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光器件的回损测量
引言：随着宽带接入如 LTE, FTTX 的应用越来越多，骨干光纤通信带宽越来越大，光纤本身的和光 纤系统中的无源光器件都变得越来越复杂，光纤系统中无源器件的反射对更高速率的通信系统性 能的影响越发显著，人们对光纤无源器件回波损耗指标测试的关注度在持续上升。
光纤无源器件的回损测试方案自光纤通信系统开始就有了，早期的典型测试仪表如：JDSU 公 司的 RX Meter, Agilent 公司的 816xx 系列。这些测试仪表的共同特点是：测试方法采用标准的连 续光方法，即 IEC 建议的 OCWR(Optical Continuous Wave Reflectometer)法，测量时通常需要用缠 绕光纤的方法消除额外反射，测量回损的范围在 70dB 以下。随着光纤通信技术的进步，测试仪 表也在发展，使用 OCWR 方法的测试仪技术非常成熟，随着竞争产品的越来越多，这两种仪表都 早已停止生产。
使用 OCWR 方法测量回损存在许多限制，如：测试步骤多，需要过程复杂的系统校“零”， 不能一次连接进行插损/回损的测试，不能区分瑞利散射和菲涅尔反射回损，只适用于≤55dB 的 回损测量等[1]。
另一方面，由于这些限制，在很多应用场合下不适合或者无法使用 OCWR 法进行测量，如： 无法弯曲也不允许破坏接头的光缆接头盒，特种光缆，MPO 接头等。
图 1：无法弯曲的光纤接头 为了解决这些问题，我们需
要采用其他的回损测量方法，如 OTDR 法。为了比较 OCWR 和
OTDR 两种测量方法，让我们首先回顾一下回损测试的原理以及 IEC61300‐3‐6 对回损测试方法的描 述。
1. 原理和测量方法
1.1 回损的来源
按照 IEC61300‐3‐6 的定义，回损是指在器件输入端、光纤接头或者定义的某一段光路上反射 光功率[mW]与入射光功率[mW]的比值。
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? P ? 即： RL = -10 ? log ? r
? ，回损的值是正的。
? P i ?
对于不同的回损测量方法来说，定义被测光路的长度都是关键。 我们知道，光路上的反射光包含菲涅尔反射和瑞利散射，
1.1.1 菲涅尔反射
反射是由于光从一种介质进入另一种折射率不同的介质造成的。菲涅尔现象描述了这种反射 因此通常称为菲涅尔反射。对于光接头，造成反射的原因是机械接头的空气气隙、中心对齐误差 和污染造成的微小颗粒。图 1 是两个个光纤接头通过适配器连接，接头连接的地方产生了由于局 部不连续引起的回损。
1.1.2 瑞利散射
图 1 : 光纤接头的局部，连接处产生了菲涅尔反射
光束在光纤中前向传播时，遇到光纤中的不连续点会产生散射，产生不连续点的可能是制作 光纤材料的杂质、微小的空气气隙甚至机械拉伸。散射有许多种，最常见的是瑞利散射，其强度 与光波长的 4 次方成反比。瑞利散射和菲涅尔反射的主要差别是瑞利散射存在于整个光路上而菲 涅尔反射只在产生反射的那一点上。
瑞利散射发散到各个方向，其中反射到入射端的部分称为后向散射。举例说明：普通的 2 米 长康宁 SMF ‐28 单模光纤由于后向散射产生的回损是 69 ~ 70dB ，当我们引入测试跳纤测量回损，
但却不能区分瑞利散射和 DUT 反射时，这个特征就成了我们测量的限制因素[注
1]。
图 2: 光束在纤芯中传播时，遇到不连续点和拉伸会产生回损
1.2 回损的测量方法
IEC61300‐3‐6 建议了 4 种回损的测量方法：
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测量方法 原理
适用范围
特点
缺点
OCWR
直接测量入射光和 反射光，计算出结 果，不受
适用于单、多模光纤 最接近回损的定
义
操作复杂，测试精度易受操作影响， 不能区分区分菲涅 尔反射和瑞利后向 散射
OTDR
测量光路上某一点 的反射，有较高的 空间分辨率，动态 范围达到 75dB 以 上
适用于单、多模光纤，光路长度 较长的测量，如 现场测量 可区分菲涅尔反射和瑞利后向散 射，测试效率高
有测试盲区，不适合光路太短的测量
OLCR
低相干反射技术
单模光器件的反射分布
具备超高空间分辨率，可测量超 低回损
系统复杂，成本高
OFDR
时域测量，反向傅 立叶变换。使用 KHz~1GHz 频率的 调制光，分辨率达 到厘米级别
适用单模光器件的回损，动态范 围>70dB
基本无盲区，空间分辨率高
系统复杂，成本高
下面我们主要讨论第一和第二种方法：OCWR 法和 OTDR 法，比较两种方法的测量差异和如 何使用两种方法得到准确的测试结果。
1.2.1 OCWR 法：
OCWR 是最常用的光回损测量方法，通过简单比较无被测件接入时的发射光功率和接入被测 件后的反射光功率计算出回损值，一般来说，器件的插损和回损一样都是重要的测试指标，仪表 通常将插损和回损测量功能集成在一台仪表上，通常的插回损测量连接和测量步骤如下：
图 3: OCWR 法为了准确到测量被测件的回损需要在连接被测件的前后进行人工缠绕
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这种方法分 4 个步骤，如图 4，
第一步：将仪表测试发光口直接连接到光功率端口进行插损归零 第二步：单独对测试跳纤进行回损归零，通常用缠绕法消除末端反射 第三步：接入 DUT(被测件,Device Under Test,下同) 测量插损 第四部：测量回损，同样要在 DUT 的末端用缠绕法消除额外反射。 除了采用缠绕法消除额外反射外，IEC 也提出的其他消除额外反射的方法： z 用同类光纤进行末端匹配；
z 将测试光纤的尾端折弯，根据光纤类型的不同，要求的折弯角度也不一样，通常折弯
的角度要大于 12°；
z 光纤尾端加入很大的衰减，缠绕法是一个可行的方法，可将尾端的反射光衰减掉（这
种方法不适合多模光纤）。
使用缠绕法测量时，缠绕点的位置决定了回损测量的长度或者光路径，如图 5：
图 4: 测量路径长度是 OCWR 测量方法的关键，第一个缠绕点和第二个缠绕点的位置决
定了测量区域的长度
第一次测试跳纤归零的缠绕点和第二次测量回损时缠绕点之间的长度就是回损测量的光路长 度。在很多情况下，这个光路长度对我们的测试结果有重大影响。
很明显，OCWR 法不能区分瑞利散射和菲涅尔反射，另外，在多数情况下 OCWR 法使用不超 过 1.5m 的测试跳纤，或者通常说的标准跳纤，由于我们消除测试跳纤中的瑞利散射光的对 DUT 反射光的影响，因此实际的测试结果中必然包含了测试跳纤的散射光，因此这样的测试可以得到
的最大回损值是 70dB [注
1]。
