指标,例如处理速度、响应时间等。
测试人员应在不同负载条件下对硬件系统进行测试,观察系统的性能表现。
4. 兼容性测试兼容性测试是测试硬件系统与其他外部设备或软件的兼容性。
测试人员可以将硬件系统连接到不同的设备或运行不同的软件,观察系统是否能正常工作并与其他设备或软件相互配合。
5. 可靠性测试可靠性测试是评估硬件系统在长时间使用过程中的稳定性和可靠性。
测试人员应对硬件系统进行长时间运行测试,观察系统是否能持续稳定工作并无故障。
安全性测试是评估硬件系统的安全性,包括硬件本身的安全性和对用户数据的保护。
测试人员应对硬件系统进行安全风险评估,并测试硬件系统对各种攻击的防御能力。
测试方法硬件集成测试可以采用以下几种常用的测试方法:1. 黑盒测试黑盒测试是基于对硬件系统的功能和接口进行测试。
测试人员不需要知道系统的内部结构和实现细节,只需要通过输入测试数据和观察输出结果,来验证系统是否按照设计要求正常工作。
第1篇一、前言随着我国科技的飞速发展,硬件建设在各个领域都发挥着至关重要的作用。
在过去的一年里,我司硬件建设团队紧紧围绕公司发展战略,积极开展各项工作,取得了显著的成绩。
现将年度硬件建设情况总结如下:二、主要工作及成果1. 项目推进在过去的一年里,我司共完成了10个硬件建设项目,涉及研发、生产、运维等多个领域。
在项目推进过程中,我们严格按照项目管理制度,确保项目按时、按质、按量完成。
2. 技术突破(1)电路优化:通过对现有电路进行深入分析,我们发现并优化了5个电路设计,使产品性能得到显著提升,降低了能耗。
(2)硬件选型:针对不同项目需求,我们成功选型了10款高性能、低成本的硬件设备,为公司节省了大量成本。
3. 应用问题解决在项目实施过程中,我们发现了多个应用问题,并针对性地进行了解决。
例如,针对某项目中的信号干扰问题,我们成功研发了一种新型滤波电路,有效降低了干扰,提高了产品稳定性。
4. 节能减排在硬件建设过程中,我们注重节能减排,采用节能型硬件设备,降低了公司能耗。
据统计,与去年同期相比,公司能耗降低了15%。
5. 成本控制通过优化供应链、降低采购成本、提高生产效率等措施,我们成功降低了硬件建设成本。
据统计,与去年同期相比,硬件建设成本降低了10%。
三、存在问题及改进措施1. 存在问题(1)部分硬件设备选型不够精准,导致项目进度延误。
(2)硬件团队人员流动较大,影响项目稳定性。
2. 改进措施(1)加强对硬件设备选型的研究,提高选型准确性。
(2)加强团队建设,提高团队凝聚力,降低人员流动率。
四、展望在新的一年里,我司硬件建设团队将继续努力,以更高的标准、更优的服务,为公司发展贡献力量。
具体目标如下:1. 提高硬件设备选型准确性,确保项目进度。
2. 优化团队结构,降低人员流动率。
3. 深入研究节能减排技术,降低公司能耗。
4. 加强与供应商合作,降低硬件建设成本。
总之,过去的一年,我司硬件建设团队取得了丰硕的成果。
1. 目的此可靠性测试标准的目的是尽可能地挖掘设计,制造中的潜在性问题,在正式生产之前寻找改善方法并解决上述问题点,为正式生产的产品在质量上做必要的保证;并检测产品是否具备设计上的成熟性、使用上的可靠性。
具体包括新产品的试验、物料的试验及例行抽检试验等等。
2. 范围此指引适用于所有诺亚信高科技集团有限公司生产的移动产品。
3. 定义3.1 技术员:设定仪器,完成相关测试项目,并记录测试结果。
解决检测过程中的问题;并向工程师反馈检测方法的缺陷和不足。
3.2 工程师:判断测试结果是否可接受;跟进问题的解决情况;改善检测方法。
4. 抽样方案4.1 以具体的实验项目要求为准。
5. 检验内容5.1 环境可靠性试验5.1.1 高温运行试验试验目的:验证手机在高温环境的适应性。
试验样品:2sets试验内容:55℃,手机配齐SIM卡/T卡,装电池开机,进行12小时测试,运行时间从到达55℃温度始算起.试验后在箱内检查,要求产品的功能、外观正常.受测前样机胶塞必须安装归位.射频指标符合国家标准。
对于翻/滑盖手机,1台开盖,1台合盖.(若屏/主板不同供应商,则样机各选2pcs,共4pcs).判定标准: 1、壳体外观检查,缝隙,镜片以及使用背胶固定的装饰件等粘贴牢固度。
2、功能检查(注意屏的显示是否有黑影,坏点等异常)。
