光谱响应IPCE测试系统彩页

元 件
□ 宽光谱范围全自动光谱扫描
□ 系统由激发光源部分、样品室部分、分光部分、探测部分、信号采集处理部分、软件部分组成
□ 采用了高通光效率、低杂散光水平的单色仪和优化的光路
光
□ 采用锁相放大器进行信号的处理，大大的提高了系统的信噪比
电
□ 系统经过多年技术积累和客户的成功使用经验，具有很高的可靠性
探
785nm 等
□薄膜厚度测量，厚度范围：10nm-50um，1nm 分辨率
光
□采用氘灯溴钨灯复合光源
学
□自动装载、卸载、定位，每 25 片一包
平
台
光 学 元 件
六、LE-SP-SR 光电探测器光谱响应度测量系统 Spectral Response Measurement System
光
应用范围
电
□本系统专门用于测试光电探测器及各种光电转换材料和器件的光谱响应曲线。针对太阳能电池领域，可以测试太阳能电池的
器
□宽光谱范围，覆盖了紫外可见和红外
□结构设计紧凑，高分辨率
主要规格
光
□光谱范围：200-1100nm（Up to 2200nm 可选）
机
□采用低噪声线阵 CCD，2048 象素
产 品
□适合晶圆尺寸：2 英寸、4 英寸、6 英寸、8 英寸
□多种激光波长可选：266nm、325nm、375nm、405nm、532nm、658nm、
测
□ 采用模块化设计，使用灵活，便于功能扩展和升级
弱
&
□ 可实现样品原位测量
信
□ 可升级做显微的 PL 光谱测试
号
处
□ 可升级做 EL 电致发光测量
理
□ 可升级做电场调制光谱

◎
一般效率最高的部分都是落在PN接面的波段，因PN接面内部电场可有效率的拆 解吸收光子后的电子-电洞对，效率最高500 nm~800 nm波段，反应的是PN接面 层的特性。800 nm~1100 nm波段穿透到最下层的P层，光谱随波长增加而快速递 减的原因有二，800 nm ~1000 nm 波段波长越长，产生的电子-电洞对就越远离 PN接面，需藉由扩散机制到达PN接面，距离PN接面越远，再扩散到PN接面前就 被复合的机率较高，所以800 nm ~1000 nm 光谱随波长递减。大于1000 nm波段 快速下降则是因为入射光能量逐渐小于P层材料的能隙，入射光无法激发电子-电 洞对之产生，所以曲线快速下降，可由外部量子效率观察出各层反应特性。) 光谱各波段特性可反应组件各层的反应特性，提供改善制程之依据外，光谱响 应/量子效率可针对AM1.5G光谱作短路电流密度计算。
e e ph ph
பைடு நூலகம்
简单的来说：量子效率=（1240*光谱响应）/响应波长，当然这个一般是指外量子效 率
R( ) ne e t ne e I( ) e ( ) P ( ) n ph h t n ph hc hc
( ) 1240 R( ) (nm)
IQE and Ref(%)
100.00 90.00 80.00 70.00
R1 sp1 IQE Jsc=38.58mA/cm^2
IQE & ref(%) 60.00 50.00 40.00 30.00 20.00 10.00 0.00 300 400 500 600 700 800 900 1000 1100 1200 R1 sp2 IQE Jsc=38.47mA/cm^2 R1 sp1 Ref Jsc=38.58mA/cm^2 R1 sp2 Ref Jsc=38.47mA/cm^2 R5-1 sp1 IQE Jsc=39.49mA/cm^2

美国颐光科技有限公司是一家集开发、制造和销售光学元器件、光谱仪器、光电设备和与光学系统有关的仪器设备为一体的高新技术企业，同时也是多家美国、德国、英国、意大利、韩国等光学产品公司的中国区代理。

产品涉及单色仪，分光光度计，各种光谱仪器，时间相关荧光光谱测量,皮秒激光和皮秒光源，CCD,ICCD,红外面阵探测器，高速雪崩二极管探测器，光电倍增管，光学元器件，光学镀膜产品，各种光源，太阳模拟器，电光源及LED测量系统等。

一、光谱仪器我公司光谱仪器，信噪比高，性能稳定，技术先进，对光谱测试过程实现计算机控制自动化，过程简单方便，测试结果在行业内也会具有一定的权威性和说服力。

凭借测试系统的高性价比以及全面的技术服务，我公司光谱测试系统已在国内很多单位的实验室投入使用，包括清华大学等知名大学、国家权威计量单位、中国科学院等研究机构以及众多的相关企业，经过大量客户对我公司光谱测试系统的使用，证明了我公司的光谱仪器及光谱测试系统的成熟。

1. 宽带光源，具有光谱范围宽，性能稳定，易于集成系统等优点。

卤钨灯，主要应用于可见到红外波段光谱测试。

氘灯，主要应用于紫外波段光谱测试。

氙灯，主要应用于紫外到红外波段光谱测试。

红外灯，主要应用于红外波段光谱测试。

混合光源，采用钨灯和氘灯混合，光谱范围可以覆盖185nm-2500nm.积分球光源，通过配备积分球，使光源输出更均匀。

我公司宽带光源2. 窄带光源，具有精度高，杂散光低，易于集成系统等优点。

波长连续可调卤钨灯光源波长连续可调氘灯光源波长连续可调氙灯光源波长连续可调混合光源波长连续可调其他光源光谱校准灯3. 单色仪，较同类产品具有计算机控制自动化，精度高，准确度高，重复性高，杂散光低，性能稳定，耐用等优点，性价比高也是我公司单色仪产品的突出优点。

CM110微型单单色仪CM112微型双单色仪CM系列微型单色仪附件CM系列单色仪标准光栅DK240 1/4米单单色仪DK242 1/4米双单色仪DK480 1/2米单色仪DK系列单色仪附件DK系列单色仪标准光栅4. 分光光度计，波长涉及紫外，可见及红外波段，较同类产品具有精度高，杂散光低，性能稳定等优点，与计算机的数据传输采用USB口，使用方便，测量简单。

太阳能电池量子效率/光谱响应/IPCE 测试系统，适用于普通高校与研究所等高端实验室。

独特的直流测量模式，可以测试几乎所有类型的太阳能电池，特别适合用于测量染料敏化太阳能电池（Dye-sensitized solar cell , DSSC ）和光电化学电池（Photoelectrochemical cell, PEC ）,以及钙钛矿结构电池 (Perovskite)。

◆ 测量范围350 ~ 1100 nm ，满足近紫外，可见光，近红外波段的全光谱测量。

◆ 光源系统光谱平滑，无毛刺，在可见光和近红外范围比传统氙灯更准确。

◆ 高强度单色光单位光强，测量重复性高于99%。

◆ 直流测量模式 (DC Mode)，比传统交流测量模式速度更快。

◆ 直流测量模式加直流偏置光测量优化。

◆ 低杂散光暗箱，提高直流测量准确性。

◆EQE 和IQE 同点原位测试。

◆量子效率/光谱响应/IPCE◆ 各种光谱短路电流密度计算Jsc◆染料敏化电池 DSSC◆ 光电化学电池 PEC , RC cell ◆ 钙钛矿电池 Perovskite ◆ 晶硅电池 c-Si, mc-Si◆ 薄膜电池 a-Si ,CdTe, CIGS, OPV图1-2 HIT 结构电池测试结果图1-1 各式薄膜电池测试结果 ◆内量子效率测量◆ 反射率，透射率测量 ◆ 光电输出衰减测量 ◆ 电解池样品测量系统其他功能 太阳能电池光谱响应测量系统介绍 (特别适用于钙钛矿与染料敏化电池测量)系统特点系统应用系统主要功能图2 XQ灯源光谱平滑，在800 ~ 1000 nm没有特征峰，比传统Xe灯更加稳定，在可见光和近红外范围比传统氙灯更准确图3-1 出色的电子电路设计和优化，滤除直流偏置光产生的噪音信号，使得样品可以在有偏置光的情况下进行直流测量。

DSSC电池在不加偏置光情况下测量结果和加偏置光的结果完全吻合。

证明偏置光对小信号的读取测量没有影响图3-2 优异的测试重复性和设备稳定性，碲化镉电池实测重复性优于99.5%图4 对于钙钛矿电池等一些多缺陷样品，需要非常强的单位面积单色光强才能测量出准确的结果。

