利用X射线荧光光谱技术检测有害物质

RoHS指令６种有害物质的检测方法简介1、X射线荧光光谱法①适用范围：塑料部件、金属部件、电子元件中铅、汞、镉、总铬、溴的筛选测试②技术特点：一次性快速定性分析样品中的铅、汞、镉、铬、溴元素。

对均质样品无须制样，可进行无损测试。

X荧光光谱仪2、傅立叶红外光谱法①适用范围：对聚合物材料中高含量的PBB和PBDE½øÐÐ筛选测试。

②特点：以PBB和PBDE特征红外光谱为定性依据、部分样品可以进行无损测试。

傅利叶红外光谱仪3、斑点法测六价铬①适用范围：无色和着色铬酸盐涂层中六价铬的定性筛选测试。

②特点：利用显色反应，直接定性测试样品表面涂层中六价铬，简便快速。

如出现阳性反应，需要用分光光度法等进行确证分析。

4、气相色谱/质谱联用分析法（GC-MS法）①适用范围：塑料部件及电子元件中PBB、PBDE阻燃剂的定量分析。

②仪器：台式气质联用仪③GC-MS法是挥发性和半挥发性有机物定性定量测试的常见方法，广泛运用于各种有机毒害物的残留分析项目。

气质联用仪5、液相色谱法（HPLC法）①适用范围：塑料部件及电子元件中PBB、PBDE阻燃剂的定量分析。

②主要仪器：液相色谱仪；③技术特点：适用于十溴联苯和十溴二苯醚等难挥发性阻燃剂的测试，弥补GC-MS法的弱点。

液相色谱仪6、分光光度分析法①适用范围：六价铬的含量测试②主要仪器：紫外分光光度计；③技术特点：该方法是六价铬测试的经典方法，可参考多项国内外标准，如EPA3060A等。

紫外-可见分光光度仪7、电感耦合等离子体原子发射光谱法（ICP-AES法）①适用范围：塑料部件、金属部件、电子元件中铅、汞、镉、总铬的含量测试。

②主要仪器：电感耦合等离子体原子发射光谱仪；③技术要点：选择采用微波消解、湿法消解、干法消解等手段溶解样品，一次性同步测定铅、汞、镉、总铬的含量。

电感耦合等离子体原子发射光谱仪8、原子吸收分析法（AAS法）①适用范围：塑料部件、金属部件、电子元件中铅、镉的含量测试。

ROHS测式方法ROHS指的是限制使用一些有害物质指令(Restriction of Hazardous Substances directive)，它是一项旨在限制电子电气设备中有害物质使用的欧盟指令。

