整机环境及可靠性试验测试要求
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返回编号用例名称测试条件测试步骤测试用例_预期结果样机数量备注测试结果Reliability_test_001载重测试(硬载重)普通手机:手机开机,整个正、反面施加70kgf的压力,承受2秒钟。
触摸屏手机:手机开机,整个正、反面施加70kgf的压力,承受2秒钟。
三防手机:手机开机,整个正、反面施加80kgf的压力,承受2秒钟1.测试前对产品初步检查确保他们有正常的电气和机械性能2.手机正面向上正常放置在水平测试钢台上,对手机整个正面施加规定的压力,停留两秒钟。
3.手机正面向下正常放置在水平测试钢台上,对手机整个背面施加规定的压力,停留两秒钟。
4.每完成一步对样机进行检查(检MMI),测试完成进行终检(检MMI、通话、外观……)参考 附录---机械可靠性测试前后检查用例3载重测试压块面积应与手机相当且压块与手机间应加垫1~2mm泡棉测试过程中手机不能关机,测试完成后手机机械电气功能正常(重点关注LCD性能)。
Reliability_test_002载重测试(软载重)普通手机/触摸屏手机开机状态下,整个正面施加70kgf的压力,承受2秒钟。
1.测试前对产品初步检查确保他们有正常的电气和机械性能2.普通手机/触摸屏手机开机状态下,整个正面施加70kgf的压力,承受2秒钟。
3.测试完成进行终检(检MMI、通话、外观……)参考 附录---机械可靠性测试前后检查用例3软载重测试压块面积应与手机相当或大于手机,且压块为硅橡胶压头(测试压头硅橡硬度应在肖氏70±5度)。
Reliability_test_003挤压测试(1)0.5kgf,挤压中心点,不允许出现水印(2)10kgf,金属棒压头(杆直径8mm,压头弧半径10mm),挤压如下位置,屏幕9个点,听筒位置,FPC位置,sensor位置,芯片上方各一次;4.5kgf,摄像头中心点;10kgf,2s,IC中心,IC两侧各5次(压头以10mm/min的速度施加力)翻盖机内屏不挤压1)试验前,对产品初步检查确保他们有正常的电气和机械性能;2)将产品固定在测试平台上,样品与测试平台之间需要放置3mm厚的防静电皮(静电皮的尺寸要大于产品的尺寸)。
整机测试方案1. 引言整机测试是在产品开发周期的最后阶段对整个系统进行综合性测试的过程。
通过整机测试,可以验证系统各个模块之间的功能和性能是否正常,以及系统在各种不同条件下的稳定性和可靠性。
本文档将详细介绍整机测试方案的目的、范围、测试环境、测试内容、测试方法和测试计划。
2. 目的整机测试的目的是验证产品在实际使用环境下的功能和性能是否符合设计要求,检测潜在的缺陷和问题,并加以修复,确保产品的质量和稳定性。
3. 范围整机测试覆盖整个产品的功能和性能。
测试包括但不限于以下方面:•功能测试:验证系统各个模块的功能是否正常,并与需求规格进行对比;•性能测试:测试系统在各种负荷下的响应时间、吞吐量、并发性能等指标;•兼容性测试:测试系统在不同操作系统、浏览器、硬件平台等环境下的兼容性;•安全测试:测试系统的安全性,包括对潜在安全威胁的检测和防护措施的验证;•可靠性测试:测试系统在长时间运行下的稳定性和可靠性;•用户体验测试:测试系统的交互界面是否友好、易用,并满足用户的期望。
4. 测试环境为了模拟真实的使用场景,整机测试需要搭建符合实际使用环境的测试环境。
测试环境应包括以下内容:•硬件环境:根据产品的要求,搭建相应的硬件平台,包括服务器、客户端设备等;•软件环境:安装和配置相应的操作系统、数据库、网络环境等;•测试工具:根据测试需要,选择合适的测试工具,如性能测试工具、安全测试工具、自动化测试工具等。
5. 测试内容根据产品的功能和性能要求,确定整机测试的具体内容。
测试内容应包括系统的各个模块及其交互过程,并与需求规格进行对比。
