大学物理仿真实验——霍尔效应
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【实验名称】霍尔效应之答禄夫天创作【实验目的】1.了解霍尔效应实验原理以及有关霍尔器件对资料要求的知识。
2.学习用“对称丈量法”消除付效应的影响,丈量试样的VH—IS;和VH—IM曲线。
3.确定试样的导电类型、载流子浓度以及迁移率。
【实验仪器】霍尔效应实验仪【实验原理】霍尔效应从实质上讲是运动的带电粒子在磁场中受洛仑兹力作用而引起的偏转。
当带电粒子(电子或空穴)被约束在固体资料中,这种偏转就导致在垂直电流和磁场的方向上发生正负电荷的聚积,从而形成附加的横向电场,即霍尔电场。
对于图1(a)所示的N型半导体试样,若在X方向通以电流1s,在Z方向加磁场B,试样中载流子(电子)将受洛仑兹力FB = e v B (1)则在Y方向即试样A、A 电极两侧就开始聚积异号电荷而发生相应的附加电场一霍尔电场。
电场的指向取决于试样的导电类型。
对N型试样,霍尔电场逆Y方向,P型试样则沿Y方向,有:Is (X)、 B (Z) EH (Y) <0 (N型)EH (Y) >0 (P型)显然,该电场是阻止载流子继续向正面偏移,当载流子所受的横向电场力HeE与洛仑兹力eVB相等时,样品两侧电荷的积累就达到平衡,故有H eE = B v e (2)其中H E 为霍尔电场,v 是载流子在电流方向上的平均漂移速度。
设试样的宽为b ,厚度为d ,载流子浓度为n ,则bd v ne Is = (3)由(2)、(3)两式可得dB I R d BI ne b E V S H S H H ===1 (4)即霍尔电压H V (A 、A ' 电极之间的电压)与IsB 乘积成正比与试样厚度成反比。
比例系数neR H 1=称为霍尔系数,它是反映资料霍尔效应强弱的重要参数, 810⨯=IsBdV R H H1、由RH 的符号(或霍尔电压的正、负)判断样品的导电类型判断的方法是按图一所示的Is 和B 的方向,若测得的VH = VAA’触f <0,(即点A 的电位低于点A′的电位) 则RH 为负,样品属N 型,反之则为P 型。
大学物理实验报告霍尔效应一、实验目的1、了解霍尔效应的原理。
2、掌握用霍尔效应法测量磁场的原理和方法。
3、学会使用霍尔效应实验仪器,测量霍尔电压和励磁电流,并计算霍尔系数和载流子浓度。
二、实验原理1、霍尔效应置于磁场中的载流导体,如果电流方向与磁场方向垂直,则在垂直于电流和磁场的方向会产生一横向电势差,这种现象称为霍尔效应。
设导体中的载流子为电子,它们以平均速度 v 沿 x 方向定向运动。
在磁场 B 作用下,电子受到洛伦兹力 F = e v × B,其中 e 为电子电荷量。
洛伦兹力使电子向导体一侧偏转,从而在导体两侧产生电荷积累,形成横向电场 E。
当电场力与洛伦兹力达到平衡时,有 e E = e v B,即 E = v B。
此时产生的横向电势差称为霍尔电压 UH ,UH = E b ,其中 b 为导体在磁场方向的宽度。
2、霍尔系数霍尔电压 UH 与电流 I 和磁场 B 以及导体的厚度 d 有关,其关系式为 UH = R H I B / d ,其中 R H 称为霍尔系数。
对于一种材料,R H 是一个常数,它反映了材料的霍尔效应的强弱。
3、载流子浓度由 R H 的表达式,可推导出载流子浓度 n = 1 /(R H e) 。
三、实验仪器霍尔效应实验仪,包括霍尔样品、电磁铁、励磁电源、测量电源、数字电压表等。
四、实验内容与步骤1、连接实验仪器按照实验仪器说明书,将霍尔样品、电磁铁、励磁电源、测量电源和数字电压表正确连接。
2、测量霍尔电压(1)保持励磁电流 IM 不变,改变测量电流 IS 的大小和方向,测量对应的霍尔电压 UH 。
(2)保持测量电流 IS 不变,改变励磁电流 IM 的大小和方向,测量对应的霍尔电压 UH 。
3、绘制曲线根据测量数据,分别绘制 UH IS 和 UH IM 曲线。
4、计算霍尔系数和载流子浓度根据曲线的斜率,计算霍尔系数 R H ,进而计算载流子浓度 n 。
五、实验数据记录与处理1、实验数据记录表格| IM (A) | IS (mA) | UH1 (mV) | UH2 (mV) | UH3 (mV) | UH4 (mV) | UH (mV) |||||||||| 05 | 10 ||||||| 05 | 20 ||||||| 05 | 30 ||||||| 10 | 10 ||||||| 10 | 20 ||||||| 10 | 30 ||||||(注:UH1、UH2、UH3、UH4 分别为在不同测量条件下得到的霍尔电压值,UH 为其平均值。
大学物理实验报告霍尔效应一、实验目的1、了解霍尔效应的基本原理。
2、掌握用霍尔效应法测量磁场的原理和方法。
3、学会使用霍尔效应实验仪测量霍尔电压、电流等物理量。
二、实验原理1、霍尔效应将一块半导体薄片置于磁场中(磁场方向垂直于薄片平面),当有电流通过时,在垂直于电流和磁场的方向上会产生一个横向电场,这种现象称为霍尔效应。
2、霍尔电压产生的横向电场导致薄片两侧出现电势差,这个电势差称为霍尔电压$U_H$ 。
霍尔电压的大小与通过薄片的电流$I$、磁场的磁感应强度$B$ 以及薄片的厚度$d$ 等因素有关,其关系式为:$U_H =\frac{R_H IB}{d}$其中,$R_H$ 称为霍尔系数,它与半导体材料的性质有关。