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1.2.2 OTDR 法
OTDR 测量回损的方法来源于大家熟悉的测量光纤长度和衰减的 OTDR ，但用于回损测量的 OTDR 校准方法不同于长度测量的 OTDR 。OTDR 反射测量的参考点是被测段的前一点，这一点的 功率作为 RL 测量的入射功率。 图 6 是基本的测量设置。
图 5: OTDR 法测量图示 OTDR 法
测量插回损只需要两个步骤，如图 6. 第一步：将仪表测试发光口直接连接到光功率端口进行插损归零 第二步：连接 DUT 后直接测量插回损
由于 OTDR 法不需要消除末端的额外反射，因此相比 OCWR 法节约了两个需要缠绕的步骤， 具有更高的测试效率。
但与 OCWR 法一样，OTDR 法也需要定义回损测量的长度，准确定义测量长度是 OTDR 发取得
理想测量结果的前提条件。
图 6: 软件设置 OTDR 法的测量区域
另外，OTDR 法的一个显著优点是可以区分瑞利散射和菲涅尔反射，可以让用户自己选择测量 某个位置的回损，可以去除测试跳纤瑞利散射的影响，因此测量范围可以从 70dB 提高到 80dB 。 另外，由于插回损测试只需要一次连接，通过自动切换光开关的引入，OTDR 法的测量仪表可以 集成多路测量功能，更好地适应规模化生产的需要。
结束语：随着光纤通信技术的发展，传统的回损测量仪表和回损测量的方法已经不能适应大 规模、复杂的测量要求，采用 OTDR 法的插回损测试仪由于测试步骤简单，易于集成到自动化测 量系统中，可以更好地适应自动化、大规模测试的需求。
参考文献：
[1] FIBRE OPTIC INTERCONNECTING DEVICES AND PASSIVE COMPONENTS BASIC TEST AND MEASUREMENT PROCEDURES，61300‐3‐6 IEC:2003
[2] Return Loss Measurement in the Presence of Variable Insertion Loss Using Optical Frequency Domain Reflectometry，Stephen Kreger etc. Luna Technologies
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相关产品：
JDSU 基于 OTDR 法的插回损测试仪：MAP200，可集成单、多光纤的插回损测试模块、多通道 光开关、条码阅读器、打印机，光纤端面检查仪等必要模块和外设，组成高效的自动测量系统， 适合研发、规模生产的需要。
图 7: JDSU 基于 OTDR 法的插回损仪表
仪表操作注意事项：
在开始测试前必须强调，由于测试需要进行手动连接，而回损测量是测试非常微小的后向散 射和反射光，连接问题对测试结果的影响不容忽视。连接前进行适当的连接光纤的端面检查和清 洁是取得准确测试结果的前提，根据经验，连接问题是我们大多数情况下到得到异常测试结果的 原因。只有在恰当的连接下才能准确测量到回损值，并且测量得到的回损值会由于每次连接时连 接表面的微小变化而受到影响。
为了区分瑞利散射和菲涅尔反射， MAP200 测量回损时可以选择两种模式： z
Discrete
Mode(离散模式) 离散模式只测量菲涅尔反射，可以找到光路经上的单个反射峰，并根据该反射峰计算回损的
值。由于分辨率的限制，离散模式回损测量窗口的长度设置最小是 0.5m ，如果这个区域内有两个 以上的反射峰，测试结果只记录最大的那个反射点的回损。在离散模式下，在 DUT 周围的改变测 试窗口的位置不影响测量结果。
z Integral Mode(积分模式)
积分模式测量定义的窗口区域光路经上的所有的反射功率，跟 OCWR 法类似。在连接器的回 损超过 60dB 的情况下，瑞利后向散射会影响测量结果。由于分辨率的限制，积分模式的测试窗 口设置应该大于 1.5m 。
值得注意的是瑞利后向散射随着路径长度变大，如果在光路上移动一个固定长度的测试窗口， 回损的测试结果会有变化，变化范围会达到±0.5dB.
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下面是一般测量的设置建议
z 光连接器的测量
对于光连接器，推荐选择“Discrete Mode”，用预先设定的默认测试条件。这种测量消除了瑞 利散射的影响，测量到的是光连接器真正的 RL 值。
图 2: 光连接器测量时 ORL 的设置
z 光纤跳纤，光无源器件和分布反射的测量 对于光纤跳纤、光无源器件和具备分布反射特性的被测器件，推荐使用“Integral Mode”模式并
采用预先设定的默认测试条件。预先设置的默认测试窗口可以消除用于测试连接的光连接器和光 纤的影响。如果测试跳纤太长，也可以手动移动测试窗口，使测试窗口更靠近被测件。
图 3: “Integral ”模式测量时 ORL 的设置
1 插回损测试仪 1、 概述------------------2 2、 技术指标--------------3 3、 组成------------------4 4、 功能说明--------------4 5、 使用说明--------------5 6、 维护及保养-----------15 7、 质量保证-------------15
2 1．概述 YW-B330i 插回损测试仪是玉炜科技集合自身多年的光纤无源器件和光通信检测仪表的生产和测试经验，并充分借鉴了国内外仪表的优点和国内客户的需求，潜心研制开发出来的一款精密光检测仪表。它广泛应用于光纤光缆、光无源器件和光纤通信系统的插损和回损测试，是广大生产厂商、科研机构和运营商用于生产检测、研究开发和工程施工维护的基本和理想的测试仪器。 YW-B330i 实现光源模块与光功率计模块的波长联动，有效减少操作步骤，还可以对损耗测量设定限定值，不同颜色显示测试数据，一目了然。是光通信系统研究、开发和生产、维护等部门必备的基本测试仪器，也是光器件性能指标、光纤光缆及光无源器件性能测试的理想测试工具。
3 2.技术指标
4 3．组成 1. YW-B330i 插回损测试仪----------------------1台 2. 操作说明书--------------------------------------1本 3. FC/SC/ST/2.5通用/1.25通用接口--------1套 4. 保险丝（1A ）-----------------------------------2只 5. 电源线（250V10A ）----------------------------1根 6. 清洁棉签------------------------------------------1包 4．功能说明 FCAPC 光源输出口（多模） FC-UPC 测试接口 插损显示 回损显示