3、触摸屏划写,点压准确性(如有触摸不准偏位等现象,进行屏幕校准看是否可恢复) 。
4、MP3,FM,耳机,充电,滚轮…。
5、实网通话一次,看送话和受话是否正常。
5.1.2 低温运行试验试验目的:验证手机在低温环境下的适应性。
试验样品: 2 sets试验内容:—20℃,手机配齐SIM卡/T卡,装电池开机并运行老化软件,进行12小时测试,运行时间从到达—20℃温度始算起。
试验后在箱内检查,要求产品的功能、外观正常。
受测前样机胶塞必须安装归位.射频指标符合国家标准。
对于翻/滑盖手机,2台开盖,1台合盖.(若屏/主板不同供应商,则样机各选2pcs,共4pcs)。
硬件测试报告经磨损,需要更换。
结论:部分部件需要更换,测试不完全通过。
硬件测试报告1.测试背景及目的:本次测试旨在验证硬件电路性能是否符合要求,包括功能测试、结构性能测试、电气性能测试、温度特性测试以及用户部件耐久性能测试等。
共测试了若干样机,开发团队提供了相应的配套硬件和软件版本。
测试时间为一定周期内。
2.测试项目:1)功能测试液晶显示验证:验证液晶显示状况以及在不同温度下的工作状况。
测试结果显示,在高温60℃和低温-20℃下,触屏正常,但显示功能存在问题。
按键功能验证:验证按键功能以及在不同温度下的工作状况。
测试结果显示,在高温60℃和低温-20℃下,按键功能正常。
授权读卡测试:验证授权读卡功能以及在不同温度下的工作状况。
测试结果显示,在高温60℃和低温-20℃下,刷卡功能正常,刷卡距离>35mm。
通讯功能验证:验证3G及网线通讯功能以及在不同温度下的通讯功能。
测试结果显示,单独连接3G模块及网线通讯,通讯信号良好,高低温测试不影响通讯功能。
结论:液晶显示功能存在问题,测试不通过。
2)结构性能测试测试项:包括结构问题点的验证。
测试结果显示,结构问题较多,测试不通过。
3)电气性能测试测试项:输入电压和电流的测试。
测试结果显示,设备直流供电电压范围为8V-30V,正常工作电压范围为11V-15V。
设备在高压供电下运行正常,符合要求。
建议:无。
4)温度特性测试测试项目:包括高温工作测试和低温工作测试。
测试结果显示,高低温老化测试通过。
5)用户部件耐久性能测试测试项:包括引出线抗拉性验收和内部走线的耐久性测试。
测试结果显示,引出线在使用中经受拉力和折弯的能力良好,但部分内部走线需要更换接插件。
结论:部分部件需要更换,测试不完全通过。
经过多次插拔,未出现异常。
我们进行了连接器可靠性检测,检验了单个柜和主通讯线以及其它连接器的连接可靠性。
测试结果显示,结构和电子方面都存在问题,特别是箱门锁的故障率较高,测试未通过。
硬件测试报告模板1. 测试目的。
本次硬件测试的目的是对新开发的硬件设备进行全面的功能测试,以确保其性能稳定、可靠性高,满足用户需求。
2. 测试环境。
本次测试所用硬件设备为XXX型号,测试环境为标准实验室环境,温度、湿度等参数符合硬件设备的正常使用条件。
3. 测试内容。
3.1 功能测试。
对硬件设备的各项功能进行测试,包括但不限于,开关机、输入输出接口、传感器检测等功能的正常性和稳定性测试。
3.2 性能测试。
测试硬件设备在不同工作负载下的性能表现,包括但不限于,运行速度、响应时间、资源占用等性能指标的测试。
3.3 可靠性测试。
通过长时间运行测试和负载测试,评估硬件设备的稳定性和可靠性,确保在长时间使用过程中不会出现故障。
4. 测试方法。
4.1 功能测试。
采用人工操作和自动化测试工具相结合的方式,对硬件设备的各项功能进行全面测试。
4.2 性能测试。
利用专业的性能测试工具对硬件设备的性能进行测试,并记录测试结果进行分析。
4.3 可靠性测试。
通过长时间运行测试和负载测试,模拟实际使用场景,评估硬件设备的可靠性。
5. 测试结果。
5.1 功能测试结果。
经过功能测试,硬件设备的各项功能均正常,无异常情况发生。
5.2 性能测试结果。
硬件设备在不同工作负载下表现稳定,响应速度快,资源占用合理。
5.3 可靠性测试结果。
经过长时间运行测试和负载测试,硬件设备稳定可靠,无异常情况发生。
6. 测试结论。
本次硬件测试结果表明,该硬件设备在功能、性能和可靠性方面均符合设计要求,可以投入生产和使用。
7. 测试建议。