S p e c i f i c a t i o nsSpectrum Analyzer ¸FSPSpecificationsSpecificationsSpecifications are valid under the following conditions:15 minutes warm-up time at ambient temperature, specified environmental conditions met, calibration cycle adhered to, and total calibration performed.Data without tolerances: typical values only.Data designated "nominal" applies to design parameters and is not tested.Data designated "σ = xx dB" is shown as standard deviation.¸FSP3¸FSP7¸FSP13¸FSP30¸FSP40 FrequencyFrequency range9 kHz to 3GHz9 kHz to 7GHz9 kHz to 13.6GHz9 kHz to 30GHz9 kHz to 40GHz Frequency resolution0.01 HzInternal reference frequency (nominal)Aging per year1)1)After 30 days of operation.1 × 10–6Temperature drift 1 × 10–6With option ¸FSP-B4 (OCXO)Aging per year1) 1 × 10–7Temperature drift 1 × 10–8External reference frequency10 MHzFrequency display with marker or frequency counterMarker resolution span/500Max. deviation(sweep time >3× auto sweep time)±(frequency × reference frequency + 0.5% × span + 10% × resolution bandwidth + ½ (last digit)) Frequency counter resolution0.1 Hz to 10 kHz (selectable)Count accuracy (S/N >25 dB)±(frequency × reference frequency + ½ (last digit))Frequency span0 Hz,10 Hz to 3GHz0 Hz,10 Hz to 7GHz0 Hz,10 Hz to 13.6GHz0 Hz,10 Hz to 30GHz0 Hz,10 Hz to 40GHzMax. span deviation0.1% Spectral purity (dBc (1 Hz)) SSB phase noise, f = 500 MHz, for f > 500 MHz see diagrams belowCarrier offset100 Hz<–84, typ.–90 1 kHz<−100, typ.−108 10 kHz<−106, typ. −113100 kHz2)2)Valid for span >100 kHz.<−110, typ. −1131 MHz2)<−120, typ.−125 10 MHz typ.−145 Residual FMf = 500 MHz, RBW 1 kHz,sweep time 100 mstyp. 3 Hz2 Spectrum Analyzer ¸FSPSpectrum Analyzer ¸FSP3Sweep timeSpan ≥10 Hz 2.5 ms to 16000 sMax. deviation1%Span 0 Hz 1 µs to 16000 sResolution125 nsResolution bandwidthsBandwidths10 Hz to 10 MHz (–3 dB) in 1, 3 sequenceEMI bandwidths200 Hz, 9 kHz, 120 kHz (–6 dB)Bandwidth accuracy≤100 kHz<3%300 kHz to 3 MHz<10%10 MHz+10%, –30%Shape factor –60 dB: –3 dB≤100 kHz<5:1 (Gaussian filters)300 kHz to 3 MHz<15:1 (4-pole synchronously tuned filters)10 MHz<7:1Shape factor –60 dB: –6 dBEMI bandwidths<5:1Video bandwidths 1 Hz to 10 MHz in 1, 3 sequenceFFT filterBandwidths 1 Hz to 30 kHz (–3 dB) in 1, 3 sequenceBandwidth accuracy5%, nominalShape factor –60dB:–3 dB 2.5:1 nominalChannel filterBandwidths100; 200; 300; 500 Hz;1; 1.5; 2; 2.4; 2.7; 3; 3.4; 4; 4.5; 5; 6; 8.5; 9; 10; 12.5; 14; 15; 16; 18 (RRC); 20; 21; 24.3 (RRC); 25; 30; 50; 100;150; 192; 200; 300; 500 kHz; 1;1.228; 1.5; 2; 3; 5 MHz1.28 (RRC), 3.84 (RRC), 4.096 (RRC)LevelDisplay range displayed average noise level to 30 dBmMaximum input levelDC voltage50 V0 VRF attenuation 0 dBCW RF power20 dBmPulse spectral density97 dBµV (1 MHz)RF attenuation ≥10 dBCW RF power30 dBmMax. pulse voltage150 V50 VMax. pulse energy (10 µs) 1 mWs0.5 mWs1 dB compression of input mixer0 dB RF attenuation, f > 200 MHz0 dBm nominalIntermodulation3rd-order intermodulationIntermodulation-free dynamic range, level 2 × –30 dBm, ∆f > 5 × RBW or 10 kHz, whichever is larger20 MHz to 200 MHz>70 dBc, TOI >5 dBm200 MHz to 3 GHz>74 dBc, TOI >7 dBm (typ. 10 dBm)3 GHz to 7 GHz−>80 dBc, TOI >10 dBm (typ. 15 dBm)7 GHz to 13.6 GHz−−>80 dBc, TOI >10 dBm13.6 GHz to 30 GHz−−−>76 dBc, TOI >8dBm>80 dBc, TOI >10 dBm 30 GHz to 40 GHz−−−−>80 dBc, TOI >10 dBm With optional Electronic Attenuator ¸FSP-B25 switched on20 MHz to 200 MHz>74 dBc, TOI > 7 dBm−200 MHz to 3 GHz>80 dBc, TOI > 10 dBm−3 GHz to 7 GHz>84 dBc, TOI > 12 dBm−4 Spectrum Analyzer ¸FSPSecond harmonic intercept point (SHI)<100 MHz typ. 25 dBm100 MHz to 1.5 GHz typ. 35 dBm1.5 GHz to 7 GHz−typ. 80 dBm7 GHz to 13.6 GHz−−typ. 80 dBm13.6 GHz to 30 GHz−−−typ. 80 dBm30 GHz to 40 GHz−−−−typ.80 dBm Displayed average noise level(0 dB RF attenuation, RBW 10 Hz, VBW 1 Hz, 20 averages, trace average, span 0 Hz, termination 50 Ω)Frequency9 kHz<−95 dBm100 kHz<−100 dBm1 MHz<−120 dBm, typ. −125 dBm10 MHz to 1 GHz<−142 dBm,typ.−145 dBm<−140 dBm, typ. −145 dBm1 GHz to 3 GHz<−140 dBm,typ. −145 dBm<−138 dBm, typ. −143 dBm3 GHz to 7 GHz−<−138 dBm,typ. −143 dBm<−135 dBm, typ. −140 dBm7 GHz to 13.6 GHz−−<−132 dBm, typ. −138 dBm13.6 GHz to 22 GHz−−−<−120 dBm,typ. −128 dBm−22 GHz to 30 GHz−−−<−115 dBm,typ. −123 dBm−13.6 GHz to 20 GHz−−−−<−120 dBm,typ. −128 dBm 20 GHz to 30 GHz−−−−<−120 dBm,typ. −128 dBm 30 GHz to 40 GHz−−−−<−112 dBm,typ. −120 dBm Displayed average noise level with preamplifier on (option ¸FSP-B25)10 MHz to 2 GHz<–152 dBm−2 GHz to 7 GHz<–150 dBm−Immunity to interferenceImage frequency>70 dBIntermediate frequency (f <3 GHz)>70 dBSpurious responses (f >1 MHz, withoutinput signal, 0 dB attenuation)<−103 dBmOther spurious (with input signal, mixer level <–10 dBm, ∆f >100kHz)f <7 GHz: <−70 dBc f <13.6 GHz: <−64 dBc f <30 GHz: <−56 dBcLevel displayScreen501 × 400 pixels (one diagram), max. two diagrams with independent settingsLogarithmic level scale10 dB to 200 dB, in steps of 10 dBLinear level scale10% of reference level per level division (10 divisions)Traces max. 3, with two diagrams on screen max. 3 per diagramTrace detector max peak, min peak, auto peak, sample, quasi-peak, average, RMSTrace functions clear/write, max. hold, min hold, averageNumber of test points501, selectable in steps of approx. factor 2, 125 to 8001Setting range of reference levelLogarithmic level display–130 dBm to 30 dBm, in steps of 0.1 dBLinear level display70.71 nV to 7.07 V in steps of 1%Units of level scale dBm, dBmV, dBµV, dBµA, dBpW (log level display), mV, µV, mA, µA, pW, nW (linear level display)Max. uncertainty of level measurementAt 128 MHz, −30 dBm (RF attenuation10dB, RBW 10kHz, ref. level –20 dBm)<0.2 dB (σ = 0.07 dB)Spectrum Analyzer ¸FSP5Frequency response<50 kHz <+0.5/− 1.0 dB50 kHz to 3 GHz<0.5 dB (σ = 0.17 dB)3 GHz to 7 GHz–<2 dB(σ = 0.7 dB)7 GHz to 13.6 GHz––<2.5 dB1)13.6 GHz to 30 GHz–––<3 dB1)30 GHz to 40 GHz––––<4 dB1) Frequency response with option ¸FSP-B25 switched on (preamplifier, electronic attenuator)10 MHz to 3 GHz<1 dB(σ = 0.33 dB)–3 GHz to 7 GHz–<2 dB(σ = 0.7 dB)–Attenuator<0.2 dB (σ = 0.07 dB)Reference level switching<0.2 dB (σ = 0.07 dB)Display nonlinearity LOG/LIN (S/N >16 dB)RBW ≤100 kHz0 dB to –70 dB<0.2 dB (σ = 0.07 dB)–70 dB to –90 dB<0.5 dB (σ = 0.17 dB)RBW ≥300 kHz0 dB to –50 dB<0.2 dB (σ = 0.07 dB)–50 dB to –70 dB<0.5 dB (σ = 0.17 dB)Bandwidth switching uncertainty (ref. to RBW = 10 kHz)10 Hz to 100 kHz <0.1 dB (σ = 0.03 dB)300 kHz to 10 MHz<0.2 dB (σ = 0.07 dB)1 Hz to 3 kHz, FFT<0.2 dB (σ = 0.03 dB)Total measurement uncertainty0 GHz to 3 GHz0.5 dBTrigger functionsTriggerSpan ≥10 HzTrigger source free run, video, external, IF levelTrigger offset125 ns to 100 s, resolution 125 ns min. (or 1% of offset)Span = 0 HzTrigger source free run, video, external, IF levelTrigger offset±125 ns to 100 s, min. resolution 125 ns, dependent on sweep timeMax. deviation of trigger offset±(125 ns + (0.1% × delay time))Gated sweepTrigger source external, IF level, videoGate delay 1 µs to 100 sGate length125 ns to 100 s, min. resolution 125 ns or 1% of gate lengthMax. deviation of gate length±(125 ns + (0.05% × gate length))Inputs and outputs (front panel)RF input N female, 50 Ωtest port system 50 Ω,N female,3.5 mm female2)test port system 50 Ω,N female,K female2)VSWR (RF attenuation >0 dB)f <3 GHz 1.5:1f <7 GHz− 2.0:1f <13 GHz−− 2.5:1f <30 GHz−−− 3.0:1f <40 GHz−−−− 3.0:1 Input attenuator0 dB to 70 dB in 10 dB stepsWith option ¸FSP-B250 dB to 75 dB in 5 dB steps not availableProbe power supply+15 V DC, –12.6 V DC and ground, max. 150 mAKeyboard connector PS/2 female for MF2 keyboardAF output (only with option ¸FSP-B3) 3.5 mm mini-jackOutput impedance10 ΩOpen-circuit voltage up to 1.5 V, adjustable6 Spectrum Analyzer ¸FSPInputs and outputs (rear panel)IF 20.4 MHz Z out= 50 Ω, BNC femaleLevelRBW ≤30 kHz, FFT–10 dBm at reference level, mixer level >–60 dBmRBW ≥100 kHz0 dBm at reference level, mixer level >–60 dBmReference frequencyOutput BNC femaleOutput frequency10 MHzLevel 0 dBm, nominalInput10 MHzRequired level0 dBm into 50 ΩOthersPower supply for noise source BNC female, 0 V and 28 V, switchable, max. 100mAExternal trigger/gate input BNC female, >10 kΩTrigger voltage 1.4 V (TTL)IEC/IEEE bus remote control interface to IEC 625-2 (IEEE 488.2)Command set SCPI 1997.0Connector24-pin Amphenol femaleInterface functions SH1, AH1, T6, L4, SR1, RL1, PP1, DC1, DT1, C0Serial interface RS-232-C (COM), 9-pin sub-D connectorPrinter interface parallel (Centronics-compatible)Mouse connector PS/2 femaleConnector for ext. monitor (VGA)15-pin sub-D connectorGeneral dataDisplay21 cm TFT colour display (8.4”)Resolution640 × 480 pixels (VGA resolution)Pixel failure rate<2 × 10 –5Mass memory 1.44 MByte 3½” disk drive (built-in), hard diskData storage>500 instrument settings and tracesTemperaturesOperating temperature range+5°C to +40°CPermissible temperature range+5°C to +45°CStorage temperature range–40°C to +70°CDamp heat+40°C at 95% relative humidity (EN 60068-2-30)Mechanical resistanceVibration, sinusoidal 5 Hz to 150 Hz, max. 2 g at 55 Hz; 0.5 g from 55 Hz to 150 Hz; meets EN60068-2-6, EN60068-2-30, EN61010-1,MIL-T-28800D, class 5Vibration, random10 Hz to 100 Hz, acceleration 1 g (rms)Shock test40 g shock spectrum, meets MIL-STD-810C and MIL-T-28800D, classes 3 and 5Recommended calibration interval 2 years for operation with external reference,1 year with internal referencePower supplyAC supply100 V AC to 240 V AC, 50 Hz to 400Hz, 3.1 A to 1.3 A, class of protection I to VDE411Typical power consumption70 VA 120 VA150 VASafety meets EN61010-1, UL3111-1, CSAC22.2 No. 1010-1,RFI suppression meets EMC Directive of EU (89/336/EEC) and German EMC lawTest mark VDE, GS, CSA, CSA-NRTL/CDimensions in mm (W × H × D)412 × 197 × 417Weight10.5 kg11.3 kg12 kg1)RF attenuation 10 dB, sweep time >1s/1 GHz.2)See recommended extras for alternate connectors.Spectrum Analyzer ¸FSP7Specifications of optionsTracking Generator ¸FSP-B9Unless specified otherwise, specifications not valid for frequency range from –3 × RBW to +3 × RBW; however, at least not valid from –9 kHz to +9 kHz.The specified level accuracy of the tracking generator is valid under the following conditions: RF attenuation ≥ 20 dB and sweep time ≥2000 ms.FrequencyFrequency range9 kHz to 3 GHzFrequency offsetSetting range±150 MHzResolution 1 HzSpectral purity (dBc (1 Hz)) SSB phase noise, f = 500 MHz, carrier offset 100 kHzNormal mode typ. –90With FM modulation on typ. –70LevelLevel setting range–30 dBm to 0 dBm in steps of 0.1 dBLevel setting range with AM–30 dBm to –6 dBm in steps of 0.1 dBMax. deviation of output level, 128 MHz, 0 dBm<1 dBFrequency responseOutput level 0 dBm, 100 kHz to 2 GHz<1 dBOutput level 0 dBm to −25 dBm, 9 kHz to 3 GHz<3 dBDynamic rangeAttenuation measurement range, RBW = 1 kHz, f > 10 MHz120 dBSpuriousHarmonics, output level –10 dBm typ. –30 dBcNonharmonics, output level 0 dBm typ. –30 dBcModulationModulation format (external)I/Q, AM, FM, FM-DC, PM, ASK, FSKAM, f > 10 MHzModulation depth0% to 99%Modulation frequency range0 Hz to 1 MHzFM, f > 10 MHzFrequency deviation0 Hz to 20 MHzModulation frequency range0 Hz to 100 kHzI/Q modulation, f > 10 MHz0 Hz to 30 MHz typ. 1 dBInputs and outputs (front panel)RF output N female, 50 ΩVSWR typ. 2:1Inputs and outputs (rear panel)TG/AM IN V max(pp) = 1 V; Z in = 50 Ω, BNC femaleTG Q/FM IN V max(pp) = 1 V; Z in = 50 Ω, BNC femaleExternal Generator Control ¸FSP-B10Supported signal generators¸SME02/03/06, ¸SMG, ¸SMGL, ¸SMGU, ¸SMH, ¸SMHU,¸SMIQ02B/02E/03B/03E/04B/06B¸SML, ¸SMR20/27/30/40/60¸SMP02/22/03/04,¸SMX, ¸SMY¸SMT02/03/06LAN Interface ¸FSP-B16Connector (rear panel)RJ-45Supported protocols10Base-T (IEEE standard 10 Mbit/s 802.3)100Base-TX (IEEE standard 100 Mbit/s 802.3u)Extended Environmental Specification ¸FSP-B20Temperature range (noncondensing)Operating temperature range 0°C to +50°CPermissible temperature range0°C to +55°CMechanical resistanceVibration, random10 Hz to 300 Hz, acceleration 1.9 g (rms)8 Spectrum Analyzer ¸FSPLO/IF ports for external Mixers ¸FSP-B21 (¸FSP40 only)LO levelFrequency range 7 GHz to 13.2 GHzLevel+15.5 dBm ±3 dBIF inputIF frequency 404.4 MHzFull scale level2 port mixer, LO output/IF input (front) –20 dBmLevel deviation<1dBIF level –30 dBm, reference level –20 dBm, RBW 30 kHz,LO output/IF input (front)Full scale level3 port mixer, IF input (front) –20 dBmLevel deviationIF level –30 dBm, reference level –20 dBm, RBW 30 kHz, IF input (front)<1dBInputs and outputs (front)LO output/IF input SMA female, 50 ΩIF input SMA female, 50 ΩElectronic Attenuator ¸FSP-B25 (only for ¸FSP3 and ¸FSP7)FrequencyFrequency range10 MHz to 7 GHzInput attenuator range (mechanical)0 dB to 75 dB in 5 dB stepsElectronic attenuation range0 dB to 30 dB in 5 dB stepsPreamplifier20 dB, switchableDisplayed average noise level with preamplifier on (0 dB RF attenuation, RBW 10 Hz, VBW 1 Hz, 20 averages, trace average, span 0 Hz, termination 50 Ω) 10 MHz to 2 GHz<–152 dBm2 GHz to 7 GHz<–150 dBmIntermodulation with electronic attenuator on3rd-order intermodulation, intermodulation-free dynamic range, level 2 × –30 dBm, ∆f >5 × RBW or 10 kHz, whichever is larger20 MHz to 200 MHz>74 dBc, TOI >7 dBm200 MHz to 3 GHz>80 dBc, TOI >10 dBm3 GHz to 7 GHz>84 dBc, TOI >12 dBmMax. deviation of level measurement<0.2 dB (σ = 0.07 dB)128 MHz, –30 dBm (RF attenuation 10 dB, RBW 10 kHz,ref. level –20dBm), preamplifier onElectronic attenuator<0.2 dB (σ = 0.07 dB)Frequency response with preamplifier, electronic attenuator10 MHz to 3 GHz<1.0 dB (σ = 0.33 dB)3 GHz to 7 GHz<2 dB (σ = 0.7 dB)Trigger Port ¸FSP-B28Output voltage high ≤1.4 Vlow ≥0.7 VTrigger port connector25-pin sub-D femaleFrequency range extension 20 Hz ¸FSP-B29Frequency range 20 Hz to f maxFrequency response <9 kHz <1 dBDisplayed average noise level0 dB RF attenuation, RBW 10 Hz, VBW 1 Hz, 20 averages, trace average, span 0 Hz, termination50Ω20 Hz<–58 dBm100 Hz<–75 dBm1 kHz<–85 dBmDC Power Supply ¸FSP-B30Input voltage range10 V to 28 V DC25 A to 12.5 AOutput voltage 120 V to 360 V DC/300 WCurrent consumption (V DC = 12 V, ¸FSP without options, default settings)¸FSP3typ. 6 A¸FSP30typ. 8 AOperating temperature range 0°C to +50°CStorage temperature range–40°C to +70°CDimensions in mm (W × H × D)145 × 154 × 65Weight0.6 kgSpectrum Analyzer ¸FSP9Battery Pack ¸FSP-B31/-B32NiMH battery pack with built-in load control for all ¸FSP and ¸ESPI models with options ¸FSP-B1 and ¸FSP-B30Input voltage of battery pack10 V to 28 V DCInput voltage power supply (battery charge)24 V DC/max. 3 AOutput voltageBattery operation13.2 V DC/200 WhBypass operation10 V to 28 V DC/10 ATypical operating times (¸FSP without options)¸FSP3 2 h¸FSP30 1.5 hCharging time 5 h at 25°COperating temperature range (discharging)0°C to +50°COperating temperature range (charging)+10°C to +40°CStorage temperature range (<1 year)–20°C to +35°CStorage temperature range (<1 month)–20°C to +55°CDimensions (W × H × D)400 mm × 134 mm × 42 mmWeight 3.7 kgAC adapter (¸FSP-B31 only)Input voltage range100 V to 240 V AC ±10%Input frequency range50 Hz to 60 Hz ±5%Input power140 VAOutput voltage24 VOutput current 3 AOperating temperature range 0°C to +50°CStorage temperature range –20°C to +70°CDimensions (W × H × D)132 mm × 58 mm × 30 mmWeight0.3 kgOrdering informationOrder designation Type Order No. Spectrum Analyzer, 9 kHz to 3 GHz¸FSP31164.4391.03 Spectrum Analyzer, 9 kHz to 7 GHz¸FSP71164.4391.07 Spectrum Analyzer, 9 kHz to 13.6 GHz¸FSP131164.4391.13 Spectrum Analyzer, 9 kHz to 30 GHz¸FSP301164.4391.30 Spectrum Analyzer, 9 kHz to 40 GHz¸FSP401164.4391.40 Accessories suppliedPower cable, compact manual, CD-ROM with operating manual and service manual.¸FSP30: test port adapter with 3.5 mm female (1021.0512.00) and N female (1021.0535.00) connector.¸FSP40: test port adapter with K female (1036.4770.00) and N female (1036.4777.00) connector.OptionsOrder designation Type Order No.Retrofittable RemarksOptionsDelete Manuals¸FSP-B01129.8394.02Rugged Case, carrying handle (factory-fitted)¸FSP-B11129.7998.02noAM/FM Audio Demodulator¸FSP-B31129.6491.02yes not with ¸FSP-B15. OCXO Reference Frequency ¸FSP-B41129.6740.02yesTV Trigger/RF Power Trigger¸FSP-B61129.859.4.02yes not with ¸FSP-B21. Internal Tracking Generator 9 kHz to 3GHz, I/Q modulator, for all ¸FSP models¸FSP-B91129.6991.02yesExternal Generator Control for all ¸FSP models¸FSP-B101129.7246.02yesPulse Calibrator for ¸FSP¸FSP-B151155.1006.02yes not with ¸FSP-B3;required for ¸FS-K72/-K73 LAN Interface 100BT for all ¸FSP models with Windows XP (1164.4391.xx)¸FSP-B161129.8042.03yes10 Spectrum Analyzer ¸FSPOrder designation Type Order No.Retrofittable RemarksLAN Interface 100BT for all ¸FSP models with Windows NT (1043.4495.xx)¸FSP-B161129.8042.02yesExtended Environmental Specification ¸FSP-B201155.1606.06noLO/IF Ports for External Mixers¸FSU-B211157.1090.02yes not with ¸FSP-B6;only for ¸FSP40¸FSP-B251129.7746.02yesElectronic Attenuator, 0 dB to 30 dB, 5 dB steps, integrated preamplifier for¸FSP3 and ¸FSP7Trigger Port for ¸FSP for indication of trigger conditions¸FSP-B281162.9915.02yesFrequency Range Extension 20 Hz for ¸FSP3/7¸FSP-B291163.0663.07noFrequency Range Extension 20 Hz for ¸FSP13/30¸FSP-B291163.0663.30noFrequency Range Extension 20 Hz for ¸FSP40¸FSP-B291163.0663.40noDC Power Supply for Spectrum Analyzers ¸FSP¸FSP-B301155.1158.02yesBattery Pack for Spectrum Analyzers ¸FSP¸FSP-B311155.1258.02yes¸FSP-B1 and¸FSP-B30 required Spare Battery Pack for Spectrum Analyzers ¸FSP¸FSP-B321155.1506.02yes¸FSP-B31 required Demodulation Hardware and Memory Extension¸FSP-B701157.0559.02yes required for ¸FS-K72/-K73; ¸FSP-B15 required SoftwarePhase Noise Measurement Software¸FS-K41108.0088.02GSM/EDGE Application Firmware, Mobile¸FS-K51141.1496.02AM/FM/ϕM Measurement Demodulator¸FS-K71141.1796.02Application Firmware for Bluetooth® Measurements¸FS-K81157.2568.02Power Sensor Measurements¸FS-K91157.3006.02supports ¸NRP-Z11/-Z21with ¸NRP-Z4 USB con-nectorApplication Firmware for Noise Figure and Gain Measurements¸FS-K301300.6508.02Preamplifier ¸FSP-B25recommended3GPP BTS/Node B FDD Application Firmware¸FS-K721154.7000.02¸FSP-B15 and -B70required3GPP UE FDD Application Firmware¸FS-K731154.7252.02¸FSP-B15 required,¸FSP-B70 recommended 3GPP HSDPA BTS Application Firmware¸FS-K741300.7156.02¸FS-K72 required3GPP TD-SCDMA BTS Application Firmware¸FS-K761300.7291.023GPP TD-SCDMA UE Application Firmware¸FS-K771300.8100.02CDMA2000® (IS-95) 1xEV-DV BTS FDD Application Firmware¸FS-K821157.2316.02CDMA2000® 1xEV-DV MS Application Firmware¸FS-K831157.2416.02CDMA2000® 1xEV-DO BTS Application Firmware¸FS-K841157.2851.02CDMA2000®-1xEV-DO MS Application Firmware¸FS-K851300.6689.02WLAN 802.11a TX Measurements Application Firmware¸FSP-K901300.6650.02The Bluetooth word mark and logos are owned by the Bluetooth SIG, Inc. and any use of such marks by Rohde&Schwarz is under license.CDMA2000® is a registered trademark of the Telecommunications Industry Association (TIA -USA).Spectrum Analyzer ¸FSP11Europe:Tel:+491805124242,e-mail:*********************************.com·USA:Tel.+1410-910-7988,e-mail:*********************************.comAsia:Tel.+6568463710,e-mail:***********************************.com¸i s a r e g i s t e r e d t r a d e m a r k o f R o h d e &S c h w a r z G m b H &C o . K G · T r a d e n a m e s a r e t r a d e m a r k s o f t h e o w n e r s · P r i n t e d i n G e r m a n y (B i a s )P D 0758.1206.22 · S p e c t r u m A n a l y z e r ¸F S P · V e r s i o n 05.00 · O c t o b e r 2004 · D a t a w i t h o u t t o l e r a n c e l i m i t s i s n o t b i n d i n g · S u b j e c t t o c h a n g eCertified Quality System ISO 9001Certified Environmental SystemISO 14001Product brochure see PD 0758.1206.12 and at (search term: FSP)Recommended extrasDesignationTypeOrder No.Headphones 0708.9010.00US Keyboard with Trackball ¸PSP-Z21091.4100.02PS/2 Mouse¸FSE-Z21084.7043.02DC Block,10kHz to 18GHz (type N)¸FSE-Z41084.7443.02Colour Monitor, 15", 230 V ¸PMC31082.6004.02IEC/IEEE Bus Cable, 1 m ¸PCK 0292.2013.10IEC/IEEE Bus Cable, 2 m ¸PCK 0292.2013.2019" Rack Adapter (not for ¸FSP-B1)¸ZZA4781096.3248.00Soft Carrying Case, grey¸ZZT4731109.5048.00Printed operating manual (German)–1093.4820.11Printed operating manual (English)–1093.4820.12Printed service manual (German)–1093.4820.81Printed service manual (English)–1093.4820.82Matching Pads, 75 ΩL Section¸RAM 0358.5414.02Series Resistor, 25 Ω1)1)Taken into account in device function RF INPUT 75 Ω.¸RAZ 0358.5714.02SWR Bridge, 5 MHz to 3 GHz ¸ZRB2 0373.9017.52SWR Bridge, 40 kHz to 4 GHz ¸ZRC 1039.9492.52High-Power Attenuators, 100 W 3/6/10/20/30 dB¸RBU1001073.8495.XX (XX=03/06/10/20/30)High-Power Attenuators, 50 W 3/6/10/20/30 dB ¸RBU501073.8695.XX (XX=03/06/10/20/30)For ¸FSP30Test Port Adapter, 3.5 mm male –1021.0529.00Test Port Adapter, N male–1021.0541.00Microwave Measurement Cable and Adapter Set ¸FS-Z151046.2002.02For ¸FSP40Test Port Adapter K male –1036.4802.00Test Port Adapter N male –1036.4783.00Test Port Adapter 2.4 mm female¸FSE-Z51088.1627.02Related data sheetsTitleOrder No.TV Trigger/RF Power Trigger ¸FSP-B6PD 0757.6433Noise Measurement Software ¸FS-K3 for Spectrum Analyzers ¸FSE, ¸FSIQ and ¸FSP PD 0757.2380Phase Noise Measurement Software ¸FSE-K4PD 0757.6727GSM/EDGE Application Firmware ¸FS-K5 for ¸FSP PD 0757.6185FM Measurement Demodulator ¸FS-K7 PD 0757.6685Bluetooth Application Firmware ¸FS-K8PD 0757.7730Application Firmware for Noise Figure and Amplifier Measure-ments R&S®FS-K30PD 0758.0839.32WCDMA 3GPP Application Firmware ¸FS-K72/-K73/-K74 PD 0757.7246TD-SCDMA Test Application Firmware ¸FS-K76/-K77 PD 0758.0880.32CDMA2000® Base Station Test Application Firmware 1xEV-DO Base Station Test Application Firmware ¸FS-K82/-K84PD 0758.1712.32Mobile Station Test Application Firmware ¸FS-K83/¸FS-K85PD 0758.1729.32WLAN Application Firmwar e ¸FSQ-K91/ ¸FSP-K90PD 0758.1435.12。