具体的测试内容可以根据产品的特点和实际情况进行调整,但一般应包括以下方面:•功能测试:验证系统的核心功能是否正常,包括输入验证、数据处理、业务逻辑等;•性能测试:测试系统在不同负荷下的性能指标,如响应时间、吞吐量、并发性能等;•兼容性测试:测试系统在不同操作系统、浏览器、硬件平台等环境下的兼容性;•安全测试:测试系统对于潜在安全威胁的检测和防护措施的验证;•可靠性测试:测试系统在长时间运行下的稳定性和可靠性;•用户体验测试:测试系统的交互界面是否友好、易用,并满足用户的期望。
文件制/修订记录1.目的本试验大纲规范远特公司前装市场车载影音产品在手工样件、DV、PV、SOP各阶段可靠性试验项目。
2. 适用范围本试验大纲覆盖各产品线验证各阶段可靠性试验项目,本试验大纲不仅仅适用12V系统产品,同样覆盖24V系统的产品。
3. 术语和定义整机可靠性:按GB3187-82《可靠性基本名词术语》定义可靠性:在规定的条件和规定的时间内,完成规定功能的能力。
4. 职责4.1中试工程实验组:负责本可靠性试验大纲正确性及覆盖率,执行试验发布试验报告,负责量产阶段可靠性试验失效分析。
负责外协实验室确定,并保证试验准确性。
4.2中试工程项目组: 负责PV样机可靠性验证试验准备、送样、协助DV阶段失效分析及主导PV阶段失效分析,负责发布PV及SOP阶段ECN。
4.3终端研发中心/T终端部:主导手工样件、DV阶段故障定位、分析解决并负责发布ECN。
4.4品质部:负责SOP阶段样机可靠性抽样送检,主导不合格品的纠正预防措施单及8D报告等品质管理工具实现品质归零。
4.5 项目经理:按产品开发计划,按时按量提供手工样件、DV、PV样件到中试部实验室。
5. 作业内容5.1 手工样件阶段:5.1.1项目经理提供手工样件到中试部实验室。
5.1.2 中试部实验组负责按如下附件进行试验:5.1.2.1主机厂长安手工样件可靠性试验大纲详见附件一。
5.1.2.2主机厂长安铃木手工样件可靠性试验大纲详见附件二。
5.1.2.3主机厂吉利手工样件可靠性试验大纲详见附件三。
5.1.2.4主机厂广汽手工样件可靠性试验大纲详见附件四。
5.1.2终端研发中心/T终端部主导本阶段故障定位、分析并解决,中试部项目组协助,中试部实验组负责验证,并发布试验报告。
5.1.3终端研发中心/T终端部负责发布本阶段ECN。
5.2 DV样件阶段:5.2.1项目经理提供DV样件到中试部实验室。
5.2.2 中试部实验组负责按如下附件进行试验:5.2.2.1主机厂长安DV样件可靠性试验大纲详见附件五。
验、淋水测试etc.*.可靠性试验项目包括:冲击测试、落下测试、附着力测试、盐雾测试、电源线拉力测试、寿命测试、短路测试、高压测试、漏电流测试、堵载测试、耐力老化测试etc.1. 高低温测试:1> 目的: 确保产品在不同的贮存条件下(环境气温变化),确保产品其性能符合使用要求.2> 工作环境温度测试: 整机组合分别在0℃和40℃的环境中放置1h以后依检测程序进行功能测试。
3> 储存环境温度测试: 将高低温测试仪调到规定之高温,取被测产品放入其内,2小时后取出,再将其放入规定的低温环境中2小时,如此反复测试6个周期(24小时),产品之性能不变,且能符合整机使用要求。
储存环境高低温度测试要求:成品机:高温+60℃低温:-5℃贴纸类:高温+80℃低温:-10℃其它:高温+60℃低温:-10℃4> 判定标准:测试后样本性能满足设计要求.5> 测试完成后填写<<高低温测试报告>>2. 震动测试(ISTA -1A:2001)1> 目的:模拟运输过程中产品受到震动后,产品质量是否满足客人要求。
2> 测试方法和标准:将产品包装后放置在测试台上,使外箱的前后左右四个面距测试台固定边的距离总和为25MM,参照下表选择相应的震动频率和测试时间,使成品纸箱底部面能瞬间离开测试台面,用一金属薄片能胜利间歇地通过,分别测试不同的三个面(如图1,2,5面,对面不算)。