为了进一步提高硬件设备的性能和可靠性,建议在后续的生产过程中加强质量控制,确保每一台硬件设备的质量稳定可靠。
8. 测试总结。
本次硬件测试全面、深入,充分验证了硬件设备的性能和可靠性,为后续生产和使用提供了有力的保障。
9. 附录。
测试过程中所用的测试工具、测试数据和测试报告等相关资料。
以上为硬件测试报告模板,希望对大家有所帮助。
硬件测试报告硬件测试报告测试日期:2021年10月10日测试地点:公司实验室测试人员:张三、李四1. 测试目的本次硬件测试旨在检测新开发的硬件设备在正常使用情况下的性能和稳定性,并确认是否达到设计要求。
2. 测试方案根据硬件设备的功能和特点,我们设计了以下测试方案:(1) 电气性能测试:通过接入电源测试设备的电流、电压等参数,以确认设备在正常工作情况下的电气性能是否稳定;(2) 机械性能测试:采用不同力度的机械压力对设备进行测试,包括抗震性能、抗摔性能等;(3) 兼容性测试:将设备与不同型号的电脑、手机等设备进行连接测试,确认设备的接口是否与主流设备兼容;(4) 功能稳定性测试:对设备各项功能进行全面测试,确认设备在长时间使用下是否稳定,包括网络连接、数据传输等功能;(5) 温度测试:通过在不同环境温度下对设备进行测试,确认设备在不同温度下的工作稳定性和耐受能力。
3. 测试结果经过多次测试,我们得出以下结论:(1) 设备的电气性能稳定,符合设计要求;(2) 设备在机械压力下能够正常工作,抗震性能和抗摔性能良好;(3) 设备与主流设备兼容,接口连接稳定;(4) 设备各项功能稳定,长时间使用不出现异常;(5) 设备在不同温度下能够正常工作,稳定性和耐受能力良好。
4. 改进建议根据测试结果,我们提出以下改进建议:(1) 在设备的外壳设计上增加防震和防摔的措施,进一步提高设备的机械性能;(2) 在设备的接口设计上考虑更多主流设备的兼容性,提供更多的接口选择;(3) 在设备的散热设计上做进一步优化,增加散热结构,提高设备在高温环境下的工作稳定性。
5. 结论经过测试,新开发的硬件设备在各项性能指标上均达到设计要求,并且具有较高的稳定性和耐受能力。
根据测试结果和改进建议,我们将进一步改进设备,提高其性能和可靠性,以满足用户需求。
6. 附录测试数据和测试记录见附件。
航天联志及UIT设备测试报告项目名称: 测试报告项目编码:项目单位:文件标识:作者:完成日期:目录1. 测试时间: (3)2. 测试成员........................................................................................................... 错误!未定义书签。
3. 测试环境........................................................................................................... 错误!未定义书签。
3.1硬件环境 (3)3.2软件环境 (3)4. 测试项目 (4)4.1航天联志PPC3.0测试 (4)4.2UIT PPC3.0测试 (6)4.3原力项目测试(航天联志设备) (9)4.4原力项目测试(UIT设备) (11)4.5疲劳项目测试 (13)5. 测试设备比较 (15)6. 测试结果 (16)1.测试时间:2011年6月3.1 硬件环境:航天联志230 (5121NR)Cpu:xeon5506*2内存DDR3 ECC 4G*6硬盘:SATA 2TB*3Intel® 82574L千兆*2 电源400W UIT 229 (contEx1500)Cpu:xeon5400*2内存DDR2 667 2G*4Raidcard: LSI megaraidSupermicro X7 主板Intel E1G42ET 网卡(电口) *4硬盘:SATA 2 16*1TB 电源900W 远程接入端I3处理器4G内存H3C交换机千兆交换机3.2软件环境机器(型号) 基本配置UIT 229 (contEx1500) RH5.2 64位(装ppc3.0 和ppc2.0)UIT 7块磁盘做raid5 因此有两个raid5另外两块做热备盘航天联志230 (5121NR) Centos 5.4 64位(装ppc3.0 和ppc2.0)3块磁盘做LVM航天联志231 (5121NR) Centos 5.5 32位装打压工具3块磁盘做LVM远程接入端Win7 64位2.