为了确保产品符合ROHS指令，有必要进行相应的测量和测试。

本文将介绍ROHS测试方法之一：XRF光谱筛选法。

XRF光谱筛选法是一种非破坏性的测试方法，也是目前最常用的ROHS测试方法之一、它基于X射线荧光光谱技术，通过检测样品中元素的辐射来分析样品中有害物质的含量。

XRF光谱筛选法的工作原理是：将待测物放置在X射线源下方，然后通过X射线照射样品。

样品中的元素受到X射线的激发后，会发出荧光辐射。

这些辐射将被通过X射线谱仪来检测和分析。

在ROHS测试中，我们主要关注六种有害物质，即铅(Pb)、汞(Hg)、镉(Cd)、六价铬(Cr6+)、多溴联苯(PBBs)和多溴二苯醚(PBDEs)。

XRF光谱筛选法可以对这些物质进行检测和定量。

进行XRF光谱筛选法测试的样品应该是充分准备的：首先，需要将样品进行破碎、混合和粉碎，以确保样品中的有害物质能够充分释放。

然后，取一小部分样品放置在测试装置中，进行测试。

在测试过程中，使用X射线谱仪来获取样品辐射的光谱信息。

光谱可以显示出样品中不同元素的特征峰，根据这些特征峰可以判断样品中是否存在有害物质。

根据特征峰的强度和峰位，可以对有害物质的含量进行定量分析。

XRF光谱筛选法具有准确、迅速、非破坏性等特点。

它可以在较短时间内完成大量样品的测试，并且对样品没有破坏性，可以保留样品的完整性。

另外，该方法不需要使用化学试剂，可以降低对环境的污染。

然而，XRF光谱筛选法也存在一些限制。

首先，由于不同元素的辐射特征不同，需要事先了解需要测试的有害物质的特征峰，才能正确进行测试。

其次，这种方法只能对样品进行表面的筛选，对于深层物质的检测相对困难。

此外，该方法在测试高浓度物质时可能存在饱和问题，需要进行相应的稀释处理。

rohs的测试方法RoHS（限用有害物质指令）是指欧洲联盟制定的一项环保法规，旨在限制和排除电子和电气设备中的有害物质，以保护人类健康和环境。

在这篇文章中，我们将探讨RoHS测试的方法。

RoHS测试是由制造商、供应商和认证机构进行的，以确保产品符合RoHS指令的要求。

以下是RoHS测试的一般步骤：1.文件审查：首先，检测机构会对产品的相关文件进行审查，包括材料报告、零部件清单、供应商声明等。

这有助于确定产品中是否存在被限制的物质。

2.样品收集：根据文件审查的结果，样品会被选中进行进一步的化验和测试。

通常，样品数量的选择应该具有代表性，以确保测试结果的准确性。

3.化验分析：选取的样品将进行化验分析，目的是确定产品中是否存在RoHS指令中列出的有害物质。

以下是常用的化验分析方法：-X射线荧光光谱（XRF）:XRF是一种非破坏性的化学分析方法，可用于检测产品中的重金属含量。

通过X射线的激发，样品中的元素发射特定的能量，从而确定有害物质的存在。

-电感耦合等离子体质谱（ICP-MS）:ICP-MS是一种高灵敏度的质谱分析方法，可用于检测微量金属元素。

它将样品中的物质原子化，然后通过质谱仪分离和检测。

-质子能量损失谱（PIXE）:PIXE是一种基于质子束激发样品的方法，可以测量样品中的元素含量。

它的分辨率高，可以检测微量的有害物质。

4.问题解决：如果在化验分析中发现产品中存在被限制的物质，制造商需要采取相应的措施去消除或减少这些物质的使用。

例如，更换材料、改进生产工艺等。

5.检验和验证：在问题解决后，制造商需要重新进行测试，以确保产品符合RoHS指令的要求。

这个过程可以通过内部检验或第三方机构认证来完成。

需要注意的是，RoHS测试可以由制造商自行完成，也可以通过第三方认证机构进行。

第三方认证将增加其可靠性和可信度，因为这些机构通常具有高度的专业性和独立性。

同时，RoHS测试也需要定期进行，以确保产品在生命周期内一直符合指令的要求。

帕纳科xrf原理-概述说明以及解释1.引言1.1 概述帕纳科XRF原理（即帕纳科X射线荧光光谱仪原理）是一种非常重要的分析技术，它利用X射线荧光光谱仪进行物质的分析与检测。

X射线荧光光谱仪（XRF）是一种基于X射线的分析技术，能够快速、无损地分析样品的元素成分及其含量。

帕纳科XRF原理通过将样品暴露在高能量的X射线辐射下，激发样品中的原子发生内层电子跃迁，从而产生特定能量的特征X射线。

这些特征X射线与样品中元素的种类和含量密切相关。

X射线荧光分析原理基于这个原理，通过测量样品中发射出的特征X射线的能量和强度来确定样品的元素成分。

帕纳科XRF原理在许多领域都有广泛的应用。

在材料分析方面，它可以用于合金分析、陶瓷成分分析、矿石成分分析等。

在环境监测方面，它可以用于土壤中重金属含量的检测、水中有害物质的检测等。

在文物保护方面，它可以用于非破坏性地分析文物的元素成分，以了解其制作材料和年代等信息。

帕纳科XRF原理具有许多优点。

首先，它非常快速和高效，能够在几分钟内完成样品的分析。

其次，它是一种无损检测技术，不需要破坏样品，适用于各种形态的样品。

此外，它还具有高准确性和重复性，并且可以同时分析多个元素。

然而，帕纳科XRF原理也存在一些局限性。

首先，它对于低能量X射线不敏感，因此无法检测低原子序数元素。

其次，样品的尺寸和形态对分析结果可能产生影响。

最后，它对于元素的定量分析相对有限，通常只能得到元素的相对含量。

随着科学技术的不断发展，帕纳科XRF原理也在不断进步和完善。

未来，我们可以期待更加精确和灵敏的X射线荧光光谱仪的研发，以及更加全面和准确的元素分析方法的开发。

综上所述，帕纳科XRF原理是一种重要的分析技术，具有广泛的应用领域和许多优点。

随着技术的不断进步，帕纳科XRF原理将在各个领域发挥更大的作用。

文章结构部分的内容如下所示：1.2 文章结构本篇长文主要围绕帕纳科XRF原理展开，文章的主要部分分为引言、正文和结论三个部分。

PCB行业中关于RoHS指令有害物质的检测方法要求2006年7月1日开始，电子电气设备中禁止使用铅、汞、六价铬、镉和多溴联苯（PBB）、多溴二苯醚（PBDE）；其中镉限量指标 100PPm（0.01％），另五种限量l000ppm（0.1％）。

