电子元器件进厂检验规范汇编

电子元器件进厂检验规程
一、目的
确保关键元器件和材料满足本公司的需要和认证所规定的
要求。

二、范围
本规程适用于关键元器件和材料日常进货检验和定期确认
检验。

三、职责
1、技术部制定关键元器件和材料的采购要求和检验标准。

2、质检部负责关键元器件和材料的日常进货检验和定期确认
检验。

四、程序
1、关键元器件和材料的进货检验。

2、对购进的元器件和材料，仓库管理员核对送货单、确认名称、
规格、数量等无误、包装无损后置于待检区，并且填写送检
单通知检验员检验。

3、检验员根据《进货检验规范》进行验证或验收，并填写相应
的原材料入库质量检验记录表。

4、进货检验合格时，检验员通知仓库管理员办理入库手续，检
验不合格时，检验员在物料上贴不合格标签或放置不合格区
域，按不合格控制程序进行处理。

5、检验方式可包括测量、观察、工艺验证、提供合格证明文件
等方式。

进货检验员根据相应的检验规程采取相应的检验方
式。

五、关键元器件和材料的定期确认检验
1、对关键元器件和材料，质检部每年一次对其进行确认检验。

2、定期确认检验一般由供应商按本公司规定的检验项目和方
法进行，检验员只验证其检验报告。

3、检验员应保留关键元器件和材料的进货检验和定期确认检
验记录、供应商提供的合格证及质量证明资料等。

个人整理，仅供参考。

1、范围本标准规定了公司智能控制器的外协、外购件进厂的检验实施细则。

本细则适用于非本公司生产的所有元器件、零部件，其中包括如电子元器件类、线路板类、金属件类、塑料件类、弹簧类。

2、进厂通用检验程序2.1原材料进厂后按公司《统计抽样规定》抽取样本，检验样本，并保存检验记录，检验记录至少保存2个日历年。

2.2经检验或试验确认采购产品不能满足规定要求时，应判定为不合格品。

2.3所有数据的检测环境温度均应在23±3℃为最佳。

一般为17~28℃，相对湿度：45~70%RH2.4所有来料规格型号标识应与物料和订单相对应。

3外购物品检验标准3.1电阻器类（报检）3.1.1外观和工艺要求：外观完好，标识清晰；色环印刷应清晰，绝缘层或Ni/Cr薄膜无脱落;引脚光亮，无锈迹、可焊性好；包装完好，应有合格证明。

3.1.2电器性能要求：阻值、功率、精度等参数与标识相符；实际测量值应在允许偏差范围内±1%；引脚排列顺序、尺寸符合要求。

3.1.3检验方法首先按标识读出电阻的标称值，然后选择数字万用表或数字电桥电阻档的合适量程，对电阻进行检验。

色环电阻标识四色环金色代表允许偏差±5%，银色代表允许偏差±10%；五色环棕色代表允许偏差±1%。

电位器：旋柄转动应平滑、灵活；首先按数字标识读出电位器的标称值，然后选择数字万用表电阻档的合适的量程，测量电位器的1、3脚对电位器进行阻值检验。

用钟表专用小一字螺丝刀转动电位器的旋柄，检验旋柄转动是否平滑、灵活。

压敏电阻：绝缘电阻应为无穷大。

将指针万用表的量程开关拨至R×10KΩ或R×100KΩ测出压敏电阻的阻值，然后交换表笔再测量一次，若两次测得的阻值均为无穷大，则该压敏电阻合格，否则说明其漏电严重不可使用。

多脚排阻：首先按印刷标识读出电阻的标称值，然后选择数字万用表电阻档的合适的量程，对多脚阻排进行检验，阻排的第一脚与其他任意脚之间的阻值应与标称值相近误差范围在允许范围内。

