X射线荧光光谱仪技术要求_V2

xrf(x荧光光谱仪)技术指标XRF 技术指标基本性能参数分辨率：能量分辨率，以电子伏特 (eV) 表示，描述仪器区分不同能量 X 射线的能力。

灵敏度：检测下限，以质量浓度或计量单位表示，描述仪器检测特定元素的最低水平。

稳定性：仪器在一段时间内保持稳定测量结果的能力，通常用计数率的变化表示。

重复性：相同样品在相同测量条件下多次测量的结果一致性，通常用相对标准偏差 (RSD) 表示。

线性范围：仪器测量结果与样品中元素浓度之间保持线性关系的浓度范围。

激发源：产生 X 射线辐射的组件，可以是 X 射线管或放射性同位素。

光学元件：柱状准直器、单色器和探测器，用于处理来自激发源的 X 射线，以提高分辨率和信噪比。

探测器：光电倍增管或半导体探测器，用于检测 X 射线并将其转换为电信号。

数据处理参数分析软件：用于处理和分析 XRF 谱数据的软件，包括定性和定量分析功能。

校准：使用已知浓度的标准样品建立测量结果与元素浓度之间的关系。

定量方法：用于计算样品中元素浓度的算法，例如基本参数法和校准曲线法。

尺寸：仪器的物理尺寸和重量。

功耗：仪器在运行期间消耗的电力。

工作温度：仪器正常运行所需的温度范围。

环境要求：仪器正常运行所需的相对湿度、气压和振动水平等环境条件。

其他考虑因素应用：仪器的适用范围，例如元素分析、材料表征或环境监测。

样品类型：仪器可以分析的样品类型，例如固体、液体或气体。

自动化程度：仪器自动执行测量、处理和分析的能力。

用户界面：仪器操作的难易程度和直观性。

技术支持：制造商提供的技术支持水平，例如维护、维修和软件更新。

x射线荧光光谱技术
X射线荧光光谱技术是一种分析材料成分的技术。

其基本原理是当物质中的原子受到适当的高能辐射的激发后，会放射出该原子所具有的特征X射线。

根据探测到该元素特征X射线的存在与否，可以定性分析材料的成分。

而在X射线荧光光谱分析中，多数采用高功率的封闭式X射线管为激发源，配以晶体波长色散法及高效率的正比计数器和闪烁计数器，并且用电子计算机进行程序控制、基体校正和数据处理。

此技术常用于元素定性分析、半定量分析和定量分析，可以进行无损分析，但灵敏度不高，只能分析含量在0.02%以上的元素。

试样应具备一定尺寸和厚度，表面平整，可放入仪器专用的样品盒中，同时要求制样过程具有良好的重现性。

荧光X射线的谱线简单，光谱干扰少。

x射线荧光光谱仪数量一套主要用于分析玻璃原材料、玻璃制品中的元素的含量及各元素的成分比例；能迅速准确的分析Be4～U92之间元素。

分析17种左右元素的样品从进样开始到出检测结果的分析时间应控制在5分钟以内。

一、总体要求1.1具有最高性能的、代表最新科技水平；1.2类型：顺序扫描波长色散型X射线荧光光谱仪；1.3元素分析范围：O(8)—铀(92)；1.4浓度范围从亚ppm到主含量；1.5可分析固体、粉末等样品。

二、分析项目要求仪器主要用于固体、粉末、薄膜等材料及特殊不规则小样品或少量样品检测。

三、环境要求3.1 温度：10—40 C3.2 电源：AC 220V±10%，或AC 380V±10%，50（±1）Hz四、系统组成X射线光管、晶体、测角仪、探测器、数据工作站、操作软件、无标样定量分析软件、辅助设备等。

五、技术要求*5.1 X射线管（质保期3年）5.1.1 形式：超尖锐端窗型，长寿命灯丝*5.1.2铍窗厚度：≤ 50μm5.1.3 阳极材料：铑靶*5.1.4最大功率：≥60KV，≥150mA，≥4.0KW5.2 高压发生器5.2.1 发生器类型：高频高压发生器。