——ICP-OES基体干扰及光谱干扰，严重制约该技术进一步发展。 ——1975年----1983年美国、英国、加拿大科学家的联手合作，共同解决一系列关键技术问题。 （1）ICP高温与射频场问题； （2）高温等离子体与质谱接口时问题； （3）如何降低等离子体对地电位问题。 ——1983年加拿大Sciex公司和英国VG公司，同时推出商品仪器ELAN250和VG PlasmaQuad. ——1988年——1989年英国VG、NU Instrument公司、Micromass公司，德国Finnigan MAT公司和日本JEOL公 司，分别开发元素分析的高分辨等离子体质谱（HR-ICP-MS）和同位素分析的多接受器等离子体质谱 （MC-ICP-MS）。 ——1990年初Sciex公司和英国VG公司都推出，涡流分子泵的高真空室的新一代仪器。 ——1993年德国Finnigan MAT公司推出，ELEMENT，以后改进ELEMENT2。 ——2000年冬季等离子体光谱化学会议上（Winter Conference on Plasma Spectro-chemistry)，预言新世 界将是ICP-MS仪器急剧增长的时代。 ——至今世界各地有ICP-MS 5000多台，仅中国300多台，生产厂家由2家发展到10余家,后来又整合2-5家。 随着ICP-MS仪器的改进、优化及普及，ICP-MS成为大量样品元素分析有力武器，几乎成为取代传统 元素分析技术。
蠕动泵
交叉雾化器
双通雾室
同心雾化器+ 旋流雾室
Babington型雾化器
超声雾化器
2.2 仪器基本结构及组成
——等离子体源（ICP） （1）等离子炬管——外管（冷却气、等离子气）、中间管（辅助气）、样品注入管（载气） （2）射频发生器——自激式（27.12MHz、40.68MHz）和晶控式（他激式）