电子元器件来料检验要求规范一、检验流程及要求：1.检验员应按照检验规程进行工作，保证检验流程的正确性和标准化。

2.对于每一个元器件批次，必须进行检验记录和保存，包括来料检验报告、检验数据记录等，以备随时查阅。

二、检验项目及要求：1.外观检验：-检查元器件外观是否完整，无明显破损、划痕等。

-检查元器件标识是否清晰，无模糊、歪斜等问题。

-检查元器件引脚是否正常，无变形或损坏。

2.尺寸和封装检验：-检查元器件尺寸是否符合标准规定。

-检查元器件封装是否完整，无明显变形或焊接不良。

3.引脚电性参数检验：-检查元器件引脚电性参数是否符合规范，如电压、电流、频率等。

-使用适当的测试仪器进行测试，并记录测试数据。

4.功能性能检验：-检查元器件的功能是否正常，如开关、放大、传输等特性。

-使用适当的测试仪器进行测试，并记录测试数据。

5.环境适应性检验：-检查元器件在不同温度、湿度等环境条件下是否能正常工作。

-使用适当的测试设备进行测试，并记录测试数据。

6.可靠性检验：-检查元器件的可靠性，包括耐压、耐久性等要求。

-使用适当的测试设备进行测试，并记录测试数据。

三、检验设备及环境要求：1.检验员应熟悉所用的检验设备，确保其可靠性和准确性。

2.检验设备和环境应处于良好状态，保证检验结果的可靠性。

3.检验设备应定期校验和维护，确保其工作正常。

四、来料检验文件要求：1.对每一批次的来料元器件，应填写并保存来料检验报告。

2.来料检验报告应包括如下内容：元器件型号、批次号、检验日期、检验结果等。

3.检验报告应妥善保存，并能随时提供给需要方查阅。

五、不合格品处理要求：1.对于不合格的元器件，检验员应立即报告相关负责人，并进行适当的记录和处理。

2.不合格品应加以标识，并妥善保存，以便在后续环节进行追踪和处理。

3.不合格品的处理应符合相关规范和制度，包括报废、退货、返修等等。

六、检验周期及频次：1.来料检验的周期和频次应根据元器件的重要性和质量稳定性要求来确定。

电器原件、材料（含关键元器件、材料)进厂检验规程1、总则本规程适用于本公司3C/CQC认证产品中采购的关键元器件和原材料入库前的进厂检验。

1。

1 范围本细则规定了低压电器元件、绝缘支撑件、铜、铝母排、外购壳体、低压无功补偿装置用0。

4kV 等级电容器、低压无功补偿装置用控制器、低压无功补偿装置用复合开关、高压/低压预装式变电站用10kV等级电力变压器、10kV等级高压开关柜用真空断路器，负荷开关或负荷开关-熔断器组合电器、冷轧钢板的进厂检验内容.使进厂电器元件(外购、外协）质量得到控制，杜绝不合格品进厂入库，流入装配车间。

1.2 引用标准GB/T14048。

1—2006《低压开关设备和控制设备第1部分总则》GB/T14048。

2-2008《低压开关设备和控制设备低压断路器》GB/T14048。

3-2002《低压开关设备和控制设备低压开关、隔离器、隔离开关及熔断器组合电器》GB/T14048.4—2003《低压开关设备和控制设备机电式接触器和电动机起动器》GB/T14048。

5—2008《低压开关设备和控制设备控制电路和开关元件第一部分机电式控制电路电器》GB5585。

2—2005 《电工用铜、铝及其合金母线第二部分：铜母线》JB8734.2—1998 《额定电压450—750V及以下聚氯乙烯绝缘电缆电线和软线第2部分:固定布线用电缆电线》GB5023.2-2008 《额定电压450∕750V及以下聚氯乙烯绝缘电缆第2部分：试验方法》GB13539.1-2002 《低压熔断器的基本要求》JB/T10316—2002 《低压成套开关设备和控制设备备用母线架》GB/T20641—2006 《低压成套开关设备和控制设备空壳体的一般要求》GB/T12747.1—2004《标称电压1KV及以下交流电力系统用自愈式并联电容器第1部分：总则—性能、试验和定额—安全要求—安装和运行导则》GB/T12747。

2-2004《标称电压1 kV 及以下交流电力系统用自愈式并联电容器第2部分:老化试验、自愈性试验和破坏试验》GB/T9663—1999 《低压无功功率自动补偿控制器》GB3804-2004 《3.6KV-40.5KV高压交流负荷开关》GB/T6451-2008 《油浸式电力变压器技术参数和要求》GB/T708—2008 《冷轧钢板和钢带的尺寸、外形重量及允许偏差》2 一般检验规则2.1 电器元件进厂应附有产品合格证、使用说明书及装箱单、对已发放生产许可证的电气元件合格证或铭牌上是否有产许可证号或标志，对计量仪器应有计量器具制造许可证标志“MC".2。

