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实验一 光电器件特性参数测试

实验一 光电器件特性参数测试
实验一 光电器件特性参数测试

实验一光电器件特性参数测试

一、实验目的

1、了解光敏电阻的光电特性、光谱响应特性、频率特性等基本特性,测出它的伏安特性曲

线和光照特性曲线。

2、了解光敏三极管的基本特性,测出它的伏安特性和光照特性曲线。

3、了解硅光电池的基本特性,测出它的伏安特性曲线和光照特性曲线。

二、实验内容

实验内容包括:光敏电阻特性实验,光敏三极管特性测试,光电池特性测试

(1)光敏电阻特性实验

实验原理:

光敏电阻又称为光导管,是一种均质的半导体光电器件,其结构如图(1)所示。由于半导体在光照的作用下,电导率的变化只限于表面薄层,因此将掺杂的半导体薄膜沉积在绝缘体表面就制成了光敏电阻,不同材料制成的光敏电阻具有不同的光谱特性。光敏电阻采用梳状结构是由于在间距很近的电阻之间有可能采用大的灵敏面积,提高灵敏度。

实验所需部件:

稳压电源、光敏电阻、负载电阻(选配单元)、电压表、各种光源、

遮光罩、激光器、光照度计(由用户选配)

实验步骤:

1、测试光敏电阻的暗电阻、亮电阻、光电阻

观察光敏电阻的结构,用遮光罩将光敏电阻完全掩盖,用万用表

测得的电阻值为暗电阻R暗,移开遮光罩,在环境光照下测得的

光敏电阻的阻值为亮电阻,暗电阻与亮电阻之差为光电阻,光电阻越大,则灵敏度越高。

2、光敏电阻的暗电流、亮电流、光电流

按照图(3)接线,电源可从直流稳压电源+2~+8V间选用,分别在暗光和正常环境光照下测出输出电压V暗和V亮则暗电流L暗=V暗/R L,亮电流L亮=V亮/R L,亮电流与暗电流之差称为光电流,光电流越大则灵敏度越高。

3.伏安特性:

光敏电阻两端所加的电压与光电流之间的关系。

按照图(3)分别测得偏压为2V、4V、6V、8V、10V、12V时的光电流,将所测得的结果填入下面表格并作出V/I曲线。

实验时请注意不要超过光电阻的最大耗散功率P MAX, P MAX=LV

光源照射时灯胆及灯杯温度均很高,请勿用手触摸,以免烫伤。

实验数据分析:

将采集到的153.3lux下电流与偏压的数值使用matlab做直线拟合程序如下:

% 初始数据

x=[2,4,6,8,10,12];

y=[8,16,24,32,40,48];

% 拟合直线y=p(1)*x+p(2)

p=polyfit(x,y,1);

% 显示拟合前后直线,其中方框为拟合前数据,直线为拟合后的直线

yy=polyval(p,x);

plot(x,y,'s',x,yy)

%拟合的直线方程

poly2sym(p,'x')

拟合结果如下:

由上图可以看出在一定光照下光敏电阻两端所加的电压与光电流成正比关系。

(2)光敏三极管特性测试

实验原理:

光敏三极管是具有NPN或PNP结构的半导体管,结构与普通三极管类似。但它的引出电极通常只有两个,入射光主要被面积做得较大的基区所吸收。光敏三极管的结构与工作电路如图4所示。集电极接正电压,发射极接负电压。

实验所需部件:

光敏三极管、稳压电源、各类光源、电压表(自备4 1/2位表)、微安表、负载电阻(实验选配单元)、照度计(用户选配)

实验步骤:

1、判断光敏三极管C、E极性,方法是用万用表20M电阻测试档,测得管阻小的时候红表

棒端触脚为C极,黑表棒为E极。

2、暗电流测试:

按图(4)接线,工作电源用12V稳压电源,调整负载电阻RL阻值,使光敏器件模板被遮光罩盖住时微安表显示有电流,这即是光敏三极管的暗电流,或是测得负载电阻R L上的压降V暗,暗电流L CEO=V暗/R L。(如是硅光敏三极管,则暗电流可能要小于10-9A,一般不易测出。)

3、伏安特性测试:

按图4接线,用白光可调光源,光敏三极管在给定的光照强度与工作电压下,将所测得的工作电压V与工作电流记录,工作电压可从4V~10V变换,并作出一组V/I曲线。

实验数据分析:

将采集到的549lux下工作电压与工作电流的数值使用matlab做直线拟合程序如下:% 初始数据

x=[2,4,6,8,10];

y=[12,24,36,48,60];

% 拟合直线y=p(1)*x+p(2)

p=polyfit(x,y,1);

% 显示拟合前后直线,其中方框为拟合前数据,直线为拟合后的直线

yy=polyval(p,x);

plot(x,y,'s',x,yy)

%拟合的直线方程

poly2sym(p,'x')

拟合结果如下:

由上图可以看出在一定光照下光敏三极管的工作电压与工作电流成正比。

4、光电特性测试:(用白光光源,光源可调)

图5 光敏三极管的光电特性曲线

在外加工作电压恒定的情况下,照射光通量与光电流的关系见图5,用不同的光照度照射光敏三极管,记录光电流的变化。

使用matlab绘制出,不同的光照度照射光敏三极管,光电流的变化数值的散点图

程序:

x=[64,68,72,76,80];

y=[30,36,44,60,84];

plot(x,y,'o');

grid;

所得的散点图:

在其上,使用平滑的曲线将散点连接起来,可以发现在一定的电压下,光照度和光电流变化不在是正比关系,而是随着光照度的增大,光电流增大的幅度越来越大。

(2)光电池特性测试.

实验原理:

光电池的结构其实是一个较大面积的半导体PN结,工作原理即是光生伏特效应,当负载接入PN两极后即得到功率输出。

实验所需器件:

两种光电池、各类光源、测试电路、电压表(4 1/2位)自备、微安表、激光器、照度计(用户选配)

实验步骤:

图6为光电池结构原理及测试电路。

1.光电池光电特性测试:

光电池的光生电动势与光电流和光照度的关系为光电池的光电特性。

用遮光罩盖住光电器件模板,用电压表或4 1/2位万用表测得光电池的电势,取走光罩,打

开光源灯光,改变灯光投射角度与距离(可用照度计测照),即改变光电池接收的光通量,

2.光电池伏安特性测试:

,测量V、I。

选一种照度,改变R L的阻值(用仪器上的可调电位器)

x=[0.239,0.284,0.306,0.318,0.325];

y=[32,24,16,8,4];

plot(x,y,'o')

绘制的散点图如下,将散点图连接起来,即为特定光照下的伏安特性曲线

(2)选定一个电阻值R

,改变光照度测量V、I。

将对应的测量电压和电流使用matlab绘制出散点图x1=[0.09,0.29,0.43,0.57,0.64];

y1=[4,12,18,24,26];

plot(x1,y1,'*')