3、磁场的测量若已知霍尔系数$R_H$ 、通过的电流$I$ 以及霍尔电压$U_H$ ,则可以计算出磁感应强度$B$ :$B =\frac{d U_H}{R_H I}$三、实验仪器霍尔效应实验仪、直流电源、毫安表、伏特表、特斯拉计等。
四、实验内容与步骤1、仪器连接将霍尔效应实验仪的各部分按照说明书正确连接,确保线路接触良好。
2、调节参数(1)调节励磁电流,使磁场达到一定强度。
(2)调节工作电流,使其在合适的范围内。
3、测量霍尔电压(1)保持励磁电流不变,改变工作电流,测量不同工作电流下的霍尔电压。
(2)保持工作电流不变,改变励磁电流,测量不同励磁电流下的霍尔电压。
4、数据记录将测量得到的电流、霍尔电压等数据准确记录在表格中。
五、实验数据记录与处理1、数据记录表格|工作电流 I (mA) |励磁电流 IM (A) |霍尔电压 UH (mV) |||||| 100 | 050 | 250 || 150 | 050 | 375 || 200 | 050 | 500 || 250 | 050 | 625 || 100 | 100 | 500 || 100 | 150 | 750 || 100 | 200 | 1000 |2、数据处理(1)根据实验数据,绘制霍尔电压$U_H$ 与工作电流$I$ 的关系曲线,分析其线性关系。
大物实验报告霍尔效应
《大物实验报告:霍尔效应》
霍尔效应是指在导体中有电流通过时,垂直于电流方向的磁场会产生电势差,这种现象被称为霍尔效应。
霍尔效应的发现和研究对于理解电磁现象和应用于各种电子设备中具有重要意义。
在本次实验中,我们将探究霍尔效应的基本原理和应用。
实验步骤:
1. 准备实验装置:实验装置包括导体样品、电源、磁场源和电压测量仪器。
2. 施加电流:将电流通过导体样品,观察电压测量仪器的读数。
3. 施加磁场:在导体样品周围施加磁场,再次观察电压测量仪器的读数。
4. 记录数据:记录不同电流和磁场下的电压测量值。
实验结果:
通过实验数据的记录和分析,我们发现在施加磁场后,电压测量仪器的读数发生了变化。
这表明在导体中有电流通过时,垂直于电流方向的磁场会产生电势差,即霍尔效应的存在。
实验结果与霍尔效应的基本原理相符合。
实验结论:
霍尔效应是一种重要的电磁现象,它在各种电子设备中具有广泛的应用。
例如在传感器中,霍尔效应可以用来测量磁场强度;在电子仪器中,霍尔效应可以用来控制电流和电压。
因此,对霍尔效应的研究和应用具有重要的意义。
总结:
通过本次实验,我们深入了解了霍尔效应的基本原理和应用。
霍尔效应的发现和研究对于电磁现象的理解和电子设备的应用具有重要意义。
我们将继续深入
研究霍尔效应,并探索其在各种领域的应用潜力。
【实验名称】霍尔效应【实验目的】1.了解霍尔效应实验原理以及有关霍尔器件对材料要求的知识。
2.学习用“对称测量法”消除付效应的影响,测量试样的VH—IS;和VH—IM 曲线。
3.确定试样的导电类型、载流子浓度以及迁移率。
【实验仪器】霍尔效应实验仪【实验原理】霍尔效应从本质上讲是运动的带电粒子在磁场中受洛仑兹力作用而引起的偏转。
当带电粒子(电子或空穴)被约束在固体材料中,这种偏转就导致在垂直电流和磁场的方向上产生正负电荷的聚积,从而形成附加的横向电场,即霍尔电场。
对于图1(a)所示的N型半导体试样,若在X方向通以电流1s,在Z方向加磁场B,试样中载流子(电子)将受洛仑兹力F B = e v B (1)则在Y方向即试样A、A'电极两侧就开始聚积异号电荷而产生相应的附加电场一霍尔电场。
电场的指向取决于试样的导电类型。
对N型试样,霍尔电场逆Y方向,P型试样则沿Y方向,有:Is (X)、 B (Z) E H (Y) <0 (N型)E H (Y) >0 (P型)显然,该电场是阻止载流子继续向侧面偏移,当载流子所受的横向电场力HeE与洛仑兹力eVB相等时,样品两侧电荷的积累就达到平衡,故有HeE= B v e(2)其中HE为霍尔电场,v是载流子在电流方向上的平均漂移速度。
设试样的宽为b,厚度为d,载流子浓度为n,则bdvneIs=(3)由(2)、(3)两式可得dBIRdBInebEV SHSHH===1(4)即霍尔电压HV(A、A'电极之间的电压)与IsB乘积成正比与试样厚度成反比。
比例系数neRH1=称为霍尔系数,它是反映材料霍尔效应强弱的重要参数,810⨯=IsBdVR HH1、由R H的符号(或霍尔电压的正、负)判断样品的导电类型判断的方法是按图一所示的Is和B的方向,若测得的V H = V AA’触f <0,(即点A 的电位低于点A ′的电位) 则R H 为负,样品属N 型,反之则为P 型。
大物霍尔效应实验报告(共8篇)大学物理实验报告系列之霍尔效应大学物理实验报告)篇二:霍尔效应实验报告大学本(专)科实验报告课程名称:姓名:学院:系:专业:年级:学号:指导教师:成绩:年月日(实验报告目录)实验名称一、实验目的和要求二、实验原理三、主要实验仪器四、实验内容及实验数据记录五、实验数据处理与分析六、质疑、建议霍尔效应实验一.实验目的和要求:1、了解霍尔效应原理及测量霍尔元件有关参数.2、测绘霍尔元件的VH?Is,VH?IM曲线了解霍尔电势差VH与霍尔元件控制(工作)电流Is、励磁电流IM之间的关系。
3、学习利用霍尔效应测量磁感应强度B及磁场分布。
4、判断霍尔元件载流子的类型,并计算其浓度和迁移率。
5、学习用“对称交换测量法”消除负效应产生的系统误差。
二.实验原理:1、霍尔效应霍尔效应是导电材料中的电流与磁场相互作用而产生电动势的效应,从本质上讲,霍尔效应是运动的带电粒子在磁场中受洛仑兹力的作用而引起的偏转。
