1 干扰分类
干扰从它的来源可分为系统内部干扰和外部干扰；而从对通话链路的干扰方向来分又可分为上行干扰和下行干扰。
干扰分析
图表1 干扰分类
2 干扰定位分析方法
2.1 下行干扰小区的定义及定位思路
2.1.1 下行干扰定义
目前网络中还没有直接可反映小区下行干扰程度的指标，本次评估通过MRR 报告统计结果中的下行强信号高质差小区来定位下行干扰小区（排除设备硬件故障、天馈异常及低话务造成的高质差），定义如下：
a、MRR报告中下行质差话务比例大于等于5%，且下行弱信号话务比例小于
5%的小区为强信号高质差小区；
b、接收电平<-90dbm为弱信号话务样本，即小于-90dbm的采样点和 / 下行信号强度采样点总和 = 下行弱信号话务比例。
2.1.2 下行干扰原因定位思路
1. 频率干扰
频率干扰是常见的网内干扰的原因，通过被干扰系数定位下行频率干扰小区:
被干扰系数大于0.4即可认为该小区受到了网络内部的频率干扰，会造成上、下行的网络干扰。
被干扰系数的计算方法请参见：频率干扰分析评估规范(v1[1].0).doc
产生频率干扰的原因可能有：
a. 频率资源应用瓶颈，在话务密集区域现有频率资源不足造成的分配冲突；
覆盖影响（关联）小区集的总载频数大于可用频点数的小区，其中900M网络取大于95,1800M取大于125。
覆盖关联的定义：跟服务小区的CoInfRatio大于3%的小区认为有覆盖关联，这些小区集合做为覆盖关联集合。
具体还可细分为容量是否冗余，如果小区存在可减容余量，即按最忙时话务量和数据业务量折算的配置载波数可减容2个以上或半速率占比配置为20%时可减容载波数大于1的小区。
b. 因小区过覆盖（高层站、覆盖参数设置不当、湖面反射等）等造成的同
邻频干扰冲突。
通过动态覆盖分析系统排查发现的过覆盖小区，及被过覆盖小区干扰的小区，都归结为过覆盖造成的频率干扰。
过覆盖小区：
以服务小区覆盖方位角120度范围内最近的3个小区的距离做为服务小区的
理想覆盖距离，以覆盖关联集合中跟服务小区的距离大于理想覆盖距离1.6倍的小区（过覆盖影响小区）的个数做为疑似过覆盖小区的判断标准，一般大于6个即可认为有过覆盖嫌疑。过覆盖影响小区也做为过覆盖频率干扰。
c. 频率复用不当，因人为应用错误造成的网内同邻频冲突；
小区不存在过覆盖，同时覆盖影响（关联）小区集的总载频数小于可用频点数，频率优化有明显效果的小区（改善幅度大于10%）。
d.边界频率干扰
强信号强质差小区被干扰系数>0.4,同时处在国际、省际边界，疑似受到边界小区频率干扰。
2. 直放站引起的干扰问题
目前存在的最普遍的干扰问题是直放站引起的干扰，直放站中的功放、低噪放设备工艺较差或故障，上行增益或衰减等参数设置有问题造成网络干扰。
由于直放站引起的上下行干扰统计上的规律为：与话务量无关，只要直放站工作，下行质差较高，INTERFERENCE BAND统计24小时高。
3. 网外非法无线发射机-下行干扰
网外非法无线发射机所发干扰信号在移动网络下行频段，手机接收到干扰信号，无法区分正常基站信号，使手机与基站联络中断，造成掉话或无法分配信道。下行干扰将会影响用户接入，这个主要依靠历史排查记录。
2.2 上行干扰原因定位思路
2.2.1 上行干扰小区的定义
ICMBand统计结果用来定位上行干扰小区，取连续3天的ICMband统计结果，满足以下条件的小区为存在上行干扰的小区：
a、连续3天ICMBand统计中4和5的比例均超过1%；
b、FAS设定条件：limit3=10
2.2.2 上行干扰小区定位
网络中的上行干扰主要来自于外部，其定位依据主要依据以往历史排查数据，对没有定位到的上行干扰小区优先按照干扰出现的特征进行疑似定位。
1.直放站干扰
可依据省公司的《直放站网络干扰排查规范.doc》进行排查定位。
2. 无线系统自身问题
无线系统自身问题一般集中在天线器件、基站接收通路的问题上，TRX因生产原因或在使用过程中性能下降，导致TRX放大电路自激，CDU中的分路器模块中使用了有源放大器故障时，也容易导致自激；CDU中双工器的收发隔离过小，都会形成对接收信道的干扰等等。
干扰特征：单个小区或基站的ICMband偏高，干扰区域不连片，存在硬件告警，干扰值随话务变化而变化，可初步定位为无线系统自身问题带来的干扰。
3. 干扰机（移动信号阻断器）干扰
政府部门利用保密仪在一定范围内产生噪声信号干扰该范围内的手机和基站信号（其中部分没有入网许可证）。目前发现的主要应用于会议保密、加油站内防爆以及维持特定的环境秩序（如学校教室、考场等）而安装的干扰机。
干扰特征：干扰上行，对基站影响大，一旦开启将影响附近大面积用户的正常通信，造成批量用户投诉。主要依据历史排查记录。
4. 不同网络之间信号干扰造成的上行干扰问题
由于CDMA的下行频率与移动GSM900的上行频率比较接近，其中如果CDMA 设备的滤波没有做好，将会导致CDMA对中国移动GSM网络上行信号的干扰，另外常见的不同网络之间的信号干扰为地方电力微波系统干扰DCS 1800M系统的上行信号。
