膜厚测试仪使用说明书
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测厚仪使用方法说明书概述:本说明书旨在提供测厚仪的使用方法,以帮助用户正确、高效地操作测厚仪。
一、产品介绍:测厚仪是一种用于测量材料厚度的仪器。
它适用于各种金属材料、塑料、玻璃等非金属材料的测量。
本测厚仪采用最先进的超声波技术,具备高精度和稳定性。
二、测厚仪的组成部分:1. 主机:包含仪器的显示屏和操作面板。
2. 超声波探头:用于发射超声波并接收反射信号。
3. 电池:用于供电。
4. 数据线:用于与计算机或其他设备的连接。
三、使用准备:1. 将测厚仪主机打开,并确保电池电量充足。
2. 清洁探头:使用干净的布擦拭探头表面,确保其清洁。
3. 检查测厚仪的尺寸、重量等参数是否符合要求。
四、操作步骤:1. 打开电源:按下测厚仪主机上的电源按钮,确保仪器已开启。
2. 选择材料类型:根据待测材料的类型,在操作面板上选择相应的材料类型。
3. 校准仪器:将探头贴紧待测物体表面,按下校准按钮,待仪器校准完成后方可进行测量。
4. 进行测量:将探头贴紧待测物体表面,观察显示屏上的测量数值。
确保探头与物体表面保持平行。
测量过程中,可以按下测量按钮来记录测量数值。
5. 记录数据:可选择将测量数据存储在测厚仪内存中,或通过数据线将数据传输至计算机或其他设备。
6. 关闭测厚仪:测量完成后,按下主机上的电源按钮,将仪器关闭。
五、注意事项:1. 请定期清洁测厚仪,以确保其正常工作。
2. 在测量过程中,探头与物体表面的贴合度对测量结果有较大影响,应保持探头与物体表面的垂直度和平行度,以获得准确的测量结果。
3. 避免将测厚仪接触到水、污垢等可能对仪器造成损坏的物质。
4. 在使用测厚仪时,应注意人身安全,避免接触到探头上的尖锐物体。
六、维护保养:1. 定期检查电池电量,确保有足够的电量进行正常使用。
2. 定期校准测厚仪,以确保测量结果的准确性。
3. 当测厚仪长时间不使用时,应将电池取出,以免电池漏液损坏仪器。
七、故障排除:如果测厚仪出现故障,请联系售后服务中心进行维修或更换。
膜厚测试仪操作规范膜厚测试仪是一种用于测量材料表面膜层或薄膜的厚度的仪器设备,广泛应用于电子、化工、包装等行业。
为确保测试结果的准确性和可靠性,使用膜厚测试仪时需要遵守一定的操作规范。
以下是膜厚测试仪操作规范的详细内容:1.设备准备1.1确保膜厚测试仪处于良好的工作状态,检查仪器主体及相关附件是否完好,如有损坏或异常应及时维修或更换。
1.2准备好所需的测试样品及校准标准,将其放置在干净、无尘的工作台上。
1.3打开膜厚测试仪的电源开关,待仪器自检完成后方可进行操作。
2.校准操作2.1使用之前需要对膜厚测试仪进行校准,保证测试结果的准确性。
2.2选择适当的校准标准样品,根据仪器说明书进行校准操作,调整仪器的相关参数至合适的数值。
2.3校准完成后,进行零位调整,确保仪器零位偏差在规定范围内。
3.测试操作3.1将待测样品放置在仪器的测量台上,确保样品与测量台稳定接触。
3.2调整仪器的测试范围和测试速度,根据待测样品的特性选择合适的测试参数。
3.3启动仪器进行测试,记录测试结果。
4.数据处理4.1测试完成后,将仪器显示屏上的数据记录下来,确保测试数据的准确性。
4.2对测试数据进行合理的处理和分析,如平均数、标准差等统计指标的计算。
4.3将测试结果与规定的膜厚要求进行对比,判断样品是否合格。
5.仪器维护5.1使用完毕后及时清理膜厚测试仪的测量台和相关部件,保持仪器的清洁,并避免灰尘或杂质对测试结果的影响。
5.2定期进行仪器的维护和保养,包括清洁、校准、零点调整等工作,确保仪器的长期稳定运行。
5.3对出现故障或异常的膜厚测试仪进行及时维修或更换,以免影响测试结果的准确性和可靠性。
6.安全注意事项6.1在操作膜厚测试仪时,应注意自身的安全,避免发生意外事故。
6.2使用时应佩戴适当的防护设备,如手套、护目镜等。
6.3严禁使用过期或损坏的测试标准样品进行测试,以免影响测试结果的准确性。
6.4禁止在湿度较高的环境中使用膜厚测试仪,以防止损坏设备或影响测试结果。