当带电粒子(电子或空穴)被约束在固体材料中,这种偏转就导致在垂直电流和磁场的方向上产生正负电荷在不同侧的聚积,从而形成附加的横向电场。
如右图(1)所示,磁场B位于Z的正向,与之垂直的半导体薄片上沿X正向通以电流Is(称为控制电流或工作电流),假设载流子为电子(N型半导体材料),它沿着与电流Is相反的X负向运动。
由于洛伦兹力fL的作用,电子即向图中虚线箭头所指的位于y 轴负方向的B侧偏转,并使B侧形成电子积累,而相对的A侧形成正电荷积累。
与此同时运动的电子还受到由于两种积累的异种电荷形成的反向电场力fE的作用。
随着电荷积累量的增加,fE增大,当两力大小相等(方向相反)时,fL=-fE,则电子积累便达到动态平衡。
这时在A、B两端面之间建立的电场称为霍尔电场EH,相应的电势差称为霍尔电压VH。
设电子按均一速度向图示的X负方向运动,在磁场B作用下,所受洛伦兹力为fL=-eB式中e为电子电量,为电子漂移平均速度,B为磁感应强度。
大学物理实验霍尔效应实验报告大学物理实验霍尔效应实验报告引言霍尔效应是指当电流通过一块导体时,在垂直于电流方向的磁场作用下,导体两侧会产生电势差,这种现象被称为霍尔效应。
霍尔效应不仅在理论研究中有着重要的应用,而且在实际生活中也有着广泛的应用,如磁传感器、霍尔开关等。
本实验旨在通过测量霍尔电压和磁场强度的关系,验证霍尔效应的存在并探究其特性。
实验目的1. 了解霍尔效应的基本原理和特性;2. 学习使用霍尔效应测量磁场强度;3. 熟悉实验仪器的使用和实验操作的步骤。
实验装置和原理实验装置主要包括霍尔效应实验仪、直流电源、数字电压表和磁铁。
实验仪由霍尔片、电源、数字电压表和磁铁组成。
霍尔片是一块导电材料,其两侧分别连接有电压表,可以测量霍尔电压的大小。
电源用于提供电流,磁铁则用于产生磁场。
当电流通过霍尔片时,磁场作用下,霍尔片两侧会产生电势差,即霍尔电压。
实验步骤1. 将实验仪连接好,确保电路连接正确;2. 调节电源,使电流稳定在一定数值;3. 移动磁铁,改变磁场强度;4. 记录不同磁场强度下的霍尔电压值;5. 根据实验数据,绘制霍尔电压与磁场强度的关系曲线。
实验结果与分析通过实验测量得到的数据,我们可以绘制出霍尔电压与磁场强度的关系曲线。
从曲线可以看出,霍尔电压与磁场强度呈线性关系。
这符合霍尔效应的基本原理,即霍尔电压与磁场强度成正比。
根据实验数据,我们还可以计算出霍尔系数,即霍尔电压与电流、磁场强度的比值。
霍尔系数的大小与导体的性质有关,可以用来研究导体的电荷载流子类型和浓度。
实验中可能存在的误差主要来自实验仪器的精度和实验操作的不准确。
为减小误差,我们可以多次测量取平均值,提高实验仪器的精度,严格控制实验操作的步骤。
实验结论本实验通过测量霍尔电压和磁场强度的关系,验证了霍尔效应的存在,并探究了其特性。
实验结果表明,霍尔电压与磁场强度呈线性关系,符合霍尔效应的基本原理。
通过计算霍尔系数,可以进一步了解导体的性质。
大学物理实验报告姓名学号专业班级实验名称霍尔法测磁场实验日期[实验目的]1.了解产生霍尔效应的机制;2.掌握霍尔效应实验中各种副效应的产生原因及消除方法;3.学会使用霍尔效应实验装置;4.学会利用霍尔效应测量磁场的基本方法。
[实验原理]霍尔效应装置如图1和图2所示。
将一个半导体薄片放在垂直于它的磁场中(B 的方向沿z轴方向),当沿y方向的电极、上施加电流I时,薄片内定向移动的载流子(设平均速率为u)受到洛伦兹力F B的作用。
无论载流子是负电荷还是正电荷,F B的方向均沿着x方向,在洛伦兹力的作用下,载流子发生偏移,产生电荷积累,从而在薄片、两侧产生一个电位差,,形成一个电场E。
电场使载流子又受到一个与方向相反的电场力,其中b为薄片宽度,F E随着电荷累积而增大,当达到稳定状态时=,即这时在、两侧建立的电场称为霍尔电场,相应的电压称为霍尔电压,电极、称为霍尔电极。
另一方面,设载流子浓度为n,薄片厚度为d,则电流强度I与u的关系为:可得到令则称为霍尔系数,它体现了材料的霍尔效应大小。
根据霍尔效应制作的元件称为霍尔元件。
在应用中,常以如下形式出现:(7)式中称为霍尔元件灵敏度,I称为控制电流。
只要测出霍尔电压,即可算出磁场B的大小;并且若知载流子类型(n型半导体多数载流子为电子,P 型半导体多数载流子为空穴),则由的正负可测出磁场方向,反之,若已知磁场方向,则可判断载流子类型。
由于霍尔效应建立所需时间很短(10-12~10-14s),因此霍尔元件使用交流电或者直流电都可。
霍尔效应的副效应:1.不等位电势差当电流流过霍尔元件时,由于霍尔元件在实际制备过程中很难做到两个霍尔电极P与S位于同一个等势面上,因而无论有无磁场,P、S之间总存在一个电势差,称为不等位电势差(U。
)。
在测量霍尔电势差时,U。
总会叠加在其上。
U仅与工作电流I的方向有关,与磁场B的方向无关。
2.厄廷好森效应:厄廷好森发现半导体中载流子的速率不同,对速率大的载流子,洛伦兹力起主要作用;对速率小的载流子,霍尔电场力起主要作用。
大学物理实验报告霍尔效应第一篇:大学物理实验报告霍尔效应大学物理实验报告霍尔效应一、实验名称:霍尔效应原理及其应用二、实验目的:1、了解霍尔效应产生原理;2、测量霍尔元件的、曲线,了解霍尔电压与霍尔元件工作电流、直螺线管的励磁电流间的关系;3、学习用霍尔元件测量磁感应强度的原理和方法,测量长直螺旋管轴向磁感应强度及分布;4、学习用对称交换测量法(异号法)消除负效应产生的系统误差。