干扰特征：干扰统计显示集中在低频段，小区在使用的频段内1-20号频点FAS干扰电平偏高时疑似为CDMA干扰。
5. 私装放大器、信号屏蔽器
一些用户自行安装的“非法放大器”或“信号屏蔽器”，模块工艺较差，由于价格低廉，各种器件的性能不好，造成较强的上行干扰问题。
干扰特征：这类问题是目前上行干扰中外部干扰的主因，干扰小区较为集中，同时ICMBand统计干扰比例>10%,主要通过历史排查数据来定位。
6. 民用或工业设备造成的上行干扰
干扰特征：某个或某段频率受到不明干扰，严重性不十分明显，干扰时间上存在一定的规律性等。
民用或工业设备造成对GSM系统上行频谱的干扰的例子有电视增频器、无线摄像头等。随着民用无线设备的增多，该类干扰将逐渐增加。
7.网内频率干扰
干扰特征：通过查看FAS分析，如果一个小区的个别频点受到上行干扰，可以初步确定是频点干扰。这类问题需要进行频率优化，通过更换频点来改善。可参考下行干扰取交集。
各类干扰的分类及排查方法 GSM移动通信技术在我国迅速发展，目前已经发展相当成熟的阶段，在实际的网络优化工作中，发现GSM系统受到的上行干扰问题已经成为网络优化中一个不容忽视的重要问题。上行干扰会使系统掉话率增加，减少基站的覆盖范围，降低通话质量，使网络指标和用户的通话质量受到严重影响。 阿尔卡特GSM系统中采用干扰带Band指标来衡量系统受到上行干扰的程度。干扰带Band指标表示话音信道在空闲模式下收到的上行噪声信号强度，分为Band1—Band5，其中Band5代表上行干扰信号电平强度>-85dBm，Band4代表上行干扰信号电平强度-85dBm-- -90dBm之间，Band3代表上行干扰信号电平强度-90dBm-- -95dBm之间，Band2代表上行干扰信号电平强度-95dBm-- -100dBm之间，Band1代表上行干扰信号电平强度<-100dBm。该统计指标是基于时隙统计的。如果出现Band3以上，一般认为基站受到较强的上行干扰，由此会产生掉话和话音质量差的情况,需要进行解决。 根据在实际网络优化工作中长期对上行干扰问题的分析，基本上可以认为出现上行干扰的原因可以分为以下几类： 一、上行干扰排查思路及排查方法： 根据在实际网络优化工作中长期对上行干扰问题的分析，基本上可以认为出现上行干扰的原因可以分为以下几类：
1、无线系统自身问题造成Band较高排查方法及思路： 无线系统自身问题一般集中在天线器件、基站接收通路的问题上，由于基站子系统问题造成的上行干扰Band较高存在以下规律：Band值随话务量变化，话务量高时，Band也随之增高，到了深夜话务量降低后，Band统计恢复正常。一般如果出现这样的规律，首先要考虑无线子系统的问题（天馈系统问题产生的三阶互调干扰）。三阶互调干扰排查方法有： （1）、利用罗森伯格设备进行现场排查天馈系统具体问题。 （2）、利用频谱仪现场排查，利用八木天线指向基站天线的背板观察扫频仪上的频谱变化，如果频谱整体底噪抬升至-80dB到-50dB之间基本可以判断为天馈系统产生的三阶互调。 （3）、如果一个基站上面只一个小区有上行干扰的话，可以调换两个小区的天馈线来进行判断。例如：某个基站1小区存在上行干扰，2、3小区没有上行干扰。我们可以将1、2小区天馈线进行调换后观察1、2小区的上行干扰变化情况。如果调换后上行干扰转移到2小区上面，这样基本可以判断天馈线系统问题或是外部干扰；如果调换后上行干扰依然在1小区上面，这样基本可以判断为设备内部器件产生的干扰。如果是设备内部器件问题我们需要检查内部器件是否有损坏，如ANC、载频、腔体等，需要更换的及时进行更换。 2、直放站引起的上行干扰问题： 目前存在的最普遍的上行干扰问题是直放站引起的上行干扰，特别是一些用户自行安装的非法直放站，由于价格低廉，各种器件的性
模拟量信号干扰分析及11种解决秘诀 关键词：PLC 模拟量信号干扰 1、概述 随着科学技术的发展，PLC在工业控制中的应用越来越广泛。PLC控制系统的可靠性直接影响到工业企业的安全生产和经济运行，系统的抗干扰能力是关系到整个系统可靠运行的关键。自动化系统中所使用的各种类型PLC，有的是集中安装在控制室，有的是安装在生产现场和各种电机设备上，它们大多处在强电电路和强电设备所形成的恶劣电磁环境中。要提高PLC控制系统可靠性，设计人员只有预先了解各种干扰才能有效保证系统可靠运行。 2、电磁干扰源及对系统的干扰 影响PLC控制系统的干扰源于一般影响工业控制设备的干扰源一样，大都产生在电流或电压剧烈变化的部位，这些电荷剧烈移动的部位就是噪声源，即干扰源。 干扰类型通常按干扰产生的原因、噪声的干扰模式和噪声的波形性质的不同划分。其中：按噪声产生的原因不同，分为放电噪声、浪涌噪声、高频振荡噪声等；按噪声的波形、性质不同，分为持续噪声、偶发噪声等；按声音干扰模式不同，分为共模干扰和差模干扰。