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应用Avantage 软件进行XPS 谱图处理步骤一、 打开处理软件双击桌面上Avantage 图标二、 载入谱图数据Open files ——选择需要处理的vgp.格式的数据文件，打开相应的XPS 谱图。
三、 XPS 谱图处理1. 荷电位移（Charge Shift ）a. 先用鼠标指针选中C1s 谱图，读出当前C1s 谱图上C —C 键的C1s 结合能位置，以C1s=284.8eV 为参考值，记录下当前的荷电位移。
b.选中所有XPS谱图（包括Survey谱图及元素的窄扫谱图），即点击谱图框左上角的小方块。
c.对XPS谱图进行荷电位移：选择工具栏中的“charge shift”图标，在弹出的窗口中选中“shift by amount”，然后在“shift by：”中输入荷电位移值，再选择“+eV”或“-eV”，最后点击“Close”关闭窗口。
2.扣除X射线伴峰（Satellite Subtraction）—此步骤仅适用于双阳极XPSa.用鼠标指针选中某个元素的窄扫谱图，然后点击工具栏中的“Satellite Subtraction”图标。
b. 在弹出的窗口中选择本底类型为“Smart ”，勾选“Subtract Background First ”，然后点“Subtract Satellites ”。
（注意XPS 测试时双阳极的类型是Mg?还是Al?）c. 重复以上扣伴峰的步骤，将所有元素的窄扫谱图都进行X 射线伴峰的扣除，最后点击“Close ”关闭窗口。
3. 定量（Quantification ）a. 先选中双竖线指针，在需要定量的各个元素的窄扫谱图中分别选取定量范围。
注意：定量范围的起点与终点应选在本底较平滑的位置。
b. 用鼠标+Ctrl 键选中所有需要定量的元素窄扫谱图，然后进行加峰，即点击工具栏中“Add Peak ”图标。
在弹出的窗口中选取“Peak Background ”类型为“Smart ”，然后点击“Add To All ”对所有元素进行定量加峰。
应用Avantage 软件进行XPS谱图处理步骤应用应用Avantage软件进行软件进行XPS谱图处理步骤谱图处理步骤一、一、打开处理软件打开处理软件双击桌面上Avantage图标二、二、载入谱图数据载入谱图数据Openfiles——选择需要处理的vgp.格式的数据文件，打开相应的XPS谱图。
三、三、XPS谱图处理谱图处理1.荷电位移（ChargeShift）a.先用鼠标指针选中C1s谱图，读出当前C1s谱图上C—C键的C1s结合能位置，以C1s=284.8eV为参考值，记录下当前的荷电位移。
读取当前C1s结合能位置①②③b.选中所有XPS谱图（包括Survey谱图及元素的窄扫谱图），即点击谱图框左上角的小方块。
c.对XPS谱图进行荷电位移：选择工具栏中的“chargeshift”图标，在弹出的窗口中选中“shiftbyamount”，然后在“shiftby：”中输入荷电位移值，再选择“+eV”或“-eV”，最后点击“Close”关闭窗口。
2.扣除X射线伴峰（SatelliteSubtraction）—此步骤仅适用于双阳极XPSa.用鼠标指针选中某个元素的窄扫谱图，然后点击工具栏中的“SatelliteSubtraction”图标。
b.在弹出的窗口中选择本底类型为“Smart”，勾选“SubtractBackgroundFirst”，然后点“SubtractSatellites”。
（注意XPS测试时双阳极的类型是Mg?还是Al?）c.重复以上扣伴峰的步骤，将所有元素的窄扫谱图都进行X射线伴峰的扣除，最后点击“Close”关闭窗口。
3.定量（Quantification）a.先选中双竖线指针，在需要定量的各个元素的窄扫谱图中分别选取定量范围。
注意：定量范围的起点与终点应选在本底较平滑的位置。
b.用鼠标+Ctrl键选中所有需要定量的元素窄扫谱图，然后进行加峰，即点击工具栏中“AddPeak”图标。
在弹出的窗口中选取“PeakBackground”类型为“Smart”，然后点击“AddToAll”对所有元素进行定量加峰。