测试项目4.1 航天联志ppc3.0 测试 4.1.1 测试环境网络拓扑图航天联志192.168.200.230192.168.1.230受压机器UIT192.168.200.229192.168.1.229航天联志192.168.200.231192.168.1.231千兆交换机Win7远程接入端(开启视频)环境说明1,航天联志230上面装有ppc3.0程序.2. UIT229和联志231装有打压程序(test.py).3,win7端远程接入UIT229和联志231;同时win7端开启视频并记录测试数据.测试说明1,UIT229和联志231轮流对联志230进行加压. 2,win7观光看视频 3,win7端记录测试数据开启测试过程1,运行加压程序 (程序test.py 辅助文件info.csv.txt路径为/home/) 设置单个并发最大下载速率,800码流serv 设置为100 #vim /usr/local/xlcache_ppcdn/etc/http/httpconfig.xml<RATETABLE><NODE start="0" end="23" down="-1" downtotal="-1" serv="100" servtotal="-1" /> </RATETABLE>#python test.py 100 //100表示启用100次并发,一个并发限制为800k 2,运行top 查看cpu ,内存使用情况3,运行 nload –t 1000 –u m //每隔1000毫秒取下网卡流量数据 4,运行 netstat –pant |grep 920 |wc //统计并发次数 5,win7端开启ip 雷达查看流量信息4.1.2 测试数据(800码流)模拟并发内存使用Cpu 空闲网卡负载(最大) 单位:mbit/s磁盘io 磁盘使用网络丢包 观看效果200并发234106 k 99.4% 244.66mbit/s 2Mbit/s 2% 0% 正常400并发288432 k 98.7% 548.67mbit/s 2Mbit/s 2% 0% 正常600并发351884 k 96.3% 870.28mbit/s 2Mbit/s 2% 0% 正常800并发415568 k 94.6% 939.22mbit/s 2Mbit/s 2% 0% 正常1000并发507524 k 93.1% 939.22mbit/s 2Mbit/s 2% 2% 正常1100并发569080 k 91.9% 939.22mbit/s 2Mbit/s 2% 9% 每次卡顿5-10s,一分钟出现1-2次卡顿1200并发638416 k 91.1% 939.22mbit/s 3Mbit/s 2% 12% 每次卡顿10-15s,一分钟出现3-4次卡顿1000bond 634055 k 97.4% 934.30mbit/s 2Mbit/s 2% 0% 正常1500bond 843440 k 96.4% 1629.20mbit/s 2Mbit/s 2% 2% 正常1800bond 884366 k 92.1% 1859.00mbit/s 2Mbit/s 2% 11% 每次卡顿8-10s,一分钟出现1-2次卡顿2000bond 94580 0k 89.0% 1864.42mbit/s 3Mbit/s 2% 16% 每次卡顿5-10s,一分钟出现4-5次卡顿1000bond:网卡做bond后测试1000个并发4.1.3测试数据(1.3M码流)模拟并发内存使用Cpu空闲网卡负载(最大)单位:mbit/s磁盘io 磁盘使用网络丢包观看效果200并发740004k 98.5% 376.24mbit/s 2Mbit/s 2% 0% 正常400并发1216116k 96.9% 715.95mbit/s 2Mbit/s 2% 0% 正常500并发2136496k 95.9% 940.90mbit/s 5Mbit/s 3% 0% 正常550并发2434292k 95.3% 940.90mbit/s 5Mbit/s 3% 0% 正常600并发2598432k 95.3% 940.90mbit/s 5Mbit/s 3% 2% 每次卡顿10-15秒。