企业出口欧盟的产品都需符合以上的限量要求，并且要展示相应的证明文件，不符合要求的产品将会被拒绝进入欧盟市场。

下文介绍RoHS指令6种有害物质的检测方法。

１、X射线荧光光谱法① 适用范围：塑料部件、金属部件、电子元件中铅、汞、镉、总铬、溴的筛选测试② 技术特点：一次性快速定性分析样品中的铅、汞、镉、铬、溴元素。

对均质样品无须制样，可进行无损测试。

X荧光光谱仪2、傅立叶红外光谱法① 适用范围：对聚合物材料中高含量的PBB和PBDE??DD筛选测试。

② 特点：以PBB和PBDE特征红外光谱为定性依据、部分样品可以进行无损测试。

傅利叶红外光谱仪3、斑点法测六价铬① 适用范围：无色和着色铬酸盐涂层中六价铬的定性筛选测试。

② 特点：利用显色反应，直接定性测试样品表面涂层中六价铬，简便快速。

如出现阳性反应，需要用分光光度法等进行确证分析。

4、气相色谱/质谱联用分析法（GC-MS法）① 适用范围：塑料部件及电子元件中PBB、PBDE阻燃剂的定量分析。

② 仪器：台式气质联用仪③ GC-MS法是挥发性和半挥发性有机物定性定量测试的常见方法，广泛运用于各种有机毒害物的残留分析项目。

气质联用仪5、液相色谱法（HPLC法）① 适用范围：塑料部件及电子元件中PBB、PBDE阻燃剂的定量分析。

② 主要仪器：液相色谱仪；③ 技术特点：适用于十溴联苯和十溴二苯醚等难挥发性阻燃剂的测试，弥补GC-MS法的弱点。

液相色谱仪6、分光光度分析法① 适用范围：六价铬的含量测试② 主要仪器：紫外分光光度计；③ 技术特点：该方法是六价铬测试的经典方法，可参考多项国内外标准，如EPA3060A等。

紫外-可见分光光度仪7、电感耦合等离子体原子发射光谱法（ICP-AES法）① 适用范围：塑料部件、金属部件、电子元件中铅、汞、镉、总铬的含量测试。

X射线荧光光谱仪1 适用范围本规范适用于使用中和修理后的能量色散X射线荧光光谱仪的校准。

2 参考文献JJG 810-1993 波长色散X射线荧光光谱仪检定规程SN/T2003.1：2005 X射线荧光光谱法测铅，汞，铬，镉，溴SJ/T11365-2006 电子信息产品中有毒有害物质的检测方法3 概述能量色散X射线荧光光谱仪用于固体、粉末或液体物质的元素分析。

工作的基本原理是X射线管发出的初级X射线激发试样中的原子，测定由此产生的X射线的荧光的能量强度，根据各种元素特征X荧光光谱线的能量强度进行元素的定性和定量分析。

工厂购买能量色散X射线荧光光谱仪，主要用来确定产品中有害物质含量是否超标，主要依据是欧盟委员会先后颁布的（2002/95/EC）指令和2005/618/EC决议。

其中铅（Pb）、汞(Hg)、六价铬(Cr6+)、多溴联苯(PBB)、多溴二苯醚(PBDE)的最大允许含量为0.1%(1000mg/kg)，镉(cd)为0.01%(100 mg/kg)该限值是制定产品是否符合RoHS指令的法定依据。