共模干扰和差模干扰是一种比较常用的分类方法。共模干扰是信号对地面的电位差，主要由电网串入、地电位差及空间电磁辐射在信号线上感应的共态（同方向）电压送加所形成。共模电压有时较大，特别是采用隔离性能差的电器供电室，变送器输出信号的共模电压普遍较高，有的可高达130V 以上。共模电压通过不对称电路可转换成差模电压，直接影响测控信号，造成元器件损坏（这就是一些系统I/O 模件损坏率较高的原因），这种共模干扰可为直流、亦可为交流。差模干扰是指用于信号两极间得干扰电压，主要由空间电磁场在信号间耦合感应及由不平衡电路转换共模干扰所形成的电压，这种让直接叠加在信号上，直接影响测量与控制精度。 3、PLC 控制系统中电磁干扰的主要来源有哪些呢？ (1) 来自空间的辐射干扰： 空间的辐射电磁场（EMI）主要是由电力网络、电气设备的暂态过程、雷电、无线电广播、电视、雷达、高频感应加热设备等产生的，通常称为辐射干扰，其分布极为复杂。若PLC 系统置于所射频场内，就回收到辐射干扰，其影响主要通过两条路径；一是直接对PLC 内部的辐射，由电路感应产生干扰；而是对PLC 通信内网络的辐射，由通信线路的感应引入干扰。辐射干扰与现场设备布置及设备所产生的电磁场大小，特别是频率有关，一般通过设置屏蔽电缆和PLC 局部屏蔽及高压泄放元件进行保护。 (2) 来自系统外引线的干扰： 主要通过电源和信号线引入，通常称为传导干扰。这种干扰在我国工业现场较严重。 (3)来自电源的干扰：
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（4）听觉器官听觉鉴定是凭借人体的听觉器官对声音的反应来检验食品品质的方法。听觉鉴定可以用来评判食品的成熟度、新鲜度、冷冻程度及罐头食品的真空度等。 （5）触觉鉴定是通过被检食品用于鉴定者的触觉器官（手、皮肤）所产生的反应来评价食品品质的一种方法。如根据某些食品的脆性、弹性、干湿、软硬、黏度、凉热等情况，可评判食品的品质优劣和是否正常。 感官分析的方法很多，常用的检验方法有差别检验法，标度和类别检验法、分析或描述性检验法等。 感官分析法虽然简便、实用且多数情况下不受鉴定地点的限制。但也存在明显缺陷，由于感官分析是以经过培训的评价员的感觉作为一种“仪器”来测定食品的质量特性或鉴别产品之间的差异，因此判断的准确性与检验者的感觉器官的明锐程度和实践经验密切相关。同时检验者的主观因素（如健康状况、生活习惯、文化素养、情绪等），以及环境条件(如光线、声响等)都会对鉴定结果产生一定的影响。另外，感官检验的结果大多情况下只能用于比较性的用词（优、良、中、劣等）表示或用文字表述，很难给出食品品质优劣程度的确切数字。 2.理化分析法根据测定原理、操作方法等的不同，梨花分析又可分为物理分析法、化学分析法和仪器分析法三类。 （1）物理分析法通过对被测食品的某些物理性如温度、密度、折射率、旋光度、沸点、透明度的的测定，可间接求出食品中某种成分的含量，进而判断被检食品的纯度和品质。物理分析法简便、实用，在实际工作中应用广泛。
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2009年第8期 科技管理研究Science and Technol ogyM anage ment Research 2009No 18 收稿日期:2008-10-24,修回日期:2009-12-09 基金项目:宁波市软科学项目资助(2006A1000010);国家自然科学基金青年项目资助(70503015) 文章编号:1000-7695(2009)08-0523-02 专利分析法的应用:以我国压铸模具专利为例 黄海波,谈 毅 2 (1.宁波大学工学院,浙江宁波 315211; 21上海交通大学安泰经管学院,上海 200030) 摘要:利用专利分析法,分析了我国压铸模具技术领域的相关专利数据,归纳了近年来我国压铸模具技术在申请类别、申请人性质和国别等方面的特点,并对合金压铸模具技术进行了细致分析,绘制了压铸专利技术/功效矩阵表,预测了压铸模具领域的技术的发展趋势。 关键词:专利分析法;压铸模具专利;合金压铸;发展趋势中图分类号:G306 文献标识码:A 1 前言 压力铸造是近代金属加工工艺中发展较快的一种先进的 少、无切削特种铸造方法,是精度高、机械性能好,生产效率高的精密成型工艺。随着汽车工业和汽车轻量化的迅速发展,压铸模具的应用领域越来越广泛[1,2]。因此,预测压铸模具技术走向,指导压铸模具企业正确地进行投资和生产,是压铸模具行业应该关注的问题。本文将利用专利分析法,就压铸模具技术领域的相关专利数据进行检索、分析和归纳,总结近年来我国压铸模具技术在专利申请方面的特点以及技术申请热点,以此预测压铸模具技术的发展趋势,并制定相关研发策略。2 专利分析法 专利分析法[3-5]是指对有关的专利文献进行筛选、统计、分析,使之转化成可利用信息的方法。