*5.2.2最大功率：≥60KV，≥150mA，≥4.0KW*5.2.3 稳定性：外电压波动±10%时，输出电压波动≤±0.002%；8小时稳定性<1%。

5.2.4 电压允许波动：+10% 至 -10%5.3 样品方式*5.3.1X射线照射方式：上照射5.3.2 样品种类：固体、粉末压片、熔融片。

5.3.2 样品最大尺寸：直径：50mm，高：30mm5.3.3 样品旋转：不小于30rpm/min5.4 光路设计*5.4.1 初级准直器：3位置以上程序控制，自动切换，配置适合超轻、轻、重元素的至少3个准直器。

5.4.2 独特的光学系统：适应特殊不规则小样品的分析，配置准直器面罩或多孔径光阑或孔径交换器：至少6种孔径以上：φ0.5mm,φ1mm, φ10mm, φ20mm, φ30mm,φ35mm，电脑程序控制，自动切换。

X射线荧光光谱仪技术参数1.应用范围：适用于地质、农业、环境等领域固体、粉末及特殊不规则小样品元素含量分析及科学研究。

2供货要求：2.1仪器类型：顺序扫描波长色散型X射线荧光光谱仪2.2数量：一台2.3内容：2.3.1主机（包括光管、测角仪、探测器、数据工作站、自动进样器、操作软件、无标样定量分析软件等）。

2.3.2循环冷却水系统2.3.3UPS带稳压功能的延迟电源2.3.4计算机及打印机2.3.5两年消耗件3.技术指标3.1仪器工作环境3.1.1工作温度：18-32︒C3.1.2工作湿度：20-80%（20︒C）3.1.3适用电源：单相，220V（±10%），或380V（±10%），50Hz。

3.1.4接地电阻：≤10Ω3.1.5P10（氩/甲烷气：99.999%）3.1.6P10气瓶减压阀及压力表：主量程0-25MPa，分表量程0-0.4Mpa。

3.1.7国内直拨电话线：1根，用于远程诊断。

3.1.8持久性：仪器设计为连续工作，可长期开机使用。

3.2仪器功能与组成3.2.1适用于地质、农业、环境等领域样品分析及科学研究。

3.2.2采用最新设计，具备快速半定量、定量测定元素含量的功能，覆盖8O-92U元素范围，适用于固体、粉末及特殊不规则小样品或微量杂质的含量分析，分析方法包含校正曲线法和无标样分析法。

3.2.3系统由X-射线光管、晶体、测角仪、探测器、数据工作站、操作软件、无标样定量分析软件、UPS电源(1小时)、循环冷却水系统等运行必备部件组成。

3.3技术规格3.3.1总体要求3.3.1.1仪器类型：顺序扫描波长色散型X射线荧光光谱仪*3.3.1.2元素分析范围：8O-92U3.3.1.3浓度范围：ppm-100%3.3.1.4样品类型：固体、粉末、不规则小块等。

3.3.2X-光源系统3.3.2.1最大功率≥4kW3.3.2.2最大电压≥60kV3.3.2.3最大电流≥150mA3.3.2.4光管类型：超尖锐端窗型陶瓷X-射线光管，长寿命灯丝。

