传导骚扰抗扰度(CS) 1.传导骚扰抗扰度 1.1 传导骚扰抗扰度概述 本标准主要介绍国际标准IEC61000-4-6:2006，对应国家标准GB/T17626.6：1998《电磁兼容试验和测量技术射频场感应的传导骚扰抗扰度》的试验方法。 1.2 传导骚扰抗扰度试验目的和应用场合 本标准所涉及的主要骚扰源是来自9kHz~80MHz频率范围内射频发射机产生的电磁场。该电磁场会作用于电气、电子设备的电源线、通信线和接口电缆等连接线路上，这些连接引线的长度则可能与干扰频率的几个波长相当，因此，这些引线就变成被动天线，接受外界电磁场的感应，引线电缆就可以通过传导方式耦合外界干扰到设备内部（最终以射频电压和电流所形成的近场电磁骚扰到设备内部）对设备产生干扰。从而影响设备的正常运行。所以，本标准的目的主要是建立一个评估射频场感应的传导骚扰抗扰度性能的公共参考，为有关产品的专业技术委员会或用户和制造商提供一个基本参考。 2 传导骚扰抗扰度常见术语 2.1 人工手 模拟正常工作条件下，手持式电气设备和地之间的人体阻抗的电网络
2.2 辅助设备 为受试设备正常运行提供所需信号的设备和检验受试设备性能的设备。 2.3 注入钳 u 电流钳 由被注入信号的电缆构成的二次绕组实现的电流变换器。 u 电磁钳 由电容和电感耦合相组合的注入装置。 2.4 共模阻抗 在某一端口上共模电压和共模电流之比。 2.5 耦合系数 在耦合装置的受试设备端口所获得的开路电压（电动势）与信号发生器输出端上的开路电压的比值 2.6 耦合网络 以规定的阻抗从一电路到另一电路传输能量的电路。 2.7 去耦网络
《计算机图形学》实验报告姓名：郭子玉 学号：2012211632 班级：计算机12-2班 实验地点：逸夫楼507 实验时间：15.04.10 15.04.17
实验一 1 实验目的和要求 理解直线生成的原理；掌握典型直线生成算法；掌握步处理、分析实验数据的能力； 编程实现DDA 算法、Bresenham 中点算法；对于给定起点和终点的直线，分别调用DDA 算法和Bresenham 中点算法进行批量绘制，并记录两种算法的绘制时间；利用excel 等数据分析软件，将试验结果编制成表格，并绘制折线图比较两种算法的性能。 2 实验环境和工具 开发环境：Visual C++ 6.0 实验平台：Experiment_Frame_One （自制平台） 3 实验结果 3.1 程序流程图 （1）DDA 算法 是 否 否 是 是 开始 计算k ，b K<=1 x=x+1;y=y+k; 绘点 x<=X1 y<=Y1 绘点 y=y+1;x=x+1/k; 结束
（2）Mid_Bresenham 算法 是 否 否 是 是 是 否 是 否 开始 计算dx,dy dx>dy D=dx-2*dy 绘点 D<0 y=y+1；D = D + 2*dx - 2*dy; x=x+1; D = D - 2*dy; x=x+1; x 3.2程序代码 //-------------------------算法实现------------------------------// //绘制像素的函数DrawPixel(x, y); (1)DDA算法 void CExperiment_Frame_OneView::DDA(int X0, int Y0, int X1, int Y1) { //----------请实现DDA算法------------// float k, b; float d; k = float(Y1 - Y0)/float(X1 - X0); b = float(X1*Y0 - X0*Y1)/float(X1 - X0); if(fabs(k)<= 1) { if(X0 > X1) { int temp = X0; X0 = X1; X1 = temp; } 笃实务实 立信守信 敬业精业 创新求新 南京磐能电力科技股份有限公司——配网事业部 1 快速瞬变抗扰度测试 测试型号： 测试人员： 测试日期： 测试要求：对各回路进行试验：脉冲群周期为300ms ，测试时间每次60s ，重复频率为5KHz 脉冲群持续时间为15ms 及重复频率为100KHz 脉冲群持续时间为0.75ms 分别进行测试；试验期间允许出现短时通信中断和液晶显示瞬时闪屏，试验结束后能恢复通信。终端不能出现复位、死机、硬件损坏等现象。 