LOGO膜厚测试作业指导书Film Thickness Testing Operational Guidelines一、目的 为了确保使用检查的仪器准确的检验出涂膜厚度,特指定本作业指导书。
二、适用范围 本指导书适用于膜厚计QNIX 4500规格的内置探头式规格。
三、作业步骤见下图及说明1、启动归零2、校验3、校验4、模式选择5、单位选择取出膜厚计并将膜厚计归零测量调零板,接触后不要抬起,用另一只手按住红色按键,听到响声后,拿开仪器,调零完毕取出调零板专用的校正片并确保放置于平面 的调零板上 将探头对准校正片并根据膜厚计显示的数值与标准校正值对照,如数值有差异,按键或键和显示屏显示的步骤进行调整到标准校正片的相同数值为准。
根据产品基材选择按下按钮选择合适的选项Fe :基材铁 NFe :基材非铁,如铝、铜等Fe/Nfe :自动选择基材模Unit 为公英制选项,在Unit 选项短暂停留进入单位选择选项。
6、测量7、记录8、收纳注意事项:1、请保持标准校正片表面的清洁,并尽可能不要把表面磨损;2、屏幕提示“BAT”时,则表明电量不足、需换电池,请正确使用对应规格的两节 5# 电池3、请在使用过程中轻拿轻放,不准摔、碰、磕的储存及放置和搬运的过程;4、请现场部门与品管部门所使用的仪器要分开使用,确保仪器的准确性的互相监督!测量时,分别选择被测产品的5 个不同的点进行测量,去除其中的最大和最小值的平均 值即为该产品的涂膜厚度所得数值。
将检查得到的数值记录在《喷塑质量检验记 录表 》或相关表单上。
使用完毕后,将膜厚仪收进盒中,仪器无操作10秒自动关机编制/日期: 审核/日期: 核准/日期:013/A00。
膜厚仪作业指导书一、概述膜厚仪是一种用于测量薄膜或者涂层的厚度的仪器。
本文档旨在提供膜厚仪的详细操作指导,以确保准确测量和记录薄膜或者涂层的厚度。
二、安全注意事项1. 在操作膜厚仪之前,请确保您已经阅读并理解了使用说明书,并严格按照说明进行操作。
2. 在操作膜厚仪时,请戴上适当的个人防护设备,如手套和护目镜,以防止意外伤害。
3. 在使用膜厚仪之前,请确保仪器处于良好的工作状态,如有异常请及时联系维修人员。
三、操作步骤1. 准备工作a. 确保膜厚仪已经连接到电源,并处于开启状态。
b. 检查膜厚仪的探头是否干净,如有污垢请使用干净的布擦拭。
c. 将待测样品放置在膜厚仪的测量台上,并确保其表面光洁。
2. 开始测量a. 打开膜厚仪的测量程序,选择适当的测量模式。
b. 将膜厚仪的探头轻轻贴近待测样品的表面,确保探头与样品表面平行。
c. 按下测量按钮,膜厚仪将开始测量样品的厚度。
d. 等待膜厚仪完成测量,并记录测量结果。
3. 结束测量a. 将膜厚仪的探头从样品表面移开,并关闭测量程序。
b. 将测量结果记录在相应的记录表格或者文件中。
c. 清洁膜厚仪的探头和测量台,以确保仪器的长期使用。
四、常见问题与解决方法1. 仪器无法开启解决方法:检查电源连接是否正常,确认电源是否正常工作。
2. 测量结果不许确解决方法:检查探头是否干净,如有污垢请进行清洁。
同时,确保样品表面光洁,无杂质。
3. 仪器显示异常解决方法:重新启动仪器,并联系维修人员进行进一步检查和维修。
五、维护保养1. 定期清洁膜厚仪的探头和测量台,以防止污垢影响测量结果。
2. 避免将膜厚仪暴露在潮湿或者高温环境中,以防止损坏仪器。
3. 定期进行校准,以确保膜厚仪的测量结果准确可靠。
六、附录1. 膜厚仪操作说明书:提供更详细的操作指导和维护保养信息。
2. 膜厚仪测量记录表格:用于记录测量结果的表格,方便后续数据分析和比对。
本文档提供了膜厚仪的操作指导,包括安全注意事项、操作步骤、常见问题与解决方法以及维护保养等内容。
膜厚仪的使用方法
膜厚仪是一种用于测量材料表面薄膜厚度的仪器。
下面是膜厚仪的使用方法:
1. 打开膜厚仪电源开关,等待其预热和稳定。
2. 将待测样品放置在膜厚仪的台面上,并确保其表面清洁。
3. 根据待测样品的性质和仪器型号选择合适的测试模式和参数。
4. 调节膜厚仪上的测量头以使其与待测样品接触,并保持垂直。
5. 启动测量程序,膜厚仪将自动进行测量。
6. 等待测量结果显示完成,并记录测量得到的薄膜厚度数值。
7. 根据需要,可以重复上述步骤进行多次测量和取平均值。