手持式X射线荧光光谱仪标准一、仪器性能手持式X射线荧光光谱仪应具备稳定性好、灵敏度高、抗干扰能力强等性能特点。

仪器应具有可靠的防护设施，确保操作安全。

仪器应具备较高的分辨率和能量分辨率，以获得更准确的分析结果。

仪器应具备多种测量模式，以满足不同样品的分析需求。

二、样品制备样品制备过程应遵循无损检测原则，尽量减少样品污染。

样品制备时应根据不同材质和厚度选择合适的研磨方法和材料，以保证样品表面的平整度和光洁度。

样品制备时应避免过度热处理或冷处理，以免引入额外的元素或改变元素含量。

样品制备时应记录所有处理步骤和参数，以便后续数据分析。

三、数据分析数据分析应基于合适的分析方法和数据处理技术，以获得准确的分析结果。

数据分析时应考虑背景校正、基线校正、扣背景等处理方法，以消除干扰因素的影响。

数据分析时应比较分析结果与标准值或预期值，以确保分析结果的可靠性。

数据分析时应记录所有数据处理步骤和分析结果，以便后续评估和验证。

四、仪器校准仪器校准应定期进行，以确保仪器的准确性和稳定性。

仪器校准时应使用标准样品或参考样品，以评估仪器的性能指标。

仪器校准时应记录所有校准步骤和参数，以便后续评估和验证。

仪器校准时应根据需要调整仪器参数，以提高分析结果的准确性。

五、测量不确定度测量不确定度应通过实验方法和统计分析方法进行评估。

测量不确定度应包括随机不确定度和系统不确定度两部分。

测量不确定度应符合相关标准和规范的要求。

测量不确定度应在分析结果中进行评价和报告。

六、安全性使用手持式X射线荧光光谱仪时应遵循安全操作规程，确保人员安全和设备安全。

使用时应确保仪器周围无明火或易燃物品，以免发生火灾或爆炸等危险情况。

使用时应避免过度暴露于电磁辐射或X射线等有害因素中，以免对人员和环境造成不良影响。

使用时应配备适当的防护装置，如手套、护目镜、防护服等，以保护人员免受伤害。

七、使用环境手持式X射线荧光光谱仪应使用在干净、干燥、无尘的环境中，以确保仪器的正常运行和使用寿命。

X射线荧光光谱仪制样要求1、定量分析定量分析是对样品中指定元素进行准确定量测定。

定量分析需要一组标准样品做参考。

常规定量分析一般需要5个以上的标准样品才能建立较可靠的工作曲线。

常规X射线荧光光谱定量分析对标准样品的基本要求：(1)组成标准样品的元素种类与未知样相似(最好相同)；(2)标准样品中所有组分的含量应该已知；(3)未知样中所有被测元素的浓度包含在标准样品中被测元素的含量范围中；(4)标准样品的状态(如粉末样品的颗粒度、固体样品的表面光洁度以及被测元素的化学态等)应和未知样一致，或能够经适当的方法处理成一致。

标准样品可以向研制和经营标准样品的机构(如美国的NIST等)购买，如果买不到合适的标准样品，可以委托分析人员研制，但应考虑费用和时间的承受能力。

2、定性分析与半定量分析定性分析和半定量分析不需要标准样品，可以进行非破坏分析。

半定量分析的准确度与样品本身有关，如样品的均匀性、块状样品表面是否光滑平整、粉末样品的颗粒度等，不同元素半定量分析的准确度可能不同，因为半定量分析的灵敏度库并未包括所有元素。

同一元素在不同样品中，半定量分析的准确度也可能不同。

大部分主量元素的半定量分析结果相对不确定度可以达到10%(95%置信水平)以下，某些情况下甚至接近定量分析的准确度。

半定量分析适用于：对准确度要求不是很高，要求速度特别快(30min以内可以出结果)，缺少合适的标准样品，非破坏性分析等情况。

另外，分析样品中，除要求分析的感兴趣元素外，其他元素或组分的含量也必须预先知道。

如Li2O-B2O3-SiO2系的玻璃，由于常规不能分析Li2O和B2O3，所以必须用其他方法(如AA，ICP-AES等)测出它们的含量，然后用X射线荧光光谱法测定其他元素。

冷轧厂波纹度检测仪技术要求1. 设备名称及数量波纹度检测仪9台2. 技术指标与参数要求2.1 设备为便携式，仪器无须借助平台支撑，即可满足冷轧厂现场不同工位使用要求；2.2 示值误差≤±5％，示值变动性≤3％，测量范围800μm（无导头测量方式），波纹度取样长度8毫米，波纹度行程≥50mm；2.3 设备满足PV 1054:2015-02 《钢板车身外表面波纹度检测》标准和SEP1941-2012《冷轧金属扁平轧材浪形特征值Wsa (1-5)的测量标准》的测量要求要求，并保证Wsa1-5测量点距离 30mmWa0,8测量点距离 50mmX-方向横向步宽≤ 5 μm (相当于10 000 个测量点在 50 mm的测量区间内) 3. 设备配置3.1 可测Wca、Wsa、Wsa1-5、Wa0.8、Wa、Wp、Wv、Wt、Wz（ISO）、Wq、Wsk、Wc、WS、WSm、Wlo、WHSC、Wpc、Wmr(c)、Wz(JIS)等波纹度参数；可进行断面曲线、波纹度曲线的评价。