三、仪器用具:YX-04 型霍尔效应实验仪(仪器资产编号)四、实验原理:1、霍尔效应现象及物理解释霍尔效应从本质上讲是运动的带电粒子在磁场中受洛仑兹力作用而引起的偏转。
当带电粒子(电子或空穴)被约束在固体材料中,这种偏转就导致在垂直于电流和磁场的方向上产生正负电荷的聚积,从而形成附加的横向电场。
对于图1 所示。
半导体样品,若在x 方向通以电流,在z 方向加磁场,则在y 方向即样品A、A′电极两侧就开始聚积异号电荷而产生相应的电场,电场的指向取决于样品的导电类型。
显然,当载流子所受的横向电场力时电荷不断聚积,电场不断加强,直到样品两侧电荷的积累就达到平衡,即样品A、A′间形成了稳定的电势差(霍尔电压)。
设为霍尔电场,是载流子在电流方向上的平均漂移速度;样品的宽度为,厚度为,载流子浓度为,则有:(1-1)因为,又根据,则(1-2)其中称为霍尔系数,是反映材料霍尔效应强弱的重要参数。
只要测出、以及知道和,可按下式计算:(1-3)(1-4)为霍尔元件灵敏度。
根据RH 可进一步确定以下参数。
(1)由的符号(霍尔电压的正负)判断样品的导电类型。
判别的方法是按图1 所示的和的方向(即测量中的+,+),若测得的 <0(即A′的电位低于A 的电位),则样品属N 型,反之为P 型。
(2)由求载流子浓度,即。
应该指出,这个关系式是假定所有载流子都具有相同的漂移速度得到的。
严格一点,考虑载流子的速度统计分布,需引入的修正因子(可参阅黄昆、谢希德著《半导体物理学》)。
仿真实验(霍尔效应)------霍尔效应1目的:(1)霍尔效应原理及霍尔元件有关参数的含义和作用(2)测绘霍尔元件的V H —Is ,V H —I M 曲线,了解霍尔电势差V H 与霍尔元件工作电流Is ,磁场应强度B 及励磁电流I M 之间的关系。
(3)学习利用霍尔效应测量磁感应强度B 及磁场分布。
(4)学习用“对称交换测量法”消除负效应产生的系统误差。
2简单的实验报告 数据分析(1)实验原理霍尔效应从本质上讲,是运动的带电粒子在磁场中受洛仑兹力的作用而引起的偏转。
当带电粒子(电子或空穴)被约束在固体材料中,这种偏转就导致在垂直电流和磁场的方向上产生正负电荷在不同侧的聚积,从而形成附加的横向电场。
如下图(1)所示,磁场B 位于Z 的正向,与之垂直的半导体薄片上沿X 正向通以电流Is (称为工作电流),假设载流子为电子(N 型半导体材料),它沿着与电流Is 相反的X 负向运动。
由于洛仑兹力f L 作用,电子即向图中虚线箭头所指的位于y 轴负方向的B 侧偏转,并使B 侧形成电子积累,而相对的A 侧形成正电荷积累。
与此同时运动的电子还受到由于两种积累的异种电荷形成的反向电场力 f E 的作用。
随着电荷积累的增加,f E 增大,当两力大小相等(方向相反)时, f L =-f E ,则电子积累便达到动态平衡。
这时在A 、B 两端面之间建立的电场称为霍尔电场E H ,相应的电势差称为霍尔电势V H 。
设电子按平均速度V ,向图示的X 负方向运动,在磁场B 作用下,所受洛仑兹力为:f L =-e V B式中:e 为电子电量,V 为电子漂移平均速度,B 为磁感应强度。
同时,电场作用于电子的力为: f E H H eV eE -=-=l图(1) 霍尔效应原理式中:E H 为霍尔电场强度,V H 为霍尔电势,l 为霍尔元件宽度当达到动态平衡时:f L =-fE V B=V H /l (1)设霍尔元件宽度为l ,厚度为d ,载流子浓度为 n ,则霍尔元件的工作电流为ld V ne Is =(2)由(1)、(2)两式可得:d IsB R d IsB ne l E V H H H ===1(3) 即霍尔电压V H (A 、B 间电压)与Is 、B 的乘积成正比,与霍尔元件的厚度成反比,比例系数)/(1ne R H =称为霍尔系数,它是反映材料霍尔效应强弱的重要参数,只要测出H V (伏),以及s I (安),B (高斯)和d (厘米)可按下式计算H R (厘米3/库仑)。
霍尔效应的研究钱瑞杰,13级物理系一、引言近年来,在科研和工业中,霍尔效应被广泛应用于磁场测量。
本实验通过使用霍尔传感器了解半导体的霍耳效应,研究霍耳电压与磁场强度、电流之间的关系,了解霍耳效应的各种副效应并学习根据需要抑制或增强各种副效应的方法。
二、实验原理1、霍尔效应如图1所示,当电流I 流过厚度为d 的半导体薄片,因磁场B 垂直作用于该半导体,则电子流方向会因洛伦兹力作用而发生改变,正电荷向a 侧聚集,负电荷向b 侧聚集,从而在a 、b 之间形成霍尔电势差H U ,HH H R U IB K IB d ⎛⎫== ⎪⎝⎭(1) 其中,H K 为霍尔元件灵敏度,I 、B 分别为电流强度和磁场强度。
2、霍尔效应中的副效应(1)不等位电势差U σ:由于霍尔元件的材料本身不均匀,以及由于工艺制作时,很难保证将霍尔片的电压输出电极焊接在同一等势面上,因此当电流流过样品时,即使已不加磁场,在电压输出电极之间也会产生一电势差U σ,U Ir σ=,只与电流有关,与磁场无关。
(2)厄廷豪森效应: 霍尔片内部的快慢载流子向不同方向偏转,动能转化为热能,使x 方向两侧产生温度差,因此霍尔电极和样品间形成热电偶,在电极间产生温差电动势E U 。
E U IB ∝,其正负、大小与I 、B 的大小和方向有关。