测试记录表 序号 测试项目 测试对象 测试方法及要求 测试记录 结果 1 交流电源回路 L ：±4kV ； N ：±4kV ； PE ：±4kV ； L 、N ：±4kV ； L 、PE ：±4kV ； N 、PE ：±4kV ； L 、N 、PE ：±4kV ； 5KHz 、15ms 100KHz 、0.75ms 测试期间：终端运行无复位、死机现象； 测试期间：终端通讯无误报、中断现象； 测试结束：模拟量改变量不大于±1%； 测试结束：遥信变位10次，均显示正确； 测试结束：遥控操作10次，均动作正确； 2 交流电压回路 PT 对地：±4kV ； 5KHz 、15ms 及 100KHz 、0.75ms 测试期间：终端运行无复位、死机现象； 测试期间：终端通讯无误报、中断现象； 测试结束：模拟量改变量不大于±1%； 测试结束：遥信变位10次，均显示正确； 测试结束：遥控操作10次，均动作正确； 3 交流电流回路 CT 对地：±4kV ； 5KHz 、15ms 及 100KHz 、0.75ms 测试期间：终端运行无复位、死机现象； 测试期间：终端通讯无误报、中断现象； 测试结束：模拟量改变量不大于±1%； 测试结束：遥信变位10次，均显示正确； 测试结束：遥控操作10次，均动作正确； 4 遥信输入回路 开入对地：±4kV ； 5KHz 、15ms 及 100KHz 、0.75ms 测试期间：终端运行无复位、死机现象； 测试期间：终端通讯无误报、中断现象； 测试结束：模拟量改变量不大于±1%； 4.1 综述 电磁兼容所说的瞬态脉冲是指干扰脉冲是断续性的，一般具有较高的干扰电压，较快速的脉冲上升时间，较宽的频谱范围。一般包括：静电放电、电快速瞬变脉冲群、浪涌冲击等。由于它们具有以上共同特点，因此在试验结果的判断及抑制电路上有较大的共同点。在此处先进行介绍。 4.1.1 瞬态脉冲抗扰度测试常见的试验结果说明 对不同试验结果，可以根据该产品的工作条件和功能规范按以下内容分类： A：技术要求范围内的性能正常； B：功能暂时降低或丧失，但可自行恢复性能； C：功能暂时降低或丧失，要求操作人员干预或系统复位； D：由于设备（元件）或软件的损坏或数据的丧失，而造成不可恢复的功能降低或丧失。 符合A的产品，试验结果判合格。这意味着产品在整个试验过程中功能正常，性能指标符合技术要求。 符合B的产品，试验结果应视其产品标准、产品使用说明书或者试验大纲的规定，当认为某些影响不重要时，可以判为合格。 符合C的产品，试验结果除了特殊情况并且不会造成危害以外，多数判为不合格。 符合D的产品判别为不合格。 符合B和C的产品试验报告中应写明B类或C类评判依据。符合B类应记录其丧失功能的时间。 4.1.2常用的瞬态脉冲抑制电路： 4.1.2.1 箝位二极管保护电路： 图10二极管保护电路 工作原理如图10。 使用2只二极管的目的是为了同时抑制正、负极性的瞬态电压。瞬态电压被箝位在V++VPN~V--VPN范围内，串联电阻担负功率耗散的作用。利用现有电源的电压范围作为瞬态电压的抑制范围，二极管的正向导通电流和串联电阻的阻值决定了该电路的保护能力。本电路具有极好的保护效果，同时其代价低廉，适合成本控制比较严、静电放电强度和频率不十分严重的场合。 4.1.2.2 压敏电阻保护电路： 压敏电阻的阻值随两端电压变化而呈非线性变化。当施加在其两端的电压小于阀值电压时，器件呈现无穷大的电阻；当施加在其两端的电压大于阀值电压时，器件呈现很小电阻值。此物理现象类似稳压管的齐纳击穿现象，不同的是压敏电阻无电压极性要求。使用压敏电阻保护电路的特点是简单、经济、瞬态抑制效果好，且可以获得较大的保护功率。 4.1.2.3 稳压管保护电路： 背对背串接的稳压管对瞬态抑制电路的工作原理是显而易见的。当瞬态电压超过V1的稳压值时，V1反向击穿，V2正向导通；当瞬态电压是负极性时，V2反向击穿，V1正向导通。将这2只稳压管制作在同一硅片上就制成了稳压管对，使用更加方便。 4.1.2.4 TVS（瞬态电压抑制器）二极管： 这是最近发展起来的一种固态二极管，适用用于ESD保护。一般选择工作电压大于或等于电路正常工作电压的器件。TVS二极管是和被保护电路并联的，当瞬态电压超过电路的正常工作电压时，二极管发生雪崩，为瞬态电流提供通路，使内部电路免遭超额电压的击穿或超额电流的过热烧毁。由于TVS二极管的结面积较大，使得它具有泄放瞬态大电流的优点，具有理想的保护作用。但同时必须注意，结面积大造成结电容增大，因而不适合高频信号电 中南大学信息科学与工程学院 实验报告实验名称 实验地点科技楼四楼 实验日期2014年6月 指导教师 学生班级 学生姓名 学生学号 提交日期2014年6月 实验一Window图形编程基础 一、实验类型：验证型实验 二、实验目的 1、熟练使用实验主要开发平台VC6.0； 2、掌握如何在编译平台下编辑、编译、连接和运行一个简单的Windows图形应用程序； 3、掌握Window图形编程的基本方法； 4、学会使用基本绘图函数和Window GDI对象； 三、实验内容 创建基于MFC的Single Document应用程序（Win32应用程序也可，同学们可根据自己的喜好决定），程序可以实现以下要求： 1、用户可以通过菜单选择绘图颜色； 2、用户点击菜单选择绘图形状时，能在视图中绘制指定形状的图形； 四、实验要求与指导 1、建立名为“颜色”的菜单，该菜单下有四个菜单项：红、绿、蓝、黄。用户通过点击不同的菜单项，可以选择不同的颜色进行绘图。 2、建立名为“绘图”的菜单，该菜单下有三个菜单项：直线、曲线、矩形 其中“曲线”项有级联菜单，包括：圆、椭圆。 3、用户通过点击“绘图”中不同的菜单项，弹出对话框，让用户输入绘图位置，在指定位置进行绘图。 