绘制的散点图如下,将散点图连接起来

光电器件测试

光电器件性能测试与应用 一、实验目的: 1.了解光敏二极管、三极管的结构及工作原理。 2.掌握常用光敏器件的性能和极限参数。 3.体验光敏器件的具体应用。 二、光敏器件的工作原理 2.1 光敏二极管是一种光伏效应器件。由于势垒区内建电场的作用。PN 结、肖特基结(即金属半导体结)等在受光照时会产生一个光生电动势,这就是光伏效应。以光伏效应为工作机理的器件通称为光伏效应器件。因此,光敏二极管、光敏三极管及均效应光敏管,光激可控硅等特种光敏器件,都属于光伏效应器件。 在光照下,若入射光子的能量大于禁带宽度,则PN 结内会产生光生电子空穴对,这些光生载流子存在了一段长短不同的时间后,又会因复合而消失。如图2-1所示,势垒区两边 产生的载流子中总有一部分能在复合前扩散到 势垒区的边界,基中少子受势垒区电场的吸引被扫向对面区域,多子则受势垒区电场的排斥而留在本区。势垒区内产生的光生电子和光生空穴一经产生使受到电场的作用。分别被扫向N 区和P 区,这样,就产生出由势垒区中产生的电子空穴对及势垒区两边能运动到势垒区的少子所构成的光电流I L ,它的方向是由N 区经势垒区流向P 区,即与光照对PN 结的反向饱和电流方向相同,因此,若I L 仅表示光电流的数值,则这个光电流应写为﹣I L ,以保持PN 结电流的习惯方向。 当PN 结短路时,这个光电流将全部流过 短接回路,即从势垒区和P 区流入N 区的光生电子将通过短接回路全部流到P 区电极处,与P 区流出的光生空穴复合,因此,短路时外接回路中的电流是I L ,方向由P 端(“端”指外端电极处,下同)流向N 端,即I =﹣I L ,这时,PN 结中的载流子浓度维持平衡值,势垒高度亦无变化。 当PN 结开路或接有负载时,势垒区电场收集的光生载流子便不能或不能全部流出,P 区和N 区就分别出现光生空穴和光生电子的积累,它使P 区电位升高,N 区电位降低,造成 了一个光生电动势,这电动势使势垒高度下降,相当于加在PN 结上的正向偏压,只不过这是光照造成的而不是用电源馈送的,故称为光生电压。它使P 区光生空穴和N 区光生电子分别向N 区和P 区回注,并分别在N 区与P 区与电子和空穴复合,形成了由P 区以势垒区指向N 区的正向注入电流I J ,若PN 结开路,则流过势垒区的总电流应为零,I J 有最大值,即 max max ()0,J L J L I I I I +?==

测试技术试验指导书

《机械工程测试技术》实验指导书 编者:郑华文刘畅 昆明理工大学机电学院实验中心 2014年5月

说明和评分 1学生按照实验预约表进行实验;在实验前,需对理论教学中相关内容做做复习并对实验指导书进行预习,熟悉实验内容和要求后才能进入实验室进行实验。在实验中,不允许大声喧哗和进行与实验不相关的事情。 2进入实验室后,应遵守实验室守则,学生自己应发挥主动性和独立性,按小组进行实验,在操作时应对实验仪器和设备的使用方法有所了解,避免盲目操作引起设备损坏,在动手操作时,应注意观察和记录。 3根据内容和要求进行试验,应掌握开关及的顺序和步骤:1)不允许带负荷开机。输出设备不允许有短路,输入设备量程处于最大,输出设备衰减应处于较小。2)在实验系统上电以后,实验模块和实验箱,接入或拔出元件,不允许带电操作,在插拔前要确认不带电,插接完成后,才对实验模块和试验箱上电。3)试验箱上元件的插拔所用连线,在插拔式用手拿住插头插拔,不允许直接拉线插拔。4)实验中,按组进行试验,实验元件也需按组取用,不允许几组混用元件和设备。 4在实验过程中,在计算机上,按组建立相关实验文件,实验中的过程、数据、图表和实验结果,按组记录后,各位同学拷贝实验相关数据文件等,在实验报告中应有反应。对实验中的现象和数据进行观察和记录。 实验评分标准: 1)实验成绩评分按实验实作和实验报告综合评分:实验实作以学生在实验室中完成实验表现和实验结果记录文件评定,评定为合格和不合格;实验报告成绩:按照学生完成实验报告的要求,对实验现象的观察、思考和实验结果的分析等情况评定成绩。初评百分制评定。 2)综合实验成绩评定按百分制。

光电探测器特性测试实验

光电探测器特性测试实验 光电探测器是一种将辐射能转换成电讯号的器件,是光电系统的核心组成部分,在光电系统中的作用是发现信号、测量信号,并为随后的应用提取某些必要的信息。光电探测器的种类很多,新的器件也不断出现,按探测机理的物理效应可分为两大类:一类是利用各种光子效应的光子探测器,另一类是利用温度变化的热探测器。 1、光敏电阻 光敏电阻是用光电导体制成的光电器件,又称光导管.它是基于半导体光电效应工作的。光敏电阻没有极性,纯粹是一个电阻器件,使用时可加直流电压,也可以加交流电压。当无光照时,光敏电阻值(暗电阻)很大,电路中电流很小。当光敏电阻受到一定波长范围的光照时,它的阻值(亮电阻)急剧减少,因此电路中电流迅速增加。 光敏电阻的暗电阻越大.而亮电阻越小.则性能越好,也就是说,暗电流要小,光电流要大,这样的光敏电阻的灵敏度就高。实际上,大多数光敏电阻的暗电阻往往超过1M欧,甚至高达100MΩ,而亮电阻即使在正常白昼条件下也可降到1kΩ以下,可见光敏电阻的灵敏度是相当高的。 频率特性:非平衡载流子的产生与复合都有一个时间过程,在一定程度上影响了光敏电阻对变化光照的响应。

光谱响应特性:由所用半导体材料的禁带宽度决定。PbS 2、 光敏二极管 光敏二极管是一种光伏探测器,主要利用了PN 结的光伏效应。对光伏探测器总的伏安特性可表达为 s kT qV s s D I e I I I I --=-=)1(0 式中I 中是流过探测器总电流,I so 二极管反向饱和电流,I s 是光照时的光电流,q 是电子电荷,V 是探测器两端电压,k 为玻耳兹曼常数,T 器件绝对温度。 当入射光的强度发生变化,通过光敏二极管的电流随之变化,于是在光敏二极管的二端电压也发生变化。光照时导通,光不照时,处于截止状态,并且光电流和照度成线性关系。 光照特性:输出的饱和光电流与光照度之间的关系。 光谱特性:取决于所采用材料的禁带宽度,同事也与结构工艺有着密切的关系。 频率特性:由光生载流子的渡越时间和L R j C 的乘积决定。 伏安特性:在零偏压下,光电二极管仍有光电流,这是光生伏特效应所产生的短路电流。 3、 光敏三极管 在光敏二极管的基础上,为了获得内增益,就利用了晶体三极管的电流放大作用,用Ge 或Si 单晶体制造NPN 或PNP 型光敏三极管。 光敏三极管可以等效一个光电二极管与另一个一般晶体管基极和集电极并联:集电极-基极产生的电流,输入到三极管的基极再放大。不同之处是,集电极电流(光电流)由集电结上产生的I φ控制。集电极起双重作用:把光信号变成电信号起光电二极管作用;使光电流再放大起一般三极管的集电结作用。一般光敏三极管只引出E 、C 两个电极,体积小,光电特性是非线性的,广泛应用于光电自动控制作光电开关应用。

光电实验报告.