金属材质只需要做重金属检测（铅、汞、镉、六价铬），塑料材质需要做规定的六项（铅、汞、镉、六价铬、多溴联苯、多溴二苯醚），其它材质只需做重金属测试。

X射线荧光光谱仪主要作用是做有害物质总含量的分析，对产品起到快速筛选的作用。

基体matrix含有或附有被分析物的材料或物质。

背景background叠加在分析线上的连续谱，主要来自试料对入射辐射的散射。

检出限limit of detection在一定置信水平下能检出的最低含量。

干扰线interference lines与分析线重叠或部分重叠，从而影响对分析线强度进行准确测量的谱线。

4 计量性能要求4.1外观4.1.1 仪器应有仪器名称、制造厂、出厂日期和编号的标志。

4.1.2 所有部件连接良好、动作正常。

4.1.3 面板上的仪表、指示灯和安全保护装置工作正常。

化妆品含铅汞测试方法化妆品是现代人日常生活中不可或缺的一部分，但是其中可能存在的有害物质却让人们担忧不已。

铅和汞是两种常见的有害金属，它们可能存在于化妆品中，对人体健康造成潜在威胁。

因此，对化妆品中含铅汞的测试方法显得尤为重要。

本文将介绍化妆品含铅汞测试的方法，希望能够帮助人们更加科学地选择和使用化妆品。

首先，化妆品含铅汞测试的方法之一是使用X射线荧光光谱仪。

这是一种常见的无损分析方法，通过测定化妆品中金属元素的含量来判断其中是否含有铅汞等有害物质。

X射线荧光光谱仪具有快速、准确、无损等特点，能够对化妆品进行全面的检测，是一种较为可靠的测试方法。

其次，化妆品含铅汞测试的方法还可以采用化学分析法。

这种方法通过将待测样品与适当的试剂发生化学反应，然后利用仪器测定反应产物来确定化妆品中的铅汞含量。

化学分析法能够对不同类型的化妆品进行测试，并且对于微量元素的检测也有较高的灵敏度，是一种较为常用的测试方法。

此外，还可以利用质谱法进行化妆品含铅汞的测试。

质谱法是一种高灵敏度、高选择性的分析方法，通过对待测样品进行质谱分析，可以准确地测定其中的各种成分，包括铅汞等有害物质。

质谱法对于化妆品中微量有害物质的检测效果较好，是一种较为精准的测试方法。

最后，还可以采用电化学方法进行化妆品含铅汞的测试。

电化学方法是利用电化学技术对待测样品进行分析，通过测定化妆品中的金属离子含量来判断其中是否含有铅汞等有害物质。

电化学方法具有操作简便、成本较低等优点，适用于化妆品中微量金属元素的测试。

综上所述，化妆品含铅汞测试的方法有多种，包括X射线荧光光谱仪、化学分析法、质谱法和电化学方法等。

每种方法都有其特点和适用范围，可以根据具体情况选择合适的测试方法进行化妆品的检测。

在日常生活中，消费者也可以通过选择有资质、信誉良好的化妆品品牌，减少化妆品中含铅汞的风险，保障自身健康。

希望本文所述的化妆品含铅汞测试方法能够为大家带来一些帮助，让大家在使用化妆品时更加放心和安全。

土壤中有害元素的分析-能量色散X射线荧光光谱法摘要：结合国推”土十条”的出台，为了防止土壤污染，保护生态环境，新国标GB15618-201X 规定了土壤中污染物的最高允许浓度和监测方法。