3> 判定标准:测试完成后产品的外观、内构和性能应满足设计要求。
4> 实验(测试)完成后填写《测试报告》。
3. 跌落测试:1> 目的:防止搬运/运输过程中,产品的外观、功能等要求出现异常情形和验证产品的包装防护符合设计要求而对产品包装测试。
2> 跌落高度/重量标准:3> 跌落测试之产品参照相应之高度跌1角,3棱、6面.⑴跌落1点:包装箱最易碎的角.⑵跌落2点:最易碎裂的角辐射的短边.⑶跌落3点:最易碎裂的角辐射的次短边.⑷跌落4点:最易碎裂的角辐射的最长边.⑸跌落5点:临近跌落角最小面.⑹跌落6点:最小面对面.⑺跌落7点:包装箱中面.⑻跌落8点:中面对面.⑼跌落9点:临近跌落角的最大面.⑽跌落10点:最大面对面.4> 测试人员根据测试要求,随机抽取规定数量进行测试,检查包装箱外观和编好测试机序号.5> 根据不同包装箱毛重选定跌落高度并作标识.6> 测试人员按1角、3棱、6面作跌落动作(跌落时应垂直、自由下落).7> 判定标准:跌落测试后,外观/功能/内构等项目均符合产品设计要求.8> 实验(测试)完成后填写《跌落测试报告Drop Test Report》。
整机可靠性测试规范版本 2.02011-07-16拟订:郝福亮批准:汪乐辉版本修订状态版本状态日期修订人修订位置和原因1.0 2011-01-04 郝福亮原始版本2.0 2011-07-16 郝福亮修订导线摇摆测试标准一.环境适应性测试测试目的:模拟实际工作环境对产品进行性能测试测试数量:直板机10PCS 翻/滑盖 12PCS测试流程:1.1.低温存储(Fuctional Test)◆测试环境:-40度◆手机数量及状态:5台(翻翻盖/滑盖 6台)◆测试目的:低温应用性功能测试◆试验方法:不装电池将手机放入温度实验箱内的架子上。
按平均值不大于1℃/min的变化速度逐步降温到-40℃,温度稳定后持续48小时,取出并放置2小时恢复至常温。
然后进行结构功能和电性能检查。
对于翻盖手机应将一半样品合上翻盖,一半样品打开翻盖;对于滑盖手机应将一半样品滑开到上限位置(盒盖为3PCS,开盖为3PCS,后续环境实验样品数相同)试验标准:手机的射频性能指标满足要求,所有功能正常(包括按键/侧键手感、滑/翻盖手感、触摸屏手机需检查触摸功能、带TV功能手机检查TV视频播放功能),外壳无变形;实验前/后确认按键导光效果、LCM显示效果等是否有变异。
注:若手机RF测试头不外露,则不进行RF点测试,更改为测试天线耦合性能1.2低温工作◆测试环境:-15℃◆手机数量及状态:5台(翻/滑盖6台)先关机再开机◆测试目的:低温应用性能测试◆试验方法:将手机电池充满电,插入SIM卡及T卡,手机处于关机状态,放入温度实验箱内的架子上,按平均值不大于1℃/min的变化速度逐步降温到-15度,温度稳定后手机开始开机工作。
在此环境下前3个小时,每1小时进行与外部手机进行通话测试,每次通话5分钟(双卡手机需要测试移动、联通两种卡不同组合状态的通话:移动+移动;联通+移动;联通+联通;开卡1锁卡2,开卡2锁卡1.PVT 后只做移动+联通(双开)最后一个小时进行电性能参数和功能检查(包括手机按键/侧键手感,电池盖拉拔力,滑/翻盖手感,长时间摄像,触摸屏手机还需要测试触摸功能是否正常、带TV功能手机检查TV视频播放功能)。
行业平板电脑靠谱性测试规范文件版本:文件编号:拟订部门:测试部拟订日期:制定日期审查日期同意日期机密等级 :█一般□机密□极机密文件订正记录版本总页数页次订正内容与原因订正人刊行日期17第一版刊行马才旺一、测试目的:经过确实有效的考证,确认产品在研发、物料或制造上,能否有潜伏靠谱性缺失,保证产品在运输、储藏及使用等过程中,切合客户所需的靠谱度要求。
二、合用范围:合用于全部深圳市汉普电子技术开发有限企业研发和生产的行业平板电脑。
三、参照标准:YD/T 1539-2006:挪动通讯手持机靠谱性技术要乞降测试方法;GB/T:电子电工产品环境试验标准;GB/T 9286 :色漆和清漆、漆膜的划格试验;GB 4208-2008:外壳防备等级( IP 代码);GB/T:包装运输包装件试验标准。
