卡尺内校说明
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SOP-QR-104三阶文件生效日期2012.06.19 编号SOP-QR-104版本/次A/1卡尺内校作业指导书编制人曲海涛审核人邱丰批准人张述强日期2012.06.19 日期2012.06.19 日期2012.06.19文件修改记录文件编号修改版本修改页数修改内容描述修改人批准人生效日期A0 首次发行2012.06.19卡尺内校作业指导书版本/次A/11. 目的1.1 确保校准结果的结果的准确性,使校准作业规范化。
2. 范围2.1 本标准适用于本公司现有各种类型之卡尺,包括高度尺、游标卡尺、戴表卡尺、电子数显卡尺。
3. 职责3.1 卡尺保管人:负责所属卡尺维护和保养。
3.2 品保部:卡尺专用量块的维护和保养。
3.3校验人:卡尺内校结果的记录和校验标识标签的确认。
4. 作业内容说明:4.1 卡尺结构:4.1.1游标卡尺结构如下图所示。
4.1.2 电子数显卡尺结果如下图所示。
4.1.3 戴表卡尺结构如下图所示。
卡尺内校作业指导书版本/次A/14.2 校验/检定条件:4.2.1 室内温度:25±3℃4.2.2 相对温度:65±15%4.3 校验/检定用主要标准器具:成都产二级量块.4.4外观检查4.4.1 检查方法:目检与试验;4.4.2 卡尺表面应无锈蚀,碰伤或其它缺陷,刻度和数字应清晰、均匀;4.4.3 尺框沿尺身移动应平稳,不应有阻滞及明显晃动现象,紧固螺丝的作用可靠。
4.5显示值校验/检定4.5.1所卡尺校正外卡任意选五个点校正,第五点须是该卡尺的最大量程范围,所卡尺校正内卡任意选三个点校正,第三点须是该卡尺的最大量程范围. 所卡尺校正深度,任意选四个点校正,第四点须是该卡尺深度的最大量程范围。
所有卡尺必须校正并须校正卡尺的外卡,内卡,深度。
4.5.2 误差:4.5.2.1 所有游标卡尺、带表卡尺在100mm以内(含100mm)受检误差为±0.02mm,受检点在100mm以上误差为±0.02mm;4.5.2.2 数显卡尺100mm以内(含100mm)受检误差为±0.02mm,受检点在100mm以上误差为±0.02mm。
通用卡尺内校标准1.目的:通过对卡尺规定其校正方法和周期,确保装置的监视和测量结果准确有效。
2.范围:适用于本厂所用来测量产品的通用卡尺。
3.职责:实验中心负责对卡尺的内部校准。
4.要求:4.1校正环境:温度20±5℃,湿度≤60%RH4.2校正时机:依校准计划(1年1次)或《监视与测试装置管理程序》中规定内容执行校正;4.3校正引用参考文件:JJG 30-2002(国家通用卡尺检定规程)4.44.5校正步骤4.5.1校正前:用防锈油除去卡尺上的锈并清洁油污及灰层。
4.5.2校正中:标准件校验法。
4.5.2.1校验标准工具:经国家级或国家认可的实验室校验合格的标准件卡尺专用量块。
4.5.2.2校正项目步骤:1)外观:a) a.仔细观察卡尺,卡尺表面应镀层均匀,标尺标记应清晰,表蒙透明清洁。
不应有锈蚀,碰伤,毛刺,镀层脱落及明显划痕,有无目力可见的断线或粗细不匀等以及影响外观质量的其它缺陷;b.使用中和修理后的卡尺,允许有不影响使用准确度的外观缺陷;c.检定结果以合格与不合格记录于《通用卡尺内校记录表》上。
2)各部位相互配合:a)a.尺框沿尺身移动应手感平稳,不应有阻滞或松动现象。
数字显示应清晰,完整,无黑斑和闪跳现象。
各按钮功能稳定,工作可靠;b. 紧固螺钉的作用应可靠。
微动装置的空程应不超过1/2转;c. 检定结果以合格与不合格记录于《通用卡尺内校记录表》上。
3)示值变动性:a.移动尺框,使游标卡尺或带表卡尺或电子数显卡尺量爪两外测量而接触;b.重复测量10次并读数;c.示值变动性以最大与最小读数的差值确定;d.带表卡尺和游标卡尺不超过分辨率的1/2,电子数显卡尺不超过0.01mm;e.检定结果以合格与不合格记录于《通用卡尺内校记录表》上。
4)数字显示器的示值稳定性:a.在测量范围内的任意位置紧固尺框,观察1h内显示值的变化不超过0.01mm;b.检定结果以合格与不合格记录于《通用卡尺内校记录表》上。
1目的:对游标卡尺进行内部校准,确保其准确度和适用性保持完好。
2范围:适用于普通游标卡尺及带表游标卡尺的内部核准。
3校验基准:外校合格的量块。
4环境条件:室温5校验步骤5.1检查卡尺测量接触面是否平整、干净、无污渍、锈迹,带表卡尺表头的指针是否完好,有无松动,刻度是否清晰,推动表头是否平稳、平滑。
5.2调校零位,或使指针对准零点。
5.3取2~3块任意基准量块进行度量,量块被测面要干净、平整。