太阳能电池的光谱灵敏度是短路光谱电流密度与光谱福照度的比值光谱响应(1)指光阴极量子效率与入射波长之间的关系.(2)光谱响应表示不同波长的光子产生电子-空穴对的能力。

定量地说，太阳电池的光谱响应就是当某一波长的光照射在电池表面上时，每一光子平均所能收集到的载流子数。

太阳电池的光谱响应又分为绝对光谱响应和相对光谱响应。

各种波长的单位辐射光能或对应的光子入射到太阳电池上，将产生不同的短路电流，按波长的分布求得其对应的短路电流变化曲线称为太阳电池的绝对光谱响应。

如果每一波长以一定等量的辐射光能或等光子数入射到太阳电池上，所产生的短路电流与其中最大短路电流比较，按波长的分布求得其比值变化曲线，这就是该太阳电池的相对光谱响应。

但是，无论是绝对还是相对光谱响应，光谱响应曲线峰值越高，越平坦，对应电池的短路电流密度就越大，效率也越高。

(3)太阳电池并不能把任何一种光都同样地转换成电。

例如：通常红光转变为电的比例与蓝光转变为电的比例是不同的。

由于光的颜色（波长）不同，转变为电的比例也不同，这种特性称为光谱响应特性。

光谱响应特性的测量是用一定强度的单色光照射太阳电池，测量此时电池的短路电流，然后依次改变单色光的波长，再重复测量以得到在各个波长下的短路电流，即反映了电池的光谱响应特性。

(4)光谱响应特性与太阳电池的应用：从太阳电池的应用角度来说，太阳电池的光谱响应特性与光源的辐射光谱特性相匹配是非常重要的，这样可以更充分地利用光能和提高太阳电池的光电转换效率。

例如，有的电池在太阳光照射下能确定转换效率，但在荧光灯这样的室内光源下就无法得到有效的光电转换。

不同的太阳电池与不同的光源的匹配程度是不一样的。

而光强和光谱的不同，会引起太阳能电池输出的变动。

[1]什么是光谱响应悬赏分：0 | 解决时间：2010-11-4 00:08 | 提问者：匿名什么是光谱响应最佳答案光谱响应指光阴极量子效率与入射波长之间的关系光谱响应表示不同波长的光子产生电子-空穴对的能力。

测试，或光电转化效率IPCE (Monochromatic Incident Photon-to-Electron Conversion Efficiency) 测试等，测量不同波长光照条件下的光电转换特性，对提高太阳能电池的生产工艺水平（例如制绒、扩散、背场等工艺）、判断硅片材料质量以及研究电池片的性能有重要的参考价值。

（500W）和卤素灯（400W），光源之间自动切换；2）分光系统；3）样品室；4）数据采集等部分构成。

可测量波长范围300nm-1200nm。

红外热成像仪：测试太阳能电池在反向偏压情况下的发热情况，以判明电池漏电的位置，检查电池的性能和失效分析。

红外热像仪：所有温度在绝对零度（约-273℃）以上的物体，都会因自身的分子运动而辐射红外线。

红外热像仪将这些人眼无法看到的红外辐射能量转换为电信号，并以各种不同的颜色来显示出不同温度的分布，从而使整个温度场的状态以可视图像显示出来。

通过图像，可以迅速便捷的检测整个温度面，并识别高低温度点，从而可以进行温度的定性与定量分性，如有温度异常则预示着可能有故障的产生，使检测工作精准简单快捷。

环境试验机太阳能电池组件设计使用寿命有20～30年，为确保所生产的组件能在自然环境下工作这么长时间，需要模拟各种自然环境，如温度变化，湿度变化，及各种恶劣环境以确认太阳能电池能
可程式恒温恒湿试验机：采用原装进口触摸屏温湿度控制器，操作简单；可显示故障原因，排除容易；特殊送风循环设计，温湿度分布均匀性佳；可提供温度、温湿度、及超低温多重试验；周全之系统安全保护及停电记忆；采用导电膜观测窗口，防止凝露结霜；具备时序接点，可配合BIAS及量测试验。

满足相关国家标准和国际标准。

T1 T2 外转换
发 射 磷 振动弛豫 光
l1
l2
l 2
l3
5Байду номын сангаас
主 要 光 谱 参 数
吸收光谱：化合物的吸收光强与入射光波长的关系曲 线 激发光谱：让不同波长的激发光激发荧光物质使之发 生荧光，而让荧光通过固定波长的发射单色器照射到 检测器上，检测荧光强度变化。
发射光谱：固定激发波长(一般将其固定于激发波段 中感兴趣的峰位),扫描出的化合物的发射光强(荧光/ 磷光) 与发射光波长的关系曲线。
激发波 长确定
• 重复2、3步循环扫描得到理想的光谱图
关机
• 保存数据，先关软件，再关光源最后关风扇和电源
10
荧光寿命和量子产率的测试和数据处理
荧光寿命 • 根据发射谱和激发谱选择感兴趣的发射波长和激发波长， 测试荧光强度随时间的衰减曲线，同样需要数据进行校 正，然后应用origin软件进行作图和数据拟合得到寿命 结果
• 光电转化效率，即入射单色光子-电子转化效率 (monochromatic incident photon-to-electron conversion efficiency， 用缩写IPCE表示)，定义为单位时间内外电路中产生的电子数 Ne与单位时间内的入射单色光子数Np之比。 • 计算公式：IPCE(λ)=1240 * jp(λ)/Eλ(λ)
IPCE测试系统
Solar Cell Scan100 Crown tech.inc Newport 光源、单色仪、信号放大模 块、光强校准模块、计算机 控制和数据采集处理模块
通过用波长可调的单色光照射样 品，同时测量样品在不同波长的 单色光照射下产生的短路电流, 从而通过计算得到样品的IPCE

系统 以 ＶＣ＋＋ ６ ０为开发 平 台 ， ． 具有 高精度 、 高准确 度 ， 外界干扰 小等优 点 。并对硅 光 电池 的 对 光谱 响应进 行详 细地 分析 、 计算 ， 明与 实测 结果 吻合 。单 晶硅 的光谱 响应 的起 始波 长、 止波 表 截
长分 别 为 ４ ０ ｍ 和 １Ｏ ｎ 波 长为 ８ ５ ｍ 时 ， ０ｎ ｌＯ ｍ； ２ｎ 光谱 响应峰 值为 ０ ５ ８ Ｗ 。 ． １ Ａ／
图 １ 光 谱 响 应 原 理 图
Ｆｉ ． Ｓ ｈ ｍａ ｉ ｓ ｅ ｔ ａ ｅ ｐ ｎ ｅ ｇ １ ｃ ｅ ｔ ｐ ｃｒ ｌ ｓ ｏ ｓ ｃ ｒ
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１ ・ ２
光
学
仪
器
第 ３ 卷 ３
主要 由计 算机 、 京 赛 凡 光 电 公 司 的光 源 系 统 （ Ｉ Ｔ 系列 卤 钨灯 ［ ） 光栅 单 色 仪 （ Ｉ Ｗ３ １ 、 波 器 北 ７Ｌ ６、 ］ ７Ｓ ０ ） 斩
Ａｂ ｔ ａ ｔ ｎ ｏ ｄ ｒｔ ｃ ｉｖ ｈ ｔｃ ｎ ｒ ｐ ｄ ｙ ａ ｄ ａ ｃ ｒ ｔ ｌ ｎ ｉ ｅ ｔ ｓ ｈ ｐ ｃ ｒ ｌ ｅ ｐ ｎ ｅｏ ｓｒ ｃ ：Ｉ ｒ ｅ ｏ ａ ｈ ｅ ｅｔ ａ ａ ａ ｉ ｌ ｎ ｃ ｕ ａ ｅ ｙ ｏ ｌ ｅ ｔ ｅｓ ｅ ｔ ａ ｓ ｏ ｓ ｆ ｎ ｔ ｒ ｓｌ ｏ ｈ ｔ ｃ ｌ，ａ ｓ ｔｏ ｐ ｃ ｒ ｌ ｅ ｐ ｎ ｅｍ ｅ ｓ ｒ ｍｅ ｔｓ ｆｗａ ｅ ｓ ｓ ｅ ｏ ｉ ｃ ｎ ｐ ｏ ｏ ｅ ｌ ｓ ｉ ｃ ｎ ｐ ｏ ｏ ｅｌ ｅ ｆｓ ｅ ｔａ ｓ ｏ ｓ ａ ｕ ｅ ｎ ｏ ｔ ｒ ｙ ｔ ｍ ｆ ｌ ｏ ｈ ｔ ｃ ｌ ｉ ｉ ｒ ｓｉ
ｌ ＝＝＝ 光栅单色仪 串 ＝
ｌ 口