8. 测量结束后,关闭膜厚仪的电源开关,并清理测量头和台面。
需要注意的是,在使用膜厚仪进行测量时,应根据具体的样品类型和要求,调节仪器的参数和测量模式,以确保精确的测量结果。
同时,要保证样品表面的清洁
和光滑,以避免对测量结果的影响。
具体的操作步骤和注意事项可以参考仪器的操作手册。
膜厚仪作业指导书1. 简介膜厚仪是一种用于测量材料表面膜层厚度的仪器。
本作业指导书旨在提供膜厚仪的正确使用方法,以确保准确测量和数据记录。
2. 仪器准备2.1 确保膜厚仪处于稳定的工作环境中,远离振动和干扰源。
2.2 检查仪器的电源和连接线是否正常,确保仪器处于正常工作状态。
2.3 检查测量探头的清洁程度,如有污垢应及时清洁,以免影响测量结果。
3. 校准3.1 打开膜厚仪的电源,并等待仪器的初始化完成。
3.2 使用已知厚度的标准样品进行校准。
将标准样品放置在测量台上,并按照仪器说明书的指引进行校准操作。
3.3 校准完成后,检查校准结果是否符合要求,如有误差应重新进行校准。
4. 测量操作4.1 将待测样品放置在测量台上,并确保样品与测量台接触良好。
4.2 打开膜厚仪的测量程序,并根据需要选择合适的测量参数,如测量范围和测量速度等。
4.3 将探头轻轻贴近样品表面,确保与样品接触良好,并启动测量程序。
4.4 等待测量结果稳定后,记录测量数值,并进行必要的数据处理。
5. 数据记录与分析5.1 将测量结果记录在指定的数据表格或文件中,包括样品编号、测量日期、测量参数和测量数值等。
5.2 对测量结果进行必要的数据分析,如计算平均值、标准偏差等统计量,并根据需要绘制相应的图表。
6. 仪器维护6.1 每次使用结束后,及时清洁仪器和探头,避免污垢积累影响测量精度。
6.2 定期检查仪器的电源和连接线,确保其正常工作。
6.3 根据仪器说明书的要求,进行定期的校准和维护操作,以保证仪器的准确性和稳定性。
7. 安全注意事项7.1 在使用膜厚仪时,应注意避免直接接触探头和样品,以免造成伤害。
7.2 使用过程中应注意避免碰撞和摔落,以免损坏仪器。
7.3 在清洁仪器时,应使用柔软的清洁布或棉签,避免使用有腐蚀性的溶剂。
7.4 如发现仪器存在异常情况或故障,应及时停止使用并联系维修人员进行检修。
以上为膜厚仪的作业指导书,通过正确的操作和维护,可以确保膜厚仪的准确测量和可靠性。
膜厚仪作业指导书引言概述:膜厚仪是一种常用于测量薄膜厚度的仪器,广泛应用于材料科学、化学工程、电子工程等领域。
本文将详细介绍膜厚仪的操作方法和注意事项,以帮助用户正确使用膜厚仪进行测量。
一、准备工作1.1 仪器准备在使用膜厚仪之前,首先需要确保仪器处于正常工作状态。
检查仪器的电源线是否连接稳固,仪器表面是否有损坏。
同时,还需要确认仪器内部的测量探头是否清洁,以保证测量结果的准确性。
1.2 校准膜厚仪的准确性需要通过校准来保证。
在进行测量之前,应先进行校准操作。
校准过程中,需要使用标准样品进行比对,根据标准样品的厚度值来调整仪器的测量参数,确保测量结果的准确性和可靠性。
1.3 样品准备在进行测量之前,需要准备好待测样品。
样品应具备一定的平整度,表面应清洁无杂质,以免影响测量结果。
对于柔性样品,需要将其固定在测量台上,确保测量过程中的稳定性。
二、操作方法2.1 打开仪器将膜厚仪接通电源,并按照仪器说明书的要求打开仪器。
在仪器开机后,需要等待一段时间,使其进入工作状态。
2.2 设置测量参数根据待测样品的特性,设置合适的测量参数。
一般来说,需要设置测量模式(如单点测量、扫描测量)、测量范围、测量速度等参数。
这些参数的选择应根据实际需求和样品特性来确定。
2.3 进行测量将待测样品放置在测量台上,并调整仪器的焦距,使其与样品表面保持一定的距离。
按下测量按钮,仪器将开始进行测量。
在测量过程中,需要保持样品的稳定,并确保测量探头与样品表面的接触良好。
三、注意事项3.1 避免干扰源在进行测量时,应尽量避免外部干扰源的影响。
例如,避免在有强磁场或强电场的环境中进行测量,以免影响测量结果的准确性。
3.2 防止污染膜厚仪的测量探头非常敏感,容易受到污染物的影响。
在使用过程中,应注意避免手指直接接触探头,以免留下指纹或其他污染物。