长春理工大学 光电信息综合实验—实验总结 姓名:赵儒桐 学号:S1******* 指导教师:王彩霞 专业:信息与通信工程 学院:电子信息工程 2016年5月20号

实验一:光电基础知识实验 1、实验目的 通过实验使学生对光源,光源分光原理,光的不同波长等基本概念有具体认识。 2、实验原理 本实验我们分别用了普通光源和激光光源两种。普通光源光谱为连续光谱,激光光源是半导体激光器。在实验中我们利用分光三棱镜可以得到红橙黄绿青蓝紫等多种波长的光辐射。激光光源发射出来的是波长为630纳米的红色光。 3、实验分析 为了找到光谱需要调节棱镜,不同的面对准光源找出光谱,棱镜的不同面对准光源产生的光谱清晰度不同,想要清晰的光谱就需要通过调节棱镜获得。 实验二:光敏电阻实验 1、实验目的 了解光敏电阻的光照特性,光谱特性和伏安特性等基本特性。2、实验原理 在光线的作用下,电子吸收光子的能量从键和状态过渡到自由状态,引起电导率的变化,这种现象称为光电导效应。光电导效应是半导体材料的一种体效应。光照越强,器件自身的电阻越小。光敏电阻无极性,其工作特性与入射光光强,波长和外加电压有关。 3、实验结果

当光敏电阻的工作电压(Vcc )为+5V 时,通过实验我们看出来改变光照度的值,光源的电流值是发生变化的。光照度增加电流值也是增加的。测得实验数据如表2-1: 表2-1 光敏电阻光照特性实验数据 得到的光敏电阻光照特性实验曲线: 图2.1 光敏电阻光照特性实验曲线 表2-2 光敏电阻伏安特性实验数据

通过实验我们看出光敏电阻的光电流值随外加电压的增大而增大,在光照强度增大的情况下流过光敏电阻的电流值也是增大的,得到数据如表2-2。 得到的伏安特性如下: 图2.2 光敏电阻伏安特性曲线 由光敏电阻的光谱特性可知光敏电阻对不同波长的光,接收的光灵敏度是不一样的,测量对应各种颜色的光透过狭缝时的电流值,得到数据如下表: 得到的光谱特性曲线如图:

数字电子技术实验讲义(试用)

数字电子技术实验 简要讲义 适用专业:电气专业 编写人:于云华、何进 中国石油大学胜利学院机械与控制工程学院 2015.3

目录 实验一:基本仪器熟悉使用和基本逻辑门电路功能测试 (3) 实验二:小规模组合逻辑电路设计 (4) 实验三:中规模组合逻辑电路设计 (5) 实验四:触发器的功能测试及其应用 (7) 实验五:计数器的功能测试及其应用 (8) 实验六:计数、译码与显示综合电路的设计 (9)

实验一:基本仪器熟悉使用和常用门电路逻辑功能测试 (建议实验学时:2学时) 一、实验目的: 1、熟悉实验仪器与设备,学会识别常用数字集成芯片的引脚分配; 2、掌握门电路的逻辑功能测试方法; 3、掌握简单组合逻辑电路的设计。 二、实验内容: 1、测试常用数字集成逻辑芯片的逻辑功能:74LS00,74LS02,74LS04,74LS08,74LS20,74LS32,74LS86等(预习时查出每个芯片的逻辑功能、内部结构以及管脚分配)。 2、采用两输入端与非门74LS00实现以下逻辑功能: ① F=ABC ② F=ABC③ F=A+B ④ F=A B+A B 三、实验步骤:(学生根据自己实验情况简要总结步骤和内容)主要包括: 1、实验电路设计原理图;如:实现F=A+B的电路原理图: 2、实验真值表; 3、实验测试结果记录。如: 输入输出 A B F3 00灭

四、实验总结: (学生根据自己实验情况,简要总结实验中遇到的问题及其解决办法)注:本实验室提供的数字集成芯片有: 74LS00, 74LS02,74LS04,74LS08,74LS20,74LS32,74LS74,74LS90,74LS112, 74LS138,74LS153, 74LS161 实验二:小规模组合逻辑电路设计 (建议实验学时:3学时) 一、实验目的: 1、学习使用基本门电路设计、实现小规模组合逻辑电路。 2、学会测试、调试小规模组合逻辑电路的输入、输出逻辑关系。 二、实验内容: 1、用最少的门电路设计三输入变量的奇偶校验电路:当三个输入端有奇数个1时,输出为高,否则为低。(预习时画出电路原理图,注明所用芯片型号) 2、用最少的门电路实现1位二进制全加器电路。(预习时画出电路原理图,注明所用芯片型号) 3、用门电路实现“判断输入者与受血者的血型符合规定的电路”,测试其功能。要求如下:人类由四种基本血型:A、B、AB、O 型。输血者与受血者的血型必须符合下述原则: O型血可以输给任意血型的人,但O型血的人只能接受O型血; AB型血只能输给AB型血的人,但AB血型的人能够接受所有血型的血; A 型血能给A型与AB型血的人;但A型血的人能够接受A型与O型血; B型血能给B型与AB型血的人,而B型血的人能够接受B型与O型血。 试设计一个检验输血者与受血者血型是否符合上述规定的逻辑电路,如果符合规定电路,输出高电平(提示:电路只需要四个输入端,它们组成一组二进制数码,每组数码代表一对输血与受血的血型对)。 约定“00”代表“O”型 “01”代表“A”型 “10”代表“B”型 “11”代表“AB”型(预习时画出电路原理图,注明所用芯片型号) 三、实验步骤:(学生根据自己实验情况简要总结步骤和内容),与实验一说明类似。