能够分辨出Wa0.8≤ 0.5 μm 或者 Wsa1-5≤ 0.35 μm指标。

设备最好能够具备粗糙度与PC值测量能力（不做强制要求）。

3.2 传感器方式：差动变压；测针：插换式；测针半径：5μmR, 90°圆锥。

3.3 软件系统能够对各种微观的波纹度参数进行解析。

测量计算机可直接显示测量数据和图形，通过打印机打印测量结果，具备USB内存接口，方便数据的存储以及外部数据处理装置再解析。

3.4 每台设备至少配备一个标准样板，要求提供中国计量院出具检定证书。

3.5 安全装置：配有紧急停止引擎按钮，确保设备操作安全。

3.6未尽事宜满足SEP1941-2012《冷轧金属扁平轧材浪形特征值Wsa (1-5)的测量标准》标准、JIS B0601、JIS B0610和PV 1054:2015-02 《钢板车身外表面波纹度检测》标准要求。

x射线荧光光谱仪检定规程
X射线荧光光谱仪检定规程(XRF Calibration Procedure)
一、前期准备：
1. 检查X射线荧光仪器，确保正确操作、安全性良好；
2. 清洁测试样品，并确定物理性质；
3. 配备必要的配件，把样品安装到测试架上；
4. 检查相关软件，为分析准备好必要的数据文件。

二、X射线荧光仪操作：
1. 启动设备并确认基本参数；
2. 对“背景谱”采集，它是在空气中测量仪器干扰现象；
3. 给样品注入X射线照射，从而得到“测试谱”；
4. 将“背景谱”与“测试谱”数据相减，从而排除仪器漂移；
5. 将剩余的数据进行合理的处理，使它能够与元素对应起来。

三、数据处理：
1. 取样识别，用以计算样品中元素浓度；
2. 背景矫正，用以消除不必要的影响因素；
3. 抑制过度效应，用以改善分析精度；
4. 统计相关累积数据；
5. 识别不可见元素，绘制其统计图；
6. 根据实际要求实行衍射、聚焦等操作；
7. 使用同步谱或其它方法核实峰顶精度。

四、检定结果：
1. 对所有检定的测试结果进行总结，形成数据报告；
2. 根据统计分析，分析出样品中的痕量元素；
3. 对所有检定结果进行验证，确认设备运行状态；
4. 完成报告，准备备档，实行至少六个月的维护拷贝。

X射线荧光光谱仪工作参数和条件的选择现在的X射线荧光光谱仪所提供的操作软件基本上都具备智能化功能，当你选定要测试的元素时，能自动给出相应的工作参数和测试条件，但这些测试条件基本上都是比较通用的，测试效果并不一定很抱负。

因此，在挑选工作参数和测试条件时，必需依据详细的试样和分析要求对工作参数和测试条件举行最优化处理，才干得到抱负的测试结果。

每种元素的激发电位和化学性质都不一样，因此分析不同元素用法的工作参数和条件都有所不同。

在举行样品分析时，波长色散和能量色散X射线荧光光谱仪对分析条件的挑选有很大的差异，波长色散X射线荧光光谱仪通常X射线管用法的电压是激发电压的4～10倍，比能量色散X射线荧光光谱仪的用法电压偏高；光路系统不用法滤光片和二次靶材，而用法分光晶体举行分光，用测角仪对不同角度的X射线荧光举行测试，角度的挑选取决于待测元素所选的谱线和分光晶体，这两个条件一旦定下来，2θ角度值等都会固定下来。

下面以能量色散X射线荧光光谱仪为例对X射线荧光光谱仪工作参数和条件的挑选作简要介绍。

(1) X光管电压和电流的挑选设置的x射线管工作电压和电流的乘积普通不能大于其给出的额定功率，仪器操作软件所推举的电压和电流，其乘积通常是额定功率，假如常常用法满功率工作，这样会削减靶材的用法寿命。

推举值随不同元素而有所区分，不能按照实际的测试样品类型而自动举行调节。

在挑选电压时，其须要条件是设定的值必需大于待测元素的临界激发电压，通常能量色散X射线荧光光谱仪用法的电压是待测元素临界激发电压的2～6倍。

当测定多种元素时，为获得最佳激发效果，多数状况下挑选50kV以上。

因为待测元素含量不同电压也有所差异，可以按照详细状况做出调节。

电流可以按照样品中待测元素的含量举行挑选，普通状况下不采纳满功率工作，而应采纳满功率的0．7～0．9倍，这有助于延伸X射线管的用法寿命。

Thermo公司的QUANT’X EDXRF对电压的挑选原则为：轻质元素为临界激发电压的3～5倍，过渡元素为临界激发电压的2～3倍，重元素为临界激发电压的1～2倍，当电压不能确定时，可以用法多个电压举行采谱，对谱图举行比较，谱峰越高越尖的测试电压最好。