四、定义:1、严重缺点 (critical defect): 对用户,维修或依靠该产品的个人,有发生危险或不安全结果之弊端;2、主要缺点 (major defect): 指严重缺点之外的缺点,其结果也许会致使故障,或实质上降低产品单位的使用性能,致使不可以达成希望的目标;3、次要缺点 (minor defect): 指产品之使用性,实质上不致降低其希望目的的缺点,或虽与已设定的标准有所差别,但在产品单位之使用与操作功效上,并没有多大影响。
五、测试机台与时程:1、新产品研发各阶段,生管或RD 应最少供给 20 台测试样机;2、测试时间为日历天15 个工作日;3、各单项测试后出具测试报告,全部项目达成后3 个工作日内整理出最后测试报告。
六、样机编码规则:1、样机编码规则以「公元末 2 码+ 日期 + 流水号」之规则编码,如:091006-001;2、异样代码之编码原则以「机种+ 流水号」之规则编码,如:PA02-001。
七、测试前的样机记录:1、收到测试样机时,需确认外观、系统功能全检保证实验前测试样机优秀,并填写「外观系统功能全检表」;2、拿到样机后,需于样机管束流程卡填写管束编号「样机管束流程卡」若有改换零件也需填写表格,做纪录;3、样机标示卡贴于样机右上角,须与该样机管束流程卡同样,如标示卡地点影响到实验样机时,得以撕除贴纸并于实验前复制一张,于实验达成后再将序号贴上,后续会依此机台编号做登记并追踪纪录;4、履行测试前,确认每项实验项目履行情况及进度;5、测试中如遇测试异样时需填写「异样清单汇整表」,以利机台异样追踪;6、测试达成后出具靠谱性测试报告;7、达成全部靠谱性测试项目后供给完好靠谱性计划测试总表。
电子产品环境试验方法标准一、引言随着科技的不断发展和人们对电子产品的需求增加,电子产品的市场竞争越来越激烈。
为了确保电子产品在各种环境条件下的可靠性、稳定性和耐久性,制定了一系列的环境试验方法标准。
这些标准旨在帮助企业确保产品符合相关质量要求,提高产品的性能和可靠性,满足用户对产品质量的期望。
二、试验对象本标准适用于各类电子产品,包括但不限于计算机、手机、电视、音频设备等。
这些产品经常面临各种环境条件,例如高温、低温、湿度、震动等,因此需要经过相应的环境试验方法来测试其性能和可靠性。
三、试验方法1. 高温试验高温试验旨在测试电子产品在高温环境下的耐热性能。
试验方法包括置于高温箱中暴露一定时间或采用热风循环系统进行连续高温暴露。
试验温度根据产品的使用环境和要求进行设定,通常为50°C至80°C。
2. 低温试验低温试验用于测试电子产品在低温环境下的耐寒性能。
试验方法可以采用冷冻箱或制冷系统进行,试验温度一般在-10°C至-40°C之间。
试验过程中要注意温度的稳定性和变化速率,以模拟真实使用环境中的低温情况。
3. 湿热试验湿热试验用于测试电子产品在高温高湿环境下的耐湿性能。
常用的试验方法为恒温湿度试验和循环湿度试验。
恒温湿度试验要求将产品置于恒定的高温高湿环境中暴露一段时间,而循环湿度试验则要求在一段时间内周期性地变化温度和湿度。
4. 振动试验振动试验用于测试电子产品在运输或正常使用中所受到的振动环境下的性能和可靠性。
试验方法一般包括正弦振动和随机振动两种,振动频率和加速度可根据产品自身特点进行设定。
5. 冲击试验冲击试验用于测试电子产品在运输或使用过程中所遭受的冲击环境下的耐冲击能力。
试验方法一般包括半正弦冲击、弹簧冲击和自由落体冲击等,试验参数可根据产品的特性进行调整。
6. 盐雾试验盐雾试验用于测试电子产品在腐蚀性环境中的耐腐蚀性能,常用于测试外壳、金属部件等材料的防腐性能。
整机测试检验要求1、装配要求1.1要求各孔位安装无移位、干涉、抵触现象;1.2要求各卡、槽能正常安装,无干涉、抵触现象;同时检查扩展卡与预留开口是否匹配,压条支架固定是否有效。