五、实验结果： 六、实验主要代码 1、画直线：CClientDC *m_pDC;再在OnDraw函数里给变量初始化m_pDC=new CClientDC(this); 在OnDraw函数中添加： m_pDC=new CClientDC(this); m_pDC->MoveTo(10,10); m_pDC->LineTo(100,100); m_pDC->SetPixel(100,200,RGB(0,0,0)); m_pDC->TextOut(100,100); 2、画圆： void CMyCG::LineDDA2(int xa, int ya, int xb, int yb, CDC *pDC) { int dx = xb - xa; int dy = yb - ya; int Steps, k; float xIncrement,yIncrement; float x = xa,y= ya; if(abs(dx)>abs(dy)) 射频电路板抗干扰设计摘要:为保证电路性能,在进行射频电路印制电路板( PCB)设计时应考虑电磁兼容性,这对于减小系统电磁信息辐射具有重要的意义。文中重点讨论按元器件的布局与布线原则来最大限度地实现电路的性能指标,达到抗干扰的设计目的。通过几个实验测试事例,分析了影响印制板抗干扰性能的几个不同因素,说明了印制板制作过程中应采取的实际的解决办法。 引言随着通信技术的发展,无线射频电路技术运用越来越广,其中的射频电路的性能指标直接影响整个产品的质量,射频电路印制电路板( PCB)的抗干扰设计对于减小系统电磁信息辐射具有重要的意义。射频电路PCB的密度越来越高, PCB设计的好坏对抗干扰能力影响很大,同一电路,不同的PCB设计结构,其性能指标会相差很大。电磁干扰信号如果处理不当,可能造成整个电路系统的无法正常工作,因此如何防止和抑制电磁干扰,提高电磁兼容性,就成为设计射频电路PCB时的一个非常重要的课题。 电磁兼容性EMC是指电子系统在规定的电磁环境中按照设计要求能正常工作的能力。电子系统所受的电磁干扰不仅来自电场和磁场的辐射,也有线路公共阻抗、导线间耦合和电路结构的影响。在研制设计电路时,希望设计的印制电路板尽可能不易受外界干扰的影响,而且也尽可能小地干扰影响别的电子系统。 设计印制板首要的任务是对电路进行分析,确定关键电路。这就是要识别哪些电路是干扰源,哪些电路是敏感电路,弄清干扰源可能通过什么路径干扰敏感电路。射频电路工作频率高,干扰源主要是通过电磁辐射来干扰敏感电路,因此射频电路PCB板抗干扰设计的目的是减小PCB板的电磁辐射和PCB 板上电路之间的串扰。 1 射频电路板设计 1. 1 元器件的布局 由于SMT一般采用红外炉热流焊来实现元器件的焊接,因而元器件的布局影响到焊点的质量,进而影响到产品的成品率。而对于射频电路PCB设计而言, 电磁兼容性要求每个电路模块尽量不产生电磁辐射,并且具有一定的抗电磁干扰能力,因此元器件的布局也影响到电路本身的干扰及抗干扰能力,直接关系到所设计电路的性能。故在进行射频电路PCB 设计时除了要考虑普通PCB设计时的布局外,主要还须考虑如何减小射频电路中各部分之间的相互干扰、如何减小电路本身对其他电路的干扰以及电路本身的抗干扰能力。 根据经验,射频电路效果的好坏不仅取决于射频电路板本身的性能指标,很大部分还取决于与CPU处理板间的相互影响,因此在进行PCB设计时,合理布局显得尤为重要。布局的总原则是元器件应尽可能同一方向排列,通过选择PCB进入熔锡系统的方向来减少甚至避免焊接不良的现象;根据经验元器件间最少要有 常用的抗扰度试验标准 钱振宇 摘要：详细地介绍了几种抗扰度试验的目的、方法、严酷度等级及要求。 关键词：抗扰度试验，标准，电磁兼容，电源管理 我国电磁兼容认证工作已经起动，第一批实施电磁兼容的产品类别及所含内容也已基本确定，它们是声音和电视广播接收机及有关设备，信息技术设备，家用和类似用途电动、电热器具，电动工具及类似电器、电源、照明电器、车辆机动船和火花点火发动机的驱动装置、金融及贸易结算电子设备、安防电子产品、声音和电视信号的电缆分配系统设备与部件，低压电器。尽管产品不同，引用的产品族测试标准也不同，但其中抗扰度的试验内容基本相同，它们是静电放电、射频辐射电磁场、脉冲群、浪涌、射频场引起的传导干扰和电压跌落等6项。为了帮助读者对这些标准的理解，作者试图从试验目的、仪器特性要求、基本配置情况、标准试验方法和对标准的评述等方面入手，用比较简洁的文字介绍这些试验，以加深对标准的理解。 1IEC61000－4－2（GB/T17626.2）静电放电抗干扰试验 1.1静电放电的起因 静电放电的起因有多种，但IEC61000－4－2（GB/T17626.2）主要描述在低湿度情况下，通过摩擦等因素，使人体积累了静电。当带有静电的人与设备接触时，就可能产生静电放电。 1.2试验目的 试验单个设备或系统的抗静电干扰的能力。它模拟： （1）操作人员或物体在接触设备时的放电。 （2）人或物体对邻近物体的放电。 静电放电可能产生的如下后果： （1）直接通过能量交换引起半导体器件的损坏。 （2）放电所引起的电场与磁场变化，造成设备的误动作。 1.3静电放电的模拟 图1和图2分别给出了静电放电发生器的基本线路和放电电流的波形。 