专利分析首先要进行专利检索,检索一般包括查新检索、专利法律状态检索、技术跟踪检索、侵权防御性检索等。检索入口可以是某一技术主题(关键词或分类号)、专利申请(专利权)人(国家、公司、个人)、专利申请(公开)时间、专利地域或组合检索,对某一技术、某一区域、主要竞争对手等在一定时间和地理范围内的专利状况进行研究。 专利分析方法分为定量分析与定性分析两种,其中定量分析又称统计分析,主要是通过专利文献的外表特征来进行统计分析,也就是通过专利文献上所固有的项目如申请日期、申请人、分类类别、申请国家等来识别有关文献,然后将这些专利文献按有关指标如专利数量、同族专利数量、专利引文数量等来进行统计分析,并从技术和经济的角度对有关统计数据的变化进行解释,以取得动态发展趋势方面的情报;定性分析也称技术分析,是以专利说明书、权利要求、图纸等技术内容或专利的“质”来识别专利,并按技术特征来归并有关专利并使其有序化,一般用来获得技术动向、企业动向、特定权利状况等方面的情报。通常情况下,在进行专利分析时,需要将定量分析与定性分析结合起来使用,也就是将外表特征及内容特征结合起来进行分析,才能达到较好的分析效果。 本文在国家知识产权局的网站上,搜索了与压铸模具相 关的发明专利情况,在名称中搜索“压铸”关键词,时间期限为2003～2007年,剔除与压铸机相关的专利以及其它不相关专利,共搜索到137项与压铸模具相关的发明专利,分别涉及压铸模具的新型模具结构、新技术、新设备、新工艺和新产品等。下面将就这些数据进行分析,并对目前较为热点的合金压铸技术进行详细分析,并绘制技术/功效矩阵表。 3 我国压铸模具发明专利统计分析 311 类别、申请人和国别分析 就专利的申请类别来看,压铸模具的制备方法有64项,设备专利有32项,分别占到总数的4617%和2314%,主要用来提高压铸模具产品的质量、效率等;模具结构方面的专利最少,只有11项,占到810%。这说明未来压铸模具在制备方法和设备方面潜在的创新性较大,而在模具结构方面的更新则相对较少。 表1 在中国申请的外国压铸专利数目 国家日本美国韩国德国其它数目 14 1411 7 总计:37项。专利权属于企业的专利:35 项 图1 国内压铸专利申请人性质分布 就申请国别来说,如表1所示,一些模具技术发达国家 的公司对于企业模具技术的保护非常重视,其在中国境内的专利申请数较多,申请的专利数目占搜索到的压铸发明专利总量的2710%。其中日本的模具技术专利比例达到了1012%,德国申请专利技术810%,比例都非常高,这也是日本和德国的压铸模具技术处于国际领先位置的一个体现。很多模具技术发达国家的公司竞相在中国申请专利,这也说
一、分类 1、分析化学按照分析原理的不同：化学分析方法（依赖化学反应进行分析的分析方法） 重量分析法、滴定分析法 仪器分析方法（除化学分析法外的一些分析方法，以物质的物理和物理化学性质为基础，测定时往往需要借助于一些比较特殊的仪器设备，习惯上把这类分析方法称为仪器分析法） 光学分析法、电化学分析法、色谱分析法 2、按照分析对象不同，分析化学可分为无机分析和有机分析；按照分析时所取的试样量的不同或被测组分在试样中的含量的不同，分析化学又可分为常量分析、半微量分析、微量分析、痕量分析等。 二、分析过程及分析结果的表示 1 分析的一般过程 1．取样（sampling） 合理的取样是分析结果是否准确可靠的基础。 2.预处理(pertreatmnt) 预处理包括试样的分解和预分离富集。 定量分析一般采用湿法分析，即将试样分解后制成溶液，然后进行测定。正确的分解方法应使试样分解完全；分解过程中待测组分不应损失；应尽量避免引入干扰组分。分解试样的方法很多，主要有溶解法和熔融法，操作时可根据试样的性质和分析的要求选用适当的分解方法。 在定量分析中，当试样组成比较简单时，将它处理成溶液后，便可直接进行测定。但在实际工作中，常遇到组成比较复杂的试样，测定时各组分之间往往发生相互干扰，这不仅影响分析结果的准确性，有时甚至无法进行测定。因此，必须选择适当的方法来消除其干扰。控制分析条件或采用适当的掩蔽剂是消除干扰简单而有效的方法，但并非任何干扰都能消除。在许多情况下，需要选用适当的分离方法使待测组分与其他干扰组分分离。 有时，试样中待测组分含量极微，而测定方法的灵敏度不够，这时必须先将待测组分进行富集，然后进行测定。 在分析化学中，常用的分离（separation）和富集（preconcentration）方法有沉淀分离、液-液萃取分离、离子交换分离、色谱分离、蒸馏和挥发分离、超滤、浮选吸附等。 如何选用分离方法？有一定的经验性和灵活性。要在工作经验积累和宽厚的知识基础上，综合考虑以下因素：①测定的目的是定性还是定量？是成分分析还是结构分析？是全分析还是主成分分析？②样品的数量、来源难易及某些组分的大致含量。大批样品中痕量成分的分离，首先要进行萃取、吸附等富集方法，再行分离。③分离后得到产品的数量、纯化是