电子元器件进厂检验制度对于进购的电子元器件，按照20‰的比例进行抽检,各种具体的元器件按如下规章进行检验：一、电阻的检测1、固定电阻器的检测（1）将两表笔(不分正负)分别与电阻的两端引脚相接即可测出实际电阻值。

为了提高测量精度，应根据被测电阻标称值的大小来选择量程。

由于欧姆挡刻度的非线性关系，它的中间一段分度较为精细，因此应使指针指示值尽可能落到刻度的中段位置，即全刻度起始的20％～80％弧度范围内，以使测量更准确。

根据电阻误差等级不同。

读数与标称阻值之间分别允许有±5％、±10％或±20％的误差。

如不相符，超出误差范围，则说明该电阻值变值了。

（2）测试时，特别是在测几十kΩ以上阻值的电阻时，手不要触及表笔和电阻的导电部分；被检测的电阻从电路中焊下来，至少要焊开一个头，以免电路中的其他元件对测试产生影响，造成测量误差；色环电阻的阻值虽然能以色环标志来确定，但在使用时最好还是用万用表测试一下其实际阻值。

2、水泥电阻的检测。

检测水泥电阻的方法及注意事项与检测普通固定电阻完全相同。

3、熔断电阻器的检测。

在电路中，当熔断电阻器熔断开路后，可根据经验作出判断：若发现熔断电阻器表面发黑或烧焦，可断定是其负荷过重，通过它的电流超过额定值很多倍所致；如果其表面无任何痕迹而开路，则表明流过的电流刚好等于或稍大于其额定熔断值。

对于表面无任何痕迹的熔断电阻器好坏的判断，可借助万用表R×1挡来测量，为保证测量准确，应将熔断电阻器一端从电路上焊下。

若测得的阻值为无穷大，则说明此熔断电阻器已失效开路，若测得的阻值与标称值相差甚远，表明电阻变值，也不宜再使用。

在维修实践中发现，也有少数熔断电阻器在电路中被击穿短路的现象，检测时也应予以注意。

4、电位器的检测检查电位器时，首先要转动旋柄，看看旋柄转动是否平滑，开关是否灵活，开关通、断时“喀哒”声是否清脆，并听一听电位器内部接触点和电阻体摩擦的声音，如有“沙沙”声，说明质量不好。

电子元件进料检验规范
1 目的
对电子元件进行进料检验，确保其质量符合工艺要求和客户要求。

2 范围
用于电讯机箱产品各类电子元件。

3 检验规则
3.1 外观检查
3.1.1 电子元件表面光滑、色泽均匀，不得有裂纹、气泡、凹缩现象。

3.1.2 形状一致，不得有缺损、变形现象。

3.1.3 元件脚无松动、氧化现象。

3.1.4 极性标识清晰、一致。

3.2 尺寸检查
对有尺寸要求的电子元件用游标卡尺进行尺寸测量，应符合图纸的要求。

3.3 性能检查
将万用表调至相关档位，测试电子元件。

应无以下缺陷：极性反、击穿、沑漏电、参数超差、短路、开路。

4 因工程变更而需做相应要求的改变时，以最新工程图纸、样品为准。

5 相关记录
《IQC 检验报告》。

1范围电子元器件、器件和组件，在本规范中，均统称为电子元器件。

本规范主要针对汽车系统中所使用的电子元器件。

电子元器件的种类繁多。

就安装方式而言，目前可分为传统安装（又称通孔装即DIP）和表面安装两大类（即又称SMT或SMD）。

2目的确定了对设计、生产中所使用的电子元器件进行检验的一般方法和指导。

由于器件的种类繁多，应用目的不同，适用的试验方法上也有区别，具体可查阅相关标准。

3参考文件适合于微电子器件组件的试验检测标准：MIL-STD-883E 美国国防部-微电子器件试验方法标准试验、检测方法及标准适用于军用及宇航用的，单片、多片、厚膜薄膜混合微电路、微电路阵列，以及构成微电路和阵列的各类元器件。