硬件设备的测试报告1. 引言本文旨在对硬件设备的测试过程和结果进行详细描述和分析。
测试的设备是一个新型的硬件产品,该产品具有特定的功能和技术指标。
本报告将按照以下步骤进行描述:硬件设备的背景信息、测试目的、测试环境和工具、测试步骤和方法、测试结果和分析、问题与改进建议。
2. 硬件设备的背景信息在本节中,将介绍硬件设备的基本情况,包括设备的型号、功能、关键技术指标等。
同时还会简要说明该设备的应用领域和市场需求,以便更好地理解测试的背景和目标。
3. 测试目的本次测试的目的是验证硬件设备在其预期的使用环境中是否能够按照设计要求正常工作,并评估其性能是否达到预期水平。
主要关注以下几个方面的测试:功能性测试、可靠性测试、性能测试、接口测试等。
4. 测试环境和工具在本节中,将详细描述测试所需的环境和工具。
例如,硬件设备的操作系统版本、测试软件的版本、测试设备的配置和连接等。
这些信息对于后续的测试步骤和结果的准确性至关重要。
5. 测试步骤和方法本节将分步骤描述硬件设备的测试过程。
根据测试目的,针对每个测试方面,制定相应的测试计划和测试用例。
然后按照测试计划逐步执行测试,记录测试数据和结果。
5.1 功能性测试在功能性测试中,我们将验证硬件设备是否能按照预期的功能进行操作和交互。
测试包括各项功能的正常使用、异常输入的处理和错误处理等。
5.2 可靠性测试可靠性测试旨在评估硬件设备的稳定性和持久性。
通过长时间的运行测试,检测是否会出现设备崩溃、死机、丢失数据等问题。
5.3 性能测试性能测试旨在评估硬件设备在不同负载条件下的性能表现。
测试包括响应时间、吞吐量、处理能力等方面的评估。
5.4 接口测试接口测试主要针对硬件设备的各种接口,包括物理接口和软件接口的测试。
测试的重点是接口的连接、数据传输的正确性和稳定性。
6. 测试结果和分析在本节中,将提供测试数据和结果的详细分析。
对每个测试方面的结果进行总结和评估,分析是否达到预期的测试目标。
ARM硬件方案性能预研目录目录 (2)1测试环境搭建 (4)1.1 WGS86测试环境 (4)1.2 G1820测试环境 (4)1.3 ARM测试环境 (4)2 网络性能测试 (5)2.1 测试方法: (5)2.2 百兆交换机tcp 测试 (5)2.2.1 WGS86测试数据: (5)2.2.2 G1820测试数据: (6)2.2.3 arm测试数据: (6)2.3 千兆交换机tcp测试 (6)2.3.1 WGS86测试数据: (7)2.3.2 G1820测试数据: (7)2.3.3 arm测试数据: (8)2.4 百兆交换机udp测试 (8)2.4.1 WGS86测试数据: (8)2.4.2 G1820测试数据: (9)2.5 千兆交换机udp测试 (9)2.5.1 WGS86测试数据: (10)2.5.2 G1820测试数据: (10)2.6测试结果: (11)2.7结果分析: (11)3 、磁盘IO测试(对4G文件读写测试) (12)3.1 测试方法: (12)3.2读文件测试: (12)3.2.1 WGS86测试数据: (13)3.2.2 G1820测试数据: (14)3.2.3 arm测试数据: (15)3.3写文件测试: (15)3.3.1 WGS86测试数据: (16)3.3.2 G1820测试数据: (17)3.3.4 arm测试数据: (18)3.4 测试结果: (18)3.5 结果分析: (19)4、iozone磁盘io读写 (20)4.1测试方法: (21)4.2测试数据: (21)4.3测试结果: (21)4.4结果分析: (24)5、CPU性能测试 (25)5.1音频转化测试 (25)5.1音频转化测试 (25)5.1.1测试方法: (25)5.1.2测试数据: (25)5.1.3测试结果: (27)5.1.4 结果分析: (28)5.2 CPU的π值浮点计算 (28)5.2.1 测试方法: (28)5.2.2 测试数据: (28)5.2.3 测试结果: (31)5.2.4 结果分析: (31)5.3压缩解压测试 (31)5.3.1测试方法: (31)5.3.2 压缩测试: (31)5.3.3 解压测试: (34)5.3.4测试结果: (37)5.3.5 结果分析: (37)5.4 nbench测试cpu (37)5.4.1测试方法: (38)5.4.2测试数据: (38)5.4.3测试结果: (40)5.4.4 结果分析: (40)5.5 下载cpu占用分析 (40)arm下载cpu使用情况 (40)5.6 sysbench测试(测试多线程并发性能) (42)6调研结果 (47)1测试环境搭建1.1 WGS86测试环境1)编译Linux3.2版本内核;2)制作最小根文件系统、移植相关库文件;3)配置网络,配置nfs文件系统;配置测试条件配置:➢内存:2G➢cpu型号:intel(R) celeron(R) cpu 1037U 主频:1.80GHz➢硬盘类型:ATA ST2000DM001-1CH164 转动率:7200RPM 1.2 G1820测试环境4)编译Linux3.2版本内核;5)制作最小根文件系统、移植相关库文件;6)配置网络,配置nfs文件系统;配置测试条件配置:➢内存:2G➢cpu型号:intel(R) celeron(R) cpu G1820 主频:2.70GHz➢硬盘类型:ATA ST3000DM001-1CH166 转动率:7200RPM1.3 ARM测试环境7)编译Linux4.4版本内核;8)制作最小根文件系统、移植相关库文件;9)配置网络,配置nfs文件系统;配置测试条件配置:➢rtd1296 方案;➢cpu型号:arm context a53 架构,主频:1.40GHz➢内存:2G➢硬盘类型:ATA ST3000DM001-1CH166 转动率:7200RPM2 网络性能测试使用iperf进行测试,Iperf 是一个网络性能测试工具。
Iperf可以测试TCP和UDP 带宽质量。
Iperf可以测量最大TCP带宽,具有多种参数和UDP特性。
Iperf可以报告带宽,延迟抖动和数据包丢失。
2.1 测试方法:tcp测试方法:固定socket缓存大小为256k,以测试机作为客户端,保证测试单一通道,使用iperf的tcp模式对测试机进行tcp的网络吞吐速度测试。
udp测试方法:固定socket缓存大小为256k,以测试机作为客户端,保证测试单一通道,使用iperf的udp模式对测试机进行udp的网络吞吐速度测试,在测试时采用%90的带宽容量进行测试。
2.2 百兆交换机tcp 测试服务器:#iperf -s -i 1 -f M客户端:#iperf -c 192.168.74.115 -i 1 -w 256k参数说明:-s 以server模式启动。
-c host以client模式启动,host是server端地址-w socket缓存-i 以秒为单位显示报告间隔2.2.1 WGS86测试数据:2.2.2 G1820测试数据:2.2.3 arm测试数据:2.3 千兆交换机tcp测试千兆交换机型号:H3C S1224R (服务器和客户端都必须是千兆网卡)测试方法:使用千兆交换机进行测试,在10s内服务端和客户端进行tcp交互,以测试机作为客户端,进行吞吐量性能测试,iperf可以测试出10s测试机的tcp最大吞吐量。
服务器:/iperf.exe -s -P 0 -i 1 -p 5001 -f m客户端:#./iperf -c 192.168.74.115 -i 1 -w 256k 参数说明:-s 以server模式启动。
-c host以client模式启动,host是server端地址-w socket缓存-i 以秒为单位显示报告间隔2.3.1 WGS86测试数据:2.3.2 G1820测试数据:2.4 百兆交换机udp测试服务端:./iperf -s -u -P 0 -i 1 -p 5001 -f M客户端:./iperf -u -c 192.168.84.223 -i 1 -f M -w 256k -b 90M命令说明:-u 以udp协议进行测试-b 测试网络容量(比如百兆交换机就使用其%90容量测试)-f分别表示以Kbits, Mbits, KBytes, MBytes显示报告,默认以Mbits为单位-w socket缓存2.4.1 WGS86测试数据:2.5 千兆交换机udp测试千兆交换机型号:H3C S1224R测试方法:使用千兆交换机进行测试,在10s内服务端和客户端进行udp交互,以测试机作为客户端,进行吞吐量性能测试,iperf可以测试出10s测试机的udp最大吞吐量。