光纤损耗测试方法及其注意事项1 引言 由于应用和用户对带宽需求的进一步增加和光纤链路对满足高带宽方面的巨大优势，光纤的使用越来越多。无论是布线施工人员，还是网络维护人员，都有必要掌握光纤链路测试的技能。 2004年2月颁布的TIA/ TSB-140测试标准，旨在说明正确的光纤测试步骤。该标准建议了两级测试，分别为： Tier 1（一级），使用光缆损耗测试设备（OLTS）来测试光缆的损耗和长度，并依靠OLTS或者可视故障定位仪（VFL）验证极性； Tier 2（二级），包括一级的测试参数，还包括对已安装的光缆链路的OTDR追踪。? 根据TSB-140标准，对于一条光纤链路来说，一级测试主要包括两个参数：长度和损耗。事实上，早在标准ANSI/TIA/EIA-526-14A 和ANSI/TIA/EIA-526-7中，已经分别对多模和单模光纤链路的损耗测试，定义了三种测试方法（长度的测量，取决于仪表是否支持，如果仪表支持，在测试损耗的同时，长度同时也会测量）。为了方便，我们分别称为：方法A、方法B和方法C。TSB－140就是在这基础上发展而来，与此兼容。 那么这三种方法各有什么特点，怎么操作，应该在什么场合下使用呢？这正是本文要阐述的问题。另外，光纤链路的测试，不同于双绞线链路的测试，又有什么地方需要注意或者有什么原则可以遵循呢？这也是本文想与读者分享的内容。 2 如何测试光纤链路损耗 光纤链路损耗的测试，包含两大步骤：一是设置参考值（此时不接被测链路），二是实际测试（此时接被测链路）。 下面我们具体介绍一下标准中定义的三种测试损耗的方法（以双向测试为例）。 2.1 测试方法A
常用光纤器件特性测试实验 实验六 光纤活动连接器损耗测试实验 一、实验目的 1、了解光纤活动连接器插入损耗测试方法 2、了解光纤活动连接器回波损耗测试方法 3、掌握它们的正确使用方法 二、实验要求 1、测量活动连接器的插入损耗 2、测量活动连接器的回波损耗 三、预备知识 1、了解活动连接器的特点、特性 四、实验仪器 1、ZY12OFCom13BG3型光纤通信原理实验箱 1台 2、FC 接口光功率计 1台 3、万用表 1台 4、FC/PC-FC/PC 单模光跳线 2根 5、FC-FC 法兰盘 1个 6、Y 型分路器 1个 7、连接导线 20根 五、实验原理 光纤活动连接器是连接两根光纤或光缆形成连接光通路且可以重复装拆的无源器件。其外形与普通电缆连接器有点相似，但其内部结构复杂，机械加工精度要求高。主要技术要求是插入损耗小，拆卸方便，互换性好，重复插拔的寿命长。它还具有将光纤与有源器件、光纤与其它无源器件、光纤与系统和仪表进行活动连接的功能。 评价一个活动连接器的性能指标有很多，其中最重要的指标有4个，即插入损耗、回波损耗、重复性和互换性。 光纤活动连接器插入损耗是指光纤中的光信号通过活动连接器之后，其输出光功率相对输入光功率的分贝数，计算公式为： )lg(1010P P I L （6-1） 其中P 0为输入端的光功率，P 1为输出端的光功率。 对于多模光纤连接器来讲，注入的光功率应当经过扰模器，滤去高次模，使光纤中的模式为稳态分布，这样才能准确地衡量连接器的插入损耗。光纤活动连接器的插入损耗越小越好。 光纤活动连接器插入损耗测试方法为：向光发端机的数字驱动电路送入一伪随机信号（长度为24位），保持注入电流恒定。将活动连接器连接在光发端机与光功率计之间，记下
光纤传输损耗测试-实验报告
华侨大学工学院 实验报告 课程名称：光通信技术实验 实验项目名称：实验1 光纤传输损耗测试 学院：工学院 专业班级：13光电 姓名：林洋 学号：1395121026 指导教师：王达成
2016 年05 月日 预习报告 一、实验目的 1）了解光纤损耗的定义 2）了解截断法、插入法测量光纤的传输损耗 二、实验仪器 20MHz双踪示波器 万用表 光功率计 电话机 光纤跳线一组 光无源器件一套（连接器，光耦合器，光隔离器，波分复用器，光衰减器） 三、实验原理 αλ，其含义为单位长度光纤引起的光纤在波长λ处的衰减系数为()
光功率衰减，单位是dB/km 。当长度为L 时， 10()()lg (/)(0) P L dB km L P αλ=- （公式1.1） ITU-T G.650、G.651规定截断法为基准测量方法，背向散射法（OTDR 法）和插入法为替代测量方法。本实验采用插入法测量光纤的损耗。 （1）截断法：（破坏性测量方法） 截断法是一个直接利用衰减系数定义的测量方法。在不改变注入条件下，分别测出长光纤的输出功率2()P λ和剪断后约2m 长度短光纤的输出功率1()P λ，按定义计算出()αλ。该方法测试精度最高。 偏置电路 注入系统 光源 滤模器 包层模 剥除器 被测光纤 检测器 放大器电平测量 图1.1 截断法定波长衰减测试系统装置 （2）插入法 插入法原理上类似于截断法，只不过用带活接头的连接软线代替短纤进行参考测量，计算在预先相互连接的注入系统和接受系统之间（参考条件）由于插入被测光纤引起的功率损耗。显然，功率 1 P 、 2 P 的测量 没有截断法直接，而且由于连接的损耗会给测量带来误差，精度比截断法差一些。所以该方法不适用于光纤光缆制造长度衰减的测量。但由于它具有非破坏性不需剪断和操作简便的优点，用该方法做成的便携式仪表，非常适用于中继段长总衰减的测量。图1.2示出了两种参考条件下的测试原理框图。
合路器插损测试步骤 1.测量线损，线路连接如下图，CMW270的RF2COM作为发射端口经过20db衰减器，连 接射频线缆，射频线缆经过10db衰减器连接到CMW270的接收端口RF4COM。 2.仪表开机后，显示界面如下图。 3.按键“SIGNAL GEN”，如下图，选择Generator1。
4.参数配置，如下图，选择RFCOM2作为发射端口，输出补偿Ext.Att.（OutPut）设置为 0db，Frequency设置为2412（2.4G 1信道的中心频率），发射功率Level（RMS）设置为0dBm，BasebandMode选择CW，其它参数默认即可。 5.按键“MEASURE”，显示如下图，选择Measurements后，按左下角对应“GPRFMeasure” 按键。
6.进入到如下界面后，按右下角“config”对应按键，进行参数配置 7.进入到“RF Setting”选项下，接收端口“RF Routing”设置为“RF COM4”，频率设置为 2412与发射端口频率一致，其它参数默认。
8.Output端，按下“GPRE Generator”对应键后，按下“ON”，进入到发射状态，RFCOM2 指示灯亮，如下图。 9.Input端，按下“FFT”对应键后，按下“ON”，进入到接收状态，RFCOM4指示灯亮， 如下图。