2017年3月补充最新公路工程试验检测项目参数检验频率一览表

附录3 试验检测项目/参数检验频率一览表 说明 1.本附录“工程类别”主要分为路基工程、桥梁工程、隧道工程、路面工程(底基层、基层、沥青面层、水泥混凝土面层)、交通安全设施5类。工地试验室可根据《公路工程质量检验评定标准》(JTG F80/1-2004)(第一册土建工程)工程类别划分对应参照执行。 2.“试验检测项目/参数”列为公路工程工地试验室主要检验或外委的原材料、过程质量控制(不包括已完工程实体质量检验)的常用试验检测参数。 3.“施工检验频率”列主要依据产品质量标准、工程施工技术规范等编写,但部分试验检测参数的施工检验频率无明确规定,本附录将此类参数对应的信息栏用斜体或“/”标注(用斜体字标注的,为检验频率参考值;用“/”标注的,满足项目具体规定即可);监理抽检频率依据《公路工程施工监理规范》(JTG G10-2006)开展。 4.“依据标准”列由于表格容量限制,只列出了标准(规范)代号,完整的标准(规范)代号、名称详见附录5(《标准(规范、规程)引用一览表》)。 5.本附录可作为工地试验室开展试验检测工作时的技术参考,工地试验室在确定具体检验频率时,还应满足项目招标等合同组成文件有关规定。 6.工地试验室在应用本附录过程中,若有关参数的施工检验频率已有明确规定,应予以执行;当标准规范发生更新时,其相应内容应按最新版本予以调整;当本附录内容与标准(规范)要求有出入时,应以标准(规范)规定为准。

工程类别:路基工程(一)第1页,共1页类别试验检测项目/参数施工检验频率依据标准检验程序备注 原材料检验 土 1.颗粒分析; 2.界限含水率; 3. 最大干密度;4.最佳含水率; 5.CBR 1次/料场/部位(按照路床、 路堤区分) JTG F10-2006 施工单位按规定 频率自检,监理 单位按规定频率 抽检 / 岩石 1.单轴抗压强度1次/料场,有怀疑时随时检测 原地 面土 1.颗粒分析; 2.界限含水率; 3. 最大干密度;4.最佳含水率;5. 天然含水率 至少2处/km,土质变化时, 视具体情况增加 土工 合成 材料 1.抗压强度; 2.延伸率;3梯形 撕裂强度;4.顶破强度;5.厚度; 6.单位面积质量; 7.垂直渗透系 数;8.土工格栅土工网网孔尺寸 1次/批,每10000m2为1批JTG/T D32-2012 施工、监理单位 分别取样并外委 / 过程质量控制 地基承载力必要时JTG D63-2007 施工、监理单位 可共同检验 / 填土天然含水率每天使用前 JTG F10-2006 施工单位按规定 频率自检,监理 单位按规定频率 抽检 / 土方路基压实度 施工过程中每一压实层每 1000m2至少检验2点,不足 1000m2时检验2点必要时根据 需要增加检验点数 结构物台背填土压实度每压实层每50m2不少于1点JTG/T F50-2011 平整度每200m测2处×10尺 JTG F10-2006 土方路基弯沉 每一双车道评定路段(不超过 1km)测定80~100个点 施工、监理单位 可共同检验 / 料源确定1.在选取土场时,应在上述试验检测参数的基础上增加天然稠度、有机质含量及烧失量的检验; 2.每个土场所有试验检测参数检验1次,同时注意膨胀土、失陷性黄土等特殊土的判别和使用; 3.施工单位通过试验选定土场/石场后,监理单位进行验证试验,并根据试验结果确定土场/石场

光电二三极管特性测试实验报告

光敏二极管特性测试实验 一、实验目的 1.学习光电器件的光电特性、伏安特性的测试方法; 2.掌握光电器件的工作原理、适用范围和应用基础。 二、实验内容 1、光电二极管暗电流测试实验 2、光电二极管光电流测试实验 3、光电二极管伏安特性测试实验 4、光电二极管光电特性测试实验 5、光电二极管时间特性测试实验 6、光电二极管光谱特性测试实验 7、光电三极管光电流测试实验 8、光电三极管伏安特性测试实验 9、光电三极管光电特性测试实验 10、光电三极管时间特性测试实验 11、光电三极管光谱特性测试实验 三、实验仪器 1、光电二三极管综合实验仪 1个 2、光通路组件 1套 3、光照度计 1个 4、电源线 1根 5、2#迭插头对(红色,50cm) 10根 6、2#迭插头对(黑色,50cm) 10根 7、三相电源线 1根 8、实验指导书 1本 四、实验原理 1、概述

随着光电子技术的发发展,光电检测在灵敏度、光谱响应范围及频率我等技术方面要求越来越高,为此,近年来出现了许多性能优良的光伏检测器,如硅锗光电二极管、PIN光电二极管和雪崩光电二极管(APD)等。光敏晶体管通常指光电二极管和光电三极管,通常又称光敏二极管和三敏三极管。 光敏二极管的种类很多,就材料来分,有锗、硅制作的光敏二极管,也有III-V族化合物及其他化合物制作的二极管。从结构我来分,有PN结、PIN结、异质结、肖特基势垒及点接触型等。从对光的响应来分,有用于紫外光、红外光等种类。不同种类的光敏二极管,具胡不同的光电特性和检测性能。例如,锗光敏二极管与硅光敏二极管相比,它在红外光区域有很大的灵敏度,如图所示。这是由于锗材料的禁带宽度较硅小,它的本征吸收限处于红外区域,因此在近红外光区域应用;再一方面,锗光敏二极管有较大的电流输出,但它比硅光敏二极管有较大的反向暗电流,因此,它的噪声较大。又如,PIN型或雪崩型光敏二极管与扩散型PN结光敏二极管相比具有很短的时间响应。因此,在使用光敏二极管进要了解其类型及性能是非常重要的。 光敏二极管和光电池一样,其基本结构也是一个PN结。与光电池相比,它的突出特点是结面积小,因此它的频率特性非常好。光生电动势与光电池相同,但输出电流普遍比光电池小,一般为数微安到数十微安。按材料分,光敏二极管有硅、砷化铅光敏二极管等许多种,由于硅材料的暗电流温度系数较小,工艺较成熟,因此在实验际中使用最为广泛。 光敏三极管与光敏二极管的工作原理基本相同,工作原理都是基于内光电效应,和光敏电阻的差别仅在于光线照射在半导体PN结上,PN结参与了光电转换过程。 2、光电二三极管的工作原理 光生伏特效应:光生伏特效应是一种内光电效应。光生伏特效应是光照使不均匀半导体或均匀半导体中光生电子和空穴在空间分开而产生电位差的现象。对于不均匀半导体,由于同质的半导体不同的掺杂形成的PN结、不同质的半导体组成的异质结或金属与半导体接触形成的肖特基势垒都存在内建电场,当光照射这种半导体时,由于半导体对光的吸收而产生了光生电子和空穴,它们在内建电场的作用下就会向相反的方向移动和聚集而产生电位差。这种现象是最重要的一类光生伏特效应。均匀半导体体内没有内建电场,当光照射时,因眼光生载流子浓度梯度不同而引起载流子的扩散运动,且电子和空穴的迁移率不相等,使两种载流