专利分析的技术预测方法和工具 熊腾飞 摘要：专利作为一种技术的载体，包含有世界95%的新技术。以往的专利分析仅仅是对一些数据进行统计，如发明人、权利人和申请时间等。对技术分析一般仅限对分类号进行分类统计。但技术分析具有丰富的内容，本文就基于专利分析的技术预测方法和工具进行介绍。 一、引言 曾经和一位知识产权经理谈专利分析。她告诉我一个思想，他们很少去分析现有专利来布置专利的研发战略。原因是什么呢？大家可以自己考虑一下。她给出的原因是，现有公开的专利都是1到3年前研发出来的技术。那么，这些新颁布的专利其实是人家几年前的“旧技术”。那么你研究人家的旧技术，来规划你的研发战略，对于他们这些高新技术而言，就没有意义了。 以上说法实际上很有道理。其实，我们也不能跟着别人的路子走，别人有什么技术，我们就仿造某技术。要想占领市场，就要做领头羊。呵呵。这些话大家比我会讲，讲得比我好。我就不讲了。 我们不做跟随者，那么是不是就不需要研究别人的专利呢？特别是高新产业？我想，NO。不过，我要说，我们研究不是看别人正在出什么专利,而是研究根据历史的专利中蕴藏的技术，如何预测到未来的技术。如果你根据现有专利能预测到未来5到10年的专利技术，是否就值得你研究了呢？ 如果你认为企业没有长久的技术发展需求，那就不需要往下看了。 二、技术预测的方法 我还是不得不说TRIZ，即发明问题解决理论。一方面本人是做这方面的。二来，TRIZ与专利有紧密的联系。TRIZ有关的介绍大家可以在百度上搜索到很多文章，
我就不做整体介绍。TRIZ中一个核心的思想就是，技术的发展是有规律的。比如说一个物体，现在是刚性的，未来就可能是分离的、柔性的、液态的、气态的、甚至是场的（在TRIZ中，这个称动态性进化法则）。这种路径是经过大量的技术进行总结出来的，具有经验型的规律（我一位同事从数学上推导了以上进化规律，但尚未公开发表。）既然有规律，那么我们就可以沿着规律预测到下一代、下两代的产品。如现在技术是采用柔性的，未来就可能采用场的。 曾经在中央2台看到格之格公司的一个墨盒报道。记得是他们生产兼容墨盒。但是现有墨盒相关的专利太多了，一些大公司申请了很多保护性专利。如何用低成本生产兼容墨盒呢？开始他们按照传统的思路没有任何进展。之后，他们意外发现，现有的墨盒都是通过液体控制墨水的流速的，他们突发奇想，能否通过气体控制流速？结果他们成功了。 看到报到，我有些感慨。因为上述技术正符合了我前述的技术发展路径。他们在无意识中遵循了技术发展的规律去发展了新的产品。我想，如果，当初他们知道了TRIZ该多好啊。 前不久，我和一位技术老总谈他们的新技术。发现他们的技术采用了直线型结构。我告诉他，是否有曲线形结构的技术？经过专利搜索，发现真的有了。我又告诉他，是否有螺旋结构的，经过搜索，也有了。再问是否有点结构的技术？他又搜索，发现又有了。上述结果并不是因为我了解他们行业，而是遵循TRIZ中的直线-曲线-螺旋线-点的路径。此时，我看了看那些技术特征，我告诉他你的技术肯定在更新到下一代。不再按照现有原理进行结构改进了，而是采用新的原理发展。他看了看我，笑了。因为确实，他现在正在和一家研究机构开发下一代技术，此技术正在开发中，尚未正式问世！ 上面的例子只想说一点，包括TRIZ在内的一些方法可以帮助我们进行下一代技术的预测。 所以，我们做专利的技术分析，不仅仅是看现在有什么了，而且要看到规律。最近不是在谈科学发展观吗，其实技术也是这样，要用发展的眼光看问题。我们企业做专利分析工作的，你们其实不仅仅可以向科研人员提供现在有什么专利技
预测方法的分类 郑XX 预测方法的分类 由于预测的对象、目标、内容和期限不同，形成了多种多样的预测方法。据不完全统计，目前世界上共有近千种预测方法，其中较为成熟的有150多种，常用的有30多种，用得最为普遍的有10多种。 1-1预测方法的分类体系 1）按预测技术的差异性分类 可分为定性预测技术、定量预测技术、定时预测技术、定比预测技术和评价预测 技术，共五类。 2）按预测方法的客观性分类 可分为主观预测方法和客观预测方法两类。前者主要依靠经验判断，后者主要借 助数学模型。 3）按预测分析的途径分类 可分为直观型预测方法、时间序列预测方法、计量经济模型预测方法、因果分析 预测方法等。 4）按采用模型的特点分类 可分为经验预测模型和正规的预测模型。后者包括时间关系模型、因果关系模 型、结构关系模型等。 1-2 常用的方法分类 1)定性分析预测法 定性分析预测法是指预测者根据历史与现实的观察资料，依赖个人或集体的经验与智慧，对未来的发展状态和变化趋势作出判断的预测方法。 定性预测优缺点 定性预测的优点在于： 注重于事物发展在性质方面的预测，具有较大的灵活性，易于充分发挥人的主观能动作用，且简单的迅速，省时省费用。