10.在接收端界面“FFT Spectrum”下，查看当前瞬时功率Current，可在键盘区进行stop 操作，便于查看瞬时值。此瞬时值要记录三次。 11.计算线损。衰减器损耗30dB（20+10）,直通连接器（如下图）损耗0.6dB，衰减器损耗+ 连接器损耗+线损=总损耗，由于发射端功率为0dBm，接收端功率（Current）为-35.811dBm，所以总的损耗为35.811dB，算出线损为5.21dB。以上为单一频点的举例说明，要取多个频点进行统计（覆盖1-13信道）得到平均值作为2.4频段的线损。同理，5.8G的频点要覆盖149-165信道，取平均值。
1 目的对光回波损耗测试仪定期进行运行检查，确保其符合生产品质要求。 2 适用范围适用于公司的光回波损耗测试仪。 3 职责 3.1技术工程部负责对仪器进行运行检查，并记录运行检查的结果。 3.2 技术工程部负责仪器失效时的处置。 4 工作程序 4.1运行检查仪器是在校核期间以简单有效的方法确定仪器设备功能是否正常的一种检查措施。当发现运行检验结果不能满足规定要求时，应能追溯至已检验的产品，必要时，对这些产品重新进行检测。4.2运行环境要求 4.2.1仪器应放在指定的试验区域，该区域应通风、干燥、不应有过多的灰尘和腐蚀性气体，避免机械振动、碰撞、跌落及其他机械损伤；储存环境：温度-20～+70℃；湿度<85% RH。 4.2.2光输入口、测试口在不工作时盖好保护盖。 4.2.3电源应有接地线，保证电源电压在本仪器要求的范围内，工作电源：AC 220V±10%，50Hz±5%，20VA Max。设备不用时，应切断电源，用防尘布盖上。 4.2.4如果遇到供电系统的突变干扰，主机显示可能发生异常，面板按键不起作用，此时应尽快关机，在确保供电电源稳定后再重新开机工作。 4.2.5测试前必须对所有连接器件进行清洁，待清洁液完全干燥后才能插入到仪器的连接口中去。 4.2.6光测试口在每次校准和测量时，一定要小心连接，对准定位槽。旋转固定件时，不可过分用力，但要旋紧。 4.2.7指定专人负责此仪器的使用和维护。 4.3运行检查的方法 4.3.1准备2套封样已测器件（即标准线），测试项目为1310nm和1550nm两个窗口下的插入损耗及回波损耗，每半年由专人对此2套封样器件的插入损耗和回波损耗，进行检测并记录，以验证仪器的重复性。 4.3.2每次运行检查，验证测试允许的偏差在精度范围内：插入损耗精度±0.2 dB，回波损耗精度±0.5dB。 4.3.3使用标准线之前，需对其进行端面和3D检测，并对照其检测报告，确定性能参数没有明显变化后，方可进行校验。标准线应有明确标识，并指定专人保管。 5 运行检查频次：每季度 6 失效时的处置 6.1检查前，当发现仪器失效时，技术工程部对失效的程度进行评价，提出处置方案，按公司《固定资产管理制度》进行报批。 6.2检查后，发现仪器失效时，技术工程部对失效的程度进行评估，并对已检验的该批次产品的安全可靠性进行评估，应将该仪器送到国家权威机构校验维修，在仪器校验合格后对该批次产品重新校验。 7 校验和试验记录的管理 运行检查记录由技术工程部保存。 批准：审核：编制：
光纤连接器的插入损耗 深圳市光波通信有限公司 罗群标 张磊 徐晓林 光纤连接器作为光通信系统中最基本也是最重要的光纤无源器件，其市场需求量越来越大。近年来随着光纤宽带接入系统的发展，光纤链路中光纤连接器(包括其它有源及无源器件上使用的连接头)的使用越来越多，这对光纤连接器的插入损耗的测试准确性提出了越来越高的要求。本文将就影响光纤连接器插入损耗的原因以及如何确保插入损耗测试的准确性及可靠性等问题作以简单的论述。 一． 有关概念 1． 光纤连接器插入损耗（IL ）的定义： IL=0 1lg 10P P ? (dB) 其中P1为输出光功率，P0为输入光功率。插入损耗单位为dB 。 2. 光纤连接器插入损耗的测试方法 光纤连接器的插入损耗的测试方法一般有三种：基准法、替代法、标准跳线比对法。 由于在大批量的生产过程中，要求插入损耗的测试必须快速、准确且无破坏性。因此现在的生产厂家大都采用第三种方法，即标准跳线比对法。其测试原理图如下： 4 1 2 3 标准适配器 光功率计 稳定光源 标准测试跳线 被测跳线 当单模光纤尾纤小于50M 、多模光纤尾纤小于10M 时，尾纤自身的损耗可以忽略不计，此时测得的数据即为3端相对于标准连接器的插入损耗，并将此数据提供给客户。当单模光纤尾纤大于50M 、多模光纤尾纤大于10M 时，应在测出的损耗值中减去光纤自身的损耗值。 3. 重复性 重复性是指同一对插头，在同一只适配器中多次插拔之后，其插入损耗的变化范 围。单位用dB 表示。重复性一般应小于0.1dB. 4. 互换性 由于光纤连接器的插入损耗是用标准跳线比对法测出的，其值是一个相对值。所 以在任意对接时，实际的插入损耗值很可能会大于用标准跳线比对法测出的值，而且不同的连接头、不同的适配器，其影响程度也会有所不同。因此就有了互换性这一指标要求。连接头互换性是指不同插头之间，或者不同适配器任意转换后，其插入损耗的变化范围。其一般应小于0.2dB 。如光波公司向客户承诺插入损耗小于0.3dB,互换性小于0.2dB ，则任意对接其插入损耗应小于0.5dB 。 二． 光纤连接器插入损耗的主要因素 1． 光纤结构参数（纤芯直径不同、数值孔径不同、折射率分布不同及其它原因等）的
版本A1 规格型号SC 页码生效日期2015-09-08 第1页共1 页 1. 制定者审查者批准者 王川龙李仕林叶建 制修订记录 版本制修订内容摘要制修订者批准者制修日期A 新版发行李仕林叶建2014-08-28 A1 修改外观检验标准王川龙叶建2014-09-07 文件发行记录 单位总 经 理 室 管 理 代 表 行 政 人 事 部 市 场 部 技 术 部 工 程 部 生 管 部 采 购 部 品 质 部 生 产 部 财 务 部 分发√√√ 份数 1 1 1 注： 1.非管制本仅供持有人参考，不列入追踪管制；当内容有修订时亦不主动通知修正； 2.本资料为公司智慧财产，非经公司书面授权许可，不得透露和使用本资料，亦不得复印、复制或转变至其它任何形式使用。 文控戳章