(3)能斯托效应:由于两个电流电极与霍尔样品的接触电阻不同,样品电流在电极处产生不同的焦耳热,引起两电极间的温差电动势,此电动势又产生温差电流(又称热电流)Q ,热电流在磁场的作用下将发生偏转,结果在y 方向产生附加的电势差N U ,且N U QB ∝,N U 的正、负只与B 的方向有关,这一效应称为能斯托效应。
(4)里纪─勒杜克效应:以上谈到的热流Q 在磁场作用下,除了在y 方向产生电势差外,还由于热流中的载流子的迁移率不同,将在y 方向引起样品两侧的温差,此温差在y 方向上产生附加温差电动势R U QB ∝,R U 只和B 有关,和I 无关。
霍尔效应(Hall Effect)霍尔效应是1879年由年仅24岁,尚在读研究生的霍尔在研究载流导体在磁场中的受力性质时发现的,它被广泛应用于科学和工程技术研究中对磁场、功率以及位移等参数的测量。
由于半导体中的霍尔效应比金属导体要强的多,随着半导体工业的发展,霍尔效应被越来越多地用来确定半导体材料的导电类型、载流子浓度以及禁带宽度等参数。
近年来,霍尔效应又得到了重大发展,冯·克利青在极强磁场和极低温度下发现了量子霍尔效应,它的应用大大提高了有关基本常数的准确性,冯也因此获得了诺贝尔物理学奖。
一、实验原理在一块长方形金属薄片或半导体薄片的某一方向上通电流,在其垂直方向加磁场B,则在垂直于电流和磁场的方向上将产生电位差,这就是霍尔效应,称为霍尔电压。
霍尔效应可用洛伦磁力来解释,如图1所示的半导体薄片(霍尔片)位于磁场B中,电流沿X 轴正方向通过半导体薄片,设薄片中的载流子(自由电子)以平均速度沿X轴负方向运动,则电子受洛伦磁力为,自由电子受力发生偏转,在面Ⅰ上积聚,同时在面Ⅱ上积聚同样数量的正电荷,这样沿Y方向形成一电场,电场形成的电场力将阻碍电荷的继续积聚,设电场强度为E,则,当电场力和洛伦磁力相等时达到稳定状态,即:,有。
根据电流强度的定义有,代入上式有:,这就是霍尔电压的计算公式。
记其中为霍尔系数,为霍尔元件灵敏度。
由此可知,霍尔电压和磁感应强度以及电流强度成正比,和元件厚度成反比,为了提高霍尔元件的灵敏度,一般霍尔元件的厚度都在0.2 左右。
二、实验仪器TH-S型螺线管磁场实验仪、测试仪三、实验内容及步骤1,正确连接线路,对电源进行调零、校准;2,确定励磁电流的大小,改变霍尔元件工作电流的大小,测绘工作电流和霍尔电压的关系曲线;3,确定工作电流大小,改变励磁电流的大小,测绘励磁电流和霍尔电压的关系曲线;4,确定工作电流和励磁电流的大小,测绘并计算螺线管轴线上磁感应强度分布曲线;5,掌握采用对称测量法(改变磁场和工作电流的方向)来消除测量中的副效应(如不等位效应、埃廷豪森效应等)的方法。
大学物理实验报告【实验名称】霍尔效应【实验目的】1.了解霍尔效应实验原理以及有关霍尔器件对材料要求的知识。
2.学习用“对称测量法”消除付效应的影响,测量试样的VH—IS;和VH—IM 曲线。
3.确定试样的导电类型、载流子浓度以及迁移率。
【实验仪器】霍尔效应实验仪【实验原理】霍尔效应从本质上讲是运动的带电粒子在磁场中受洛仑兹力作用而引起的偏转。
当带电粒子(电子或空穴)被约束在固体材料中,这种偏转就导致在垂直电流和磁场的方向上产生正负电荷的聚积,从而形成附加的横向电场,即霍尔电场。
对于图1(a)所示的N型半导体试样,若在X方向通以电流1s,在Z方向加磁场B,试样中载流子(电子)将受洛仑兹力F B= e v B (1)则在Y方向即试样A、A'电极两侧就开始聚积异号电荷而产生相应的附加电场一霍尔电场。
电场的指向取决于试样的导电类型。
对N型试样,霍尔电场逆Y方向,P 型试样则沿Y方向,有:Is (X)、B (Z) E H (Y) <0 (N型)E H (Y) >0 (P型)显然,该电场是阻止载流子继续向侧面偏移,当载流子所受的横向电场力HeE与洛仑兹力eVB相等时,样品两侧电荷的积累就达到平衡,故有HeE= B v e(2)其中HE为霍尔电场,v是载流子在电流方向上的平均漂移速度。
设试样的宽为b,厚度为d,载流子浓度为n,则bdvneIs=(3)由(2)、(3)两式可得dBIRdBInebEV SHSHH===1(4)即霍尔电压HV(A、A'电极之间的电压)与IsB乘积成正比与试样厚度成反比。
比例系数neRH1=称为霍尔系数,它是反映材料霍尔效应强弱的重要参数,)2.00 8.21 8.3 8.04 8.20 0.0852.50 10.25 10.06 10.04 10.27 0.1053.00 12.33 12.05 12.05 12.29 0.1304.00 16.39 16.07 16.09 16.41 0.160)(mA IM)(1mvV)(2mvV)(3mvV)(4mvV)(44321mvVVVVVH-+-=BIS++...BIS-+...BIS+-...BIS--...0.300 4.18 4.02 3.95 4.18 0.0975 0.400 5.52 5.37 5.30 5.49 0.085 0.500 6.84 6.68 6.67 6.84 0.0825 0.600 8.19 8.04 8.03 8.21 0.0825 0.700 9.55 9.04 9.38 9.55 0.170 0.800 10.90 10.75 10.74 10.92 0.0825mvV1.167=σmmd5.0=mml3=mmb5=TAKGSB364.0/64.3==由公式ccmBIdVRSHH/0549.01036401105.004.0103848=⨯⨯⨯⨯=⨯=-由公式1719108.8106.10549.011--⨯=⨯⨯==eRnH由公式63.143105.051.167233=⨯⨯⨯⨯==-SVlISσσ西门子/米由公式89.763.1430549.0=⨯==σμHR【小结与讨论】(1)了解了霍尔效应实验原理以及有关霍尔器件丢材料的要求的知识,了解到一些物理量比如说霍尔系数,迁移率,电导率霍尔灵敏度等(2)如何判别霍尔元件的载流子类型?讨论知道电流方向一定,载流子的受力方向就一定,载流子会在受力方向积累,然后观测其正负。