1.3要求机箱内部各耦合件之间的安装无干涉、抵触现象;1.4需更换部件应能方便拆卸、更换;1.5用螺丝刀检查箱体内使用螺丝,要求带有磁性,便于安装;1.6装配后主板下表面器件与箱体之间的距离不得小于3.0mm;以此保证主板下表面器件不得与箱体之间有接触。
保证不造成主板短路。
2、外观检验要求2.1检查丝印标识:主要包括一些括I/O接口(USB、LAN、PS/2 KB&MS、VGA、DVI、TV、GPIO、AUDIO、LPT等接口)、接地点、电源开关、RESET、特殊功能键(报警复位键、一键还原)等;必须有相应的丝印标识;丝印标识位置规范。
检查多串口、网口丝印顺序对应是否正确(开机测试)。
采用直流供电的整机,其电源接口必须有“+”,“-”极标识2.2机箱尺寸须符合GB/T 3047.8-1996的规定;2.3安规检查:机箱边缘棱、角等部位是否倒角。
可借助塞规检查产品IP防护等级是否符合产品策划书要求。
2.4指示灯: 检查整机(机箱)指示灯摆放位置、颜色(需要开机); 统一电源指示灯为红色,硬盘指示灯为绿色。
若是平头LED灯,与面板外平面齐;半球形LED灯:直径3mm的灯凸出表面≤1mm;直径5mm的灯凸出表面≤2mm.(主要针对没有灯套的对于使用灯套的指示灯不作要求)2.5螺丝:机箱表面一般使用沉头螺钉。
沉头螺钉不得凸起,但允许稍低于零件表面。
优先选择颜色与机箱颜色较接近的螺钉。
2.6用游标卡尺检测光驱突出或凹入箱体不得超过0.5mm;用塞规测试光驱(或软驱)与箱体的单边缝隙(≤0.5mm)。
2.7检查产品外观是否有刮痕等不良,喷涂是否均匀和符合EMC规范要求2.8面板上带有RESET 按钮须内嵌,不能突出面板,手不能按到RESET按钮,只能借用其他工具才能复位。
深圳卓普通讯设备有限公司手机整机可靠性测试标准编制:徐海审核:陈善根批准:李建军文件编号: WI-QA-001发布日期:2012.6.27文件信息1. 部门审批/日期:2. 修订记录文件发放目录0.短语和参考文献 (5)0.1缩略语 (5)0.2术语和定义 (5)0.3参考文献 (5)1.目的 (6)2.编制依据 (6)3.适用范围 (6)4.术语,定义 (6)5.职责描述 (6)6.可靠性测试(ART)标准 (7)6.1加速寿命测试(Accelerated Life Test) (7)6.1.1室温下功能测试(Functional Test) (7)6.1.2跌落测试(Drop Test) (7)6.1.3温度冲击测试(Thermal Shock) (7)6.1.4湿热测试(Humidity Test) (7)6.1.5振动测试(Vibration Test) (8)6.1.6静电测试(ESD Test) (8)6.2气候适应性测试(Climatic Stress Test) (9)6.2.1室温下参数测试(Parametric Test) (9)6.2.2高温/低温工作测试(Parametric Test) (9)6.2.3湿热测试(Parametric Test)............................................................... 错误!未定义书签。
6.2.4高温/低温存储功能测试(Functional Test) (9)6.2.5灰尘测试(Dust Test) (10)6.2.6盐雾测试(Salt Fog Test) (10)6.3结构耐久测试(Mechanical Endurance Test) (10)6.3.1侧键测试(Side Key Test) (10)6.3.2充电器插拔测试(Charger Test) (10)6.3.3电池/电池盖拆装测试(Battery/Battery Cover Test) (11)6.3.4耳机插拔测试(Headset Test) (11)6.3.5SD卡/SIM卡插拔测试(SD