版本A1 规格型号SC 页码生效日期2015-09-08 第2页共2 页 1 目的 为本公司SC型适配器提供检验依据。 2 范围 本规范适用于本公司自制和外购的SC适配器（包含带卡扣和不带卡扣）的入库和出厂检验。 3 引用文件 3.1《计数抽样检验程序-第1部分：按接收质量限（AQL）检索的逐批检验抽样计划》GB/T2828.1-2012 3.2《光纤活动连接器SC型第3部分》YD/T1272.3-2005 3.3《FQC检验作业流程》 4 适用设备、工具 4.1 插损回损测试仪：用于光学性能的测试。 4.2 电子数显卡尺：尺寸的测量。 4.3 显微镜：用于外观检查。 5 内容 5.1开班前 5.1.1对电器类检验设备(如插回损测试仪器）按照正确操作方法进行开机并预热15分钟以上； 5.1.2对插回损测试仪进行日常点检，并填写《插回损仪点检表》； 5.2.检验前（准备） 5.2.1对检验工作台面进行整理，确保无其它产品、杂物； 5.2.2对检验工具、设备进行确认、确保其在有效状态； 5.2.3对检验环境进行确认，确保检验环境符合要求； 5.3抽样标准 执行GB/T2828.1-2012标准，主要缺陷(关键尺寸、性能指标)按特殊检验水平S-4,C=0;次要缺陷（外观）按一般检查水平II,AQL=1.0; 5.4检验环境/条件 5.4.1温度：（20±5）℃； 5.4.2湿度：20%~55%R.H; 5.4.3保持检验场所照明明亮，环境洁净； 5.4.4外观检验时在40W日光灯或自然光下；检验人员视力（允许矫正后）1.0及以上且无色盲；目视距离25cm;涉及到量化的项目统一在20倍显微镜下进行测量和判定； 5.5检验项目及检验标准
《中国有线电视》2009(10) C H I N A D I G I T A L C A B L ET V·经验点滴·中图分类号:T N943.6 文献标识码:B 文章编号:1007-7022(2009)10-1094-01 光纤损耗测试方法及其注意事项 ◆管 辉(吉林省广播电影电视局三三一台,吉林永吉132200) 由于应用和用户对带宽需求的进一步增加和光纤链路在满足高带宽方面的巨大优势,光纤的使用越来越多,无论是布线施工人员还是网络维护人员都有必要掌握光纤链路测试的技能。 2004年2月颁布的T I A/T S B-140测试标准,旨在说明正确的光纤测试步骤,该标准建议了两级测试,分别为:T i e r1(一级),使用光缆损耗测试设备(O L T S)来测试光缆的损耗和长度,并依靠O L T S或者可视故障定位仪(V F L)来验证极性;T i e r2(二级),包括一级的测试参数,还包括对已经安装的光缆链路的O T D R 追踪。 根据T S B-140标准,对于一条光纤链路来说,一级测试主要包括两个参数:长度和损耗。事实上,早在标准A N S I/T I A/E I A-526-14A和A N S I/T I A/E I A-526-7中,已经分别对多模和单模光纤链路的损耗测试定义了3种测试方法(长度的测量,取决于仪表是否支持,如果仪表支持,在测试损耗的同时,长度同时也会测量)。 1 如何测试光纤链路损耗 光纤链路损耗的测试包含两大步骤:一是设置参考值(此时不接被测链路),二是实际测试(此时接被测链路),下面具体介绍标准中定义的3种测试损耗的方法(以双向测试为例)。 测试方法A:方法A设置参考值时,采用两条光纤跳线和一个连接器(考虑一个方向,见图1上半部分),设置参考值后,将被测链路接进来(见图1 下半部分),进行测试。我们不难发现,每个方向的测试结果中包括光纤和一端的连接器的损耗,因此方法A是用来测试这种光缆链路:光纤链路一端有连接器,另一端没有。 图1 测试方法A 测试方法B:方法B设置参考值时,只使用一条光纤跳线(考虑一个方向,见图2上半部分),设置参考值后,将被测链路接进来(见图2下半部分),进行测试。这种方法的测试结果中,包括光纤链路和两端连接的损耗,因此方法B是用来测试这种光缆链路:链路两端都有连接器,其连接器的损耗是整个损耗的重要部分,这就是室内光缆的常见例子。 从技术角度讲,测试结果还包括额外的光纤跳线(3～4)的损耗,但是其长度较短,损耗可以忽略不计。对室内光缆网络,这种方法提供了精确的光缆链路测试,因为它包括了光 图2 测试方法B 缆本身以及电缆两端的连接器。
华侨大学工学院 实验报告 课程名称：光通信技术实验 实验项目名称：实验1 光纤传输损耗测试 学院：工学院 专业班级：13光电 姓名：林洋 学号：1395121026 指导教师：王达成 2016 年05 月日
预 习 报 告 一、 实验目的 1）了解光纤损耗的定义 2）了解截断法、插入法测量光纤的传输损耗 二、 实验仪器 20MHz 双踪示波器 万用表 光功率计 电话机 光纤跳线一组 光无源器件一套（连接器，光耦合器，光隔离器，波分复用器，光衰减器） 三、 实验原理 光纤在波长λ处的衰减系数为()αλ，其含义为单位长度光纤引起的光功率衰减，单位是dB/km 。当长度为L 时， 10()()l g (/)(0) P L dB km L P αλ=- （公式1.1） ITU-T G .650、G .651规定截断法为基准测量方法，背向散射法（OTDR 法）和插入法为替代测量方法。本实验采用插入法测量光纤的损耗。 （1）截断法：（破坏性测量方法） 截断法是一个直接利用衰减系数定义的测量方法。在不改变注入条件下，分别测出长光纤的输出功率2()P λ和剪断后约2m 长度短光纤的输出功率1()P λ，按定义计算出()αλ。该方法测试精度最高。
图1.1 截断法定波长衰减测试系统装置 （2）插入法 插入法原理上类似于截断法，只不过用带活接头的连接软线代替短纤进行参考测量，计算在预先相互连接的注入系统和接受系统之间（参考条 件）由于插入被测光纤引起的功率损耗。显然，功率1P、2P的测量没有 截断法直接，而且由于连接的损耗会给测量带来误差，精度比截断法差一些。所以该方法不适用于光纤光缆制造长度衰减的测量。但由于它具有非破坏性不需剪断和操作简便的优点，用该方法做成的便携式仪表，非常适用于中继段长总衰减的测量。图1.2示出了两种参考条件下的测试原理框图。 （a） （b） 图1.2 典型的插入损耗法测试装置
回答人的补充 2009-09-09 08:17 在光链路的设计中，要碰到光纤损耗、分光损耗、分光附加损耗、活动接头损耗和光链路（总）损耗几项参数，很显然，光链路损耗是以上其他几项损耗值的总和： 光链路损耗=光纤损耗+分光损耗+分光附加损耗+活动接头损耗 (dB) 光纤损耗，是光信号在光纤中传输时光功率消耗引起的，在设计时1310nm通常按每km0.4dB计算，1550nm通常按0.25dB计算。某一光路光纤损耗的dB数，换算成该路单路功率损耗mW数按下式计算： 某单路功率损耗=100.1光纤损耗（mW） （某路）分光比K=某单路功率损耗/各路功率损耗总和 （某路）分光损耗= -10lg K (dB) 分光损耗，实际上是分光时的光功率转移造成的，不是光功率的消耗引起的，因此在计算分光比时不能将它计算进去。但是在计算光链路总损耗时必须将它加进去。 分光附加损耗，是分光时的分光器自身消耗了光功率造成的；活动接头损耗也是其自身消耗了光功率造成的，因此这两项本来应该在计算分光比时都加进和光纤损耗中，算出三者的总损耗dB数，然后换算出损耗总功率数mW，再据此计算出分光比，这样计算得出的最后计算结果最为准确。但是由于分光附加损耗和活动接头损耗的量值，比光纤损耗要小得多，而且各条光链路的数值基本相等，在计算分光比时把各条光路的这两项数值统统忽略不计，对分光比计算结果的影响很