本质量标准中涉及的污染物涵盖Cd、Hg、As、Cu、Pb、Cr、Zn、V、Co、Mn和Ni以及苯并芘等。

其中明确As、Pb、Cr、Ni、Cu、Zn、V、Co、Mn等九种重金属元素可以使用波长色散X射线荧光光谱仪进行分析。

但是，能不能在能量色散这种使用便捷、性价比高的仪器上实现分析呢？我们做了尝试性的分析。

关键词：土壤X射线荧光分析重金属有害元素能量色散型X射线荧光（EDXRF），因其具有非破坏、方便、快捷的特点，灵敏度相对较高。

鉴于在RoHS、ELV领域成功的应用经验，以及环保法规的相似性，我们希望尝试在土壤分析领域开拓XRF仪器的应用。

使用多标样压片法进行土壤中相关元素的定量分析，可以对土壤中的多元素进行同时快速分析。

下面是使用GSS、GSD系列国标压片在岛津EDX-8000上制作的工作曲线。

其中，Na、Mg元素，EDX8000优于EDX-7000，其他元素，两个机型没有明显的差异。

结合国标GB15618-201X中规定的含量标准，评估了XRF仪器在土壤分析中的适用性。

同时，该仪器可以在分析有害元素的同时对土壤中常量元素进行测试，扩大了分析范围，提高一次分析的有用范围。

1 实验部分在GB15618-201X中，根据土壤应用功能和保护目标，将土壤分为耕地、草地、园地、林地几类，分别规定了重金属元素的限量标准。

具体如下：质量分数(10-6) As V Co Cu Zn Ni Cr Pb Mn耕地、草地、园地20 150 24 50 200 40 150 80 1200 林地40 150 24 400 500 200 400 500 1200列出的是最小限值1.1标准样品根据有害元素限量要求，选择国标土壤标样以及水系沉积物标样18个，综合绘制工作曲线。

rohs检测项目及标准RoHS是《电气电子设备中限制使用某些有害物质指令》的缩写，该指令由欧盟于2003年1月发布，目的是限制电子电气产品中使用有害物质，保护环境和人类健康。

以下是RoHS检测项目及标准的主要内容：1.测试物质RoHS指令限制在电子电气产品中使用以下有害物质：铅（Pb）汞（Hg）镉（Cd）六价铬（Cr6+）多溴联苯（PBB）多溴二苯醚（PBDE）2.测试方法RoHS指令中要求的测试方法为X射线荧光光谱法（XRF）或分光光度计法。

其中，XRF法是一种无损检测方法，适用于对产品整体或部件进行快速筛查；分光光度计法则需要对样品进行前处理，适用于对产品中的特定元素进行定量检测。

3.测试标准RoHS指令中规定了不同产品的测试标准，包括：2002/95/EC：规定了RoHS指令的基本要求和限制物质的最大限量。

004：针对电子电气产品的RoHS符合性声明。

4101B：针对电子电气产品中不同材料成分的X射线荧光光谱法测试方法。

61249-2-21：针对电子电气产品中不同材料成分的分光光度计法测试方法。

4.限制物质RoHS指令中限制物质的最大限量如下：铅（Pb）：1000ppm汞（Hg）：100ppm镉（Cd）：100ppm六价铬（Cr6+）：100ppm多溴联苯（PBB）：1000ppm多溴二苯醚（PBDE）：1000ppm5.豁免物质RoHS指令中规定了一些豁免物质，即在特定条件下可以豁免于RoHS指令要求的物质。

例如：铅（Pb）：在纯铜、纯铝、纯锌、纯锡等金属材料中豁免；在电子电气产品的焊接过程中豁免；在纯玻璃中豁免。

汞（Hg）：在气态放电管中的钠汞齐中豁免；在电子电气产品的某些温度传感器中豁免。

镉（Cd）：在某些电池中豁免，如锂电池、镍镉电池等。

在土壤检测中如何应用X射线荧光光谱法研究作者：徐浩来源：《科技创新导报》2017年第15期摘要：随着当前科学技术的不断发展进步，在土壤检测之中开始使用X射线荧光光谱法，极大地提升了土壤检测的准确性。

该文主要对土壤检测中X射线荧光光谱法的具体应用展开分析研究，使其在土壤检测中发挥出更大的作用。

关键词：土壤检测 X射线荧光光谱法应用中图分类号：S151.95 文献标识码：A 文章编号：1674-098X（2017）05（c）-0143-02X射线荧光光谱法有着许多较为突出的特点，如：检测范围较广、无污染、成本低、准确性高等，这些特点也使得其被应用得越来越广泛，在土壤的检测之中也成功地引入X射线荧光光谱法，并在实际的检测工作中取得了较好的效果，下面对其具体应用展开分析。

1 在土壤检测中X射线荧光光谱法的工作原理分析所谓的X射线荧光光谱法指的是向需要检测的物品投射出X射线，然后会产生一种电子跃迁，使其产生带有院子元素的X射线，这种X射线被称作为X射线荧光，对其进行分析可以有效的理清构成该物质的化学成分。

当使用X射线对土壤的样本进行检测的时候，其中会附带较大的投射能量，当这种能量大于土壤样本中的原子对电子的束缚之后，会使得土壤样本中的内层电子被排挤出来，打破原本所处的平衡，高能级的电子会向着低能级进行跃迁，而在这个跃迁的过程中会产生出较多的能量，最终这种能量会以射线辐射的方式表现出来，也就形成了X荧光。