Card Test) (11)6.3.6水滴实验(针对电容屏) (12)6.3.7喇叭寿命测试(Speaker life test) (12)6.3.8马达寿命测试(Vibration durability test) (12)6.4表面装饰测试(Decorative Surface Test) (12)6.4.1外壳表面处理测试 (12)6.4.2TP表面硬度测试(TP Hardness Test) (14)6.4.3钢球冲击测试(Ball Drop Test) (14)6.5特殊条件测试(Special Stress Test) (15)6.5.1扭曲测试(Twist Test) (15)6.5.2软压测试(Press Test) (15)6.5.3 硬压测试 (15)6.5.4 循环跌落测试(Micro-drop Test) (16)6.5.5滚筒跌落测试(Free Fall Test) (16)6.6其他测试(Other Test) (16)6.6.1螺母测试(Nut Test) (16)6.6.2I/O接口试验 (16)6.6.3耳机插口强力插入测试(Earphone Connector Evaluation Test) (17)6.6.4保护盖(耳机塞、I/O接口塞、RF塞、螺丝塞等)测试 (17)6.6.5TP/LENS 测试(TP/Lens Test) (18)6.6.6 水煮试验 (18)7.最终检验 (19)0.短语和参考文献0.1缩略语无0.2术语和定义ART:Accelerated Reliability Test(可靠性实验)0.3参考文献1.目的评估产品的质量和可靠性。
客户:QMOBILE 送测日期8.12产品型号F2数量20颜色项目工程接收人严春梅检查结果测试项目备注送检前检测振动/ESD测试自由跌落 /高温储存/低温储存/软压测试横压1000次有1台破屏RCA /铅笔硬度/沙尘测试 盐雾测试/插拔测试//摇摆测试//划线测试//百格测试按键,电池盖面测试/ 按键寿命/微跌测试/ 滚筒测试/酒精耐磨/钢球冲击/马达老化/ 喇叭老化/摄像头老化/ 听筒老化/ 麦克老化/手电筒/放电/充电/ I/O插拔/通话测试/开关机压力/深圳市天誉源科技有限公司SHENZHEN T-SOURCE TELECOM DEVELOPMENT CO,LTD整机可靠性测试报告表单编号:TYY-QR-QAD-02黑NG实验类别:□ PR1 □ PR2 □ MP1 □ MP2 □ 正常量产 □ 其他实验条件及要求不良简述按整机成品检验标准1H振动频率:5-500Hz,ASD(加速度谱密度):0.96㎡/S3,振动方向:X Y Z/接触式放电 : ±2KV, ±4KV、±6KV.放电时,接触被测试点表面进行放电,频率10次/点/等级。
空气放电:±4KV, ±6KV、±8KV, 放电时,接触被测试点表面距离4CM进行放电,频率10次/点/等级.接触式放电4PCS:正负4KV:OK.正负6KV:OK 空气式放电4PCS:正负8KV:OK手机处于开机状态 ,从1米(注:屏尺寸≤2.8跌落1.2M,2.8<屏尺寸≤3.5跌落1M,3.5<屏尺寸≤5.0,跌落0.8M,5.0<屏尺寸≤7.0,跌0.6M,7.0<屏尺寸,跌0.3M)B.跌落顺序依次为:顶部、底部、左侧、右侧、正面、背面跌落高度1.0M 75±2℃ 湿度:90%;放置48小时,取出后常温放置2H / -30±3℃ 放置48小时,取出后常温放置2H /250N力,测试2000次,每分钟15-30次;将样品固定在RCA试验机上,进行同一位置施加175g的力连续摩擦./2H铅笔.250G的力镜片区域测试骨石粉颗粒大小300目(约46微米)沙尘流量:9M/S,测试时间100分钟沙尘测试4PCS:进灰2PCS.1键无功1PCS.4.7.9.*键无功1PCS.开机键无功1PCS 箱内温度35度压力桶温度47度.药水浓度5%。