定性预测的缺点是： 易受主观因素的影响，比较注重于人的经验和主观判断能力，从而易受人的知识、经验和能力的多少大小的束缚和限制，尤其是缺乏对事物发展作数量上的精确描述。 2)定量分析预测法 定量分析预测法是依据调查研究所得的数据资料，运用统计方法和数学模型，近似地揭示预测对象及其影响因素的数量变动关系，建立对应的预测模型，据此对预测目标作出定量测算的预测方法。通常有时间序列分析预测法和因果分析预测法。 ⅰ时间序列分析预测法 时间序列分析预测法是以连续性预测原理作指导，利用历史观察值形成的时间数列，对预测目标未来状态和发展趋势作出定量判断的预测方法。
一、抗干扰方法： 为了使高频电路板的设计更合理，抗干扰性能更好，在进行PCB 设计时应从以下几个方面考虑： 1、合理选择层数：利用中间内层平面作为电源和地线层，可以起到屏蔽的作用，有效降低寄生电感、缩短信号线长度、降低信号间的交叉干扰，一般情况下，四层板比两层板的噪声低20dB。 2、走线方式：走线必须按照45°角拐弯，这样可以减小高频信号的发射和相互之间的耦合。 3、走线长度：走线长度越短越好，两根线并行距离越短越好。 4、过孔数量：过孔数量越少越好。 5、层间布线方向：层间布线方向应该取垂直方向，就是顶层为水平方向，底层为垂直方向，这样可以减小信号间的干扰。 6、敷铜：增加接地的敷铜可以减小信号间的干扰。 7、包地：对重要的信号线进行包地处理，可以显著提高该信号的抗干扰能力，当然还可以对干扰源进行包地处理，使其不能干扰其它信号。 8、信号线：信号走线不能环路，需要按照菊花链方式布线。 9、去耦电容：在集成电路的电源端跨接去耦电容。 10、高频扼流。数字地、模拟地等连接公共地线时要接高频扼流器件，一般是中心孔穿有导线的高频铁氧体磁珠。 二、包地法 抗干扰包地： 电路板设计中抗干扰的措施还可以采取包地的办法，即用接地的导线将某一网络包住，采用接地屏蔽的办法来抵抗外界干扰。 网络包地的使用步骤如下： 1.1、选择需要包地的网络或者导线。从主菜单中执行命令Edit/Select/Net （E+S+N），光标将变成十字形状，移动光标一要进行包 地的网络处单击，选中该网络。如果是组件没有定义网络，可以执行主菜单命令Select/Connected Copper 选中要包地的导 线。 1.2、放置包地导线。从主菜单中执行命令Tools/Outline Selected Objects（T+J）。系统自动对已经选中的网络或导线进行包地操 作。 1.3、对包地导线的删除。如果不再需要包地的导线，可以在主菜单中执行命令Edit/Select/Connected Copper 。此时光标将变成 十字形状，移动光标选中要删除的包地导线，按Delect键即可删除不需要的包地导线。
专利信息及其在企业中的应用 专利分析是情报分析的重要分析方法之一，据统计，世界上每年发明创造成果的90%至95%在专利文献上记载，现在世界上约90个国家、地区及组织用大约30种文字每年出版约100多万件专利文献，全世界发明成果的70%～90%仅仅出现在专利文献中，而不会出现在期刊论文、会议报告等其他文献形式上。由于专利文献技术内容的广泛性、专业性、及时性、公开性，专利文献法律保护的严密性、规范性和时效性，灵活运用专利文献，进行专利分析，企业将获得独特而实用的信息，从而提高企业的竞争和创新能力。 一、专利文献的特点 专利文献一般包括专利公报、专利申请文件、专利说明书、专利索引、专利分类表、专利文摘等有关专利和专利权人的已出版或未出版的资料。 除了数量巨大、内容广泛等特点，专利文献具有其它情报源所没有的特点： 1、新颖性 大多数国家采用的先申请制原则使申请人在发明完成之后尽早提交申请，以防他人捷足先登；其次，由于新颖性是专利申报的首要条件，因此，发明创造多以专利文献而非其它科技文献形式公布与众；而20世纪70年代初以来专利申请早期公开制度的推行，更加快了专利反映新技术的速度。同一发明成果出现在专利文献中的时间比出现在其它媒体上的时间平均早1～2年。 2、可靠性 专利经过了长期的公示和严格审查，其内容既确定又准确，可以根据专利文献进行技术复制。 3、详尽性 专利文献必须公开其技术细节，是申请者唯一不得不向公众透露其关键信息，而在其它地方都不会透露的文献。 4、规范性 专利文献采用统一的分类方法，有着同一的着录格式，非常便于检索。 二、通过专利文献可以获得的信息
通过专利文献的检索和分析大致可获得以下几方面的信息： 1、技术信息 专利文献可提供很多新技术和新技术的关键信息及背景信息。利用专利可发现供改进现有产品、工艺和设计的可能性和方法，以及在先技术，或可替代的新技术和新的研究方向。 2、技术和产业动向 专利文献可以显现出哪些机构、哪些人员、那些国家正在从事哪些研究，这些研究处于什幺阶段，又有那些成果；从时间、空间上进行分析，就可以显示当前的前沿技术是什么，市场前景怎样，某一技术或产品的生命周期状况如何，潜在的市场价值和潜力是怎样的，本领域及相关领域产品或技术的转折方向和重大变化如何演变，技术和市场空隙在哪里。 3、竞争对手信息 竞争对手的专利文献可显示对方正在从事和投入的领域和技术水平。