微小。因此，通常在计算分光比时都把分光附加损耗和活动接头损耗忽略不计，仅仅将光纤损耗换算成光功率来计算分光比。但是在计算光链路总损耗的时候，这两项数值都要计算进去。 分光器附加损耗的大小，和分光路数的多少有关，设计时可从表1中选取数值。 表1 分光器的附加损耗值 分光 路数 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 16 损耗 dB 0.20 0.30 0.40 0.45 0.50 0.55 0.60 0.70 0.80 0.90 1.00 1.20
G652D光纤宏弯损耗测试方法 摘要：实现了一种全集成可变带宽中频宽带低通滤波器，讨论分析了跨导放大器-电容(OTA—C)连续时间型滤波器的结构、设计和具体实现，使用外部可编程电路对所设计滤波器带宽进行控制，并利用ADS软件进行电路设计和仿真验证。仿真结果表明，该滤波器带宽的可调范围为1～26 MHz，阻带抑制率大于35 dB，带内波纹小于0．5 dB，采用1．8 V电源，TSMC 0．18μm CMOS工艺库仿真，功耗小于21 mW，频响曲线接近理想状态。关键词：Butte 光纤宏弯损耗测试，在国家标准GB/T9771.3-2008中描述为：光纤以30mm半径松绕100圈，在1625nm测得的宏弯损耗应不超过0.1dB。 而注2中描述：为了保证弯曲损耗易于测量和测量准确度，可用1圈或几圈小半径环光纤代替100圈光纤进行试验，在此情况下，绕的圈数环的半径和最大允许的弯曲损耗都应该与30mm半径100圈试验的损耗值相适应。 大多光纤厂家都提供Φ60mm*100圈的判断标准，然而，在日常的测试工作中，若要采用方便快捷的实验方法，则倾向于按照注2中的建议去进行一些常规判断。因此，掌握Φ32mm*1圈与Φ60mm*100圈的数据差异就十分有必要。 Φ32mm*1宏弯测试更为简便 两种宏弯损耗测试方法示意图如图1所示。 用上述方法对10盘正常生产条件下的光纤样品进行对比测试。 分别在1310nm、1550nm、1625nm三种波长下，对10盘光纤样品的宏弯平均值、标准偏差进行统计，最后将全部数据汇总，得到图2。 从整体数据汇总图可看出，Φ32mm*1宏弯测试方法所得数据的平均值和标准偏差都比Φ60mm*100的要小，且数据相对稳定，重复性好。当然所抽样品也不是完全都遵循此规律，10个样品中有3个样品在1625nm窗口下Φ32mm*1 所得数据的平均值大于Φ60mm*100所测得的;还有1个样品在1550nm、1625nm窗口下所得数据的标准偏差大于Φ60mm*100的。 10个样品用两种测试方法所得数据的平均值和标准偏差相差不大，处于一个数据等级内。Φ32mm*1的判断标准应考虑的与60mm*100比较接近。
目录 1、概述-----------------------------------2 2、技术指标-------------------------------3 3、组成-----------------------------------4 4、功能说明-------------------------------4 5、使用说明-------------------------------6 6、测量数据记录---------------------------8 7、注意事项和常见故障----------------------9 8、维护及保养-----------------------------11 9、质量保证------------------------------12
1．概述 插回损测试仪是集合自身多年的光纤无源器件和光通信检测仪表的生产和测试经验，充分借鉴了国内外仪表的优点和国内客户的需求，精心研制开发出来的一款精密光检测仪表。它广泛应用于光纤光缆、光无源器件和光纤通信系统的插损和回损测试，是广大生产厂商、科研机构和运营商用于生产检测、研究开发和工程施工维护基本的测试仪器。 （一）特点 (1)测试精度高 通过内置高稳定的激光器，最先进的微电子技术和光检测设备，结合软件技术，使得仪器输出功率稳定、检测速度快、测试范围广。(2)波长自动同步设定 在回损模式下，光源与功率计波长同步切换，不需分别设定波长。功率计模式时，可另行单独设定功率计测试波长。 (3)多种工作模式 该测试仪表集成了回波损耗测试、光功率模块测试和插入损耗测试。 (4)操作简单方便 回损/插损同步测量，无需按键切换。回损/插损测试值分别在一台仪器上的两个液晶窗口同时显示，测试结果一目了然。通过操作“Zero按键”。和“Ref按键”程序会自动保存相应的校正数据，当仪器断电后再开机，被保存的数据立即生效不需要重复校准，简化测试过程。(5)人体工学设计 仪器采用高质量金属外壳，确保仪器性能不受生产环境下可能存在的电气干扰。经久耐用的按键具有完美舒适的手感。 (6)光源/光功率计接口采用灵巧设计，便于清洁 光源/光功率计均采用活动接口，可轻易卸下以便对光探测器进行清洁或更换其它型号适配器如（FC/SC/ST/2.5mm通用/1.25mm通用/MT-RJ 等，用于测试各种型号跳线。）同时也便于对光源接口内侧APC适配器的清洁。(注意：拆卸时，只需旋转光源/光功率计接口并拔下接口即可) (7)USB通讯接口
光纤损耗测试方法及其注意事项 1 引言 随着应用和用户对带宽需求的进一步增加，光纤链路对满足高带宽方面的巨大优势逐步体现，光纤的使用越来越多。在施工中，无论是布线施工人员，还是网络维护人员，都有必要掌握光纤链路测试的技能。 2004年2月颁布的TIA/ TSB-140测试标准，旨在说明正确的光纤测试步骤。该标准建议了两级测试，分别为： Tier 1（一级），使用光缆损耗测试设备（OLTS）来测试光缆的损耗和长度，并依靠OLTS或者可视故障定位仪（VFL）验证极性； Tier 2（二级），包括一级的测试参数，还包括对已安装的光缆链路的OTDR追踪。 根据TSB-140标准，对于一条光纤链路来说，一级测试主要包括两个参数：长度和损耗。事实上，早在标准ANSI/TIA/EIA-526-14A 和ANSI/TIA/EIA-526-7中，已经分别对多模和单模光纤链路的损耗测试，定义了三种测试方法（长度的测量，取决于仪表是否支持，如果仪表支持，在测试损耗的同时，长度同时也会测量）。为了方便，本文中分别称为：方法A、方法B和方法C。TSB－140就是在这基础上发展而来，与此兼容。 本文主要就这三种方法各自的特点、操作方法、应该使用的场合进行分析和阐述。另外，对光纤链路的测试中需要注意的问题进行分析。 2 如何测试光纤链路损耗 光纤链路损耗的测试，包含两大步骤：一是设置参考值（此时不接被测链路），二是实际测试（此时接被测链路）。 