3.3 定期维护为了保证膜厚仪的正常工作和准确测量,应定期对仪器进行维护。
包括清洁测量探头、检查电源线和连接线的连接状态、更新仪器软件等。
膜厚仪作业指导书一、概述膜厚仪是一种用于测量材料薄膜厚度的仪器,广泛应用于材料科学、化学工程、电子工程等领域。
本作业指导书旨在提供对膜厚仪的操作指导,包括仪器的准备、测量步骤、数据处理等内容,以确保准确且可靠地测量薄膜厚度。
二、仪器准备1. 确保膜厚仪处于稳定的工作状态,检查仪器的电源、仪表、控制系统等部分是否正常工作。
2. 检查仪器的测量探头是否干净,如有污垢应及时清洁。
3. 根据测量需要选择合适的探头,并将其安装到膜厚仪上。
三、测量步骤1. 打开膜厚仪的电源,等待仪器自检完成。
2. 根据需要选择测量模式,如单点测量、连续测量等。
3. 将待测样品放置在仪器的测量台上。
4. 调整仪器的位置和角度,使得探头与样品表面垂直接触。
5. 按下测量按钮,开始测量过程。
6. 等待测量完成后,记录测量结果。
四、数据处理1. 将测量结果导出到计算机或打印机。
2. 使用数据处理软件对测量结果进行分析和处理,如计算平均值、标准偏差等。
3. 根据实际需要,可以将数据以图表形式展示,以便更直观地分析结果。
4. 根据测量结果,评估薄膜的厚度是否符合要求,并进行必要的调整和优化。
五、注意事项1. 在操作膜厚仪之前,应详细阅读仪器的操作手册,并按照要求进行操作。
2. 在测量过程中,应注意保持样品表面的清洁,避免污染和损坏。
3. 如果测量结果不符合预期,应检查仪器的状态和操作步骤,排除可能的问题。
4. 定期对膜厚仪进行维护和校准,以确保测量结果的准确性和可靠性。
5. 在使用膜厚仪时,应遵守相关的安全操作规程,注意防护措施。
六、总结膜厚仪作为一种重要的测量仪器,在材料科学和工程领域具有广泛的应用前景。
通过本作业指导书的指导,您可以掌握膜厚仪的操作方法和数据处理技巧,从而准确地测量薄膜厚度,并为相关研究和工程项目提供可靠的数据支持。
希望本指导书对您的工作有所帮助,如有任何疑问,请随时与我们联系。
OSP测厚仪使用说明书目录一、工作原理二、名词解析三、操作方法四、校正方法五、注意事项一、工作原理1、ST4080-OSP(有机可焊性保护膜)专用于测量PCB/PWB上铜铂厚度。
它属于使用分光反射法的非破坏性光学测量仪,它可提供平均厚度和详细的3D平面轮廓资料,使得实时检测无需任何的样品制备。
由于ST4080-OSP具有测量很小面积与自动聚焦功能,适用于PCB基板表面的实模式。
ST4080-OSP基于科美公司的厚度测量技术,而它在半导体,平板显示与其他电子材料行业方面的可靠性得到了证实。
2、作用《1》ST4080-OSP使用反射测量法提供PCB/PWB表面OSP涂层厚度的非接触和非破坏性实时测量。
《2》ST4080-OSP 无需样品制备,可确保快速和简便操作。
《3》ST4080-OSP测量的光斑尺寸可减小到0.135,这使得它可测量表面粗糙的铜的OSP涂层厚度.《4》ST4080-OSP 与紫外可见分光计,受迫离子束方法,时序电化学还原分析还有其他的测量方法相比较,它基于更可靠的测量技术。
《5》ST4080-OSP 可获取420nm~640nm范围内的多波长光谱。
《6》ST4080-OSP可提供各点和它们的平均厚度的详细数据,这样可帮助人们更好地控制OSP质量。
《7》ST4080-OSP 通过3D表面形态学将测量程序最优化。
《8》ST4080-OSP 通过分析基板上薄膜表面的反射光和基板表面的反射光之间的光谱干涉来测量薄膜厚度。
《9》ST4080-OSP 同时测量多个光斑,并以轮廓形式显示厚度测量结果。
《10》ST4080-OSP有两种光学透镜。
用户可使用5倍的光学透镜方便地进入详细模式的自选区域,再通过使用50倍的光学透镜获取详细厚度轮廓。
3、技术参数:4、测量原理如下在测量的wafer或glass上面的薄膜上垂直照射可视光,这时光的一部分在膜的表面反射,另一部分透进薄膜,然后在膜与底层(wafer或glass)之间的界面反射。
膜厚仪作业指导书一、概述膜厚仪是一种用于测量材料表面薄膜厚度的仪器。
本作业指导书旨在提供详细的操作步骤和注意事项,以确保正确使用膜厚仪并获得准确的测量结果。