在不同元素之间释放出来的能量有着较大的差异，而这种差异性可以通过对X 荧光的波长来进行检测和判断，由此也可以实现对土壤中元素的检测。

2 在土壤检测中X射线荧光光谱法的分析方法概述在土壤检测中使用X射线荧光光谱法的分析方法主要可以分为定性分析法和定量分析法两种。

首先，X射线荧光光谱法的定性分析法。

由X射线荧光光谱法工作的基本原理可以知道不同的元素发出的X射线荧光会存在一定的不同，也可以根据X射线荧光的波长来确定其中的元素，也因此生产和制造出能量色散性荧光光谱仪，并将其成功的用到土壤的检测工作之中。

xrf fp法
XRF FP法（Fusion Peroxide，简称FP法）是一种常用的化学分析方法，它使用X射线荧光光谱技术（X-ray fluorescence spectroscopy）来检测物质的化学成分。

这种分析方法通过将样品高温熔融并与过氧化氢发生反应，从而使样品中的元素转化为溶液状态。

接下来，FP法使用X射线照射溶液样品，测量被激发的X射线荧光光谱，进而确定样品中各种元素的含量。

FP法具有广泛的应用范围，尤其在材料科学、环境监测、金属矿产勘探和人体健康等领域中有着重要的地位。

选择FP法的原因有：与传统的湿化学分析相比，FP法的操作更简单、更高效，还可以避免样品制备过程中出现的交叉污染问题；FP法适用于多种样品类型，包括固体、液体和气体等；FP法所需的样品量相对较小，有利于样品的节约和实验室的成本控制。

一、概述钨矿是一种重要的有色金属矿产资源，而其中的氧化钨是钨矿中的主要成分之一。

对钨矿中氧化钨含量进行准确测定具有非常重要的意义。

x射线荧光光谱法作为一种快速、准确、非破坏性的分析方法，被广泛应用于矿产资源中有关元素的分析测定中。

二、x射线荧光光谱法原理x射线荧光光谱法是一种利用物质在受激射线照射下产生x射线的特性进行元素分析的方法。

当物质受到x射线激发后，其中的原子核激发至高能级，随后发生跃迁并放射出特定能量范围内的x射线。

通过测定这些特征x射线的强度，可以得知样品中的元素成分和含量。

三、x射线荧光光谱法测定钨矿中氧化钨含量的步骤1. 样品制备需要将钨矿样品制成均匀的粉末，通常采用球磨机进行粉碎和混合。

取一定量的样品粉末，并在压力机上将其制成直径适宜的块状样品。

2. 仪器准备使用x射线荧光光谱仪进行分析时，需要保证仪器处于良好的工作状态。

检查仪器的电源、冷却系统、检测器等部件，保证仪器能够稳定、准确地进行分析。

3. 分析测定将制备好的样品放置在x射线荧光光谱仪中，设置好相应的参数，如激发能量、光电倍增管电压等。

启动仪器进行分析测定，记录下所得的x射线荧光光谱图谱。

4. 数据处理对得到的光谱图谱进行数据处理，首先进行峰识别和峰面积测定，然后利用已知标准物质进行定量分析，得出样品中氧化钨的含量。

四、x射线荧光光谱法测定钨矿中氧化钨含量的优势1. 非破坏性分析x射线荧光光谱法对样品进行分析时，不需要对样品进行任何物理或化学处理，因此不会破坏样品。

2. 快速准确x射线荧光光谱法具有高灵敏度和快速分析的优势，可以在短时间内得出准确的分析结果。

3. 多元素分析x射线荧光光谱法可以同时进行多元素分析，对钨矿中的其他元素含量也能够进行准确测定。

五、x射线荧光光谱法测定钨矿中氧化钨含量的实验结果通过对多个钨矿样品进行x射线荧光光谱分析，得出了它们中氧化钨的含量数据，这些数据证明了该方法在测定氧化钨含量方面的准确性和可靠性。

赛默飞x射线能谱rohs
赛默飞世尔科技（Thermo Fisher Scientific）是一家全球领先的科学和技术公司，专注于提供生命科学、医疗诊断和特殊材料等领域的解决方案。

