STS8200 编程手册
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STS8200 编程手册(Rev 1.06)目录STS8200 (I)编程手册 (I)(Rev 1.06) (I)1.用户程序运行流程及函数说明 (1)1.1.运行流程 (1)erInit() (2)erExit() (2)1.4.OnSot() (2)1.5.HardWareCfg () (2)1.6.SetupFailSite() (2)1.7.InitBeforeTestFlow() (2)1.8.InitAfterTestFlow() (3)1.9.BinOutDut() (3)1.10.OnNewLot() (3)1.11.OnWaferEnd() (3)1.12.StsGetOperatorID() (3)1.13.StsGetWaferID() (4)1.14.StsGetLotID() (4)1.15.StsGetSiteStatus() (4)1.16.StsGetDieCorXY() (5)1.17.StsGetBinDutTotalCount() (5)1.18.StsGetCurrentDutSwBin() (6)1.19.StsGetCurrentDutHwBin() (6)1.20.STSSetModuleToSite() (7)1.21.STSInitVI() (9)1.22.StsEableDVICal () (10)1.23.StsEableOVICal () (10)1.24.StsEablePVICal () (10)2.CParam (12)2.1.CParam() (12)2.2.SetDispName() (12)2.3.SetSymbol() (12)2.4.SetMinLimit () (13)2.5.SetMaxLimit () (13)2.6.GetMinLimit () (14)2.7.GetMaxLimit () (14)2.8.SetAllUnit () (14)2.9.SetUnitName () (15)2.10.SetTestResult () (15)2.11.SetResultRemark () (16)2.12.GetSitesCount () (16)2.13.GetSubUnitsCount () (16)2.14.GetDispFormat () (17)2.15.GetDescription () (17)2.16.GetTestResult () (18)2.17.GetResultRemark () (18)2.18.GetConditionsCnt () (19)2.19.GetConditionDispName () (19)2.20.GetConditionSymbol () (20)2.21.GetConditionShowKind () (21)2.22.GetConditionInputKind () (21)2.23.GetConditionDispValue () (22)2.24.GetConditionDispUnit () (23)2.25.GetTestConditionValue () (23)2.26.GetConditionSelectValue () (24)2.27.GetConditionCurSelDouble () (25)2.29.GetConditionSelectUnit () (26)2.30.GetConditionUnitSelOrder () (27)2.31.GetConditionDispTip () (28)3.DVI400 (29)3.1.DVI400() (29)3.2.ACEnable () (29)3.3.ACDisable () (29)3.4.Set () (30)3.5.SetClamp () (31)3.6.MeasureVI () (32)3.7.GetMeasResult () (33)3.8.SetRiseTime() (34)4.PVI10A (35)4.1.PVI10A() (35)4.2.ACEnable () (35)4.3.ACDisable () (35)4.4.Set () (36)4.5.SetClamp () (37)4.6.MeasureVI () (38)4.7.GetMeasResult () (39)4.8.SetRiseTime() (40)5.OVI40 (41)5.1.OVI40() (41)5.2.ACEnable () (41)5.3.ACDisable () (42)5.4.Set () (42)5.5.SetClamp () (43)5.6.MeasureVI () (44)6.FVI10A (47)6.1.FVI10A() (47)6.2.Set () (47)6.3.SetClamp () (49)6.4.MeasureVI () (50)6.5.GetMeasResult () (51)6.6.SetOutputMode () (52)6.7.PowerSupply () (52)7.CBIT128 (53)7.1.CBIT128() (53)7.2.Init() (53)7.3.Close() (53)7.4.SetCBITOff() (54)7.5.SetCBITOn() (55)7.6.SetCBIT() (55)7.7.SetOn() (56)7.8.GetBYTEStatus () (57)8.QTMU_PLUS (59)8.1.QTMU_PLUS() (59)8.2.Init() (59)8.3.Connect() (60)8.4.Disconnect() (60)8.5.SetInSource() (60)8.6.SetStartInput() (61)8.7.SetStopInput() (61)8.8.SetStartTrigger() (62)8.9.SetStopTrigger() (63)8.10.SelectArm() (63)8.12.Measure() (65)8.13.MeasureFreq() (66)8.14.MeasureDutyCycle() (68)8.15.SetSinglePulseMeas() (69)8.16.SinglePulseMeas() (70)8.17.SetScan() (71)8.18.ScanEnable() (72)8.19.ScanDisable() (72)8.20.ScanRead() (72)8.21.SinglePlsMeas() (73)8.22.MeasFreq() (75)8.23.MeasDC() (76)8.24.Meas() (77)8.25.ScanRd() (78)8.26.GetMeasureResult() (79)8.27.GetScanMeasureResult() (79)8.28.ChannelSetup() (80)8.29.QTMU_PLUS 编程范例 (81)9.ACSM_PLUS (86)9.1.ACSM_PLUS() (86)9.2.Init() (86)9.3.InitACM() (87)9.4.InitACS() (87)9.5.DisableACM() (87)9.6.EnableACS() (88)9.7.DisableACS() (88)9.8.ACSDutConnect() (88)9.9.ACSDutDisConnect() (88)9.11.ACSBusDisConnect() (89)9.12.ACSConfig() (89)9.13.ACSSineConfig() (91)9.14.ACSTriangleConfig() (92)9.15.ACSSquareConfig() (93)9.16.ACSBusSineConfig() (94)9.17.ACMLMeaDutDC() (95)9.18.ACMLMeaDutAC() (96)9.19.ACMLMeaDutData() (97)9.20.ACMLMeaDutMAC() (99)9.21.ACMLMeaDutTHD() (100)9.22.ACMLMeasDutAll() (103)9.23.ACMHMeaDutDC() (106)9.24.ACMHMeaDutAC() (107)9.25.ACMHMeaDutData() (109)9.26.ACMHMeasDutAll() (111)9.27.ACMLMeaBusDC() (113)9.28.ACMLMeaBusAC() (114)9.29.ACMLMeaBusAll() (116)9.30.ACMHMeaBusDC() (118)9.31.ACMHMeaBusAC() (119)9.32.ACMHMeaBusAll() (121)9.33.ACMGetFFTResult() (122)9.34.ACMGetFFTDataBlackmanHarris() (123)9.35.ACMGetFFTResultBlackmanHarris() (124)9.36.ACSM_PLUS模块编程样例---运算放大器的增益带宽积 (126)9.37.ACSM_PLUS模块编程样例---三端集成稳压器的纹波抑制比 (126)10.DIO (128)10.2.Init () (129)10.3.Connect() (129)10.4.Close() (129)10.5.Disconnect() (130)10.6.Open() (130)10.7.SetVIH() (130)10.8.SetVIL() (131)10.9.SetVOH() (131)10.10.SetVOL() (131)10.11.SetClockFreq() (132)10.12.SetClockPeriod () (132)10.13.SetDelay() (133)10.14.SetWaveFormat() (133)10.15.LoadPattern(单行模式) (134)10.16.LoadPattern(文件模式) (135)10.17.LoadPattern(多行循环模式) (136)10.18.EndPattern() (136)10.19.RunPattern(非循环模式) (137)10.20.RunPattern(循环模式) (137)10.21.StopPattern() (138)10.22.ReadPattern() (138)10.23.SetSync() (138)10.24.UnsetSync() (139)10.25.GetFailCount() (139)10.26.GetFailData() (139)10.27.GetSerialPatternResult () (140)10.28.LoopSet () (142)10.29.单个模块的样例程序 (145)10.30.多模块同步工作样例程序 (146)11.TRM (150)11.1.CTrm( ) (150)11.2.Init( ) (150)11.3.Trim( ) (151)11.4.ConnectPower( ) (152)11.5.ConnectRelay( ) (153)12.系统函数 (154)12.1.delay_ms() (154)12.2.delay_us() (154)13.串行测试相关函数 (155)13.1.工位串行操作宏 (155)STS 8200编程手册REV1.06 1.用户程序运行流程及函数说明1.1.运行流程基本的运行流程如下,但成品测试和圆片测试的流程稍微有些不同,圆片测试的时候会增加OnWaferEnd函数。