光电探测技术实验报告

光电探测技术实验报告 班级:08050341X 学号:28 姓名:宫鑫

实验一光敏电阻特性实验 实验原理: 光敏电阻又称为光导管,是一种均质的半导体光电器件,其结构如图(1)所示。由于半导体在光照的作用下,电导率的变化只限于表面薄层,因此将掺杂的半导体薄膜沉积在绝缘体表面就制成了光敏电阻,不同材料制成的光敏电阻具有不同的光谱特性。光敏电阻采用梳状结构是由于在间距很近的电阻之间有可能采用大的灵敏面积,提高灵敏度。 实验所需部件: 稳压电源、光敏电阻、负载电阻(选配单元)、电压表、 各种光源、遮光罩、激光器、光照度计(由用户选配) 实验步骤: 1、测试光敏电阻的暗电阻、亮电阻、光电阻 观察光敏电阻的结构,用遮光罩将光敏电阻完全掩 盖,用万用表测得的电阻值为暗电阻 R暗,移开遮光罩,在环境光照下测得的光敏电阻的 阻值为亮电阻,暗电阻与亮电阻之差为光电阻,光 电阻越大,则灵敏度越高。 在光电器件模板的试件插座上接入另一光敏电阻, 试作性能比较分析。 2、光敏电阻的暗电流、亮电流、光电流 按照图(3)接线,电源可从+2~+8V间选用,分别在暗光和正常环境光照下测出输出电压V暗和V亮则暗电流L暗=V暗/R L,亮电流L亮=V亮/R L,亮电流与暗电流之差称为光电流,光电流越大则灵敏度越高。 分别测出两种光敏电阻的亮电流,并做性能比较。 图(2)几种光敏电阻的光谱特性 3、伏安特性: 光敏电阻两端所加的电压与光电流之间的关系。 按照图(3)分别测得偏压为2V、4V、6V、8V、10V、12V时的光电流,并尝试高照射光源的光强,测得给定偏压时光强度的提高与光电流增大的情况。将所测得的结果填入表格并作出V/I曲线。 注意事项: 实验时请注意不要超过光电阻的最大耗散功率P MAX, P MAX=LV。光源照射时灯胆及灯杯温度均很高,请勿用手触摸,以免烫伤。实验时各种不同波长的光源的获取也可以采用在仪器上的光源灯泡前加装各色滤色片的办法,同时也须考虑到环境光照的影响。

电工学电子技术实验讲义

电工与电子技术实验讲义

实验一 晶体管共射极单管放大电路 一、实验目的 (1)熟悉电子电路实验中常用的示波器、函数信号发生器的主要技术指标、性能及使用方法。 (2)掌握用双踪示波器观察正弦信号波形和读取波形参数的方法。 (3)学会放大器静态工作点的调试方法,分析静态工作点对放大器性能的影响。 (4)掌握放大器电压放大倍数、输入电阻* 、输出电阻* 的测试方法。 二、实验原理 图2-1为电阻分压式工作点稳定的共射极单管放大器实验电路图。它的偏置电路采用R B1和R B2组成的分压电路,并在发射极中接有电阻R F 和R E ,以稳定放大器的静态工作点。当在放大器的输入端加入输入信号i u 后,在放大器的输出端便可得到一个与i u 相位相反、幅值被放大了的输出信号0u ,从而实现了电压放大。 图2-1 共射极单管放大器实验电路 在图2-1电路中,当流过偏置电阻RB1和RB2的电流远大于晶体管V 的基极电流IB 时(一般5-10倍), 则其静态工作点可用下式估算 )(E F C C CC CE F E BE B E R R R I U U R R U U I ++-=+-= 电压放大倍数 //(1)C L u be F R R A r R β β=-++ 输入电阻 be B B i r R R R ////21= 输出电阻 C R R ≈0 由于电子器件性能的分散性比较大,因此在设计和制作晶体管放大电路时,离不开测量和调试技术。 在设计前应测量所用元器件的参数,为电路设计提供必要的依据;在完成设计和装配以后,还必须测量和调试放大器的静态工作点和各项性能指标。一个优质的放大器,必定是理论设计与实验调整相结合的产物。

常用建筑材料送检数量与主要检测参数

1、JC/T446-2000 混凝土路面砖 参数:抗压强度或抗折强度(5块);吸水率5块; 2、GB/T 18601-2009 天然花岗石建筑板材 参数:干燥、水饱和弯曲强度;干燥、水饱和压缩强度;吸水率;放射性;

GB 6566-2010 3、GB/T19766-2005天然大理石建筑板材 参数:干燥压缩强度(5块);干燥、水饱和弯曲强度(各5各),吸水率5个

4、GB11968-2006 蒸压加气混凝土砌块 干密度和含水率、抗压强度(100*100*100)、导热系数(300*300*20~40mm) GB/T11969-2008 蒸压加气混凝土性能试验方法试件制备

5、J GJ98-2010 砌筑砂浆配合比设计规程——砂浆配合比 需先进行原材料试验:水泥、砂、外加剂等 委托时需注明:砂浆品种、强度等级、结构部位等,外加剂需提供产品说明书、掺量及产品合格证。 送检数量:砂20kg,水泥10kg,外加剂按照产品说明书掺量提供。 6、JGJ55-2010 普通混凝土配合比设计规程——混凝土配合比 需先进行原材料试验:水泥、砂、石子、外加剂等 委托时需注明:强度等级、坍落度、结构部位等,外加剂需提供产品说明书、掺量及产品合格证。 送检数量:砂40kg,水泥20kg,石子60~100kg外加剂按照产品说明书掺量提供。 7、GB 175-2007通用硅酸盐水泥 参数:凝结时间、安定性、胶砂强度、细度(比表面积)、标准稠度用水量、胶砂流动度

故硅酸盐水泥P.I ,P.Ⅱ、普通硅酸盐水泥P.O ,矿渣硅酸盐水泥P.S不做胶砂流动度。 8、GB/T1596-2005 用于水泥和混凝土中的粉煤灰 参数:需水量比、细度、含水量、烧失量 9、建设与砂、石 GB/T14684-2011建设用砂 参数:颗粒分析、表观密度、含泥量、堆积密度

光电探测器特性测量实验报告

实验1 光电探测器光谱响应特性实验 实验目的 1. 加深对光谱响应概念的理解; 2. 掌握光谱响应的测试方法; 3. 熟悉热释电探测器和硅光电二极管的使用。 实验内容 1. 用热释电探测器测量钨丝灯的光谱特性曲线; 2. 用比较法测量硅光电二极管的光谱响应曲线。 实验原理 光谱响应度是光电探测器对单色入射辐射的响应能力。电压光谱响应度 ()v R λ定义为在波长为λ的单位入射辐射功率的照射下,光电探测器输出的信号 电压,用公式表示,则为 () ()() v V R P λλλ= (1-1) 而光电探测器在波长为λ的单位入射辐射功率的作用下,其所输出的光电流叫做探测器的电流光谱响应度,用下式表示 () ()() i I R P λλλ= (1-2) 式中,()P λ为波长为λ时的入射光功率;()V λ为光电探测器在入射光功率 ()P λ作用下的输出信号电压;()I λ则为输出用电流表示的输出信号电流。为简 写起见,()v R λ和()i R λ均可以用()R λ表示。但在具体计算时应区分()v R λ和()i R λ,显然,二者具有不同的单位。 通常,测量光电探测器的光谱响应多用单色仪对辐射源的辐射功率进行分光来得到不同波长的单色辐射,然后测量在各种波长的辐射照射下光电探测器输出的电信号()V λ。然而由于实际光源的辐射功率是波长的函数,因此在相对测量中要确定单色辐射功率()P λ需要利用参考探测器(基准探测器)。即使用一个光