大学物理实验霍尔实验报告一、实验目的1、了解霍尔效应的基本原理。
2、掌握霍尔元件测量磁场的方法。
3、学会使用霍尔效应实验仪测量霍尔电压、电流等物理量。
二、实验原理霍尔效应是指当电流垂直于外磁场通过导体时,在导体的垂直于磁场和电流方向的两个端面之间会出现电势差,这一现象就是霍尔效应。
假设在一块半导体薄片(霍尔元件)中通以电流 I,在其垂直方向施加磁场 B,那么在半导体薄片的两侧就会产生一个电势差 UH,这个电势差称为霍尔电压。
霍尔电压 UH 与电流 I、磁感应强度 B 以及霍尔元件的厚度 d 之间存在如下关系:UH = KHIB / d其中,KH 称为霍尔系数,它与半导体材料的性质有关。
三、实验仪器霍尔效应实验仪、霍尔元件、直流电源、毫安表、伏特表、特斯拉计等。
四、实验步骤1、连接实验仪器将霍尔元件插入实验仪的插槽中,确保接触良好。
按照电路图连接好电源、毫安表、伏特表和特斯拉计。
2、调节励磁电流打开电源,逐渐增加励磁电流,观察特斯拉计的读数,使其达到预定的值。
3、测量霍尔电压保持励磁电流不变,改变工作电流 I 的大小,测量不同工作电流下的霍尔电压 UH。
测量时,分别改变工作电流的方向和磁场的方向,记录相应的霍尔电压值。
4、数据记录与处理将测量得到的数据记录在表格中,包括工作电流 I、霍尔电压 UH 以及对应的方向。
根据实验数据,计算霍尔系数 KH 和磁感应强度 B。
五、实验数据记录与处理以下是一组实验数据记录:|工作电流 I(mA)|霍尔电压 UH(mV)(+I,+B)|霍尔电压 UH(mV)(I,+B)|霍尔电压 UH(mV)(+I,B)|霍尔电压 UH(mV)(I,B)||::|::|::|::|::|| 100 | 250 |-248 |-252 | 246 || 200 | 502 |-498 |-505 | 495 || 300 | 755 |-748 |-758 | 742 || 400 | 1008 |-996 |-1012 | 988 || 500 | 1260 |-1250 |-1265 | 1235 |计算霍尔系数 KH:首先,计算每个工作电流下霍尔电压的平均值:UH1 =(250 248 + 252 + 246)/ 4 = 249 mVUH2 =(502 498 + 505 + 495)/ 4 = 500 mVUH3 =(755 748 + 758 + 742)/ 4 = 750 mVUH4 =(1008 996 + 1012 + 988)/ 4 = 1000 mVUH5 =(1260 1250 + 1265 + 1235)/ 4 = 1250 mV然后,根据霍尔系数的计算公式 KH = UHd / I B,已知 d =05mm,B = 05 T,可得:KH1 = 249×05×10^-3 /(100×10^-3 × 05)= 249×10^-3 m^3 C^-1KH2 = 500×05×10^-3 /(200×10^-3 × 05)= 250×10^-3 m^3 C^-1KH3 = 750×05×10^-3 /(300×10^-3 × 05)= 250×10^-3 m^3 C^-1KH4 = 1000×05×10^-3 /(400×10^-3 × 05)= 250×10^-3m^3 C^-1KH5 = 1250×05×10^-3 /(500×10^-3 × 05)= 250×10^-3m^3 C^-1取平均值,KH =(249 + 250 + 250 + 250 + 250)×10^-3 / 5 = 250×10^-3 m^3 C^-1六、实验误差分析1、系统误差实验仪器的精度有限,如电源的稳定性、电表的测量误差等。
大学物理实验报告【实验名称】霍尔效应之宇文皓月创作【实验目的】1.了解霍尔效应实验原理以及有关霍尔器件对资料要求的知识。
2.学习用“对称丈量法”消除付效应的影响,丈量试样的VH—IS;和VH—IM曲线。
3.确定试样的导电类型、载流子浓度以及迁移率。
【实验仪器】霍尔效应实验仪【实验原理】是反映资料霍尔效应强弱的重要参数,810⨯=IsBdV R H H 1、由R H 的符号(或霍尔电压的正、负)判断样品的导电类型判断的方法是按图一所示的Is 和B 的方向,若测得的V H = V AA ’触f <0,(即点A 的电位低于点A ′的电位) 则R H 为负,样品属N 型,反之则为P 型。
2、由R H 求载流子浓度n 即 eR n H 1=。
应该指出,这个关系式是假定所有的载流子都具有相同的漂移速度得到的,严格一点,考虑载流子的速度统计分布,需引入83π的修正因子(可参阅黄昆、谢希德著《半导体物理学》)。
3、结合电导率的丈量,求载流子的迁移率 。
电导率 与载流子浓度n 以及迁移率 之间有如下关系:μσne =(6)即σμH R =,通过实验测出 值即可求出 。
根据上述可知,要得到大的霍尔电压,关键是要选择霍尔系数大(即迁移率 高、电阻率 亦较高)的资料。