图1静电放电发生器 图2静电放电的电流波形 图1中高压真空继电器是目前唯一的能够产生重复与高速的放电波形的器件（放电开关）。图2是标准放电电流波形，图中Im表示电流峰值，上升时间tr=（0.7～1）ns。放电线路中的储能电容CS代表人体电容，现公认150pF比较合适。放电电阻Rd为330Ω，用以代表 目录 实验一直线的DDA算法 一、【实验目的】 1.掌握DDA算法的基本原理。 2.掌握DDA直线扫描转换算法。 3.深入了解直线扫描转换的编程思想。 二、【实验内容】 1.利用DDA的算法原理，编程实现对直线的扫描转换。 2.加强对DDA算法的理解和掌握。 三、【测试数据及其结果】 四、【实验源代码】 #include #include RF电路的PCB设计技巧 如今PCB的技术主要按电子产品的特性及要求而改变，在近年来电子产品日趋多功能、精巧并符合环保条例。故此，PCB的精密度日高，其软硬板结合应用也将增加。 PCB是信息产业的基础，从计算机、便携式电子设备等，几乎所有的电子电器产品中都有电路板的存在。随着通信技术的发展，手持无线射频电路技术运用越来越广，这些设备(如手机、无线PDA等)的一个最大特点是：第一、几乎囊括了便携式的所有子系统；第二、小型化，而小型化意味着元器件的密度很大，这使得元器件（包括SMD、SMC、裸片等）的相互干扰十分突出。因此，要设计一个完美的射频电路与音频电路的PCB，以防止并抑制电磁干扰从而提高电磁兼容性就成为一个非常重要的课题。 因为同一电路，不同的PCB设计结构，其性能指标会相差很大。尤其是当今手持式产品的音频功能在持续增加，必须给予音频电路PCB布局更加关注.据此本文对手持式产品RF电路与音频电路的PCB的巧妙设计（即包括元件布局、元件布置、布线与接地等技巧）作分析说明。 1、元件布局 先述布局总原则：元器件应尽可能同一方向排列，通过选择PCB进入熔锡系统的方向来减少甚至避免焊接不良的现象；由实践所知，元器件间最少要有 0.5mm的间距才能满足元器件的熔锡要求，若PCB板的空间允许，元器件的间距应尽可能宽。对于双面板一般应设计一面为SMD及SMC元件，另一面则为分立元件。 1.1 把PCB划分成数字区和模拟区 任何PCB设计的第一步当然是选择每个元件的PCB摆放位。我们把这一步称为“布板考虑“。仔细的元件布局可以减少信号互连、地线分割、噪音耦合以及占用电路板的面积。 电磁兼容性要求每个电路模块PCB设计时尽量不产生电磁辐射，并且具有一定的抗电磁干扰能力，因此，元器件的布局还直接影响到电路本身的干扰及抗干扰能力，这也直接关系到所设计电路的性能。 计算机图形学 实验报告 姓名：谢云飞 学号：20112497 班级：计算机科学与技术11-2班实验地点：逸夫楼507 实验时间：2014.03 实验1直线的生成 1实验目的和要求 理解直线生成的原理；掌握典型直线生成算法；掌握步处理、分析 实验数据的能力； 编程实现DDA算法、Bresenham中点算法；对于给定起点和终点的 直线，分别调用DDA算法和Bresenham中点算法进行批量绘制，并记 录两种算法的绘制时间；利用excel等数据分析软件，将试验结果编 制成表格，并绘制折线图比较两种算法的性能。 2实验环境和工具 开发环境：Visual C++ 6.0 实验平台：Experiment_Frame_One（自制平台）。 本实验提供名为 Experiment_Frame_One的平台，该平台提供基本 绘制、设置、输入功能，学生在此基础上实现DDA算法和Mid_Bresenham 算法，并进行分析。 ?平台界面：如错误！未找到引用源。所示 ?设置：通过view->setting菜单进入，如错误！未找到引 用源。所示 ?输入：通过view->input…菜单进入.如错误！未找到引用 源。所示 ?实现算法： ◆DDA算法：void CExperiment_Frame_OneView::DDA(int X0, int Y0, int X1, int Y1) Mid_Bresenham法：void CExperiment_Frame_OneView::Mid_Bresenham(int X0, int Y0, int X1, int Y1) 3实验结果 3.1程序流程图 1）DDA算法流程图：开始 定义两点坐标差dx，dy，以及epsl，计数k=0，描绘点坐标x,y，x增 量xIncre，y增量yIncre ↓ 输入两点坐标x1,y1,x0,y0 ↓ dx=x1-x0,dy=y1-y0; ＿＿＿＿＿＿＿＿＿↓＿＿＿＿＿＿＿＿＿ ↓↓ 若|dx|>|dy| 反之 epsl=|dx| epsl=|dy| ↓＿＿＿＿＿＿＿＿...＿＿＿＿＿＿＿＿↓ ↓ xIncre=dx/epsl; yIncre=dy/epsl ↓ 填充(强制整形)(x+0.5,y+0.5); ↓←←←← 横坐标x+xIncre; 纵坐标y+yIncre; ↓↑ 若k<=epsl →→→k++ ↓ 结束 2）Mid_Bresenham算法流程图开始 ↓ 定义整形dx,dy,判断值d,以及UpIncre,DownIncre,填充点x,y ↓ 输入x0,y0,x1,y1 ＿＿＿＿＿＿↓＿＿＿＿＿＿ ↓↓ 若x0>x1 反之 x=x1;x1=x0;x0=x; x=x0; 射频电路板抗干扰设 计 射频电路板抗干扰设计摘要:为保证电路性能,在进行射频电路印制电路板( PCB)设计时应考虑电磁兼容性,这对于减小系统电磁信息辐射具有重要的意义。