对对方在各个时期在各地申请的各种专利的数量和种类进行分析即可展现对方研发和产品战略的变化、重点和技术偏好，其未来可能的发展方向及市场战略。 4、知识产权信息 专利文献是集技术、经济、法律为一体的信息资源。专利文献包括已授权的专利文献和已公开但未授权的专利文献，法律信息主要包括了技术保护范围、申请日、优先权日、专利类型、优先权申请国等有效保护期和地域范围信息。 三、专利信息分析在企业中的应用 通过对以上一个或多个信息的综合，专利信息可以应用在以下领域中： 1、收购与兼并 在当前的企业并购中，技术并购和专利收购是主要的内容之一，专利收购可以阻击竞争对手、自我防卫、收取许可费、提升已有产品和技术、进行买卖专利等。通过专利分析，适当评估专利技术的价值，可将投资和风险降到最低。如，浙江万向集团已在国外收购了16家公司，其中技术和专利收购占主要部分。1990年，美国舍勒公司自动与万象联系，希望出让资产。万向集团详细调研和分析了舍勒公司的优良和不良资产，当了解到美国的另一家公司LSB 也在与舍勒公司接触，而他们并不需要舍勒的品牌、专利等无形资产时，万象当机立断，派人前去与LSB公司接洽。经过协商，万向集团向LSB公司提出双赢妙计：各取所需。很快万向集团与LSB公司达成协议：LSB公司接纳舍勒的工人，收购厂房；而舍勒的品牌、技术专利、专用设备及市场等归万向所有。这样万象将1936万美元的出售价格压低到42万美元的，而且取得了自己最需要的专利储备。 2、调整产品和市场战略
统计分析分类以及SPSS分析方法 一、统计分析内容的分类 人类对客观事物的理解是多种多样的，这些理解能够是企业生产的规模，能够是企业生产机器的稳定性，能够是一个地区的教学质量，能 够是市场经济的规律，也能够是一个时期的经济形势或环境等等。撇 开这些形形色色的形式内容，人们对客观事物的理解从目的来看可分 为表面理解和本质理解两种。本文将这种从形式内容中抽象出来的对 客观事物的理解称之为统计分析内容。表面理解就是对客观事物表面 特征的理解；本质理解是从客观事物表面特征出发，最终得到超越客 观事物表面特征的本质特征的理解。同样，与统计分析内容相对应的 统计分析（方法）就可分为表面分析和本质分析两种。在统计分析方 法的使用上，形式内容的理解与统计分析方法的关联不大，反而是在 统计分析内容理解（对客观事物表面理解和本质理解）上，分析方法 的使用差别较大，所以本文主要从统计分析方法的角度对统计分析内 容加以细分。在SPSS中，横向叫个案，所有个案组成样本；纵向叫变量，一个变量代表客观事物的某方面特征。表面理解在SPSS中主要对 应于样本理解，目的是理解样本所代表的具体事物的特征（当然样本 的特征离不开变量，但目的不在变量）。本质理解则以样本数据为基础，总结出同类事物的普遍特征，这些特征就是变量自身的特征（它 从样本出发，但又超越样本），所以本质理解能够认为就是对变量的 理解。统计分析内容的划分与人们对客观事物的理解规律也密不可分。人类对客观事物的理解都是由浅入深、由外及里的。这种由浅入深、 由外及里的理解过程正好体现了表面理解和本质理解两个过程。统计 分析的两种内容既是人们对客观事物理解的两个方面，也是人们对客 观事物理解的两个过程，但它们能够是相互独立的。因为人类出于理 解目的的需要能够只理解客观事物的表面，也能够只理解客观事物的 规律。 （一）表面理解
光谱分析方法
第一章绪论 一、填空题 1仪器分析方法分为（）、（）、色谱法、质谱法、电泳法、热分析法和放射化学分析法。 2 光学分析法一般可分为（）、（）。 3仪器分析的分离分析法主要包括（）、（）、（）。 4仪器分析较化学分析的优点（）、（）、操作简便分析速度快。 答案 1光学分析法、电化学分析法 2光谱法、非光谱法 3色谱法、质谱法、电泳法 4灵敏度高检出限低、选择性好 第二章光学分析法导论 一、选择题 1 电磁辐射的粒子性主要表现在哪些方面（）A能量B频率C波长D波数
2 当辐射从一种介质传播到另一种介质时，下列哪种参量不变（） A波长B速度C频率D方向 3 电磁辐射的二象性是指: A．电磁辐射是由电矢量和磁矢量组成；B．电磁辐射具有波动性和电磁性； C．电磁辐射具有微粒性和光电效应；D．电磁辐射具有波动性和粒子性 4 可见区、紫外区、红外光区、无线电波四个电磁波区域中，能量最大和最小的区域分别为：A．紫外区和无线电波区；B．可见光区和无线电波区； C．紫外区和红外区；D．波数越大。 5 有机化合物成键电子的能级间隔越小，受激跃迁时吸收电磁辐射的 A．能量越大；B．频率越高；C．波长越长；D．波数越大。 6 波长为0.0100nm的电磁辐射的能量是多少eV？ A．0.124；B．12.4eV；C．124eV；D．1240 eV。 7 受激物质从高能态回到低能态时，如果以光辐