谱响应度为()f R λ的探测器为基准,用同一波长的单色辐射分别照射待测探测器和基准探测器。由参考探测器的电信号输出(例如为电压信号)()f V λ可得单色辐射功率()=()()f P V R λλλ,再通过(1-1)式计算即可得到待测探测器的光谱响应度。 本实验采用单色仪对钨丝灯辐射进行分光,得到单色光功率()P λ ,这里用响应度和波长无关的热释电探测器作参考探测器,测得()P λ入射时的输出电压为()f V λ。若用f R 表示热释电探测器的响应度,则显然有 ()()f f f V P R K λλ= (1-3) 这里f K 为热释电探测器前放和主放放大倍数的乘织,即总的放大倍数。在本实验中=100300f K ?,f R 为热释电探测器的响应度,实验中在所用的25Hz 调制频率下,=900/f R V W 。 然后在相同的光功率()P λ下,用硅光电二极管测量相应的单色光,得到输出电压()b V λ,从而得到光电二极管的光谱相应度 ()() ()()()b b f f f V K V R P V R K λλλλλ= = (1-4) 式中b K 为硅光电二极管测量时总的放大倍数,这里=150300b K ?。 实验仪器 单色仪、热释电探测器组件、光电二极管探测器组件、选频放大器、光源。

光电管特性研究

光电管特性的研究 光电效应是指在光的作用下,从物体表面释放电子的现象,所逸出的电子称为光电子。这种现象是1887年赫兹研究电磁波时发现的。在光电效应中,光不仅在被吸收或发射时以能量h 的微粒出现,而且以微粒形式在空间传播,充分显示了光的粒子性。 1905年爱因斯坦引入光量子理论,给出了光电效应方程,成功地解释了光电效应的全部实验规律。1916年密立根用光电效应实验验证了爱因斯坦的光电效应方程,并测定了普朗克常量。爱因斯坦和密立根都因为光电效应方面的杰出贡献,分别获得1921年和1923年诺贝尔物理学奖。而今光电效应已经广泛地应用于各科技领域,例如利用光电效应制成的光电管、光电倍增管等光电转换其间,把光学量转换成电学量来测量。光电元件已成为石油钻井、传真电报、自动控制等生产和科研中不可缺少的元件。 一、教学目的 1、了解光电效应实验的基本规律和光的量子性。 2、测定光电管的伏安特性,研究光电流强度与加在光电管两极间电压的关系。 3、测定光电管的光电特性,研究光电流强度与照在光电管阴极上光通量的关系。 二、教学要求 1、实验三小时完成。 2、观察光电管结构和光电效应现象,理解光的量子性。 3、测定光电管的伏安特性,研究光电流强度与加在光电管两极间电压的关系。 4、测定光电管的光电特性,研究光电流强度与照在光电管阴极上光通量的关系。 5、用所学过的知识解释本次实验所测得的曲线,并对实验结果进行评价,写出合格的实验报告。 三、教学重点和难点 1、重点:通过光电管的伏安特性和光电特性,掌握光电效应迈的实验原理。

2、难点:最小二乘法处理数据。 四、讲授内容(约20分钟) 采用讲授、讨论、演示相结合的教学方法。 1、光电效应的实验原理。 2、与学生们共同探讨光电效应在现代生产生活中的应用。 (1)光电管 利用饱和电流与照射光强的线性关系,实现光信号和电信号之间的转换。如:光控继电器、自动控制、自动计数、自动报警等。 (2)光电倍增管 光电倍增管可使光电阴极发出的光电子增至48 10~10倍,在探测弱光方面得到广泛的应用。 (3)光电成像器件 光电导摄像管等,可以将辐射图像转换成或增强为可观察、记录、传输、存储和进行处理的图像,广泛地应用于天文学、空间科学、电视等领域。 3、光电管的伏安特性曲线的特点和光电特性的特点,留给学生思考如何用所学知识解释这些特点,并在实验报告中回答。 4、结合仪器演示实验的主要步骤。 (1)测光电管的伏安特性曲线 ⑴按教材图5.12-4接好线路,使光电管阳极为高电势,检查正负极插线无误后,打开光电效应仪的电源开关,并预热10分钟。 ⑵选取合适的小灯电流值。测量前先测出小灯泡与光电管阴极间的初始间 r,并记录。 距0 ⑶研究光电管正向伏安特性。由于光电管的伏安特性为非线性曲线,因此,在非线性区域,测试点应多一些。 ⑷测临界截止电压。将光电管接线的极性对调,即在光电管两极加上反向电压,使光电管阳极为负电势,慢慢增大反向电压,记下使光电流刚好为零的电压值,即为临界截止电压。 ⑸研究光电管在不同光强照射下的伏安特性,采用两种方法。

测试技术实验指导书(2017年04)

《机械工程测试技术基础》 实验指导书 戴新编 广州大学 2017.4

前言 测试技术顾名思义是测量和试验的技术。测试技术学习的最终目的是要解决实际问题,所以和理论课程相比,测试技术的实践环节显得更为关键。《机械工程测试技术实验》旨在提高学生综合应用从各门课程中学到的单元技术知识,独立构建、调试测试系统的能力,强化学生对测试系统工程实际的感性认识。它综合体现了各种单元技术在测试工程实际中的应用,是测试专业的学生接触工程实际的开始。 测试技术覆盖了很多知识领域,从测试信号的基本概念到现代测试信号分析方法,从传感器的基本原理到一个复杂大型的测试系统的建立,但在实际中,无法在一门课程里囊括所有这些知识和经验。本指导书根据目前实验室现有的实验条件及教学计划中的学时数,紧密结合理论教学,选择了一些重要的基本内容,实验主要为验证性实验,采用传统的实验模式,由实验教师指导学生完成实验。 通过实验,希望能够使学生牢固、熟练地掌握各种测试仪器的使用,学会调试测试系统的基本方法,包括传感器的使用,信号调理电路、数字化电路及显示单元的调试,在此基础上初步学会自行组建测试系统,并能够独立调试。 具体内容应包括:a.常用测试仪器的使用:在传感器使用及系统组建、调试的过程掌握示波器、数字万用表、信号发生器、稳压电源等的使用。b.传感器的使用:熟悉热电偶传感器、加速度传感器、液位传感器、转速传感器等原理及使用。c.常见物理量测试实验:温度测试实验、转速测试实验、液位测试实验、振动测试实验。由于条件限制,以上的实验内容还只能部分涉及。 实验完成后按要求应提交实验报告。实验报告是一种工程技术文件,是实验研究的产物。学生完成教学实验写出的报告,会为将来进行工程实验、科学研究书写实验报告打下基础,乃至于养成一种习惯,因此应按工程实际要求学生:内容如实,数据可靠;语言明确、简洁;书写工整、规范。实验报告的基本内容应包括实验题目、实验目的、实验仪器和设备(必要时画出连接图)、实验方法、实验结果(包括图表、数字、文字、表达式等)、对实验方法或结