操作规程X射线荧光光谱仪一、实验目的1.了解X射线荧光光谱仪的原理和结构；2.掌握X射线荧光光谱仪的操作方法；3.学会使用X射线荧光光谱仪进行样品分析。

二、实验仪器和试剂1.X射线荧光光谱仪；2.待测样品；3.氦气。

三、安全注意事项1.在操作X射线荧光光谱仪时，应佩戴防护眼镜和操作手套，以减少对眼睛和皮肤的辐射伤害；2.操作前确保仪器电源已切断，并检查所有接线是否安全可靠；3.避免将待测样品直接接触皮肤，以免污染。

四、操作步骤1.打开X射线荧光光谱仪电源，并预热仪器30分钟；2.打开荧光探测器排气阀，接通氦气，并将氦气流量调节到适当值；3.启动荧光探测器，让其运行5分钟以上，以确保仪器达到稳定状态；4.将待测样品放置在样品台上，并调整样品台位置，使样品与荧光探测器射束相碰；5.调节仪器的工作电压和电流，一般取30kV和20mA；6.点击“检测”按钮，开始进行样品分析；7.分析完成后，关闭荧光探测器并断开氦气供应；8.将待测样品取下，清洁样品台。

五、实验注意事项1.操作时要注意仪器的稳定性和反应时间；2.样品的放置位置要确保与荧光探测器射束的相碰；3.电压和电流的选择应根据待测样品的特性来确定；4.实验结束后及时关闭仪器电源。

六、实验结果分析1.根据荧光光谱图，分析样品中各元素的含量和种类；2.对比样品的荧光图谱与标准样品的图谱，判断样品的成分和纯度。

七、仪器维护1.每次操作结束后，要对仪器进行清洁和维护；2.定期检查仪器的接线和电源情况；3.定期更换荧光探测器和氦气。

八、实验总结通过本次实验，我对X射线荧光光谱仪的原理和操作方法有了更深入的了解。

在实验过程中，要注意安全操作，正确设置工作参数，并对实验结果进行分析和判断。

仪器的定期维护和保养对于保证实验结果的准确性和仪器的正常工作非常重要。

通过本次实验的学习，我对X射线荧光光谱仪的使用有了更好的掌握。

x射线荧光环境要求
X射线荧光光谱仪对使用环境有一定的要求。

具体来说，实验室要保证恒温、恒湿，温度保持在22度左右、湿度60%以下。

在南方潮湿的天气环境下，更要特别注意。

此外，由于X射线荧光光谱仪属于高精密仪器，为确保测试数值的准确性及延长仪器使用寿命，建议使用环境内温度保持在20±5℃、湿度低于70%，仪器供电电压稳定在220V±5V等。

同时，X射线荧光光谱仪生产厂家建议定期清理空气滤网，避免积灰，保持良好的散热效果，并定期邀请专门的工程师上门进行年检，排除问题隐患。

以上要求仅供参考，如有需要，建议咨询相关领域的专家。

X射线荧光光谱标准一、术语和定义X射线荧光光谱（XRF）：是一种基于X射线照射样品，激发出元素的特征X射线，通过检测这些特征X射线的能量和强度，来确定样品中元素的种类和含量的分析方法。