在材料分析领域，赛默飞以其高性能的X射线能谱仪而著名。

赛默飞的X射线能谱仪以其高分辨率和高灵敏度在RoHS检测中表现出色。

RoHS （Restriction of Hazardous Substances）是一个欧盟指令，旨在限制在电子和电器设备中使用某些有害物质。

对于电子产品制造商和进口商来说，RoHS检测是确保产品符合法规要求的关键步骤。

赛默飞的X射线能谱仪采用先进的X射线荧光技术，能够快速准确地检测样品中的元素成分。

这种仪器可以分析从钠（Na）到铀（U）的几乎所有元素，且具有高灵敏度和低检测限。

这使得它能有效地应用于RoHS检测，包括检测电子设备中的铅（Pb）、汞（Hg）、镉（Cd）、六价铬（Cr(VI)）等有害物质。

此外，该仪器还具有优良的重复性和可靠性，能够在生产环境中持续提供准确的检测结果。

它的紧凑设计和自动化功能也使其成为各种应用场景的理想选择，包括科研、质量控制和生产过程监控等。

总的来说，赛默飞的X射线能谱仪以其卓越的性能和广泛的应用范围，成为RoHS 检测领域的理想工具。

它帮助制造商和进口商确保其产品符合RoHS指令的要求，同时也推动了科学研究和技术创新的发展。

在未来的科技发展中，赛默飞的X射线能谱仪将
继续发挥重要作用，为全球的可持续发展做出贡献。

２０１５年１１月Ｎｏｖｅｍｂｅｒ２０１５岩　矿　测　试ＲＯＣＫＡＮＤＭＩＮＥＲＡＬＡＮＡＬＹＳＩＳＶｏｌ．３４，Ｎｏ．６６５９～６６４收稿日期：２０１４－０９－０６；修回日期：２０１５－０９－２５；接受日期：２０１５－１１－１０基金项目：国家质检总局科研计划项目（２０１３ＩＫ０１９）作者简介：武素茹，工程师，主要从事矿产品检测鉴别工作。

Ｅ ｍａｉｌ：ｗｕｓｒ１＠ｔｊｃｉｑ．ｇｏｖ．ｃｎ。

文章编号：０２５４５３５７（２０１５）０６０６５９０６ＤＯＩ：１０．１５８９８／ｊ．ｃｎｋｉ．１１－２１３１／ｔｄ．２０１５．０６．００９Ｘ射线荧光光谱－Ｘ射线衍射－红外光谱联用技术鉴别锰矿与锰冶炼渣武素茹，宋　义，谷松海，郭　芬，孙　鑫（天津出入境检验检疫局，天津３００４５６）摘要：鉴别锰矿与锰冶炼渣对于锰矿进口贸易和环境保护具有重要意义，由于锰冶炼渣与一些锰矿具有相似的元素组成，都含有锰和硅铝镁钙等杂质元素，仅从元素含量的高低无法准确将其鉴别。

本文按国别收集我国主要进口锰矿及不同工艺的主要锰冶炼渣作为研究样品，应用Ｘ射线荧光光谱、Ｘ射线衍射及傅里叶变换红外光谱技术相结合，建立了锰矿与锰冶炼渣的鉴别方法。

在元素组成上，锰冶炼渣的硅含量较高，水淬渣和空气冷却渣的钙含量较高。

在物相上，锰矿的特征物相包括软锰矿、氧化锰、方锰矿、菱锰矿等；而锰冶炼渣因为经过冶炼的过程存在硅酸铁、锰橄榄石等特征峰，从而对样品属性进行鉴别。

红外光谱显示，锰矿在６００～４００ｃｍ－１范围内有两个强吸收带，并单独或者同时在１４２０ｃｍ－１处有特征吸收峰；而锰冶炼渣在９６０ｃｍ－１左右有宽强吸收峰。

本法建立了锰矿的物相谱图库及锰冶炼渣的物相特征，并充分利用红外光谱技术作了有力佐证，确定了锰矿及其冶炼渣的主要区别点。

关键词：锰矿；锰冶炼渣；Ｘ射线荧光光谱法；Ｘ射线衍射法；傅里叶变换红外光谱法中图分类号：Ｐ５７８；Ｐ５７５．４；Ｐ５７５．５文献标识码：Ａ锰矿是自然界存在的矿物，是提炼锰元素的重要原料，在钢铁工业中应用广泛，具有十分重要的战略地位。