服务端:./iperf -s -u -P 0 -i 1 -p 5001 –w 256k -f M客户端:./iperf -u -c 192.168.84.223 -i 1 -f M -w 256k -b 900M命令说明:-u 以udp协议进行测试-b 测试网络容量(比如千兆兆交换机就使用其%90容量测试)-f分别表示以Kbits, Mbits, KBytes, MBytes显示报告,默认以Mbits为单位-w socket缓存2.5.2 G1820测试数据:2.6测试结果:2.7结果分析:在百兆交换机进行tcp测试中对比,G1820的网络速度略大于WGS86;在千兆交换机进行tcp测试中对比,G1820的网络速度小于WGS86;在百兆交换机udp测试中对比,G1820的速度大于WGS86;在千兆交换机udp测试中,G1820的速度大于WGS86,由此可见G1820的网络性能略优于WGS86。
Arm的网络性能和前两者都差不多,略微强10%.3 、磁盘IO测试(对4G文件读写测试)dd是工作于比较低层的一个数据拷贝和转换的*nix平台的工具,但是因为dd命令支持*nix平台的一些特殊设备,因此我们可以利用dd命令的这个特性来的测试磁盘的性能。
(注:dd只能提供一个大概的测试结果,而且是连续IO 而不是随机IO)监控工具采用iostat,可以实时监控系统的进程io数量和cpu的使用情况。
参数说明:if =输入文件(或设备名称)。
of =输出文件(或设备名称)。
bs = bytes 同时设置读/写缓冲区的字节数(等于设置obs和obs)。
count = blocks 只拷贝输入的blocks块。
3.1 测试方法:读文件测试方法:使用linux自带的time dd命令对文件进行读测试,对4G文件进行读取测试,同时打开iostat进行监控查看记录读写速度,使用时间。
写文件测试方法:使用linux自带的time dd命令对文件进行写测试,写入4G大小到文件中,同时打开iostat进行监控查看记录读写速度,使用时间,vmstat 1 测试cpu使用率。
iostat -c -d 13.2读文件测试:命令:time dd if=/var/4g.file of=/dev/null bs=1000 count=4000000因为/dev/sdb1是一个物理分区,对它的读取会产生IO,/dev/null是伪设备,相当于黑洞,of到该设备不会产生IO,所以,这个命令的IO只发生在/dev/sdb1上,也相当于测试磁盘的读能力。
3.2.3 arm测试数据:3.3写文件测试:命令:time dd if=/dev/zero of=/var/4g.file bs=1000 count=4000000其中/dev/zero是一个伪设备,它只产生空字符流,对它不会产生IO,所以,IO都会集中在of文件中,of文件只用于写,所以这个命令相当于测试磁盘的写能力。
3.4 测试结果:3.5 结果分析:在读文件测试中,三者的使用时间基本相等,读取速度相差个位数级别,但是G1820的CPU的使用率远大于WGS86和arm;在写文件测试中,G1820的使用时间基本等于WGS86,而arm用时比前两者高40%,写速度G1820与WGS86相差个位数级别,但是arm写入速度比前两者低27%,CPU使用率方面,读取文件的时候arm只使用了25%和WGS86差不多,G1820 CPU使用率较高;写文件的时候G1820表现最好,而G1820略好于arm。
4、iozone磁盘io读写IOzone是一个文件系统测试基准工具。
可以测试不同的操作系统中文件系统的读写性能。
可以通过write, re-write, read, re-read, random read, random write, random mix, backwards read, record rewirte, strided read, fwrite, frewrite, fread, freread, mmap, async I/0 等不同的模式下的硬盘的性能。