二、样品制备1.样品制备流程：2. a. 准备样品，确保样品具有代表性，无污染，无杂质。

3. b. 选择适当的容器和干燥方法，对样品进行干燥处理。

4. c. 研磨样品，使其均匀分布，无明显颗粒。

5. d. 制作样品片或样品粉末，以备后续分析。

6.样品制备注意事项：7. a. 样品制备过程中要避免污染，如使用清洁的容器和工具。

8. b. 干燥方法和研磨程度应根据样品性质和后续分析要求进行选择。

9. c. 制作样品片或样品粉末时应确保均匀分布，无明显颗粒。

三、仪器校准1.X射线荧光光谱仪校准流程：2. a. 使用标准样品进行校准，确保仪器测量的准确性和稳定性。

3. b. 根据标准样品的测量结果，对仪器进行校准和调整。

4. c. 定期进行仪器维护和保养，确保仪器正常运行。

5.校准注意事项：6. a. 选择合适的标准样品进行校准，确保其具有代表性。

7. b. 校准过程中要严格按照操作规程进行，避免误差和异常情况。

8. c. 定期进行仪器维护和保养，确保仪器的稳定性和准确性。

四、分析参数设置1.X射线源参数设置：根据样品性质和分析要求，选择合适的X射线源参数，如电压、电流、扫描范围等。

2.探测器参数设置：根据样品性质和分析要求，选择合适的探测器参数，如积分时间、窗宽等。

3.分析软件参数设置：根据样品性质和分析要求，设置合适的分析软件参数，如平滑度、背景扣除等。

4.分析参数设置注意事项：5. a. 根据样品性质和分析要求选择合适的参数设置，确保分析结果的准确性和可靠性。

6. b. 在设置参数时要严格按照操作规程进行，避免误差和异常情况。

7. c. 对于不同的样品和分析要求，要及时调整参数设置，确保分析结果的准确性。

五、定量分析1.基于标准曲线法进行定量分析：根据标准曲线法原理，通过对标准样品的测量，建立元素浓度与响应信号之间的关系，再对未知样品进行测量，推算出元素浓度。

1 环境要求：
1.1 确保仪器不要置于高温、阳光直射、潮湿的环境。

温度：17~29℃。

湿度：20%~80%。

1.2 确保仪器周围干净无尘。

1.3 避免急热和急冷的温度。

2 电源要求：
独立电源插座，设备应有良好的保护性接地。

电压不稳定的地区需配置净化滤波稳压电压。

3 仪器使用
3.1 每天早晨接通仪器的主电源开关，接通计算机、显示器（打印机）。

开机后，进入测试程序开始预热，至少十分钟，将银标片放在测试位置，进行仪器自检。

3.2将样品放在测试位置，点击测试图标开始测试。

3.3 每天下班前，完成当天检测任务后，退出主程序，切断计算机和外围设备的电源，断开主电源开关。

3.4 仪器使用开始前和结束后，操作人员应对仪器的状态进行检查，并认真填写使用记录。

4 仪器维护
4.1 保持仪器窗口的清洁。

4.2 保护仪器窗口的膜，如果膜破损，及时更换膜。

4.3 未经培训人员，禁止动用仪器。

4.4 仪器在运行过程中出现问题，及时切断电源，并上报设备管理员请有关人员进行维修处理。

AG-0801-M006-F2 Rev.:A1Amendment RecordsAG-0801-M006-F3 Rev.:A1目錄Content一、目的Purpose二、適用範圍Scope三、樣品檢測條件及方法Test condition & method for sample四、零件及產品測試原則Testing Rule五、測試方法Test Method六、注意事項Attention item七、附件Attachment1.XRF測試零件及產品類別之有害物質限值表限值表EHS threshold value of component type for XRF test2.拆解治工具管理流程The management process for disassembly tools of the component.3. XRF治工具季驗證紀錄表 (AT-0801-M427-F1)The record of disassembly tools in quarter inspection by XRF (AT-0801-M427-F1).目的：Purpose本規範在建立進料之XRF檢驗標準，以確保品質合乎既定之標準。

The purpose of this program is to establish the specification of the XRF inspection for incoming materials to assure the quality of materials and comply with specified criteria.一、適用範圍：Scope適用於各大類零件之檢驗。

Apply to all types of materials.二、樣品檢測條件及方法：Test condition & method1.分析方法分為檢量線法及FP法，說明如下：Test methods can be separated to the method of calibration curve and FP method.1.1.檢量線法：對應於XRF之分析條件為”Cd, Pb, Hg, Br, Cr.bcc”，適用之材質為塑料、紙張、木材及Mg, Al, Si 較輕元素)為主材質之樣品。