光伏探测器光电特性实验讲义

光伏探测器光电特性实验 光电二极管与光电池是根据光伏效应制成的pn 结光电器件,短路电流与入射光强成正比是其一个突出优点,在精确测量光强时常用作光探测器。光敏电阻是基于光电导效应原理工作的半导体光电器件,灵敏度高,体积小,重量轻,常用于自动化技术中的光控电路。 【实验目的】 1. 观测光电二极管的光电特性; 2. 观测光电池的光电特性。 【仪器仪器】 光电二极管,光电池,直流电源,小灯泡(6V ,0.15A ),数字万用电表两块(其中一块表有直流电流200A μ量程),电阻箱,实验暗箱等。如图1所示。 图1 光伏探测器光电特性实验仪实验装置 技术指标 1.直流电源 0-4V 连续可调,显示分辨率0.01V ; 2.电阻箱 0-99999.9Ω可调,分辨率0.1Ω; 3.数字万用表 电流测量分辨率0.01A μ(20A μ档); 4.光敏电阻 暗电阻大于4M Ω; 5.小灯泡 额定电压6.3V ,额定电流0.1A 。 6. 传感器移动范围 约17cm

【实验原理】 1. 光伏效应 当光照射在pn 结上时,由光子所产生的电子与空穴将分别向n 区和p 区集结,使pn 结两端产生 电动势。这一现象称为光伏效应,如图2所示。利用半导体pn 结光伏效应可制成光伏探测器,常用的光伏探测器有光电池、光电二极管、光电三极管等。 光电池是根据光伏效应制成的pn 结光电器件。不需要加偏压就可以把光能转化为电能。光电池的用途,一是用作 探测器;二是作为太阳能电池,将太阳能转化为电能。光电池的结构示意图及应用电路如图3所示。 光电池的光照特性主要有伏安特性、入射光强-电流(电压)特性和入射光功率-负载特性。 2. 光照下的pn 结特性 光照下pn 结的伏安特性曲线如图4所示。无光照时,pn 结的伏安特性曲线和普通二极管的一样。有光照时,pn 结吸收光能,产生反向光电流,光照越强,光电流越大。 光伏器件用作探测器时,需要加反偏压或是不加偏压。不加偏压时,光伏器件工作在图4的第四象限,称为光伏 图2 pn 结光伏效应原理图 (b ) (a ) 图3 光电池的结构示意图(a )及基本应用电路(b ) 图4 光伏探测器的伏安特性曲线

大物实验报告 光电效应

试验名称:光电效应法测普朗克常量h 实验目的:是了解光电效应的基本规律。并用光电效应方法测量普朗克常量和测定光电管的 光电特性曲线。 实验原理 光电效应实验原理如图8.2.1-1所示。其中S 为真空光电管,K 为阴极,A 为阳极。当无光照射阴极时,由于阳极与阴极是断路,所以检流计G 中无电流流过,当用一波长比较短的单色光照射到阴极K 上时,形成光电流,光电流随加速电位差U 变化的伏安特性曲线如图8.2.1-2所示。 1. 光电流与入射光强度的关系 光电流随加速电位差U 的增加而增加,加速电位差增加到一定量值后,光电流达到饱和值和值I H ,饱和电流与光强成正比,而与入射光的频率无关。当U= U A -U K 变成负值时,光电流迅速减小。实验指出,有一个遏止电位差U a 存在,当电位差达到这个值时,光电流为零。 2. 光电子的初动能与入射频率之间的关系 当U=U a 时,光电子不再能达到A 极,光电流为零。所以电子的初动能等于它克服电场力作用的功。即 a eU mv =2 2 1 (1) 根据爱因斯坦关于光的本性的假设,每一光子的能量为hv =ε,其中h 为普朗克常量,ν为光波的频率。所以不同频率的光波对应光子的能量不同。光电子吸收了光子的能量h ν之后,一部分消耗于克服电子的逸出功A ,另一部分转换为电子动能。由能量守恒定律可知 A mv hv += 22 1 (2) 式(2)称为爱因斯坦光电效应方程。

3. 光电效应有光电存在 实验指出,当光的频率0v v <时,不论用多强的光照射到物质都不会产生光电效应,根据式(2), h A v = 0,ν0称为红限。 爱因斯坦光电效应方程同时提供了测普朗克常量的一种方法:由式(1)和(2)可得: A U e hv +=0,当用不同频率(ν1,ν2,ν3,…,νn )的单色光分别做光源时,就有 A U e hv +=11 A U e hv +=22 ………… A U e hv n n += 任意联立其中两个方程就可得到 j i j i v v U U e h --= )( (3) 由此若测定了两个不同频率的单色光所对应的遏止电位差即可算出普朗克常量h ,也可由ν-U 直线的斜率求出h 。 因此,用光电效应方法测量普朗克常量的关键在于获得单色光、测得光电管的伏安特性曲线和确定遏止电位差值。 实验内容 通过实验了解光电效应的基本规律,并用光电效应法测量普朗克常量。 1. 在577.0nm 、546.1nm 、435.8nm 、404.7nm 四种单色光下分别测出光电管的伏安特性曲线,并根据此曲线确定遏止电位差值,计算普朗克常量h 。 本实验所用仪器有:光电管、单色仪(或滤波片)、水银灯、检流计(或微电流计)、直流电源、直流电压计等. j i j i v v U U e h --= )(,求斜率,得到普朗克常量h. 入射光波长λ/nm 365nm

中南大学机械工程测试技术实验指导书

机械工程测试技术基础 实验报告 学号:0801130801 学生: 俞文龙 指导老师:邓春萍

实验一电阻应变片的粘贴及工艺 一、实验目的 通过电阻应变片的粘贴实验,了解电阻应变片的粘贴工艺和检查方法及应变片在测试中的作用,培养学生的动手能力。 二、实验原理 电阻应变片实质是一种传感器,它是被测试件粘贴应变片后在外载的作用下,其电阻丝栅发生变形阻值发生变化,通过阻桥与静动态应变仪相连接可测出应变大小,从而可计算出应力大小和变化的趋势,为分析受力试件提供科学的理论依据。 三、实验仪器及材料 QJ-24型电桥、万用表、兆欧表、电烙铁、焊锡、镊子、502胶、丙酮或酒精、连接导线、防潮材料、棉花、砂纸、应变片、连接片。 四、实验步骤 1、确定贴片位置 本实验是在一梁片上粘贴四块电阻应变片,如图所示: 2、选片 1)种类及规格选择 应变片有高温和常温之分,规格有3x5,2x4,基底有胶基箔式和纸基箔式。常用是3*5