文中重点讨论按元器件的布局与布线原则来最大限度地实现电路的性能指标,达到抗干扰的设计目的。通过几个实验测试事例,分析了影响印制板抗干扰性能的几个不同因素,说明了印制板制作过程中应采取的实际的解决办法。 引言随着通信技术的发展,无线射频电路技术运用越来越广,其中的射频电路的性能指标直接影响整个产品的质量,射频电路印制电路板( PCB)的抗干扰设计对于减小系统电磁信息辐射具有重要的意义。射频电路PCB的密度越来越高, PCB设计的好坏对抗干扰能力影响很大,同一电路,不同的PCB设计结构,其性能指标会相差很大。电磁干扰信号如果处理不当,可能造成整个电路系统的无法正常工作,因此如何防止和抑制电磁干扰,提高电磁兼容性,就成为设计射频电路PCB时的一个非常重要的课题。 电磁兼容性EMC是指电子系统在规定的电磁环境中按照设计要求能正常工作的能力。电子系统所受的电磁干扰不仅来自电场和磁场的辐射,也有线路公共阻抗、导线间耦合和电路结构的影响。在研制设计电路时,希望设计的印制电路板尽可能不易受外界干扰的影响,而且也尽可能小地干扰影响别的电子系统。 设计印制板首要的任务是对电路进行分析,确定关键电路。这就是要识别哪些电路是干扰源,哪些电路是敏感电路,弄清干扰源可能通过什么路径干扰敏感电路。射频电路工作频率高,干扰源主要是通过电磁辐射来干扰敏感电路,因此射频电路PCB板抗干扰设计的目的是减小PCB板的电磁辐射和PCB 板上电路之间的串扰。 1 射频电路板设计 1. 1 元器件的布局 由于SMT一般采用红外炉热流焊来实现元器件的焊接,因而元器件的布局影响到焊点的质量,进而影响到产品的成品率。而对于射频电路PCB设计而言, 电磁兼容性要求每个电路模块尽量不产生电磁辐射,并且具有一定的抗电磁干扰能力,因此元器件的布局也影响到电路本身的干扰及抗干扰能力,直接关系到所设计电路的性能。故在进行射频电路PCB 设计时除了要考虑普通PCB设计时的布局外,主要还须考虑如何减小射频电路中各部分之间的相互干扰、如何减小电路本身对其他电路的干扰以及电路本身的抗干扰能力。 根据经验,射频电路效果的好坏不仅取决于射频电路板本身的性能指标,很大部分还取决于与CPU处理板间的相互影响,因此在进行PCB设计时,合理布局显得尤为重要。布局的总原则是元器件应尽可能同一方向排列,通过选择PCB进入熔锡系统的方向来减少甚至避免焊接不良的现象;根据经验元器件间最少要有 电压跌落、短时中断和电压变化的抗扰度试验 分享到：4 电压跌落、短时中断和电压变化的抗扰度试验 IEC61000－4－11（GB/T17626.11）1.干扰的起因 电压瞬时跌落、短时中断是由电网、变电设施的故障或负荷突然出现大的变化所引起的。在某些情况下会出现两次或更多次连续的跌落或中断。电压变化是由连接到电网的负荷连续变化引起的。 这些现象本质上是随机的，其特征表现为偏离额定电压并持续一段时间。电压瞬时跌落和短时中断不总是突发的，因为与供电网络相连的旋转电机和保护元件有一定的反作用时间。如果大的电源网络断开（一个工厂的局部或一个地区中的较大范围），电压将由于有很多旋转电机连接到电网上使之逐步降低。因为这些旋转电机短期内将作为发电机运行，并向电网输送电力，这就产生了电压渐变。作为大多数数据处理设备，一般都有内置的断电检测装置，以便在电源电压恢复以后，设备按正确方式起动。但有些断电检测装置对于电源电压的逐渐降低却不能快速作出反应，结果导致加在集成电路上的直流电压，在断电检测装置触发以前已降低到最低运行电压水平之下，由此造成了数据的丢失或改变。这样，当电源电压恢复的时候，这个数据处理设备就不能正常再起动。 2.试验目的 IEC61000－4－11标准规定了不同类型的试验来模拟电压的突变效应，以便建立一种评价电气和电子设备在经受这种变化时的抗扰性通用准则。其中对电压渐变作为一种型式试验，根据产品或有关标准的规定，用在特殊的和认为合理的情况下。 3.三个专门的术语 （1）电压瞬时跌落指在电气系统的某一点，电压突变下降，在经历了半个周期到几秒钟的短暂持续期后，又恢复正常。 （2）短时中断指供电电压消失一段时间，一般不超过1min。短时中断可认为是100％的幅值瞬时跌落。 （3）电压渐变指供电电压逐渐变得高于或低于额定电压，变化的持续时间相对周期来说，可长可短。 ---------------------------------------------------------------最新资料推荐------------------------------------------------------ 辐射抗扰度测试 辐射抗扰度测试指导老师：陈洁作者：胡力元11721297 时间：2011年12月16号 1/ 50 主要内容1.