二、设备准备1. 确保膜厚仪已经正确连接到电源,并处于待机状态。
2. 检查膜厚仪的探头是否清洁,如有污垢应使用专用清洁剂进行清洗。
3. 准备待测样品,并确保其表面干净、光滑。
三、操作步骤1. 打开膜厚仪的电源开关,并等待仪器启动。
2. 选择合适的测量模式,通常有单点测量和连续测量两种模式可供选择。
3. 将膜厚仪的探头轻轻放置在待测样品的表面上,确保探头与样品表面接触紧密。
4. 按下测量按钮,开始进行膜厚测量。
在连续测量模式下,仪器将自动进行连续测量。
5. 等待测量结果显示在膜厚仪的屏幕上。
通常,测量结果以膜厚值(单位为纳米或微米)的形式呈现。
6. 如需记录测量结果,可使用膜厚仪上的保存功能或将结果手动记录在纸质或电子表格中。
7. 完成测量后,关闭膜厚仪的电源开关,并将探头清洁干净。
四、注意事项1. 在操作膜厚仪之前,应先阅读并理解膜厚仪的用户手册,以熟悉仪器的功能和操作流程。
2. 在测量之前,确保待测样品的表面干净、光滑,以避免测量误差。
3. 在测量过程中,保持膜厚仪的探头与样品表面的接触紧密,避免晃动或施加过大的压力。
4. 如发现膜厚仪的测量结果异常或不稳定,应检查探头是否清洁,或者进行校准和调试。
5. 避免将膜厚仪暴露在潮湿、高温或强磁场等环境中,以免影响仪器的性能和测量结果的准确性。
6. 定期对膜厚仪进行维护和校准,以确保其长期稳定的工作性能。
五、常见问题与解决方法1. 问:测量结果显示异常,与预期值相差较大,怎么办?答:首先检查待测样品的表面是否干净,如有污垢应清洁后重新测量。
如果问题仍然存在,可以尝试进行膜厚仪的校准和调试。
2. 问:膜厚仪的探头如何清洁?答:使用专用清洁剂或纯净的酒精棉球轻轻擦拭探头表面,避免使用有腐蚀性的溶剂。
3. 问:膜厚仪的测量结果不稳定,如何解决?答:可以尝试将探头重新校准,并确保在测量过程中保持稳定的操作环境,如避免震动和温度变化等。
膜厚仪操作规程1.0 目的:膜厚测试的目的是为了验证金属材料上的涂层厚度,规范操作及标准判定依据,控制五金件涂层的质量,保证产品能满足客户的技术性能要求;2.0 适用范围:适用于本公司所有金属机加件及板金件的涂层厚度测试;3.0 引用文献TT220膜厚仪使用说明书(随机附)。
4.0 职责与权限:4.1、使用部门:使用人员负责日常仪器的点检;使用人员严格按此规范正确操作。
4.2、质量中心:负责仪器的校验计划安排和实施校验。
5.0 操作说明:5.1、将测头置于开放空间,按一下“ON/C”键,开机。
(图1)正常情况下,开机后显示上次关机前的测量值。
如5.2、测量时,迅速将测头与测试面垂直地接触并轻轻压住,手要拿稳厚仪;5.3、随后测厚仪鸣叫时,便可拿起测厚仪;5.4、提起测头进行下次测量,重复测量三次以上,在“DIS STATS?”状态,可依次显示五个统计值,即:平均值(MEAN)、最大测量值(MAX)、最小测量值(MIN)、测量次数(NO)、标准偏差(S、DEV)。
5.5、填写测试数据。
5.6、在测量完成后,无任何操作的情况下,大约2-3min后仪器自动关机。
6.0 注意事项6.1、测试时必须保持测厚仪探头方向与试样的试验面垂直;6.2、测试膜厚时要平稳,不得有冲击和振动;6.3、膜厚仪属于精密仪器,使用时应远离电磁干扰强的地方;6.4、避免用于非水平面的测量;6.5、测量时应保持机身平衡,不得晃动;6.6、手握膜厚仪测量时应用力均衡,不得用力过猛;6.7、膜厚仪使用完毕后放在软包中;7.0 维护与保养7.1校验:膜厚仪的校验按照公司文件规定,正常免检周期为一年。
7.2保养:7.2.1定时校验仪器。
7.2.2仪器须长期保持干净;防尘、防水。
7.2.3请勿私自拆卸测温仪。
7.2.4经常检查仪器各部件是否损坏,是否断路或短路。
7.3存放:7.3.1保存好仪器的包装袋与盒子。
7.3.2将仪器存放在指定的位置。
tt130超声波测厚仪使用说明书tt130超声波测厚仪概述tt130超声波测厚仪适用范围tt130智能化超声波测厚仪,采用超声波测量原理,tt130超声波测厚仪适用于能使超声波以一恒定速度在其内部传播,并能从其背面得到反射的各种材料厚度的测量。