应用Avantage 软件进行XPS 谱图处理步骤一、 打开处理软件双击桌面上Avantage 图标二、 载入谱图数据Open files ——选择需要处理的vgp.格式的数据文件，打开相应的XPS 谱图。
三、 XPS 谱图处理1. 荷电位移（Charge Shift ）a. 先用鼠标指针选中C1s 谱图，读出当前C1s 谱图上C —C 键的C1s 结合能位置，以C1s=284.8eV 为参考值，记录下当前的荷电位移。
b.选中所有XPS谱图（包括Survey谱图及元素的窄扫谱图），即点击谱图框左上角的小方块。
c.对XPS谱图进行荷电位移：选择工具栏中的“charge shift”图标，在弹出的窗口中选中“shift by amount”，然后在“shift by：”中输入荷电位移值，再选择“+eV”或“-eV”，最后点击“Close”关闭窗口。
2.扣除X射线伴峰（Satellite Subtraction）—此步骤仅适用于双阳极XPSa.用鼠标指针选中某个元素的窄扫谱图，然后点击工具栏中的“Satellite Subtraction”图标。
b. 在弹出的窗口中选择本底类型为“Smart ”，勾选“Subtract Background First ”，然后点“Subtract Satellites ”。
（注意XPS 测试时双阳极的类型是Mg?还是Al?）c. 重复以上扣伴峰的步骤，将所有元素的窄扫谱图都进行X 射线伴峰的扣除，最后点击“Close ”关闭窗口。
3. 定量（Quantification ）a. 先选中双竖线指针，在需要定量的各个元素的窄扫谱图中分别选取定量范围。
注意：定量范围的起点与终点应选在本底较平滑的位置。
b. 用鼠标+Ctrl 键选中所有需要定量的元素窄扫谱图，然后进行加峰，即点击工具栏中“Add Peak ”图标。
在弹出的窗口中选取“Peak Background ”类型为“Smart ”，然后点击“Add To All ”对所有元素进行定量加峰。
应用Avantage 软件进行XPS谱图处理步骤应用应用Avantage软件进行软件进行XPS谱图处理步骤谱图处理步骤一、一、打开处理软件打开处理软件双击桌面上Avantage图标二、二、载入谱图数据载入谱图数据Openfiles——选择需要处理的vgp.格式的数据文件，打开相应的XPS谱图。
三、三、XPS谱图处理谱图处理1.荷电位移（ChargeShift）a.先用鼠标指针选中C1s谱图，读出当前C1s谱图上C—C键的C1s结合能位置，以C1s=284.8eV为参考值，记录下当前的荷电位移。
读取当前C1s结合能位置①②③b.选中所有XPS谱图（包括Survey谱图及元素的窄扫谱图），即点击谱图框左上角的小方块。
c.对XPS谱图进行荷电位移：选择工具栏中的“chargeshift”图标，在弹出的窗口中选中“shiftbyamount”，然后在“shiftby：”中输入荷电位移值，再选择“+eV”或“-eV”，最后点击“Close”关闭窗口。
2.扣除X射线伴峰（SatelliteSubtraction）—此步骤仅适用于双阳极XPSa.用鼠标指针选中某个元素的窄扫谱图，然后点击工具栏中的“SatelliteSubtraction”图标。
b.在弹出的窗口中选择本底类型为“Smart”，勾选“SubtractBackgroundFirst”，然后点“SubtractSatellites”。
（注意XPS测试时双阳极的类型是Mg?还是Al?）c.重复以上扣伴峰的步骤，将所有元素的窄扫谱图都进行X射线伴峰的扣除，最后点击“Close”关闭窗口。
3.定量（Quantification）a.先选中双竖线指针，在需要定量的各个元素的窄扫谱图中分别选取定量范围。
注意：定量范围的起点与终点应选在本底较平滑的位置。
b.用鼠标+Ctrl键选中所有需要定量的元素窄扫谱图，然后进行加峰，即点击工具栏中“AddPeak”图标。
在弹出的窗口中选取“PeakBackground”类型为“Smart”，然后点击“AddToAll”对所有元素进行定量加峰。