抗扰度测量 2.抗扰度试验准则和一般测量方法 3.电磁兼容测试场地 4.辐射敏感度的测量 5.辐射抗扰度测试实质 6.测试案例分析 7.参考文献 ---------------------------------------------------------------最新资料推荐------------------------------------------------------ 1.抗扰度测量抗扰度是指装置、设备或系统面临电磁骚扰不降低运行的能力。 设备的抗扰度测试又称为设备的敏感度测试（EMS），目的是测试设备承受各种电磁骚扰的能力。 当设备由于受到骚扰影响而性能下降时其性能判据可分为4级。 （1）EUT工作完全正常（2）EUT工作指标或功能出现非期望偏离，但当骚扰去除后可自行恢复。 （3）EUT工作指标或功能出现非期望偏离，骚扰源去除后不能自行恢复，必须依靠操作人员介入，例如“复位”方可恢复（4）EUT 的元器件损坏、数据丢失、软件故障等。 3/ 50 1.抗扰度测量在测量中，所关心的是一些敏感设备在遇到辐射或传导干扰的影响是，敏感设备的工作状态会发生怎么样的变化。 在试验中，通过测试设备将这些干扰模拟出来，再通过一些测试附加件，例如天线或传导注入所用的耦合部件等，讲上述干扰施加给EUT。 EUT的工作状况根据其特点选择合适的方式进行监测。 敏感性测量关注的是 EUT刚呈现性能降低时，外部施加干扰量的描述；抗干扰度关注的是即将出现性能降低时，外部施加干扰量的描述。 . (CS) 传导骚扰抗扰度传导骚扰抗扰度1. 传导骚扰抗扰度概述1.1 《电磁兼容：1998 本标准主要介绍国际标准IEC61000-4-6:2006，对应国家标准GB/T17626.6 射频场感应的传导骚扰抗扰度》的试验方法。试验和测量技术 传导骚扰抗扰度试验目的和应用场合1.2 该电磁场会频率范围内射频发射机产生的电磁场。本标准所涉及的主要骚扰源是来自9kHz~80MHz 作用于电气、电子设备的电源线、通信线和接口电缆等连接线路上，这些连接引线的长度则可能与干扰频率的几个波长相当，因此，这些引线就变成被动天线，接受外界电磁场的感应，引线电缆就可以通过传导方式耦合外界干扰到设备内部（最终以射频电压和电流所形成的近场电磁骚扰到设备内部）对设备产生干扰。从而影响设备的正常运行。所以，本标准的目的主要是建立一个评估射频场感应的传导骚扰抗扰度性能的公共参考，为有关产品的专业技术委员会或用户和制造商提供一个基本参考。传导骚扰抗扰度常见术语2 人工手2.1 模拟正常工作条件下，手持式电气设备和地之间的人体阻抗的电网络 辅助设备2.2 为受试设备正常运行提供所需信号的设备和检验受试设备性能的设备。 注入钳2.3 u 电流钳 由被注入信号的电缆构成的二次绕组实现的电流变换器。 电磁钳u 由电容和电感耦合相组合的注入装置。 共模阻抗2.4 在某一端口上共模电压和共模电流之比。 耦合系数2.5 在耦合装置的受试设备端口所获得的开路电压（电动势）与信号发生器输出端上的开路电压的比值 耦合网络2.6 以规定的阻抗从一电路到另一电路传输能量的电路。 去耦网络2.7 防止施加给受试设备的测量信号影响不被测量的其他装置、设备或系统的电路。 电压驻波比2.8 沿线最大电压和邻近最小电压幅度之比。 传导骚扰抗扰度试验等级3 9kHz~150kHz频率范围内，对来自射频发射机的电磁场所引起的感应骚扰不要求测量。在u 频率范围内，对来自射频发射机的电磁场所引起的感应骚扰的抗扰度试验应在150kHz~80MHz u 根据设备和电缆最终安装时所处电磁环境按下面表格选择相应的试验等级。150kHz~80MHz 频率范围试验等级150kHz~80MHz频率范围电压（有效值）试验等级VU0，，dBμVU0;. . 1112031302103140X特定是一个开放等级）X1 的距离上的典型电平和低功率发射接收1km无线电电台/电视台位于大于? 1类：低电平辐射环境。 计算机图形学 实验报告 学号：20072115 姓名： 班级：计算机 2班 指导老师：何太军 2010.6.19 实验一、Windows 图形程序设计基础 1、实验目的 1）学习理解Win32 应用程序设计的基本知识（SDK 编程）； 2）掌握Win32 应用程序的基本结构（消息循环与消息处理等）； 3）学习使用VC++编写Win32 Application 的方法。 4）学习MFC 类库的概念与结构； 5）学习使用VC++编写Win32 应用的方法（单文档、多文档、对话框）； 6）学习使用MFC 的图形编程。 2、实验内容 1）使用WindowsAPI 编写一个简单的Win32 程序，调用绘图API 函数绘制若干图形。（可选任务） 2 ）使用MFC AppWizard 建立一个SDI 程序，窗口内显示"Hello,This is my first SDI Application"。（必选任务） 3）利用MFC AppWizard(exe)建立一个SDI 程序，在文档视口内绘制基本图形（直线、圆、椭圆、矩形、多边形、曲线、圆弧、椭圆弧、填充、文字等），练习图形属性的编程（修改线型、线宽、颜色、填充样式、文字样式等）。