标准中定义了三种测试损耗的方法（以双向测试为例）： 2.1 测试方法A 方法A设置参考值时，采用两条光纤跳线和一个连接器（考虑一个方向，如图1）。设置参考值后，将被测链路接进来（如图2），进行测试。 图1 图2 每个方向的测试结果中包括光纤和一端的连接器的损耗。因此，方法 A 是用来测试这种光缆链路：光纤链路一端有连接器，另一端没有。 2.2 测试方法B 方法B设置参考值时，只使用了一条光纤跳线（考虑一个方向，如图3）。设置参考值后，将被测链路接进来（如图4），进行测试。 图3 图4 这种方法的测试结果中，包括光纤链路和两端连接的损耗。因此，方法B是用来测试这种光缆链路：链路两端都有连接器，其连接器的损耗是整个损耗的重要部分。这就是室内光缆的常见例子。 从技术角度讲，测试结果中还包括了额外的光纤跳线（3－4）的损耗，但是其长度较短，损耗可以忽略不计。对室内光缆网络，这种方法提供了精确的光缆链路测试，因为它包括了光缆本身以及电缆两端的连接器。 2.3 测试方法C 方法C设置参考值时，使用三条光纤和两个连接器（单方向，见图5），其中两个连接
ST单模跳线产品说明书 光纤连接器(又称跳线)是光缆两端连接器插头，用以实现光路活动连接；一端装有插头则称为尾纤。单模光纤连接器接头连接类型有FC、SC、ST；端面接触方式有PC、UPC、APC 型。 应用 Applications 1）光纤通信系统Optic-fiber Communication Systems 2）光纤接入网Optic-fiber Accesss Networks 3）局域网LAN 4）光纤传感器Optic-fiber Sensors 5）光纤数据传输Optic-fiber Data Communications 6）光纤CATV Optic-fiber CATV 7）测试设备Test Equipments 光纤类型Fiber Type Corning SMF-28TM，9/125um
FC单模跳线产品说明书 光纤连接器(又称跳线)是光缆两端连接器插头，用以实现光路活动连接；一端装有插头则称为尾纤。单模光纤连接器接头连接类型有FC、SC、ST；端面接触方式有PC、UPC、APC型。 应用 Applications 1）光纤通信系统Optic-fiber Communication Systems 2）光纤接入网Optic-fiber Accesss Networks 3）局域网LAN 4）光纤传感器Optic-fiber Sensors 5）光纤数据传输Optic-fiber Data Communications 6）光纤CATV Optic-fiber CATV 7）测试设备Test Equipments 特点 Features 1）插入损耗低 Low linsertion Loss 2）回波损耗大 High Retum Loss 3）温度稳定性高 Easily lnstalled High Temperature Stability 4）重复性好 Good Repeatity 5）互换性能好 High Exchangeability
S参数与反射系数、插损、回损、驻波比 S参数就是建立在入射波、反射波关系基础上的网络参数，适于微波电路分析，以器件端口的反射信号以及从该端口传向另一端口的信号来描述电路网络。 S参数的基本定义： S11：端口2匹配时，端口1的反射系数Г及输入驻波，描述器件输入端的匹配情况，S11=a2/a1; 也可用输入回波损耗RL=2Olg(Г)（能量方面的反应）表示。 S22：端口1匹配时，端口2输出驻波，描述器件输出端的匹配情况，S22=b2/b1。 S21：增益或插损，描述信号经过器件后被放大的倍数或者衰减量。S21=b1/a1. 对于无源网络即传输系数T或插损，对放大器即增益。 S12：反向隔离度，描述器件输出端的信号对输入端的影响，S12=a2/b2。 S参数的特点： 1、对于互易网络有S12＝S21 2、对于对称网络有S11＝S22 3、对于无耗网络，有S11*S11+S21*S21＝1，即网络不消耗任何能量，从端口1输入的能量不是被反射回端口1就是传输到端口2上 4、在高速电路设计中用到的微带线或带状线，都有参考平面，为不对称结构（但平行双导线就是对称结构），所以S11不等于S22，但满足互易条件，总是有S12＝S21。 假设Port1为信号输入端口，Port2为信号输出端口，则我们关心的S参数有两个：S11和S21 S11表示回波损耗，也就是有多少能量被反射回源端（Port1）了，这个值越小越好，一般建议S11<0.1，即－20dB； S21表示插入损耗，也就是有多少能量被传输到目的端（Port2）了，这个值越大越好，理想值是1，即0dB，越大传输的效率越高，一般建议S21>0.7，即－3dB。
1引言 由于应用和用户对带宽需求的进一步增加和光纤链路对满足高带宽方面的巨大优势，光纤的使用越来越多。无论是布线施工人员，还是网络维护人员，都有必要掌握光纤链路测试的技能。 2004年2月颁布的TIA/TSB-140测试标准，旨在说明正确的光纤测试步骤。该标准建议了两级测试，分别为： Tier1（一级），使用光缆损耗测试设备（OLTS）来测试光缆的损耗和长度，并依靠OLTS或者可视故障定位仪（VFL）验证极性； Tier2（二级），包括一级的测试参数，还包括对已安装的光缆链路的OTDR追踪。? 根据TSB-140标准，对于一条光纤链路来说，一级测试主要包括两个参数：长度和损耗。事实上，早在标准ANSI/TIA/EIA-526-14A和ANSI/TIA/EIA-526-7中，已经分别对多模和单模光纤链路的损耗测试，定义了三种测试方法（长度的测量，取决于仪表是否支持，如果仪表支持，在测试损耗的同时，长度同时也会测量）。为了方便，我们分别称为：方法A、方法B和方法C。TSB－140就是在这基础上发展而来，与此兼容。 那么这三种方法各有什么特点，怎么操作，应该在什么场合下使用呢？这正是本文要阐述的问题。另外，光纤链路的测试，不同于双绞线链路的测试，又有什么地方需要注意或者有什么原则可以遵循呢？这也是本文想与读者分享的内容。 2如何测试光纤链路损耗 光纤链路损耗的测试，包含两大步骤：一是设置参考值（此时不接被测链路），二是实际测试（此时接被测链路）。 下面我们具体介绍一下标准中定义的三种测试损耗的方法（以双向测试为例）。 2.1测试方法A 方法A设置参考值时，采用两条光纤跳线和一个连接器（考虑一个方向，如下图上半部分）。设置参考值后，将被测链路接进来（如下图下半部分），进行测试。
■变更内容 : Contents of document change:
1.目的 为本公司外购的FC型、SC型和ST-PC型适配器提供检验依据。 2.范围 适用于FC型、SC型和ST-PC型适配器整套的入库或出厂前的检验。 3.引用文件 3.1 《计数抽样检验程序-第1部分：按接收质量限（AQL）检索的逐批检验抽样计划》GB/T2828.1—2003 3.2《光纤活动连接器FC型第4部分》 YD/T1272.4-2007 3.3《光纤活动连接器SC型第3部分》 YD/T1272.3-2005 3.4《光纤活动连接器LC型第1部分》 YD/T1272.1-2003 4.使用设备 4.1 插损回损测试仪：用于光学性能的测试。 4.2 电子数显卡尺：尺寸的测量。 4.3 M8×0.75-6g的螺纹环规（通/止），M9×0.75的螺纹环规（通/止）：检测螺纹。 5.正文 5.1抽样方案 按《计数抽样检验程序-第1部分：按接收质量限（AQL）检索的逐批检验抽样计划》 GB/T2828.1—2003中“一般检验水平Ⅱ”抽取样本，AQL=0.65。 5.2光学性能（使用1550 nm波长进行测试） A.合格标示及出厂检测报告齐全（报告中必须包含陶瓷套筒检测报告）； B.表面平滑、洁净，无油污及毛边，无伤痕和裂纹，颜色鲜明、一致性好； C.陶瓷套筒不得有碎裂；（Ac/Re=0/1） D.连接器插头与适配器的插入和拔出须平顺、轻松，不得有明显的紧涩感或窜动感； E.包装盒简洁，使用吸塑盒进行保护包装； F.每个适配器均用保护帽盖好； G.每小盒必须有合格标示。 5.4尺寸要求 5.4.1 FC型适配器 A.2E=7.4 0-0.20；
光连接器基础知识 一、基本概念（术语） 1、光纤（活动）连接器：是实现将光纤光缆和光纤光缆之间、光纤光缆和有源器件、 光纤光缆和其它无源器件、光纤光缆和系统与仪表进行活动连接的光无源器件（连 接器的作用）。整套光连接器的组成：插头—适配器—插头。 2、光跳线：两端都装有插头的一段光纤或光缆。 3、光纤：是一种利用光全反射原理传导光信号的玻璃纤维。主要成分：SiO2.光纤由纤 芯、包层和涂敷层构成，纤芯的折射率nl大于包层的折射n2.纤芯的作用是传导光 信号，包层的作用是反射光信号，涂敷层的作用是保护光纤，增加光纤的机械强度 和柔韧性。光纤可分为单模光纤（9/125μ）和多模光纤（50/125或62.5/125）。 4、光缆：光缆由护套、加强构件、紧套（或松套）层和涂敷光纤组成。生产跳线采用 的光缆一般有：φ3.0单芯光缆、φ2.0单芯光缆、φ0.9紧套光缆，双芯平行光缆、防水尾缆、束状光缆和带状光缆等。 5、插入损耗：是指光信号通过光连接器之后，光信号的衰减量。一般用分贝数（dB） 表示。表达式为： IL=-10LOG(P1/P0)(d B) 其中P0——输入端的光功率 P1——输出端的光功率 6、回波损耗：也称后向反射损耗，是由于光连接处的非涅尔效应而产生的反射信号， 该信号沿光纤原路返回，会对光源和系统产生不良影响。回波损耗的表达式为： RL=-10LOG(P2/P0) 其中P0—输入端的光功率 P1—后向反射光功率 二、光连接器基本结构原理 图1 光纤连接器精密对中原理 一般均采用精密小孔插芯（Ferrule）和套筒（sleeve）来实现光纤的精确连接。 影响连接器插入损耗的主要因素有： 1、纤芯错位 2、角度偏差 3、连接间隙 4、不同种光纤（数值孔径不同）
工信部颁YDJ44-89《电信网光纤数字传输系统施工及验收暂行规定》简称《暂规》，对光纤接续损耗的测量方法做了规定，但没有规定明确的标准。原信产部郑州设计院在中国电信南九试验段以后的工程中提出了中继段单纤平均接续损耗0.08dB/个的设计标准，以后的干线工程均沿用。 1、光纤衰减：1310nm波长，0.35dB/km；1490nm波长，0.22dB/km。 2、光活动连接器插入衰减：0.5dB/个（尾纤连接）。 3、光纤熔接接头衰减：束状光缆0.1dB/每个接头，带状光缆0.2db/每个接头。 4、冷接子双向平均值为0.15dB/每个接头。 互联网(Dedicated Internet Access)测试计算方法： 在计算机网络、IDC机房中，其宽带速率的单位用bps(或b/s)表示；换算关系为：1Byte=8bit 1B=8b----------1B/s=8b/s(或1Bps=8bps) 1KB=1024B----------1KB/s=1024B/s 1MB=1024KB----------1MB/s=1024KB/s 在实际上网应用中，下载软件时常常看到诸如下载速度显示为128KB（KB/s），103KB/s等等宽带速率大小字样，因为ISP提供的线路带宽使用的单位是比特，而一般下载软件显示的是字节（1字节＝8比特），所以要通过换算，才能得实际值。然而我们可以按照换算公式换算一下： 128KB/s=128×8(Kb/s)=1024Kb/s=1Mb/s即：128KB/s=1Mb/s 理论上：2M（即2Mb/s）宽带理论速率是：256KB/s（即2048Kb/s），实际速率大约为80--200kB/s；(其原因是受用户计算机性能、网络设备质量、资源使用情况、网络高峰期、网站服务能力、线路衰耗，信号衰减等多因素的影响而造成的)。
1 光器件的回损测量 引言：随着宽带接入如 LTE, FTTX 的应用越来越多，骨干光纤通信带宽越来越大，光纤本身的和光 纤系统中的无源光器件都变得越来越复杂，光纤系统中无源器件的反射对更高速率的通信系统性 能的影响越发显著，人们对光纤无源器件回波损耗指标测试的关注度在持续上升。 光纤无源器件的回损测试方案自光纤通信系统开始就有了，早期的典型测试仪表如：JDSU 公 司的 RX Meter, Agilent 公司的 816xx 系列。这些测试仪表的共同特点是：测试方法采用标准的连 续光方法，即 IEC 建议的 OCWR(Optical Continuous Wave Reflectometer)法，测量时通常需要用缠 绕光纤的方法消除额外反射，测量回损的范围在 70dB 以下。随着光纤通信技术的进步，测试仪 表也在发展，使用 OCWR 方法的测试仪技术非常成熟，随着竞争产品的越来越多，这两种仪表都 早已停止生产。 使用 OCWR 方法测量回损存在许多限制，如：测试步骤多，需要过程复杂的系统校“零”， 不能一次连接进行插损/回损的测试，不能区分瑞利散射和菲涅尔反射回损，只适用于≤55dB 的 回损测量等[1]。 另一方面，由于这些限制，在很多应用场合下不适合或者无法使用 OCWR 法进行测量，如： 无法弯曲也不允许破坏接头的光缆接头盒，特种光缆，MPO 接头等。 图 1：无法弯曲的光纤接头 为了解决这些问题，我们需 要采用其他的回损测量方法，如 OTDR 法。为了比较 OCWR 和 OTDR 两种测量方法，让我们首先回顾一下回损测试的原理以及 IEC61300‐3‐6 对回损测试方法的描 述。 1. 原理和测量方法 1.1 回损的来源 按照 IEC61300‐3‐6 的定义，回损是指在器件输入端、光纤接头或者定义的某一段光路上反射 光功率[mW]与入射光功率[mW]的比值。