胶基箔式。 2)阻值选择: 阻值有120欧,240欧,359欧,500欧等,常用的为120欧。 3)电阻应变片的检查 a.外观检查,用肉眼观察电阻应变是否断丝,表面是否损坏等。 b.阻值检查:用电桥测量各片的阻值为配组组桥准备。 4)配组 电桥平衡条件:R1*R3 = R2*R4 电桥的邻臂阻值小于0.2欧。 一组误差小于0.2% 。在测试中尽量选择相同阻值应变 片组桥。 3.试件表面处理 1) 打磨,先粗打磨,后精细打磨 a. 机械打磨,如砂轮机 b. 手工打磨,如砂纸 打磨面积应大于应变片面积2倍,表面质量为Ra = 3.2um 。应成45度交叉打磨。因为这样便于胶水的沉 积。 2)清洁表面 用棉花粘积丙酮先除去油污,后用酒精清洗,直到表面干净为止。 3)粘贴。涂上502胶后在电阻应变片上覆盖一薄塑料模并加压,注意电阻应变片的正反面。反面涂胶,而正面不涂胶。应变片贴好后接着贴连接片。 4)组桥:根据要求可组半桥或全桥。 5)检查。 用万用表量是否断路或开路,用兆欧表量应变片与被测试件的绝缘电阻,静态测试中应大于100M欧,动态测试中应大于50M欧。 6)密封 为了防止电阻应变被破坏和受潮,一般用AB胶覆盖在应变片上起到密封和保护作用,为将来长期监测做好准备。 五实验体会与心得 本次亲自动手做了应变片的的相关实验,对应变片有了进一步的认识,通过贴应变片组成电桥,认识并了解了应变片的粘贴工艺过程,以及对应变片在使用之前是否损坏的检查。通过实验,进一步了解了应变片在试验中的作用,同时也锻炼了自身的动手能力。

实验五-光无源器件特性测试实验(精)

常用光纤器件特性测试实验 实验五光无源器件特性测试实验 一、实验目的 1、了解光无源器件, Y 型分路器以及波分复用器的工作原理及其结构 2、掌握它们的正确使用方法 3、掌握它们主要特性参数的测试方法 二、实验内容 1、测量 Y 型分路器的插入损耗 2、测量 Y 型分路器的附加损耗 3、测量波分复用器的光串扰 三、预备知识 1、光无源器件的种类,有哪些?重点学习几个特性。 四、实验仪器 1、 ZY12OFCom13BG3型光纤通信原理实验箱 1台 2、 FC 接口光功率计 1台 3、万用表 1台 4、 FC-FC 法兰盘 1个 5、 Y 型分路器 1个 6、波分复用器 2个 7、连接导线 20根 五、实验原理

光通信系统的构成, 除需要光源器件和光检测器件之外, 还需要一些不用电源的光通路元、部件,我们把它们统称为无源器件。它们是光纤传输系统的重要组成部分。 光无源器件包括光纤活动连接器 (平面对接 FC 型、直接接触 PC 型、矩形SC 型、光衰减器、光波分复用器、光波分去复用器、光方向耦合器(例如:Y 型分路器、星型耦合器、光隔离器、光开关、光调制器…… 本实验重点介绍 Y 型分路器和光波分复用器,下一实验重点讲光纤活动连接器。 在应用这些无源器件时必须考虑无源器件的各项指标,如 Y 型分路器 (1分 2的光耦合器的插入损耗, 分光比, 波分复用器的光串扰等。下面对 Y 型分路器插入损耗及附加损耗及其分光比、波分复用器的光串扰分别进行测试。 Y 型分路器的技术指标一般有插入损耗(Insertion Loss 、附加损耗(Excess Loss 、分光比和方向性、均匀性等, 在实验中主要测试 Y 型分路器的插入损耗, 附加损耗及分光比。 就 Y 型分路器而言, 插入损耗定义为指定输出端口的光功率相对全部输入光功率的减少值。插入损耗计算公式为 5-1式。 lg(10. IN outi P P Li I -= (5-1 其中, I.Li 为第 i 个输出端口的插入损耗, P outi 是第 i 个输出端口测到的光功率值, P IN 是输入端的光功率值。 Y 型分路器的附加损耗定义为所有输出端口的光功率总和相对于全部输入光功率的减小值。附加损耗计算公式为 9-2式。

测试技术实验指导书共8页

测试技术实验指导书 交通运输工程学院测控室 2005年5月10日 实验一应变片的粘贴与检验 一、实验目的: 1、了解应变敏感元件——应变片的构造、特点。 2、掌握箔式应变片的粘贴方法。 3、掌握对已粘贴好的应变片的检验方法。 二、实验设备: 电桥一个万用表一个 兆欧表一个应变片 连接片粘结剂502 清洗剂酒精或丙酮红外线灯 三、实验要求: 1、观察、选择和检验应变片: 1)、观察各种类型和规格的应变片的构造、了解其特点。 2)、根据测试需要选择不同阻值和类型的应变片。 3)、先检查应变片完好后,先用万用表、再用电桥测出应变片的准确阻值、要求组成同一电桥的各应变片的灵敏度系数相同,其阻值相差应小于0.5欧。 2、试件表面的清洗及处理: 1)、除去试件表面的铁锈、油漆和污物。 2)、用锉刀、砂布等打磨试件的粘贴处、光洁度应达到5左右。 3)、用划针在测点处划出应变片的定位线。 4)、用清洗剂对试件进行清洗。 3、粘贴应变片 1)、在测点和应变片的反面均匀的涂上一层502胶,将应变片涂胶的一面放到测点上并对好定位线。 2)、在应变片的正面复盖上一小片滤纸或塑料薄膜,防止粘手,然后用手指沿应变片的纵向、向一个方向滚压,挤出应变片下的气泡和多余的胶水。 3)、按住应变片不动,保持3分钟左右即可 (注:如果不是瞬干胶,则要晾干24小时) 3、安装接线: 1)、在应变片的引出线端约2厘米处粘一小块联接片。 2)、将应变片的引出线烫上锡并套上套管。 3)、将应变片的引出线在联接片上焊接好 4、贴片质量检查: 1)、用万用表测量应变片的引出线,检查在贴片的过程是否造成短路、断路。 2)、用兆欧表测量应变片与试件间的绝缘电阻,要求达到或大于100兆欧,如果未达到,可用红外线灯烘烤,直到达到要求为止。

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