对于恶劣环境下的应用，也可以参考本标准对所用器件进行试验和检测。

适合于汽车电子器件的试验标准：VW80101：2005 大众-汽车中的电气和电子组件通用试验条件。

GMW3172：2006 通用工程标准-汽车电子器件的环境、可靠性、及性能要求符合性分析、开发及验证总规范。

MES PW67600：1995 马自达工程标准-汽车器件试验标准。

主要检验标准有：GB/T 5729—94 《电子设备固定电阻器第一部分：总规范》；GB/T 2693-2001《电子设备用固定电容器第1部分：总规范》；GB/T 8554—1998 《变压器和电感器测量方法及试验程序》；GB/T 4023－1997《半导体器件分立器件和集成电路第2部分：整流二级管》；GB/T 6571－1995《半导体器件分立器件第3部分：信号（包括开关）和调整二级管》；GB/T 4587－94《半导体器件分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管》；GB/T 4586－94《半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管》；GB/T 15651.2－2003《半导体器件分立器件和集成电路第5-2部分：光电子器件基本额定值和特性》；GB/T15291－94《半导体器件第6部分晶闸管》；GB 3442－86《半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理》；GB/T 6798－1996《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》；GB/T 4377－1996《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》；GB 3439-82《半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理》；GB 3834-83《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》；GB/T14028-92《半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理》；GB 3443-82《半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理》；YD/T 731-2002《通信用高频开关整流器》；YD/T 1019-2001《数字通信用实心聚烯烃绝缘水平对绞电缆》；GJB128A-97《半导体分立器件试验方法》；GJB150－86《军用设备环境试验方法》；GJB 360A－96《电子及电气元件试验方法》；GJB 548A－96《微电子器件试验方法和程序》等。

完整word版)电子元器件检验标准目测、量测、比对、实物装配验证等。

三、差异检验项目差异检验项目清单中列出的部件，需按照规定的检验方法进行检验。

未列出的部件，按照通用检验项目执行。

四、不合格品处理4.1不合格品分类不合格品分为三类：重要不合格品、一般不合格品和提示不合格品。

4.2不合格品处理措施4.2.1重要不合格品重要不合格品指会影响产品的功能、可靠性、安全性的不合格品，必须全部退回或报废。

4.2.2一般不合格品一般不合格品指不会影响产品的功能、可靠性、安全性的不合格品，可由供应商改正后再次送检，或由本公司处理后再使用。

4.2.3提示不合格品提示不合格品指不符合技术规范或标准要求，但不影响产品的功能、可靠性、安全性的不合格品，可由供应商改正后再次送检，或在不影响产品质量的前提下使用。

改写：电子元器件来料检验标准文件编号：SW/QC-2015-2015-11-30A/0生效日期：2015年11月30日版本/版次：0页码/页数：第1页/共6页一、适用范围及检验方案1、适用范围本检验标准适用于PCBA上的贴片件或接插件。

具体下表清单列出了电子元器件的名称和序号。

2、检验方案2.1每批来料的抽检量（n）为5只，接收质量限（AQL）为：CR与MA=0，MI=（1，2）。

当来料少于5只时，则全检，且接收质量限CR、MA与MI=0.2.2来料检验项目=通用检验项目+差异检验项目。

差异检验项目清单中未列出的部件，按通用检验项目执行。

二、通用检验项目序号检验项目规格型号标准要求1 检查型号规格是否符合要求（送货单、实物、BOM表三者上的信息必须一致）2 包装检查包装是否符合要求（有防静电要求的必须有防静电袋/盒等包装，易碎易损的必须用专用包装或气泡棉包装等）3 外观外包装必须有清晰、准确的标识，明确标明产品名称、规格/型号、数量等。