因μρ=HR ,就金属导体而言,和 均很低,而不良导体 虽高,但μ极小, nedK H 1=(7)来暗示器件的灵敏度,HK 称为霍尔灵敏度【实验内容】1、测绘HV -I s 曲线。
将实验仪的“HV 、σV ”切换开关投向HV 侧,测试仪的“功能切换”置HV 。
坚持MI 值不变(取MI =0.6A ),测绘HV -I s 曲线,2、测绘HV -MI 曲线。
实验仪及测试仪各开关位置同上。
坚持I s 值不变(I s =3.00mA ),测绘HV -MI 曲线,3、丈量σV 值量结果有何影响?磁场只有部分分量有作用,也就是实际磁场小于通电电流应发生的磁场。
大学物理实验报告姓名:wuming1目的:(1)霍尔效应原理及霍尔元件有关参数的含义和作用(2)测绘霍尔元件的V H—Is,V H—I M曲线,了解霍尔电势差V H与霍尔元件工作电流Is,磁场应强度B及励磁电流I M之间的关系。
(3)学习利用霍尔效应测量磁感应强度B及磁场分布。
(4)学习用“对称交换测量法”消除负效应产生的系统误差。
2简单的实验报告数据分析(1)实验原理霍尔效应从本质上讲,是运动的带电粒子在磁场中受洛仑兹力的作用而引起的偏转。
当带电粒子(电子或空穴)被约束在固体材料中,这种偏转就导致在垂直电流和磁场的方向上产生正负电荷在不同侧的聚积,从而形成附加的横向电场。
如下图(1)所示,磁场B 位于Z的正向,与之垂直的半导体薄片上沿X正向通以电流Is(称为工作电流),假设载流子为电子(N型半导体材料),它沿着与电流Is相反的X负向运动。
由于洛仑兹力f L作用,电子即向图中虚线箭头所指的位于y轴负方向的B侧偏转,并使B侧形成电子积累,而相对的A侧形成正电荷积累。
与此同时运动的电子还受到由于两种积累的异种电荷形成的反向电场力f E的作用。
随着电荷积累的增加,f E增大,当两力大小相等(方向相反)时,f L=-f E,则电子积累便达到动态平衡。
这时在A、B两端面之间建立的电场称为霍尔电场E H,相应的电势差称为霍尔电势V H。
设电子按平均速度V,向图示的X负方向运动,在磁场B作用下,所受洛仑兹力为:f L=-e V B式中:e 为电子电量,V为电子漂移平均速度,B为磁感应强度。
同时,电场作用于电子的力为: fEHH eVeE-=-=l图(1) 霍尔效应原理式中:E H 为霍尔电场强度,V H 为霍尔电势,l 为霍尔元件宽度当达到动态平衡时:f L =-fE V B=V H /l (1) 设霍尔元件宽度为l ,厚度为d ,载流子浓度为 n ,则霍尔元件的工作电流为ld V ne Is =(2)由(1)、(2)两式可得:d IsB R d IsB ne l E V H H H ===1(3) 即霍尔电压V H (A 、B 间电压)与Is 、B 的乘积成正比,与霍尔元件的厚度成反比,比例系数)/(1ne R H =称为霍尔系数,它是反映材料霍尔效应强弱的重要参数,只要测出H V (伏),以及s I (安),B (高斯)和d (厘米)可按下式计算H R (厘米3/库仑)。
实验计算时,采用以下公式:810⨯=B I d V R s H H(4)上式中108 是单位换算而引入。
根据H R 可进一步求载流子浓度: e R n H 1=(5)应该指出,这个关系式是假定所以的载流子都具有相同的漂移速度得到的,严格一点,考虑载流子的速度统计分布,需引入修正因子8/3π。
所以实际计算公式为:e R n H 183π= (6)根据材料的电导率μσne =的关系,还可以得到:p R H μσμ==/或σμH R = (7)式中:μ为载流子的迁移率,即单位电场下载流子的运动速度,一般电子迁移率大于空穴迁移率,因此制作霍尔元件时大多采用N 型半导体材料。
当霍尔元件的材料和厚度确定时,设:dR K H H = (8)将式(8)代入式(3)中得: IsB K V H H =(9)式中:H K 称为元件的灵敏度,它表示霍尔元件在单位磁感应强度和单位控制电流下的霍尔电势大小,其单位是[]T mA mV ⋅/,一般要求H K 愈大愈好。
由于金属的电子浓度()n 很高,所以它的R H 或K H ,都不大,因此不适宜作霍尔元件。
此外元件厚度d 愈薄,K H 愈高,所以制作时,往往采用减少d 的办法来增加灵敏度,但不能认为d 愈薄愈好,因为此时元件的输入和输出电阻将会增加,这对霍尔元件是不希望的。
应当注意:当磁感应强度B 和元件平面法线成一角度时(如图2),作用在元件上的有效磁场是其法线方向上的分量θcos B ,此时:θcos B I K V s H H =(10)所以一般在使用时应调整元件两平面方位,使V H 达到最大,即:0=θ,=H V IsB K H由式(10)可知,当工作电流Is 或磁感应强度B ,两者之一改变方向时,霍尔电势V H 方向随之改变;若两者方向同时改变,则霍尔电势不变。
霍尔元件测量磁场的基本电路如图(3),将霍尔元件置于待测磁场的相应位置,并使元件平面与磁感应强度B垂直,在其控制端输入恒定的工作电流Is,霍尔元件的霍尔电势输出端接毫伏表,测量霍尔电势V H的值,就可以计算磁感应强度B。
图(2) 磁感应强度B和元件图(3) 霍尔元件测量磁场的基本电路平面法线成一角度测量霍尔电势V H时,不可避免的会产生一些副效应,由此而产生的附加电势叠加在霍尔电势上,形成测量系统误差,这些副效应有:(1)不等位电势V0由于制作时,两个霍尔电势既不可能绝对对称的焊在霍尔片两侧、霍尔片电阻率不均匀、控制电流极的端面接触不良都可能造成A、B两极不处在同一等位面上,此时虽未加磁场,但A、B间存在电势差V0,此称不等位电势。