x-射线荧光光谱仪直读光谱仪招标技术要求一、技术指标1.测量范围：射线荧光光谱仪的测量范围应涵盖常见元素及其化合物，如金属、非金属元素等。

直读光谱仪的测量范围应涵盖可见光、近红外等波段。

2.分辨率：射线荧光光谱仪的分辨率应达到要求，以确保对样品中的元素进行准确测量。

直读光谱仪的分辨率应满足测量需求，以获得准确的光谱信息。

3.灵敏度：射线荧光光谱仪的灵敏度应满足要求，以保证测量低浓度样品时的准确性。

直读光谱仪的灵敏度应能够满足所需应用的要求。

4.准确度和精度：射线荧光光谱仪和直读光谱仪的准确度和精度应满足要求，以保证测量结果的可靠性和准确性。

5.重复性和稳定性：射线荧光光谱仪和直读光谱仪的重复性和稳定性应达到要求，以确保测量结果的可重复性和稳定性。

6.仪器尺寸和重量：射线荧光光谱仪和直读光谱仪的尺寸和重量应适合使用环境和实验室空间要求。

7.软件功能：射线荧光光谱仪和直读光谱仪的软件功能应满足实际应用的需求，如数据处理、分析、报告生成等。

8.其他要求：射线荧光光谱仪和直读光谱仪应具备良好的人机界面，易于操作和维护。

此外，应提供完善的售后服务和技术支持。

二、技术要求1.射线荧光光谱仪应采用先进的射线源和探测器技术，以提高测量的准确性和灵敏度。

2.直读光谱仪应采用高质量的光学元件，以提供清晰、准确的光谱信息。

3.射线荧光光谱仪和直读光谱仪应具备快速测量的能力，以提高工作效率和样品处理速度。

4.仪器应具备自动校准和自动化测量功能，以减少人工操作和提高测量准确性。

5.射线荧光光谱仪和直读光谱仪应具备稳定、可靠的性能，能够在长时间连续工作的情况下保持准确和可靠的测量结果。

6.仪器应具备友好的用户界面，简化操作流程，提供清晰易读的测量结果，并支持数据的导出和处理。

7.仪器应具备良好的兼容性，支持与其他设备和系统的连接和数据交换，以满足实际应用的要求。

8.射线荧光光谱仪和直读光谱仪应具备完善的安全保护措施，确保使用过程安全可靠。

X荧光光谱法标准一、样品制备1.1 样品要求：样品应具有代表性，且无污染。

若为固体样品，需磨碎至200目以下，以便于X射线穿透。

液体样品应进行适当干燥处理。

1.2 样品处理：根据待测元素特性，选择适当的酸或碱处理样品，以去除干扰元素，提高分析精度。

二、仪器校准2.1 光谱仪校准：校准仪器频率、电压、电流等参数，确保仪器稳定运行。

2.2 校准物质：选择已知浓度的标准物质，进行仪器校准，确定各元素的校正因子。

三、元素识别3.1 元素识别方法：根据特征X射线的能量或波长，确定样品中存在的元素种类。

3.2 元素识别流程：开启光谱仪，激发样品产生X射线，收集并分析光谱信息，与已知元素特征谱线对比，确定待测元素种类。

四、定量分析4.1 测量条件：确定合适的测量条件，如扫描速度、电压、电流等，以提高测量精度。

4.2 定量方法：采用内标法或外标法等方法进行定量分析，确定待测元素的含量。

五、谱图解析5.1 谱图解读：解读X射线光谱图，识别各元素的特征谱线。

5.2 谱图解析流程：根据特征谱线的位置和强度，解析待测元素的种类和含量。

六、仪器维护6.1 日常维护：每天使用后，对仪器进行清洁和保养，确保仪器正常运行。

6.2 定期维护：定期检查仪器各部件的运行情况，更换易损件，保证仪器的稳定性。

七、数据处理7.1 数据采集：采集样品的X射线光谱数据，进行后续数据处理。

7.2 数据处理方法：采用合适的数据处理方法，如平滑处理、基线校正、背景消除等，以提高数据的准确性和可靠性。

八、安全防护8.1 安全操作规程：操作仪器时需遵守安全操作规程，避免意外事故发生。

8.2 辐射防护：正确佩戴辐射防护用品，如手套、眼镜、面罩等，避免辐射伤害。

X射线荧光光谱仪技术参数1.应用范围：适用于地质、农业、环境等领域固体、粉末及特殊不规则小样品元素含量分析及科学研究。

2供货要求：2.1仪器类型：顺序扫描波长色散型X射线荧光光谱仪2.2数量：一台2.3内容：2.3.1主机（包括光管、测角仪、探测器、数据工作站、自动进样器、操作软件、无标样定量分析软件等）。