或内有分包装则其上必须有型号与数量等标识。

4 贴片件盘料或带盘包装时，不应有少料、翻面、反向等。

电子行业电子元器件检验规范1. 引言电子行业的快速发展，使得电子元器件成为了现代产品中不可或缺的关键组成部分。

为确保产品的质量和稳定性，对电子元器件进行严格的检验是必不可少的。

本文档旨在规范电子元器件的检验过程，以确保产品的质量和性能符合相关标准和规定。

2. 检验前准备在进行电子元器件的检验之前，需要进行一些准备工作，以确保检验的有效性和准确性。

以下是准备工作的步骤：2.1 确定检验要求根据产品的设计要求和相关标准，确定电子元器件的检验要求。

包括但不限于元器件的功能、性能参数、外观等。

根据元器件的类型和检验要求，选择适合的检验方法。

常用的检验方法包括外观检查、功能性能测试、电学参数测试等。

2.3 准备检验设备和工具根据检验方法的要求，准备相应的检验设备和工具。

例如显微镜、万用表、测试仪器等。

根据元器件的数量和检验要求，制定详细的检验计划。

包括检验的时间安排、人员分配等。

3. 检验过程根据制定的检验计划，按照以下步骤进行电子元器件的检验：3.1 外观检查首先对电子元器件进行外观检查，包括外部尺寸、颜色、表面缺陷等。

确保元器件外观符合要求。

3.2 功能性能测试根据检验要求，对电子元器件进行功能性能测试。

例如通过应用特定的测试电路和工具，测试元器件的工作频率、电压范围、输出功率等。

3.3 电学参数测试对电子元器件的电学参数进行测试。

使用万用表、示波器等工具，测量元器件的电阻、电容、电感等参数，确保其符合要求。

3.4 可靠性测试根据产品的可靠性要求，对电子元器件进行可靠性测试。

例如高温、低温、湿度等环境下的测试，以验证元器件的稳定性和耐久性。

3.5 记录和分析结果对检验过程中得到的数据和结果进行记录和分析。

确保检验结果的准确性和可追溯性。

4. 不合格处理若发现电子元器件检验结果不符合要求，需要进行不合格处理。

以下是常用的不合格处理措施：4.1 进一步测试和分析对不合格的元器件进行进一步的测试和分析，以确定不合格的原因。

电子元器件通用检验规程1、目的为电子元器件检验提供规范以控制其质量。

2、适用范围本检验规范除特殊要求外，适用于所有电子元器件的检验。

3、质量特性的分类及定义3.1、质量特性分A、B、C三类：A类质量特性：即关键质量特性，若超过规定的特性值要求，会直接影响产品安全性或产品整体功能丧失的质量特性。

B类质量特性：即重要质量特性，若超过规定的特性值要求，会造成产品部分功能丧失的质量特性。

C类质量特性：即次要质量特性，若超过规定的特性值要求，暂不影响产品功能，但可能会引起产品功能逐渐丧失的质量特性。

4、批的组成与抽样原则以供应方交付批为一批，按抽样标准随机抽样，确保样本具有代表性。

A类关键质量特性：抽检，检验水平I，AQL=1.0%B类质量特性：抽检，检验水平II，AQL=1.5%5、检验内容与方法检验项目7、.不合格及不合格品的分类a)不合格的分类不合格分A、B、C三类，定义如下：A类不合格：单位产品的极重要的质量特性不符合规定，或单位产品的质量特性极严重不符合规定；本公司规定A类质量特性不符合规定为A类不合格。