五、紫外可见分子吸收光谱法(277题)一、选择题( 共85题)1. 2 分(1010)在紫外－可见光度分析中极性溶剂会使被测物吸收峰( )(1) 消失(2) 精细结构更明显(3) 位移(4) 分裂2. 2 分(1019)用比色法测定邻菲罗啉－亚铁配合物时,配合物的吸收曲线如图1所示,今有a、b、c、d、e滤光片可供选用,它们的透光曲线如图2所示,你认为应选的滤光片为( )3. 2 分(1020)欲测某有色物的吸收光谱.下列方法中可以采用的是( )(1) 比色法(2) 示差分光光度法(3) 光度滴定法(4) 分光光度法4. 2 分(1021)按一般光度法用空白溶液作参比溶液.测得某试液的透射比为10%.如果更改参比溶液.用一般分光光度法测得透射比为20% 的标准溶液作参比溶液.则试液的透光率应等于( )(1) 8% (2) 40% (3) 50% (4) 80%5. 1 分(1027)邻二氮菲亚铁配合物.其最大吸收为510 nm.如用光电比色计测定应选用哪一种滤光片？( )(1) 红色(2) 黄色(3) 绿色(4) 蓝色6. 2 分(1074)下列化合物中.同时有n→π*.π→π*.σ→σ*跃迁的化合物是( )(1) 一氯甲烷(2) 丙酮(3) 1,3-丁二烯(4) 甲醇7. 2 分(1081)双波长分光光度计的输出信号是( ) (1) 试样吸收与参比吸收之差(2) 试样在λ1和λ2处吸收之差(3) 试样在λ1和λ2处吸收之和(4) 试样在λ1的吸收与参比在λ2的吸收之差8. 2 分(1082)在吸收光谱曲线中.吸光度的最大值是偶数阶导数光谱曲线的( )(1) 极大值(2) 极小值(3) 零(4) 极大或极小值9. 2 分(1101)双光束分光光度计与单光束分光光度计相比.其突出优点是( )(1) 可以扩大波长的应用范围(2) 可以采用快速响应的检测系统(3) 可以抵消吸收池所带来的误差(4) 可以抵消因光源的变化而产生的误差10. 2 分(1105)在紫外光谱中.λmax最大的化合物是( )11. 2 分 (1106)用实验方法测定某金属配合物的摩尔吸收系数ε.测定值的大小决定于( )(1) 配合物的浓度 (2) 配合物的性质(3) 比色皿的厚度 (4) 入射光强度12. 2 分 (1173)下列结构中哪一种能产生分子荧光？ () OHNO 2COOHI(1)(2)(3)(4)13. 2 分 (1198)1198有下列四种化合物已知其结构.其中之一用 UV 光谱测得其λmax 为 302nm.问应是哪种化合物？ ( )CH 3CH CHCOCH 3CH 3CH 3(4)(3)(2)BrOHOOCH 33CH 3(1)14. 2 分 (1217) 许多化合物的吸收曲线表明.它们的最大吸收常常位于 200─400nm 之间.对这一光谱区应选用的光源为 ( )(1) 氘灯或氢灯 (2) 能斯特灯(3) 钨灯 (4) 空心阴极灯灯15. 5 分 (1231)下列四种化合物中,在紫外光区出现两个吸收带者是 ( )(1)乙烯 (2)1,4-戊二烯(3)1,3-丁二烯 (4)丙烯醛16. 2 分 (1232)助色团对谱带的影响是使谱带 ( )(1)波长变长 (2)波长变短(3)波长不变 (4)谱带蓝移17. 5 分 (1233)对化合物 CH 3COCH=C(CH 3)2的n — *跃迁,当在下列溶剂中测定,谱带波长最短的是 ( )(1)环己烷 (2)氯仿(3)甲醇 (4)水紫外-可见吸收光谱曲线呈高斯分布的是( )(1)多普勒变宽(2)自吸现象(3)分子吸收特征(4)原子吸收特征19. 2 分(1300)指出下列哪种是紫外-可见分光光度计常用的光源？( )(1) 硅碳棒(2) 激光器(3) 空心阴极灯(4) 卤钨灯20. 2 分(1301)指出下列哪种不是紫外-可见分光光度计使用的检测器？( )(1) 热电偶(2) 光电倍增管(3) 光电池(4) 光电管21. 2 分(1302)指出下列哪种因素对朗伯-比尔定律不产生偏差？( )(1) 溶质的离解作用(2) 杂散光进入检测器(3) 溶液的折射指数增加(4) 改变吸收光程长度22. 1 分(1303)分子荧光过程是( )(1) 光致发光(2) 能量源激光发光(3) 化学发光(4) 电致发光23. 1 分(1305)在分子荧光测量中, 在下列哪一种条件下, 荧光强度与浓度呈正比? ( )(1) 荧光量子产率较大(2) 在稀溶液中(3) 在特定的激发波长下(4) 用高灵敏度的检测器下列哪种方法的测量灵敏度高? ( )(1) 磷光分析法(2) 荧光分析法(3) 紫外-可见分光光度法(4) 目视比色法25. 2 分(1307)已知相对分子质量为320的某化合物在波长350nm处的百分吸收系数(比吸收系数)为5000, 则该化合物的摩尔吸收系数为( )(1)1.6×104L/(moL·cm) (2)3.2×105 L/(moL·cm)(3)1.6×106 L/(moL·cm) (4)1.6×105 L/(moL·cm)26. 2 分(1308)在310nm时, 如果溶液的百分透射比是90%,在这一波长时的吸收值是( )(1) 1 (2) 0.1 (3) 0.9 (4) 0.0527. 1 分(1309)荧光分析法和磷光分析法的灵敏度比吸收光度法的灵敏度( )(1) 高(2) 低(3) 相当(4) 不一定谁高谁低28. 2 分(1324)紫外-可见吸收光谱主要决定于( )(1) 分子的振动、转动能级的跃迁(2) 分子的电子结构(3) 原子的电子结构(4) 原子的外层电子能级间跃迁29. 1 分(1333)指出下列说法中哪个有错误? ( )(1) 荧光和磷光光谱都是发射光谱(2) 磷光发射发生在三重态(3) 磷光强度I p与浓度c的关系与荧光一致(4) 磷光光谱与最低激发三重态的吸收带之间存在着镜像关系30. 2 分(1334)指出下列不正确的说法？( )(1) 分子荧光光谱通常是吸收光谱的镜像(2) 分子荧光光谱与激发波长有关(3) 分子荧光光谱较激发光谱波长长(4) 荧光强度与激发光强度呈正比31. 2 分(1335)下列哪一种分子的去激发过程是荧光过程? ( )(1) 分子从第一激发单重态的最低振动能级返回到基态(2) 分子从第二激发单重态的某个低振动能级过渡到第一激发单重态(3) 分子从第一激发单重态非辐射跃迁至三重态(4) 分子从第一激发三重态的最低振动能级返回到基态32. 2 分(1336)下列哪种说法有错误? ( )(1) 荧光分子的激发光谱与发射波长无关(2) 荧光分子的激发光谱的荧光强度是激发波长的函数(3) 在分子荧光光谱法中吸收与激发光谱常可以互换(4) 得到荧光分子的激发光谱方法与常规吸收光谱方法是两种基本相同的方法33. 2 分(1338)在荧光光谱中, 测量时, 通常检测系统与入射光的夹角呈( )(1) 180°(2) 120°(3) 90°(4) 45°34. 2 分(1339)某荧光物质的摩尔吸收系数为2.0×105L/(mol cm),当用激发光强度为50(随机单位)去激发该荧光物质, 若吸收池为1.0cm, 化合物浓度为5.0 ×10-7mol/L,测得荧光强度为2.3(随机单位), 则该化合物的荧光量子效率约为( )(1) 0.2 (2) 0.46 (3) 23 (4) 2.335. 2 分(1340)某化合物在λmax=356nm处, 在乙烷中的摩尔吸收系数εmax=87 L/(mol⋅cm), 如果用1.0cm吸收池,该化合物在已烷中浓度为1.0 ×10-4mol/L,则在该波长处, 它的百分透射比约为( )(1) 87% (2) 2% (3) 49% (4) 98%36. 2 分(1341)某化合物的浓度为1.0 ×10-5mol/L,在λmax=380nm时, 有透射比为50%, 用1.0cm吸收池, 则在该波长处的摩尔吸收系数εmax /[L/(mol⋅cm)]为( )(1) 5.0 ×104 (2) 2.5 ×104 (3) 1.5 ×104 (4) 3.0 ×10437. 2 分(1342)在分光光度计的检测系统中, 以光电管代替硒光电池, 可以提高测量的( )(1) 灵敏度(2) 准确度(3) 精确度(4) 重现性38. 2 分(1343)基于发射原理的分析方法是( )(1) 光电比色法(2) 荧光光度法(3) 紫外及可见分光光度法(4) 红外光谱法39. 2 分(1344)基于吸收原理的分析方法是( )(1) 原子荧光光谱法(2) 分子荧光光度法(3) 光电直读光谱法(4) 紫外及可见分光光度法40. 2 分(1346)在紫外-可见分光光度计中, 强度大且光谱区域广的光源是( )(1) 钨灯(2) 氢灯(3) 氙灯(4) 汞灯41. 1 分(1355)硒光电池主要用于检测( )(1) X射线(2) 紫外光(3) 可见光(4) 红外光42. 2 分(1357)荧光分光光度计与紫外-可见分光光度计的主要区别在于( )(1) 光路(2) 光源(3) 单色器(4) 光电倍增管43. 2 分(1367)物质的紫外-可见吸收光谱的产生是由于( )(1) 分子的振动(2) 分子的转动(3) 原子核外层电子的跃迁(4) 原子核内层电子的跃迁44. 1 分(1371)工作波长范围较宽的光度计为( )(1) 581-G型滤光光度计(2) 72型分光光度计(3) 721 型分光光度计(4) 751 型分光光度计45. 2 分(1372)在一定波长处, 用2.0 cm比色皿测得某试液的透光度为60%, 若改用3.0 cm比色皿时, 该试液的吸光度为( )(1) 0.11 (2) 0.22 (3) 0.33 (4) 0.4446. 1 分(1374)阶跃线荧光的波长( )(1)大于所吸收的辐射的波长(2)小于所吸收的辐射的波长(3)等于所吸收的辐射的波长(4)正比于所吸收的辐射的波长47. 2 分(1381)双波长分光光度计的输出信号是( )(1) 试样与参比吸收之差(2) 试样与参比吸收之和(3) 试样在λ1和λ2处吸收之差(4) 试样在λ1和λ2处吸收之和48. 1 分(1752)下面哪一种电子能级跃迁需要的能量最高? ( )(1) σ→σ*(2) n→σ *(3) π→π* (4) π→σ*49. 2 分(1753)化合物中CH3--Cl在172nm有吸收带,而CH3--I的吸收带在258nm处,CH3--Br 的吸收带在204nm ,三种化合物的吸收带对应的跃迁类型是( )(1) σ→σ*(2) n→π*(3) n→σ * (4)各不相同50. 2 分(1754)某化合物在乙醇中λmax乙醇=287nm,而在二氧六环中λmax二氧六环=295nm.该吸收峰的跃迁类型是（）(1) σ→σ* (2) π→π*(3) π→σ* (4) π→π*51. 2 分(1755)一化合物溶解在己烷中,其λmax己烷=305 nm.而在乙醇中时.λ乙醇=307nm.引起该吸收的电子跃迁类型是( )(1) σ→σ * (2)n→π *(3) π→π* (4) n→σ*52. 2 分(1756)在分子CH3的电子能级跃迁中,下列哪种电子能级跃迁类型在该分子中不发生( )(1) σ→π* (2) π→σ*(3) n→σ* (4) n→π*53. 2 分(1757)一化合物在235nm处有最大吸收值,用1.0 cm的吸收池,化合物的浓度为2.0×10-4mol/L,透射比为20%, 则在该波长处的摩尔吸收系数εmax /[L/(moL·cm)]为( )(1) 5.0×103 (2) 3.5×103 (3) 2.5×103 (4) 1.0×10354. 1 分(1758)在254nm时.如果溶液的百分透射比是10％.其吸光度值为（）(1) 1 (2) 0.9 (3) 0.1 (4) 0.0555. 2 分(1759)某化合物在己烷中（λmax＝220nm）的摩尔吸收系数εmax＝14500L/(moL·cm).若用1.0cm吸收池.1.0×10－4mol/L的该化合物在该波长处的百分透射比为（）(1) 5% (2) 3.5% (3)10% (4)50%56. 2 分(1760)对某特定的仪器.其透射比的标准偏差为0.006.对某溶液测得的透射比T＝0.015 时那么浓度的相对标准偏差是（）(1) +2.5% (2) +5.0% (3) +9.5% (4) +12.5%57. 2 分(1761)对某特定的仪器.其透射比的标准偏差为0.006.当测得溶液的百分透射比T＝64.8％时.则浓度的相对标准偏差是（）(1) +6.6% (2) +4.2% (3) +3.4% (4) +2.1%58. 2 分(1762)对某特定的仪器.其透射比的标准偏差为0.006.当测得溶液的吸光度A＝0.334时. 则浓度的相对标准偏差是 （ ）(1) +0.6% (2) +1.7% (3) +3.5% (4) +7.6% 59. 2 分 (1763)比较下列化合物的UV －VIS 光谱λmax 大小（ ）CH 3CHON(CH 3)2(a)OHOCl CH 3COOC 2H 5(b)COOHCl(CH 3)2N(C)(1)a>b>c (2)c>a>b (3)b>c>a (4)c>b>a 60. 2 分 (1764)比较下列化合物的UV －VIS 吸收波长的位置（λmax ）( )(C)CH 3OCH 3OC(b)COOHOCl(a)O(1) a>b>c (2) c>b>a (3)b>a>c (4)c>a>b 61. 2 分 (1765)在紫外－可见吸收光谱中.下列具有最大吸收波长的物质是（ ）O(1)(2) (3)(4)62. 2 分 (1766)在紫外－可见光谱区有吸收的化合物是（ ）(1) CH 3-CH=CH-CH 3 (2) CH 3-CH 2OH(3) CH 2=CH-CH 2-CH=CH 2 (4) CH 2=CH-CH=CH-CH 363. 2 分(1767)Fe和Cd 的摩尔质量分别为55.85g/mol和112.4g/mol.各用一种显色反应用分光光度法测定.同样质量的两元素分别被显色成容积相同的溶液.前者用2cm吸收池.后者用1cm吸收池.所得吸光度相等.此两种显色反应产物的摩尔吸收系数为（）(1) εFe≈2εCd (2) εCd ≈2εFe(3) εCd≈4εFe (4) εFe≈4εCd64. 2 分(1768)双波长分光光度计和单波长分光光度计的主要区别是（）(1)光源的个数(2)单色器的个数(3)吸收池的个数(4)单色器和吸收池的个数65. 1 分(1769)物质的颜色是由于选择性地吸收了白光中的某些波长所致.CuSO4溶液呈蓝色是由于它吸收了白光中的（）(1) 蓝色光(2) 绿色光(3) 黄色光(4) 红色光66. 2 分(1770)符合朗伯－比尔定律的有色溶液稀释时.其最大吸收峰的波长位置（）(1) 向长波方向移动(2) 向短波方向移动(3) 不移动.但最大吸收峰强度降低(4) 不移动.但最大吸收峰强度增大67. 2 分(1771)某金属离子X和R试剂形成一有色配合物.若溶液中X的浓度为1.0×10－4mol/L.用1cm吸收池在525nm处测得吸光度为0.400.则此配合物在525nm处的摩尔吸收系数为( ）(1) 4.0×10-3 (2) 4.0×103(3) 4.0×10-4 (4) 4.0×10468. 2 分(1772)以下三种分析方法：分光光度法（S）、磷光法（P）和荧光法（F）.具有各不相同的灵敏度.按次序排列为( )(1) P<F<S (2) S=F<P (3) P<S<F (4) F>P>S69. 2 分(1773)A和B二物质紫外－可见吸收光谱参数如下：物质λ1时的摩尔吸收系数λ2时的摩尔吸收系数/[L/(moL·cm)]A 4,120 0.00B 3,610 300若此二种物质的某溶液在λ1时在1.00cm 吸收池中测得A＝0.754.在λ2时于10.0cm 吸收池中测得A ＝0.240.问B的浓度是多少？（）(1) 0.64×10-5mol/L (2) 0.80×10-5 mol/L(3) 0.64×10-4mol/L (4) 0.80×10-4mol/L70. 1 分(1774)分光光度法中.为了减小浓度测量的相对误差.配制的试样溶液的透射比应控制在什么范围？（）(1) 小于1% (2) 1%-10%(3) 30%-50% (4) 90%-99%71. 2 分(1775)下列哪种方法可用于测定合金中皮克数量级（10－12）的铋？（）（1）分光光度法（2）中子活化（3）极谱法（4）电位滴定法72. 2 分(1776)K I O4法氧化Mn2+到MnO4－.然后用分光光度法测定.选择合适的空白为（）(1) 蒸馏水(2) 试剂空白(3) 除K I外的试剂空白(4) 不含K I O4的溶液空白73. 1 分(1777)在分光光度法中.运用朗伯－比尔定律进行定量分析采用的入射光为（）（1）白光（2）单色光（3）可见光（4）紫外光74. 2 分(1778)在分光光度法中.运用朗伯－比尔定律进行定量分析采用的入射光为（）（1）白光（2）单色光（3）可见光（4）紫外光75. 2 分(1779)邻二氮菲亚铁配合物的最大吸收波长为510nm.如用光电比色计测定时应选哪种滤光片？（）（1）红色（2）黄色（3）绿色（4）蓝色76. 2 分(1780)分子运动包括有电子相对原子核的运动（E电子）、核间相对位移的振动（E振动）和转动（E转动）这三种运动的能量大小顺序为（）(1) E振动>E转动>E电子(2) E转动>E电子>E振动(3) E电子>E振动>E转动(4) E电子>E转动>E振动77. 2 分(1781)现有紫外－可见吸收光谱相互干扰的A和B两组分.它们的最大波长分别为λA和λB.若用双波长测定A组分的含量.则下面哪一种选择λ1和λ2的方法是正确的？（）（1）使λ1和λ2分别等于λA和λB（2）选λ1等于λA.选λ2使B组分在λ2的吸光度和它在λ1处的吸光度相等（3）选λ1等于λA.选λ2为A.B两组分吸收峰相交处的波长（4）选λ1等于λB.选λ2使A组分在λ2的吸光度和它在λ1处的吸光度相等78. 1 分(1782)某化合物在乙醇中的λmax＝240nm.εmax＝13000L/(moL·cm).则该UV－VIS吸收谱带的跃迁类型是（）(1) n→σ* (2) n→π* (3) π→π* (4) σ→σ*79. 2 分(1783)在分子荧光法中.以下说法中正确的是（）（1）激发过程中的电子自旋虽不变.但激发态已不是单重态（2）激发态电子的自旋不成对.此状态称为单重态（3）激发三重态能级比相应激发单重态能级要低一些（4）单重态到三重态的激发概率高于单重态到单重态80. 2 分(1784)在分子荧光分析法中.以下说法正确的是（）（1）分子中π电子共轭程度越大.荧光越易发生.且向短波方向移动（2）只要物质具有与激发光相同的频率的吸收结构.就会产生荧光（3）分子中π电子共轭程度越大.荧光越易发生.且向长波方向移动（4）非刚性分子的荧光强于刚性分子81. 2 分(1785)在分子荧光分析法中.下面说法正确的是（）（1）荧光发射光谱不随激发波长的变化而改变（2）荧光发射光谱要随激发波长的变化而改变（3）荧光激发光谱与它的紫外－可见吸收光谱互为镜像对称关系（4）荧光发射光谱与它的紫外－可见吸收光谱形状相似且波长位置也一样82. 2 分(1786)在分子荧光分析法中.下面说法不正确的是（）（1）吸电子基团常使荧光增强（2）将一个高原子序数的原子引入到π体系中.使荧光减弱（3）与π电子体系作用小的取代基引入.对荧光影响不明显（4）给电子基团常使荧光增强83. 5 分(1787)化合物（1）的烯醇式乙酰化产物可能是（2）和（3）.它的紫外吸收λmax为238nm(lgεmax=4.2)。