2.3.2循环冷却水系统2.3.3UPS带稳压功能的延迟电源2.3.4计算机及打印机2.3.5两年消耗件3.技术指标3.1仪器工作环境3.1.1工作温度：18-32︒C3.1.2工作湿度：20-80%（20︒C）3.1.3适用电源：单相，220V（±10%），或380V（±10%），50Hz。

3.1.4接地电阻：≤10Ω3.1.5P10（氩/甲烷气：99.999%）3.1.6P10气瓶减压阀及压力表：主量程0-25MPa，分表量程0-0.4Mpa。

3.1.7国内直拨电话线：1根，用于远程诊断。

3.1.8持久性：仪器设计为连续工作，可长期开机使用。

3.2仪器功能与组成3.2.1适用于地质、农业、环境等领域样品分析及科学研究。

3.2.2采用最新设计，具备快速半定量、定量测定元素含量的功能，覆盖8O-92U元素范围，适用于固体、粉末及特殊不规则小样品或微量杂质的含量分析，分析方法包含校正曲线法和无标样分析法。

3.2.3系统由X-射线光管、晶体、测角仪、探测器、数据工作站、操作软件、无标样定量分析软件、UPS电源(1小时)、循环冷却水系统等运行必备部件组成。

3.3技术规格3.3.1总体要求3.3.1.1仪器类型：顺序扫描波长色散型X射线荧光光谱仪*3.3.1.2元素分析范围：8O-92U3.3.1.3浓度范围：ppm-100%3.3.1.4样品类型：固体、粉末、不规则小块等。

3.3.2X-光源系统3.3.2.1最大功率≥4kW3.3.2.2最大电压≥60kV3.3.2.3最大电流≥150mA3.3.2.4光管类型：超尖锐端窗型陶瓷X-射线光管，长寿命灯丝。

操作规程X射线荧光光谱仪I.引言X射线荧光光谱仪是一种用于分析材料成分的仪器，通过测量样品中的X射线荧光，可以确定材料中的元素种类和含量。

为了保证仪器的安全可靠运行和准确的分析结果，制定本操作规程。

II.仪器准备1.确保X射线荧光光谱仪通电，并检查所有电源和电路的连接是否正常。

2.打开冷却水阀，保证X射线管和脚踏板等部件的冷却工作正常。

3.检查并调整光路径，确保X射线源和样品台之间的准直度和稳定性。

III.样品准备1.根据需要的分析项目，选择合适的样品，并将其切割成适当的尺寸和形状。

2.清洗样品表面，去除可能存在的任何污垢、油脂等杂质。

3.将样品放置在样品台上，确保其与台面接触良好且稳定。

IV.分析参数设置1.根据分析需要，选择合适的X射线管电压和电流，并进行光路校准。

2.设置荧光检测器的参数，包括谱仪的分辨率和测量时间。

3.确保所有参数的设定在合理范围内，并可以满足所需的分析精度和灵敏度。

V.校准1.在进行正式分析之前，进行仪器的校准工作。

2.使用合适的标准物质进行校准，确保分析结果的准确性和可靠性。

3.校准过程中应注意避免样品之间的污染和混杂，以及与标准物质的交叉污染。

VI.分析操作1.将样品放置在样品台上，确保其与台面接触良好且稳定。

2.关闭实验室的其他干扰源，确保仪器的工作环境安静和稳定。

3.向仪器中输入样品信息和分析参数，开始分析过程。

4.根据预设的测量时间，等待仪器完成分析。

5.分析结束后，记录分析结果和仪器运行情况。

VII.仪器维护1.每次使用结束后，及时清洁仪器的各个部件和通道，避免灰尘和污垢的积累。

2.定期检查仪器的电源线、接口和光路，确保连接的稳定性和完好性。

3.根据仪器的使用频率和要求，进行定期的维护和保养，包括更换灯丝、调整光路、清洗冷却系统等。

VIII.安全注意事项1.在使用仪器时，必须佩戴防护眼镜和防护手套等个人防护装备。

2.严禁将手指或其他物体伸入仪器的工作区域，以免受伤或引起设备故障。