定义图形数据结构Point\Line\Circle 等保存一些简单图形数据（在文档类中），并在视图类OnDraw 中绘制。 3、实验过程 1）使用MFC AppWizard(exe)建立一个SDI 程序,选择单文档； 2）在View类的OnDraw（）函数中添加图形绘制代码，说出字符串“Hello,This is my first SDI Application”，另外实现各种颜色、各种边框的线、圆、方形、多边形以及圆弧的绘制； 3）在类视图中添加图形数据point_pp,pp_circle的类，保存简单图形数据，通过在OnDraw（）函数中调用，实现线、圆的绘制。 4、实验结果 正确地在指定位置显示了"Hello,This is my first SDI Application"字符串，成功绘制了圆，椭圆，方形，多边形以及曲线圆弧、椭圆弧，同时按指定属性改绘了圆、方形和直线。成功地完成了实验。 结果截图： 5、实验体会 通过实验一，了解了如用使用基本的SDI编程函数绘制简单的图 计算机图形学（computer graphics）的基本含义是使用计算机通过算法和程序在显示设备上构造图形。图形是人们通过计算机设计和构造出来的，不是通过摄像机、扫描仪等设备输入的图像。这里的图形可以是现实中存在的图形，也可以是完全虚拟构造的图形。以矢量图的形式呈现，更强调场景的几何表示，记录图形的形状参数与属性参数。例如，工程图纸(drawing)，其最基本的图形单元是点、线、圆/弧等，其信息包含图元的几何信息与属性信息(颜色、线型、线宽等显式属性和层次等隐式属性)。 图像处理（image processing）则是研究图像的分析处理过程，图像处理研究的是图像增加、模式识别、景物分析等，研究对象一般为二维图像。图像以点阵图形式呈现，并记录每个点的灰度或色彩。例如，照片、扫描图片和由计算机产生的真实感和非真实感图·形等，最基本的图像单元（pels，picture elements）是点—像素（pixel），其信息实际上是点与它的属性信息(颜色、灰度、亮度等)。 计算机视觉（computer vision）包括获取、处理、分析和理解图像或者更一般意义的真实世界的高维数据方法，它的目的是产生决策形式的数字或者符号信息。 计算机图形学和计算机视觉是同一过程的两个方向。计算机图形学将抽象的语义信息转化成图形，计算机视觉则从图形中提取抽象的语义信息，图像处理研究的则是一个图像或一组图像之间的相互转化和关系，与语义信息无关。下表从输入和输出的角度对三者的区别进行辨析： 表2 图像处理&计算机视觉&计算机图形学对比 计算机图形学，输入的是对虚拟场景的描述，通常为多边形数组，而每个多边形由三个顶点组成，每个顶点包括三维坐标、贴图坐标、RGB 颜色等。输出的是图像，即二维像素数组。 计算机视觉，输入的是图像或图像序列，通常来自相机、摄像头或视频文件。输出的是对于图像序列对应的真实世界的理解，比如检测人脸、识别车牌。图像处理，输入的是图像，输出的也是图像。 一、实验目的 1、掌握中点Bresenham直线扫描转换算法的思想。 2掌握边标志算法或有效边表算法进行多边形填充的基本设计思想。 3掌握透视投影变换的数学原理和三维坐标系中几何图形到二维图形的观察流程。 4掌握三维形体在计算机中的构造及表示方法 二、实验环境 Windows系统, VC6.0。 三、实验步骤 1、给定两个点的坐标P0(x0,y0)，P1(x1,y1)，使用中点Bresenham直线扫描转换算法画出连接两点的直线。 实验基本步骤 首先、使用MFC AppWizard(exe)向导生成一个单文档视图程序框架。 其次、使用中点Bresenham直线扫描转换算法实现自己的画线函数，函数原型可表示如下： void DrawLine(CDC *pDC, int p0x, int p0y, int p1x, int p1y); 在函数中，可通过调用CDC成员函数SetPixel来画出扫描转换过程中的每个点。 COLORREF SetPixel(int x, int y, COLORREF crColor ); 再次、找到文档视图程序框架视图类的OnDraw成员函数，调用DrawLine 函数画出不同斜率情况的直线，如下图： 最后、调试程序直至正确画出直线。 2、给定多边形的顶点的坐标P0(x0,y0)，P1(x1,y1)，P2(x2,y2)，P3(x3,y3)，P4(x4,y4)…使用边标志算法或有效边表算法进行多边形填充。 实验基本步骤 首先、使用MFC AppWizard(exe)向导生成一个单文档视图程序框架。 其次、实现边标志算法或有效边表算法函数，如下： void FillPolygon(CDC *pDC, int px[], int py[], int ptnumb); px：该数组用来表示每个顶点的x坐标 py ：该数组用来表示每个顶点的y坐标 ptnumb：表示顶点个数 注意实现函数FillPolygon可以直接通过窗口的DC（设备描述符）来进行多边形填充，不需要使用帧缓冲存储。