tt130超声波测厚仪可对各种板材和各种加工零件作精确测量,另一重要方面是可以对生产设备中各种管道和压力容器进行监测,监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度。
可广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各个领域。
tt130超声波测厚仪基本原理超声波测量厚度的原理与光波测量原理相似。
探头发射的超声波脉冲到达被测物体并在物体中传播,到达材料分界面时被反射回探头,通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。
tt130超声波测厚仪基本配置及仪器各部分名称1.3.1基本配置:主机1台,5pφ10探头1支,耦合剂1瓶tt130超声波测厚仪选购件:5pφ10/90°探头1支,sz2.5p探头1支,7pφ6探头1支tt130超声波测厚仪仪器各部分名称(见下图)显示最小单位:0.01mm工作频率:5mhz测量范围:1.2mm~225.0mm(钢)管材测量下限:φ20mm×3.0mm测量误差:±(1%h+0.1)mm,h为被测物实际厚度声速调节范围:1000m/s~9999m/s已知厚度反测声速:测量范围1000m/s~9999m/s,试块厚度≤20mm时,声速测量精度为±1mm/h×100%;试块厚度>20mm时,声速测量精度为±5%使用温度范围:0℃~40℃电源:二节5号干电池功耗:工作电流<20ma(3v)外形尺寸:126mm×68mm×23mm重量:170gtt130超声波测厚仪主要功能●自动校对零点,可对系统误差进行修正●线性自动补偿,在全范围内利用计算机软件对探头非线性误差进行修正,以提高准确度。
膜厚仪作业指导书一、背景介绍膜厚仪是一种用于测量材料表面膜层厚度的仪器,广泛应用于电子、光学、涂料等行业。
为了确保膜厚仪的正确使用和操作,本作业指导书旨在提供详细的操作步骤和注意事项,以确保用户能够准确测量膜层厚度并获得可靠的结果。
二、设备准备1. 膜厚仪:确保膜厚仪处于正常工作状态,并进行必要的校准。
2. 校准样品:根据需要选择适当的校准样品,确保其表面膜层厚度已知准确并符合要求。
3. 清洁布:用于清洁膜厚仪的探头和样品表面。
三、操作步骤1. 打开膜厚仪电源,并等待其启动完成。
2. 校准膜厚仪:将校准样品放置在膜厚仪的测量台上,按照仪器说明书的指导进行校准操作。
校准完成后,记录校准结果并确保其准确性。
3. 清洁样品表面:使用清洁布轻轻擦拭待测样品表面,确保其干净无尘。
4. 放置样品:将待测样品放置在膜厚仪的测量台上,并确保其与测量台接触良好。
5. 测量膜层厚度:按下膜厚仪上的测量按钮,仪器将自动测量样品表面的膜层厚度。
待测量完成后,记录测量结果。
6. 重复测量:如有需要,可对同一样品进行多次测量,以确保结果的准确性和可靠性。
7. 结束操作:完成测量后,关闭膜厚仪电源,并将设备归位。
四、注意事项1. 在操作膜厚仪之前,确保已经阅读并理解了膜厚仪的使用说明书,并按照说明书的要求进行操作。
2. 在校准膜厚仪之前,务必检查校准样品的膜层厚度是否符合要求,并确保校准过程准确无误。
3. 在清洁样品表面时,使用干净的清洁布,避免使用有损伤或杂质的布料,以免影响测量结果。
4. 在放置样品时,确保样品与测量台接触良好,避免产生误差。
5. 在测量膜层厚度时,尽量避免外界干扰,如电磁场、震动等,以确保测量结果的准确性。
6. 如有需要,可对同一样品进行多次测量,以获得更加可靠的结果。
7. 在操作完成后,及时关闭膜厚仪电源,并将设备归位,以确保设备的安全和延长其使用寿命。
五、常见问题及解决方法1. 问题:测量结果与预期不符。
膜厚仪操作指导书1.0目的为正确使用及校正,明确测量和保样责任。
2.0范围品质部涉及膜厚检测人员。
3.0膜厚仪认识3.1 涂层测厚仪DUALSCOPFO是一款精美,小巧且高性能的侧厚仪器,有着较高的精度及稳定性,可测量涂层厚度和简单的镀层厚度测量。
3.2 有两种测量功能:磁感应和涡流3.2.1 :磁感应:磁感应可用来测量所有磁性基体(如钢、铁)上的非磁性镀层(如油漆,防腐层,镀锌层,镀铜层)等。