每块连续测量三次,每次测量值均应在允许误差范围内,将其平均值记录在《检测设备校验记录表》内。
允许误差范围根据不同卡尺的精度分为±0.01mm、±0.02mm。
5.4测内径接触面磨损程度:取两块量块(构成测量的基准面)夹紧一块量块成“H”型,然后移动表头,使卡尺上面的测量端张开后靠紧两基准面进行读数,每块测量三次,取平均值。
测量值与标准值根据不同卡尺的精度分为±0.01mm、±0.02mm,将其平均值记录在《检测设备校验记录表》中。
5.5可根据不同量程的卡尺选用不同的基准量块或组合进行校准;5.6历次测量值与标准值之差,均在允许误差范围内,判校准合格;6校准周期:每年一次7相关记录《检测设备校验记录表》1目的:对千分尺进行内部校准,确保其准确度和适用性保持完好。
:适用于千分尺的内部校准。
3校验基准:外校合格的标准量块。
4环境条件:室温2范围5校验步骤5.1检查千分尺测量接触面是否平整、干净、无污渍、锈迹,刻度是否清晰。
5.2扭动千分尺螺栓调校零位,使刻度对准零点。
5.3根据不同量程的千分尺选择适宜的标准量块3~4块,(可对标准量块进行组合测量)。
每块量块连续测量三次,每次测量值均应在允许误差范围内,将其平均值记录在《检测设备校验记录表》内。
允许误差范围为±0.01mm。
5.4外径千分尺的校验:任意取5-6块标准量块,取两块量块(构成测量的基准面)夹紧一块量块成“H”型,扭动螺栓使外径千分尺的测量端张开后靠紧两基准面进行读数,每块测量三次,每次测量值均应在允许误差范围内。
卡尺内部校准作业指引本指引适用于公司内所有内部校准的线卡、表卡及数显卡尺。
1标准仪器:精密量块/已外校合格千分尺2校准环境: T=(20±5)℃ R.H=(50±25)%3校准项目: 游标卡尺测量长度之准确度。
4允许误差(单位/mm):5校准方法:5.1卡尺表面应镀层均匀、标尺标记应清晰,透明清洁。
不应有锈蚀、碰伤、毛刺、镀层脱落及明显划痕,无可见的断线或粗细不匀等以及影响外观质量的其他缺陷。
5.2使用中和修理后的卡尺,允许有不影响使用准确度的外观缺陷。
5.3尺框沿尺身移动应手感平稳,不应有阻滞或松动现象。
数字显示应清晰、完整,无黑斑和闪跳现象。
各按钮功能稳定、工作可靠。
5.4将游标卡尺外侧爪密合,将卡尺朝向光源,两爪间不得有光线透过,内测量爪间有微光透出。
5.5检视针盘或显示器的器视值是否归零,如未归零应予以调整归零,并再重复前一动作检视是否有误差。
5.6针盘式游标卡尺,指针归零前误差如超出10格以上表示该卡尺已失效,应予以标识暂停使用并送修。
5.7清洁工作台,将待校件及量块用无水酒清清洁后放置于平台上一小时,使之同温。
选取五块量块(量程段应分布均匀)来校验游标卡尺,每点校验两次,取其平均值进行记录,内量爪可用经校验合格的千分尺来校验。
5.8以上校准合格,贴上校准合格标签,并填写校准记录,如校准不合格,贴上停止使用标签并及时送修,在送修后应重新校准。
送修及校正记录应保存于该卡尺的履历表中。
6校准周期:该校准周期为3-6个月(具体周期依实际情况定)。
三阶文件生效日期2012.04.15 编号SOP-QR-122版本/次A/0
卡尺内校作业指导书
编制人黄民国审核人批准人
日期2012.04.15日期日期
文件修改记录
文件编号修改版本修改页数修改内容描述修改人批准人生效日期SOP-QR-122A0 / 首次发行/
XRF检测样品拆分原则版本/次A\0
1.0目的:
保证计量仪器的有效使用,确保产品实现过程的质量。
2.0适用范围;
本公司所有卡尺。
3.0职责:
品管部计量管理人员负责计量仪器的校准工作。
相关使用部门配合计量管理人员进行校准工作。
4.0校准方法:
4.1校准项目及要求﹕
量块(外校有效期内)被检卡尺
4.2校准条件与设备
4 .2.1校准条件
环境温度:15~25℃范围内,温度波动不超过±3℃/6h﹔湿度:不大于75%RH﹔. 4.3校准过程
4.3.1外观﹕采用目视观测。
4.3.1.1目测外部是否有弯曲变形。
4.3.1.2检验卡尺游尺与本尺之间是否畅顺
4.3.1.3 归零后检查卡尺内外量量爪测量面是否完全密合
4.3.1.4 检查带表卡尺表针运行是否平稳、顺畅
4.3.1.5 检查数显卡尺显示是否清晰
4.4基本误差校准
4.4.1选取合适的标准量块分用被检卡尺测试量,记录测量结果。
4.4.2 选取10mm量块用深度尺测量并记录测量结果
4.5. 测量结果判定
4.5.1依下表判断测量结果.
卡尺内型允许误差
游标卡尺±0.06 深度±0.02
带表卡尺±0.04
数显卡尺±0.04
XRF检测样品拆分原则版本/次A\0
4.5.2判断合格则贴合格标签,不合格时依具体情况暂停使用或降级使用。
5.0校准记录
《仪器校验记录表》。