（边标志算法）首先用画线函数勾画出多边形,再针对每条扫描线,从左至右依次判断当前像素的颜色是否勾画的边界色,是就开始填充后面的像素直至再碰到边界像素。注意对顶点要做特殊处理。 通过调用GDI画点函数SetPixel来画出填充过程中的每个点。需要画线可以使用CDC的画线函数MoveTo和LineTo进行绘制，也可以使用实验一实现的画直线函数。 CPoint MoveTo(int x, int y ); BOOL LineTo(int x, int y ); 实现边标志算法算法需要获取某个点的当前颜色值，可以使用CDC的成员函数 COLORREF GetPixel(int x, int y ); 再次、找到文档视图程序框架视图类的OnDraw成员函数，调用FillPolygon 函数画出填充的多边形，如下： void CTestView::OnDraw(CDC* pDC) { CTestcoodtransDoc* pDoc = GetDocument(); ASSERT_VALID(pDoc); Conducted Immunity Testing Introduction: For testing immunity of electronic products from environmental RF stress, methods described in two complementary international standards and their European equivalents are used: · IEC 61000-4-3, for radiated fields from 80MHz to 1GHz · IEC 61000-4-6, via the connected cables, from150kHz to 80MHz (and possibly up to 230MHz) Conducted RF immunity testing involves injecting RF voltages or currents into each of the cables associated with the equipment under test (EUT). The purpose of the test is to simulate the proximity of the EUT and its connected cables to radio transmitters and RF manufacturing equipment operating at low frequencies. These frequencies are not easy to test using the radiated RF immunity techniques . It is hard to generate uniform fields in typical test facilities at frequencies much below 80MHz, but for typical sizes of apparatus the immunity problems at frequencies below 80MHz are normally associated with cable coupling, so conducted testing of the cables is seen as a reasonable alternative to radiated methods at such frequencies. EN 61000-4-6 is the basic EMC test method for conducted RF immunity called-up by the latest editions of harmonized product or generic immunity test standards. Principle of conducted immunity testing: IEC 61000-4-6 is widely used for compliance testing of RF immunity of apparatus for the EMC. It applies an RF stress over the frequency range 150kHz–80MHz to the cables connected to the equipment under test (EUT) to determine its immunity快速瞬变抗扰度测试
瞬态传导抗扰度测试常见问题对策及整改措施
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射频电路板抗干扰设计
常用的抗扰度试验标准
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