B类不合格：单位产品的重要的质量特性不符合规定，或单位产品的质量特性严重不符合规定；本公司规定B类质量特性不符合规定为B类不合格。

C类不合格：单位产品的一般质量特性不符合规定，或单位产品的质量特性轻微不符合规定；本公司规定C类质量特性不符合规定为C类不合格。

b)不合格品的分类不合格品分A、B、C三类，定义如下：A类不合格品：有一个或一个以上A类不合格，也可能还有B类不合格和C类不合格的单位产品。

B类不合格品：有一个或一个以上B类不合格，也可能还有C类不合格，但没有A类不合格的单位产品。

C类不合格品：有一个或一个以上C类不合格，但没有A类不合格，也没有B类不合格的单位产品。

8、判定以上检验项目全部合格，则判该批为合格；若有一项不合格，则判该批为不合格。

9、注意事项a)包装、标志、运输、储存产品要求进行内包装，并用统一的瓦楞纸箱进行外包装，H型封箱，确保内装物不受损、不污染，符合长途运输包装要求。

电子元器件来料检验规范一、目的电子元器件的来料检验是为了确保所采购的电子元器件符合质量要求，以防止低质量元器件对生产和终端产品的影响，保障产品质量和客户满意度。

二、适用范围本规范适用于公司采购的所有电子元器件的来料检验。

三、检验内容1.外观检验- 检查元器件外壳是否完整、无破损；- 检查引脚是否正常，无弯曲或损坏；- 检查元器件表面是否有腐蚀、刮花等影响使用的情况。

2.尺寸检验- 根据元器件的规格书或图纸，检查元器件的尺寸是否符合要求；- 检查元器件与封装件是否匹配。

3.性能检验- 根据元器件性能要求，使用测试设备进行性能测试；- 检查元器件的电阻、电容、电感等参数是否符合要求。

4.功能检验- 根据元器件的功能要求，进行相应的功能测试；- 检查元器件在正常使用条件下是否能够正常工作。

四、检验方法1.抽样检验- 根据公司的抽样标准，进行抽样检验；- 抽样数量应符合统计学原理。

2.仪器设备- 使用符合国家标准的检验设备进行检验；- 定期对检验设备进行校验和维护，确保其准确性和可靠性。

五、检验记录和报告1.检验记录- 对每次来料检验进行详细记录，包括检验项目、结果和判定；- 检验记录应保存至少2年。

2.检验报告- 对不合格的元器件进行不合格品处理，并填写不合格报告；- 不合格报告应通知供应商，并要求其采取纠正措施。

六、责任和控制1.责任- 采购部门负责执行和监督来料检验工作；- 供应商负责提供符合质量要求的电子元器件。

2.控制- 定期审查和更新本规范；- 进行来料检验的人员必须经过培训，并具备相关能力。

七、附则本规范自颁布之日起施行，并作为公司来料检验的依据。

元器件进料检验规范一、目的：本文件规定了公司进货电子元器件入库前检验的依据及存储过程规范。

二、适用范围：适用于本公司电子元器件入库前产品的检验和存储过程。

三、检验规范：1.电阻类：1.1外观包装：a 按送检的卷、袋、根的按比例随机抽取检查，不足一卷、袋、根的按一卷、袋、根进行检查，若发现抽样检查数中的不合格，则判该批不合格。

表面字迹清晰，产品的名称、型号、规格、数量及生产厂家等标注明确并与要求相符，无破损，无划痕；每一批都应有清楚的质量标识。

b 色环电阻的色环颜色应清晰易于辨认，色环颜色与标称阻值相符，引脚无氧化、发黑。

c 贴片电阻的数字标注应正确，与标称阻值相符，引脚无氧化、发黑。

注：色环电阻识别方法见附表1.2功率值：功率值应与包装标称值及ERP要求相符。

1.3电阻值：按5件/批抽取，用万用表所测得的电阻值及公差应与包装标称值及采购要求相符。

1.4封装尺寸：按5件/批抽取，所测得的单体封装尺寸应与样品或采购要求相符，如0603封装、0805封装、脚间距、长度、高度等。

(具体封装尺寸见附表)2.电容类：1.1外观包装：a 按送检的卷、袋、根的按比例随机抽取检查，不足一卷、袋、根的按一卷、袋、根进行检查，若发现抽样检查数中的不合格，则判该批不合格。

表面字迹清晰，产品的名称、型号、规格、数量及生产厂家等标注明确并与要求相符，无破损，无划痕；每一批都应有清楚的质量标识。

b 电容表面印字清晰，容量标识与标称值，引脚无氧化、发黑，电解电容短引脚端的PVC 封膜上应有"-"标记，为电容负极，长引脚为正极。

1.2 材质：材质标识明确，并与ERP要求相符。

1.3 电容值：按5件/批抽取，用LCR所测得的电容值及公差应与包装标称值及采购要求相符。

1.4 耐电压值:按5件/批抽取，用可调电源所测得的耐电压值应与包装标称值及采购要求相符。

1.5 封装尺寸：按5件/批抽取，所测得的单体封装尺寸应与样品或采购要求相符，如0603封装、0805封装、脚间距、外径、高度等。