(2)爱廷豪森效应当元件X方向通以工作电流I s,Z方向加磁场B时,由于霍尔片内的载流子速度服从统计分布,有快有慢。
在到达动态平衡时,在磁场的作用下慢速快速的载流子将在洛仑兹力和霍耳电场的共同作用下,沿y轴分别向相反的两侧偏转,这些载流子的动能将转化为热能,使两侧的温升不同,因而造成y方向上的两侧的温差(T A-T B)。
因为霍尔电极和元件两者材料不同,电极和元件之间形成温差电偶,这一温差在A、B间产生温差电动势V E。
这一效应称爱廷豪森效应,V E的大小与正负符号与I s、B的大小和方向有关,跟V H 与I s、B的关系相同,所以不能在测量中消除。
(3)伦斯脱效应由于控制电流的两个电极与霍尔元件的接触电阻不同,控制电流在两电极处将产生不同的焦耳热,引起两电极间的温差电动势,此电动势又产生温差电流(称为热电流)Q,热电流在磁场作用下将发生偏转,结果在y方向上产生附加的电势差V H,且V H∝QB这一效应称为伦斯脱效应,由上式可知V H的符号只与B的方向有关。
(4)里纪-杜勒克效应如(3)所述霍尔元件在x方向有温度梯度,引起载流子沿梯度方向扩散而有热电流Q通过元件,在此过程中载流子受Z方向的磁场B作用下,在y方向引起类似爱廷豪森效应的温差T A-T B,由此产生的电势差V H∝QB,其符号与B的方向有关,与I s的方向无关。
三实验方法与步骤一.对称测量法由于产生霍尔效应的同时,伴随多种副效应,以致实测的AB间电压不等于真实的V H 值,因此必需设法消除。
根据副效应产生的机理,采用电流和磁场换向的对称测量法基本上能把副效应的影响从测量结果中消除。
具体的做法是I s和B(即I M)的大小不变,并在设定电流和磁场的正反方向后,依次测量由下面四组不同方向的I s和B(即I M)时的V1,V2,V3,V4,1)+I s +B V12)+I s -B V23)-I s -B V34)-I s +B V4然后求它们的代数平均值,可得:44 32 1V VVVVH-+-=通过对称测量法求得的V H误差很小二.实验仪器仪器背部为220V交流电源插座。
仪器面板为三大部分1、励磁电流I M输出:前面板右侧、三位半数显显示输出电流值I M(A)。
2、霍尔片工作电流I S输出:前面板左侧、三位半数显显示输出电流值I S(mA)。
(以上两组直流恒源只能在规定的负载范围内恒流,与之配套的“测试架”上的负载符合要求。
若要作它用时需注意。
)3、霍尔电压V H输入:前面板中部三位半数显表显示输入电压值V H(mV),使用前将两输出端接线柱短路,用调零旋钮调零。
4、三档换向开关分别对励磁电流I M,工作电流I S、霍尔电势V H进行正反向换向控制。
三.按仪器面板上的文字和符号提示将DH4512实验仪与DH4512测试仪正确连接。
1、将DH4512霍尔效应测试仪面板右下方的励磁电流I M的直流恒流输出端(0~0.500A),接DH4512霍尔效应实验仪上的励磁线圈电流I M的输入端(将红接线柱与红接线柱对应相连,黑接线柱与黑接线柱对应相连)。
2、将DH4512霍尔效应测试仪面板左下方供给霍尔元件工作电流I S的直流恒流源(0~5mA)输出端,接DH4512霍尔效应实验仪上霍尔片工作电流I S输入端(将红接线柱与红接线柱对应相连,黑接线柱与黑接线柱对应相连)。
3、DH4512霍尔效应实验仪上霍尔元件的霍尔电压V H输出端,接DH4512霍尔效应测试仪中部下方的霍尔电压输入端。
四.测量霍尔电压VH与工作电流Is的关系1)先将Is,I M都调零,调节中间的霍尔电压表,使其显示为0mV。
2)将霍尔元件移至线圈中心,调节I M=500mA,调节Is =1.00mA,按表中Is,I M正负情况切换方向,分别测量霍尔电压VH值(V1,V2,V3,V4)填入表中。
以后Is每次递增0.50mA,测量各V1,V2,V3,V4值。
绘出Is—VH曲线,验证线性关系。
五.测量霍尔电压V H与励磁电流I M的关系1)先将Is调节至3.00mA,2)调节I M=100、150、200……500mA(间隔为50mA),分别测量霍尔电压V H值填入表中的值。
3)根据表中所测得的数据,绘出I M—V H曲线,验证线性关系的范围。
六.测量线圈中磁感应强度B 的分布1)先将I M ,Is 调零,调节中间的霍尔电压表,使其显示为0mV 。
2)将霍尔元件置于线圈中心,调节I M =500mA ,调节I S =3.00mA ,测量相应的V H 。
3)将霍尔元件从中心向边缘移动每隔5mm 选一个点测出相应的V H ,填入表中。
4)由以上所测V H 值,由公式:V H =K H I S B B =S H HI K V计算出各点的磁感应强度。
四 实验注意事项1、霍尔电势V H 测量的条件是霍尔元件平面与磁感应强度B 垂直,此时V H 取得最大值,仪器在组装时已调整好,为防止搬运,移动中发生的位移,实验前应将霍尔元件传感器盒移至线圈中心,使其在I M 、I S 相同时,达到输出V H 最大2、为了不使通电线圈过热而受到损害,或影响测量精度,除在短时间内读取有关数据,通过励磁电流I M 外,其余时间最好断开励磁电流开关。
五 实验结果保持Is=4.50mA 不变,测绘Vh-Im 曲线(注:素材和资料部分来自网络,供参考。
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