xrf荧光光谱灰成分XRF荧光光谱是一种重要的无损检测技术，被广泛应用于材料成分分析中。

该技术能够迅速、准确地检测出各种材料中的元素成分，包括灰成分。

下面将详细介绍XRF荧光光谱在灰成分分析中的应用。

一、XRF荧光光谱技术原理XRF荧光光谱技术基于X射线荧光原理，当样品受到高能X射线激发时，样品中的原子会发生电离并产生荧光。

这些荧光具有特定的能量和波长，与样品中的元素类型和浓度有关。

通过检测和分析这些荧光信号，可以确定样品中的元素成分和含量。

二、灰成分分析的重要性灰成分是指材料在高温下燃烧后所剩余的固体物质，通常包含氧化物、硅酸盐、铝酸盐等成分。

灰成分分析对于了解材料的化学性质和工艺性能具有重要意义。

例如，在水泥、陶瓷、玻璃等行业中，灰成分是影响产品质量和性能的关键因素之一。

通过准确地分析灰成分，可以有效地控制生产工艺，提高产品质量和性能。

三、XRF荧光光谱在灰成分分析中的应用1.定量分析：XRF荧光光谱技术可以对灰成分进行定量分析，准确地检测出各种元素的含量。

这对于了解材料的化学性质和工艺性能具有重要意义。

2.快速检测：XRF荧光光谱技术具有快速检测的特点，可以在短时间内对大量样品进行分析。

这对于生产过程中的质量控制和产品研发具有重要意义。

3.无损检测：XRF荧光光谱技术是一种无损检测技术，不会对样品造成破坏。

这对于珍贵文物、艺术品等文物的鉴定和保护具有重要意义。

4.环保分析：XRF荧光光谱技术不需要使用化学试剂，因此对环境没有污染。

同时，该技术还可以检测出样品中的有毒有害物质，对于环保领域具有重要意义。

5.广泛应用：XRF荧光光谱技术被广泛应用于水泥、陶瓷、玻璃、冶金、环保等领域，为相关行业提供了重要的技术支持。

四、结论总之，XRF荧光光谱技术在灰成分分析中具有重要的应用价值。

该技术可以准确地检测出各种元素的含量，为材料研究和生产提供重要的技术支持。

未来随着科技的不断发展和进步，XRF荧光光谱技术将在更多领域得到应用和发展。

CHINA PORT SCIENCE AND TECHNOLOGYX射线荧光光谱法测定氧化锌富集物中锌氯砷镉铁臧世阳*1武素茹1*郑云龙1亓红英1杨东奇1摘要采用粉末压片-X射线荧光光谱法，建立了氧化锌富集物中Z n O、C l、A s、C d、F e的同时测定方法，并建立了针对限量标准的快速筛查流程。

结果表明，该方法适用于锌元素以氧化锌物相存在的氧化锌富集物中元素的检 测，各元素检测线性范围如下：Z n O(23.66%~73.04%)、F e(0.073%~10.25%)、C l(3.24%~25.24%)、A s(a〇2%~0.095%)、C d(0.038%~1.36%);方法检出限依次为 105.2 p i p m、4.6 p p m、47.3p p m、198.1 p p m、4_5 p p m,相对标准偏差小于0.27%关键词X射线荧光光谱；粉末压片；氧化锌富集物Determination of ZnO, Cl, As, Cd and Fe in Zinc Oxide Concentrate Products by Powder Tablet X-rayFluorescence SpectrometryZANG Shi-Yang1WU Su-Ru1' ZHENG Yun-Long1Qi Hong-Ying1Yang Dong-Qi1A b s tra c t A m e t h o d for the determination of Z n O, Cl, As, C d an d F e in zinc oxide concentrate w a s established by p o wder compression X-r a y fluorescence spectrometry, a n d the rapid screening process for the limited standard wa s established. T h e results sho w that the m e thod is suitable for the determination of elements in zinc oxide concentrate which phase of zinc i s zinc oxide. T h e linear range of each element is as follow： ZnO(23.66-73.04%), Fe(0.073-10.25%), 01(3.24-25.24%), As(0.02-0.095%), Cd(0.038-1.36%), the detection limits are 105.2 p pm, 4.6 p pm, 47.3 p p m, 198.1 p pm, 4.5 ppm, and the relative standard deviation i s less than 0.27%.K e y w o rd s X-ray fluorescence spectrum ；powder tablet ；zinc oxide concentrate氧化锌富集物是利用各种含锌废料经回转窑挥发 处理得到的以氧化锌为主的氧化锌富集物，因含锌废 料种类多，所以氧化锌富集物没有统一和固定的元素 组成i m。