3.2.2 涡流:可用来测量所有非磁性金属(如铜,铝,不锈钢)上面的非导电层(如油漆,防腐层,氧化膜)。
3.3 MPO测厚仪特点:3.3.1 可在所有的金属(钢铁和非磁性金属)基材上测量3.3.2 仪器自动识别镀层下的基材材料并选择相应的处理方法3.3.3 出色的重复精度3.3.4 受基材透磁率、电导率和几何形状影响小4.0操作程序4.1 测量4.1.1仪器没有专门的开关,如果仪器放在非铁磁性或不导电材料上,显示屏会显示Er6,然后显示四个水平短线而不显示任何读书(????)4.1.2 另一种开机方法是按(0K键4.1.3 注意:不要通过手指压迫传感器来开启仪器,这样会导致错误的测量结果。
4.1.4 一分钟不用,仪器会自动关闭。
4.1.5 镀层厚度测量:仪器开启后,把仪器放在要测量的工件上,等待仪器发出测量声响(这种模式可以自动开启仪器)测量声响后显示读数。
4.1.6 仪器开启后可以连续测量,在工件的不同部位连续测量。
4.1.7 仪器在开启状态时,读数会马上显示出来。
4.2校正4.2.1 按CAL键,显示Base,用仪器自带的FE/ NF两种模式的底才上连续测量五次,每次测量后显示当前的读数,按0K键,显示0.00和STD1即校正标准片#1)。
4.2.2再用仪器自带的标准膜厚(72.0卩m/cm)的校正塑胶片进行校正测量,测量的数据允许士1卩m的误差,即为合格。
4.2.3 把标准校正片放在底材上连续测量五次左右,每次测量后会显示当前的读数,必须符合标准片的膜厚;按0K键,完成校正程序,仪器返回测量状态。
膜厚仪作业指导书标题:膜厚仪作业指导书引言概述:膜厚仪是一种用于测量薄膜厚度的仪器,广泛应用于材料科学、化学工程等领域。
正确的操作方法对于获得准确的测量结果至关重要。
本文将详细介绍膜厚仪的操作指导,以帮助用户正确操作膜厚仪,获得准确可靠的测量结果。
一、准备工作1.1 确保膜厚仪处于稳定状态:在进行测量之前,应确保膜厚仪已经处于稳定状态,温度和湿度适宜。
1.2 校准仪器:在每次使用前,应对膜厚仪进行校准,确保测量结果准确可靠。
1.3 准备样品:准备待测样品,并确保其表面平整干净,避免影响测量结果。
二、操作步骤2.1 打开膜厚仪电源:按照膜厚仪的操作手册,打开电源并等待仪器启动完成。
2.2 设置测量参数:根据待测样品的特性,设置合适的测量参数,如波长、扫描速度等。
2.3 放置样品并开始测量:将样品放置在膜厚仪的测量台上,并开始测量。
三、测量结果分析3.1 数据处理:测量完成后,将测量数据导入计算机进行处理,生成膜厚度的曲线图和数据表。
3.2 结果分析:根据曲线图和数据表分析膜厚度的分布情况,评估样品的质量和性能。
3.3 结果验证:对测量结果进行验证,确保测量结果准确可靠。
四、维护保养4.1 清洁保养:定期清洁膜厚仪的外部和内部部件,保持仪器的清洁和良好状态。
4.2 定期维护:定期对膜厚仪进行维护保养,如更换灯泡、校准仪器等。
4.3 存放保管:在不使用膜厚仪时,应将其存放在干燥通风的环境中,避免受潮和受损。
五、注意事项5.1 避免碰撞:在使用过程中,避免碰撞膜厚仪,以免损坏仪器。
5.2 注意安全:在操作膜厚仪时,注意安全,避免发生意外事故。
5.3 定期检查:定期对膜厚仪进行检查,确保仪器的正常运行。
结论:膜厚仪作为一种用于测量薄膜厚度的重要仪器,在正确操作和维护的前提下,能够为科研和生产提供准确可靠的测量数据。
希望本文的操作指导能够帮助用户正确操作膜厚仪,获得准确的测量结果。
膜厚仪作业指导书引言概述:膜厚仪是一种用于测量材料表面薄膜厚度的仪器。
它在材料科学、化学工程、电子工程等领域中被广泛应用。
本文将详细介绍膜厚仪的使用方法和操作技巧,以帮助用户正确操作膜厚仪,获得准确的薄膜厚度测量结果。
一、准备工作1.1 确定测量目标:在使用膜厚仪之前,首先要明确测量的目标是什么。
确定要测量的薄膜材料种类、尺寸和位置等信息,以便正确设置仪器参数。
1.2 仪器校准:在进行测量之前,务必进行仪器的校准。
校准过程可以根据仪器的使用说明书进行,确保仪器的准确性和稳定性。
1.3 样品准备:将待测的薄膜样品准备好,确保其表面干净无杂质。
可以使用适当的清洁剂和纯净水进行清洗,并在测量前确保样品表面干燥。
