基于SV语言的RFID标签芯片数字系统验证平台设计

  • 格式:pdf
  • 大小:920.80 KB
  • 文档页数:6

面 的 RTL级 功 能验 证 ,有效 地解 决 了传 统 验证 方法 难 以保 证标 签芯 片数 字系 统验 证充 分性 和效率 低下
3 数 字系统 的验证平 台设计
的问题
图 2为标签芯片数字基带系统的验证平台整体
2 功能验证与 System Vet i l og语 言 架构 图 ,平 台共 分五 层 :测 试层 、场景 层 、功能 层 、指
(code coverage)两类 。只有当芯片设计 的全部功能
随 着芯 片设 计规 模 的不断 加大 和半导 体技 术 的 不 断更 新 ,使得 功能 验证越 来 越难 ,其重 要性 也逐 渐 提 高 。 目前 一个 复杂 的系 统芯 片功 能验证 工作 时 间 约 占整 个 设 计 工 作 时 间 的 70~80%E”。 由于 超 高 频 RFID标 签 芯 片数 字 基 带 系统 其 集 成模 块 较 多且 模 块 的功 能复 杂 ,验证工 作将 成为 标签 芯片设 计 中的 一 个重要环节 。由于传统的验证方法需要工程师编 写大 量 的定 向激励 ,且 通过 人为 的方 法对波 形进 行 观测 检 查 ,导 致 验证 效 率低 下 。故 本 文 采 用 基 于 System Verilog语 言搭 建 了一种新的标签芯片数 字 系统功能验证平 台,完成 了对标签芯片数字系统全
令层和信号层 。每层的界限分明、互不影响 ,可以灵
层次化验证平台,该平 台融合 了覆盖率 、随机测试、断言等验证技 术,支持单条命令 、随机 的和特定的命
令流激励数字系统。验证结果表明本文设计 的验证平台具有 良好的可重用性,能保证 RTL级功能验证的
正确性和全面性 ,可将 系统输 出的结果还原成数据事务以便检查验证结果。整个验证过程 几乎 自动完
基金项 目:国家 自然科 学基金 资助项 目(61 301 096) 1n r酋笆,n,苴日、■嘲圈困 ●
h什n.,^^,、M^,o.iemmn nm
l… H巾国 集成 电 路
■ — _ C hina Inte grated C ircuit


1 ’

1 引言
分 为 功 能 覆 盖 率 (function coverage)和 代 码 覆 盖 率
HUANG Feng——ying
(Xiamen University Tan Kah Kee College,Zhangzhou 363105,China)
Abstract:This paper proposes a layered testbench of digital system for UHF RFID tag IC based on SV language.The testbench adopts coverage,random testing,and assertions verif ication techniques.It supports a single command,ran— dom and specif ic command f low to stimulate the tag digita l system. The verif ication results show that the testbench of this paper is reusability,and can ensure the correctness and the c0mprehensiVeness of RTL function verif ication,and can turn the output of system into data transaction convenient in the checking of the verification results.And the veri— fication process almost automatically completes.It greatly improves the efficiency and quality of verif ication. K ey words:RFID;Digital System;Testbench;System Verilog
成 ,大大地提 高 了验证 效 率和质 量 。
关键 词 :射 频识 别 ;数 字 系统 ;验证 平 台;Sy号 :TN4 32
文献标 识码 :A
Design of Digital System Testbench for RFID Tag IC Based on SV Language
设 计
巾 国 集 成 电 路
China Integrated C ircuit
基于 SV Ill言的 R F I D标签芯片数字系统验证平台设计
黄凤英 (厦 门大学嘉庚 学院,福建 漳 州,36 31 05)
摘 要 :本文 提 出了一种 基 于 sV(System Veri log)语 言 的超 高频射 频识 别 (RFID)标 签 芯 片数 字 系统 的
和代 码 都 被覆 盖 到 时 ,即覆 盖率 达 到 100%或尽 可 能接 近 100%才能 确保 成功 。本 文 通过分 析覆 盖率 指标 来判 断设 计是 否达 标 。
System Verilog是 随 着 技 术 不 断 发 展 和 市 场 需 求而 新兴 的一 种硬 件描 述 和验证 语言 ,它 不仅 改进 了 Verilog代码的生产率 、可读性以及可重用性 ,提 升 了硬 件设 计 和验证 的整体效 率 ,还为覆 盖 驱动 的 验 证 、基 于断言 的验 证 、被控 的测试 平 台开发 以及 随 机约束的测试平台开发提供 了广泛的支持 『5-7J。因 此 ,本 文 采用 了 System Verilog语 言验 证 超 高频 RFID数字 系 统 的功能 。