值。
得 目标 的二维图像信息和图像 中每一点 的光谱信息 ，以及每
一
点各单谱段的偏振态信 息。
光 的偏 振 态 有 多 种 表 述 方 式 ，为 了 方 便 ，可 以 采 用
Ｓｏ ｅ ｔｋｓ向量 表 述 方 式 ＿ 。 ｔｋ ｓ 量 能 够 完 全 描 述 光 的 偏 振 ３ Ｓｏ ｅ 向 ］ 态 ，其 表述 方式 为 ｓｓ， ， ， ， 中 Ｓ 表 示 光 的 总 强 度 、 （。 Ｓ ５ ５） 其 ｚ ｏ
收 稿 日期 ： ０ ００ 一１ 修 订 日期 ： ０ ００ —０ ２ １—５ｌ 。 ２ １ —８１
ＩＰ一般都能够获得图像 中各 点 的光谱 ， 是光谱 的偏 Ｓ 但
振态根据需要可以获得全部 的 Ｓｏ ｅ ｔｋｓ分量或 Ｓｏ ｅ 分量 的 ｔｋ ｓ
基金项 目：国家 自然科学基金项 目（０ ０ ０ ３ ￣ １ ４８５１）１ １ Ｎ家重点基础研究发展计 划项 目（０ ９ Ｂ ２ ０５ 资助 ２ ０ Ｃ ７４ ０ ）
ｌ ， ）
研制的 ＩＰ进行 ｒ农业环境观测 、地球环境 观测 、水体污染 Ｓ
监测 等 试 验 。意大 利 也 于 １９ 年 开 始 ， ９９ 利用 在 相 机 镜 头 前 安 装 Ｌ ＴＦ和薄膜偏振 片的方式设计 了 Ｉ１ ， Ｃ Ｓ ｓ 在设计 中尽
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可能多地选用 了现货商品 ， 降低 厂 成本 。 美国亚利桑那大学光科学 巾心 与美国陆军工程研发中心 合作 ， １９ 于 ９９年在 Ｃ Ｓ的基础 卜 ＴＩ 通过在物镜前方添加偏振
（ ｏ ｕ ｅ ｏ ｒ ｐ ｉ ｇ ｎ ｈ ｎ ｅｅ ｐ ｃ ｒ ｐ ｌ ｒ ｔ ｒ ｃ ｍｐ ｔ ｒｔ ｍｇ ａ ｈｃ ｉ ｍａ ｉｇ ｃ ａ ｎ ｌｄ ｓ ｅ ｔｏ ｏ ａ ｉ ｅ ， ｍｅ