二、仪器操作2.1 打开仪器:按照膜厚仪的使用说明书,正确打开仪器电源。
在仪器启动后,等待一段时间,使其稳定工作。
2.2 设置参数:根据测量目标,设置仪器的参数。
包括膜厚范围、测量模式、测量角度等。
确保参数的设置符合待测样品的特性。
2.3 放置样品:将样品放置在膜厚仪的测量台上。
确保样品与测量台接触良好,避免产生误差。
根据需要,可以使用夹具或胶片固定样品。
三、测量操作3.1 开始测量:按下仪器上的测量按钮,开始薄膜厚度的测量。
在测量过程中,保持仪器的稳定,避免外部干扰。
3.2 多次测量:为了提高测量结果的准确性,可以进行多次测量。
根据需要,可以选择自动测量模式或手动测量模式。
手动测量时,需要在每次测量前重新放置样品。
3.3 记录结果:测量完成后,将测量结果记录下来。
包括薄膜厚度的数值和单位,以及测量的时间和日期等信息。
可以使用电子表格或纸质记录表进行记录。
四、数据处理4.1 数据分析:根据测量结果,进行数据分析。
可以使用统计方法计算平均值、标准差等统计量,以评估测量结果的可靠性。
4.2 结果比较:将测量结果与预期值进行比较。
如果结果与预期值有较大偏差,需要检查仪器的操作和样品的准备是否存在问题。
1.目的
确保产品锌层厚度,保证客户质量要求。
2.范围
属于金属镀层可测物体,不同产品应按照客户要求。
3.权责
品保组
4.名词解释
4.1 膜厚检测:对电镀后产品的表面锌层厚度的检测。
4.2 探头:与被物品直接接触的部位。
4.3 膜厚仪
5.内容
5.1打开探头盖.
5.2 校正
5.2.1取出校正片.将膜厚仪四角平行放在校正片上,拿起膜厚仪按左功能健至CAI,按OK,
再在校准正片上连续平行测试5次后按OK健归零.
5.2.2将二次校片放在校正片上连续平行测试5次后按OK键归零.
5.2.3 按功能键到O键,扫OK,再在校正片上连续测试5次后按OK键归零,再按OK键,加入
二次校正片用膜厚仪测试5次.按OK键归零.
5.2.4 每周校
5.3测量
5.3.1取出被测物品及探头
5.3.2将被测物品平放于桌面,将探头和四角与被测物品进行直接平面接触,点击测量键读
取数值。
5.3.3依5.3.2的操作方法对被测物品的主次面进行平均三点测量。
5.3.4将单面三点的数值进行换算,得出单面的平均膜厚值[ā=(a1+a2+a3)/3]
5.3.5将以上测量数值填入《出货检验报告》及《膜厚测试巡检报告》5.4设备停止
5.4.1合上探头盖即自动关闭
6.相关文件
《fischer操作说明书》
7.使用窗体
《膜厚测量记录表》 QR-QA-32。
膜厚仪作业指导书一、设备检查1.1 电源连接确认膜厚仪已正确连接电源,无松动或短路现象。
1.2 仪器校准在使用膜厚仪之前,应确保仪器已经过专业校准,以确保测量结果的准确性。
1.3 探头清洁检查探头是否清洁,无异物或磨损。
如有需要,进行清洁或更换。
1.4 参数设置根据所测材料和工艺需求,正确设置膜厚仪的参数。
二、操作步骤2.1 操作准备确保操作区域安全,无影响测量的障碍物。
穿戴适当的防护装备,如防护眼镜、手套等。
2.2 样品放置将待测样品放置在稳定的工作台上,确保探头与样品表面平行且无直接接触。
2.3 测量操作按照设定的参数,进行膜厚测量。
操作过程中应保持稳定,避免突然的移动或震动。
2.4 数据记录测量完成后,及时记录相关数据,包括测量时间、样品编号、膜厚值等。
2.5 设备关闭完成测量后,关闭膜厚仪,断开电源,整理好设备。
三、注意事项3.1 避免剧烈震动或撞击膜厚仪,以免影响测量精度。
3.2 在测量过程中,避免探头与样品表面产生直接接触,以免划伤样品或探头。
3.3 在使用过程中,确保环境温度、湿度在设备允许范围内,以获得准确的测量结果。
3.4 定期对膜厚仪进行维护和保养,确保设备的正常运行。
3.5 对于不熟悉的材料或工艺,建议先进行小范围的测试,以确认测量结果的准确性。
四、异常处理4.1 如出现设备故障或测量异常,应立即停止操作,检查设备连接和参数设置是否正确。
4.2 如问题无法解决,应联系专业技术人员进行维修或校准。
4.3 对于异常的测量结果,应进行复测,以确定数据的有效性。
如有必要,可重新测试样品。