I-V测试操作流程一、准备1.开启模拟器灯室电源开关。

2.开启模拟器主控电源总开关。

3.通过长时间按下模拟器主控电源的Set/Enter 设置模拟器主控电源输出电功率大于420W，再按该按钮确认。

4.点触模拟器主控电源的LAMP Start按钮触发模拟器氙灯灯泡。

若触发失败，主控电源屏幕会显示L P,并且Failed 指示灯点亮。

此时需增大主控电源输出电功率，等待5分钟后再次按LAMP Start触发氙灯。

确认氙灯点亮后，需等待15分钟再进行矫正。

5.开启半导体温控电源。

6.开启Keithley2400源表电源7.开启电脑并运行软件，正常连接数字源表二、矫正及测试1.将标准电池片放置于模拟器出口位置。

2.标准电池片红白为负极，黄灰为正极。

将电池片正极接源表正极；电池片负极接源表负极。

3.软件中设置测试参数（包含起始电压、间隔电压、终止电压等）4.点击开始根据软件提示进行测试。

5.确认测试结果的短路电流与证书的标示一致。

若测试结果大于证书标示，则需调低模拟器电功率输出，否则需调高模拟器电功率输出。

再重新进行测试直至测试结果的短路电流与证书标示一致。

完成矫正。

6.将样品放置于测试台上并将电池片正极接源表正极；电池片负极接源表负极。

7.软件中设置测试参数（包含起始电压、间隔电压、终止电压等）8.点击开始进行测试。

三、关机1.关闭软件及电脑2.点触模拟器主控电源的LAMP OFF按钮以关闭氙灯。

3.关闭半导体温控器。

4.关闭Keithley2400源表。

5.待模拟器灯室冷却风扇停止后再关闭模拟器主控电源。

6.最后关闭模拟器灯室电源。

IV系统操作注意事项一、模拟器使用注意事项1.严禁在未封闭模拟器灯室情况下触发模拟器。

2.严禁用眼睛直视模拟器输出的光。

3.严禁长时间将皮肤暴露于样品时输出光板下。

4.需观察模拟器输出光斑时，应使用表面粗糙的物品置于模拟器输出光下，并佩戴防护眼镜。

5.严格按照IV测试流程中准备的开机顺序开启设备。

太阳能电池的光谱灵敏度是短路光谱电流密度与光谱福照度的比值光谱响应(1)指光阴极量子效率与入射波长之间的关系.(2)光谱响应表示不同波长的光子产生电子-空穴对的能力。

定量地说，太阳电池的光谱响应就是当某一波长的光照射在电池表面上时，每一光子平均所能收集到的载流子数。

太阳电池的光谱响应又分为绝对光谱响应和相对光谱响应。

各种波长的单位辐射光能或对应的光子入射到太阳电池上，将产生不同的短路电流，按波长的分布求得其对应的短路电流变化曲线称为太阳电池的绝对光谱响应。

如果每一波长以一定等量的辐射光能或等光子数入射到太阳电池上，所产生的短路电流与其中最大短路电流比较，按波长的分布求得其比值变化曲线，这就是该太阳电池的相对光谱响应。

但是，无论是绝对还是相对光谱响应，光谱响应曲线峰值越高，越平坦，对应电池的短路电流密度就越大，效率也越高。

(3)太阳电池并不能把任何一种光都同样地转换成电。

例如：通常红光转变为电的比例与蓝光转变为电的比例是不同的。

由于光的颜色（波长）不同，转变为电的比例也不同，这种特性称为光谱响应特性。

光谱响应特性的测量是用一定强度的单色光照射太阳电池，测量此时电池的短路电流，然后依次改变单色光的波长，再重复测量以得到在各个波长下的短路电流，即反映了电池的光谱响应特性。

(4)光谱响应特性与太阳电池的应用：从太阳电池的应用角度来说，太阳电池的光谱响应特性与光源的辐射光谱特性相匹配是非常重要的，这样可以更充分地利用光能和提高太阳电池的光电转换效率。

例如，有的电池在太阳光照射下能确定转换效率，但在荧光灯这样的室内光源下就无法得到有效的光电转换。

不同的太阳电池与不同的光源的匹配程度是不一样的。

而光强和光谱的不同，会引起太阳能电池输出的变动。

[1]什么是光谱响应悬赏分：0 | 解决时间：2010-11-4 00:08 | 提问者：匿名什么是光谱响应最佳答案光谱响应指光阴极量子效率与入射波长之间的关系光谱响应表示不同波长的光子产生电子-空穴对的能力。

太阳能电池（光电材料）IPCE/QE/量子效率/光谱响应测试系统太阳能电池测试行业长期的经验，使得我公司太阳能电池（光电材料）IPCE/QE/量子效率/光谱响应测试系统始终处于行业领先位置。

符合IEC, JIS, ASTM标准规定，我公司太阳能电池（光电材料）IPCE/QE/量子效率/光谱响应测试系统具有很高的稳定性和重复性。

作为光伏器件厂商和科研工作者，为了获得高效的产品，就需要一套高性能太阳能电池（光电材料）IPCE/QE/量子效率/光谱响应测试系统来帮助完成产品改进。

我公司太阳能电池（光电材料）IPCE/QE/量子效率/光谱响应测试系统可以出色的完成测试太阳能电池（光电材料）的IPCE/QE/量子效率/光谱响应，进而帮助厂商和科研工作者分析改进太阳能电池加工制造材料和工艺等。

目前，石油、天然气等不可再生能源价格的居高不下，使得人类对太阳能电池（光电材料）的研究开发进入了一个新的阶段，国内很多实验室和科研院校也都加紧了对太阳能电池材料（光电材料）的研究和开发。

太阳能电池（光电材料）IPCE/QE/量子效率/光谱响应测试作为太阳能电池（光电材料）研究开发的一个环节，至关重要，需要专业的测试系统来完成。

针对当前人们对太阳能电池材料（光电材料）的研究和开发，以及太阳能电池（光电材料）研究人员搭建太阳能电池（光电材料）IPCE/QE/量子效率/光谱响应测试系统的耗时耗力，我公司特推出太阳能电池（光电材料）IPCE/QE/量子效率/光谱响应测试系统，并已在很多太阳能电池材料（光电材料）研究、测试实验室广泛使用。

一、我公司太阳能电池（光电材料）IPCE/QE/量子效率/光谱响应测试系统的优势：1. 技术服务全面我公司始终把客户需求摆在首要位置，针对客户特殊需求量身定做，为客户提供全套解决方案，终身提供技术服务，为客户节省了搭建太阳能电池（光电材料）IPCE/QE/量子效率/光谱响应测试系统所消耗的时间和人力物力，同时也得到了客户的一致好评。

IPCE简介及其在DSSC中的应用摘要：本文简明扼要的对IPCE做了介绍，其中包括原理、基本的概念、在太阳能方面的使用。

也对其测试仪器系统做了介绍，包括仪器的组成、原理、使用的方法等。

最后着重介绍了其在DSSC中的使用，并分析了其在DSSC中所起的重要作用，通过具体实例可以加强对IPCE的理解和认识。

关键字：IPCE;光电转换效率；DSSC；应用1.随着人类社会的进步能源问题和环境问题已经成为了制约人类社会发展的两大热点问题。

太阳能作为一种绿色、安全、无污染、取之不尽用之不竭的新能源，已经成为了目前最有潜力取代常规化石能源的成为人类社会主流能源之一的新能源。

染料敏化纳米晶太阳能电池（Dye Sensitized Solar Cells 简称DSSC）作为太阳能电池的一种，自1991年瑞士科学家G rätzel报道以来，以其寿命长、生产工艺简单、能源回收周期短、成本低、生产过程中无毒无污染的优势迅速发展为行业内备受人们关注的研究热点[4]。

对其表征和测试也就显得尤为重要，IPCE作为太阳能电池方面的一种重要的测试手段，科研工作者有必要了解。

1.1 IPCE简介IPCE我们一般称之为光电转化效率或单色光光电转换效率，学术术语为入射单色光子-电子转化效率(monochromatic incident photon-to-electron conversion efficiency，用缩写IPCE表示)。

IPCE的定义为：单位时间内外电路中产生的电子数Ne与单位时间内的入射单色光子数Np之比，其数学表达式为：IPCE= 1240 Isc / (l Pin)，其中Isc、l和Pin所使用的单位分别为μA cm-2 、nm和W m-2。

实际应用中，考虑到IPCE与光捕获效率LHE (l)、电子注入量子效率finj及注入电子在纳米晶膜与导电玻璃的后接触面上的收集效率fc三部分相关，对公式进行修正。

所以对于同一体系，两者相比，IPCE (l)能更好地表示电池对太阳能的利用程度，因为f (l)只考虑了被吸收光的光电转化，而IPCE (l) 既考虑了被吸收光的光电转化又考虑了光的吸收程度。

Am
f
A(f) N(f)
f
f
f
f 1
A( f )df
Am 0
说明：噪声均方电流或均方电压时，用此等效带宽。
探测器的主要参数
响应率（积分灵敏度）
探测器的输出信号电压 Vs或电流Is与入射光功率 s之比
Sv
Vs s
或
Sv
IS s
光谱响应率
探测器在波长为的单色光照射下，输出的电压Vs ()或电流Is ()
由于RP随着入射光功率变化而变化，要保持匹配有 困难，一般采用RL RP1RP2
光明电阻的应用列举
照相机电子快门
W
E0
EA
Eg
Ec
Ef
半导体光电发射
注意：在光电效应里面：包括内电光与外电光 效应，都存在着一个阀值波长问题
探测器的噪声
一般光电系统的噪声：
目标 光学系统 探测器
前放
信号处理
显示
光子噪声
探测噪声
处理电路噪声
光子噪声： 信号辐射产生的噪声与背景噪声 探测器噪声：热噪声，散粒噪声，产生与复合
噪声， 温度噪声，1/f噪声
780
xv km 380 v()xe ()d
辐
射
人眼
度
光 度 学
光度学(Photometry)
辐射度量与光度量的一一对应关系： （参见书本的的第4页） 注意的是： 探测器的的性能参数可能用不同的单位来量，
但其本质是一致的。 加深理解：参见课后练习（1—1).
半导体光电器件
半导体光电导器件是利用半导体材料的光电效应制 成的光电探测器件。其最典型的器件是光明电阻。 光明电阻的特点： 光谱响应范围宽 工作电流大 所测的光强范围广 灵敏度高 偏置电压低，无极性之分 不足之处是：在强光下线性较差，光电驰豫过程较 长，频率响应低。