射形式辐射多余的能量，这种现象称为（）A光的吸收B光的发射C光的散射D 光的衍射 8 利用光栅的（）作用，可以进行色散分光A散射B衍射和干涉C折射D发射9 棱镜是利用其（）来分光的 A散射作用B衍射作用C折射作用D 旋光作用 10 光谱分析仪通常由以下（）四个基本部分组成 A光源、样品池、检测器、计算机 B信息发生系统、色散系统、检测系统、信息处理系统 C激发源、样品池、光电二级管、显示系统 D光源、棱镜、光栅、光电池 二、填空题 1. 不同波长的光具有不同的能量，波长越长，频率、波数越（），能量越（），反之，波长越短，能量越（）。 2. 在光谱分析中，常常采用色散元件获得（）来作为分析手段。 3. 物质对光的折射率随着光的频率变化而变
1 干扰分类 干扰从它的来源可分为系统内部干扰和外部干扰；而从对通话链路的干扰方向来分又可分为上行干扰和下行干扰。 干扰分析 图表1 干扰分类 2 干扰定位分析方法 2.1 下行干扰小区的定义及定位思路 2.1.1 下行干扰定义 目前网络中还没有直接可反映小区下行干扰程度的指标，本次评估通过MRR 报告统计结果中的下行强信号高质差小区来定位下行干扰小区（排除设备硬件故障、天馈异常及低话务造成的高质差），定义如下： a、MRR报告中下行质差话务比例大于等于5%，且下行弱信号话务比例小于
5%的小区为强信号高质差小区； b、接收电平<-90dbm为弱信号话务样本，即小于-90dbm的采样点和 / 下行信号强度采样点总和 = 下行弱信号话务比例。 2.1.2 下行干扰原因定位思路 1. 频率干扰 频率干扰是常见的网内干扰的原因，通过被干扰系数定位下行频率干扰小区: 被干扰系数大于0.4即可认为该小区受到了网络内部的频率干扰，会造成上、下行的网络干扰。 被干扰系数的计算方法请参见：频率干扰分析评估规范(v1[1].0).doc 产生频率干扰的原因可能有： a. 频率资源应用瓶颈，在话务密集区域现有频率资源不足造成的分配冲突； 覆盖影响（关联）小区集的总载频数大于可用频点数的小区，其中900M网络取大于95,1800M取大于125。 覆盖关联的定义：跟服务小区的CoInfRatio大于3%的小区认为有覆盖关联，这些小区集合做为覆盖关联集合。 具体还可细分为容量是否冗余，如果小区存在可减容余量，即按最忙时话务量和数据业务量折算的配置载波数可减容2个以上或半速率占比配置为20%时可减容载波数大于1的小区。 b. 因小区过覆盖（高层站、覆盖参数设置不当、湖面反射等）等造成的同 邻频干扰冲突。 通过动态覆盖分析系统排查发现的过覆盖小区，及被过覆盖小区干扰的小区，都归结为过覆盖造成的频率干扰。 过覆盖小区： 以服务小区覆盖方位角120度范围内最近的3个小区的距离做为服务小区的
PLC抗干扰处理办法 一、模拟量抗干扰处理办法 1.1、模拟量类型： 1.1.1模拟量输入类型（可根据客户需求定制） 1.1.2 模拟量输出类型 1.2模拟量输入抗干扰处理办法 1.2.1热电偶 特点： 1.测温范围广： 2.K型：抗氧化性能强，宜在氧化性、惰性气氛中连续使用，长期使用温度1000℃，短期1200℃。 3.E型：在常用热电偶中，其热电动势最大，即灵敏度最高。宜在氧化性、惰性气氛中连续使用 4.J型：既可用于氧化性气氛（使用温度上限750℃），也可用于还原性气氛（使用温度上限950℃），并且耐H2及CO气体腐蚀，多用于炼油及化工； 5.S型：抗氧化性能强，宜在氧化性、惰性气氛中连续使用，长期使用温度1400℃，短期
1600℃。在所有热电偶中，S分度号的精确度等级最高，通常用作标准热电偶； 注意： 1.热电偶不能和强电放在一个线槽内 2.使用隔离型热电偶（信号线与屏蔽线分开的热电偶） 处理方法： 1.检测冷端温度，冷端（查看冷端寄存器）与室温（环境温度）是否一致，如有偏差，现将冷端修正准确； 1.冷端温度温度正常时，将EK热电偶放在外部，不接其他负载，且不能与强电放在一个线槽时检测温度（AD模拟量对应寄存器） 2.将机壳接地，EK模拟量的线上加锡箔纸，并与其它干扰源隔开 3.加104瓷片电容、磁环做防干扰处理 4.开关量信号和模拟量信号分开走，模拟信号最好采用单独屏蔽线 5.集成电路或晶体管设备的输入输出信号线，必须使用屏蔽电缆，在输入输出侧悬空，而在控制器侧接地。 6.信号线缆要远离强干扰源，如电焊机、大功率硅整流装置和大型动力设备。 7.交流输入输出信号与直流输入输出信号应分别使用各自的电缆，并按传输信号种类分层敷设 8.采用隔离器，把信号源与PLC隔离开，通过隔离器在把信号输入到PLC。 9.采用隔离变送器，将温度信号通过隔离变送器转换成电压信号或电流信号在送入到PLC。 1.2.2 PT100 特点： 1.测温范围：-99.9~499.9℃，线距越长线损越大 注意： 1.三线制PT100需要并成两线制接线，AD端接信号线，其余两根接在GND端 2.线距1.5m左右，若测温距离长需使用特殊的延长线（线损小） 3.滤波，（1）电容滤波：如果串模干扰频率比被测信号频率高，则采用输入低同滤波器来抑制高频串模干扰，（这里我们可以采用一个47UF\16V的电解电容来处理）（2）数字滤波：PLC内部有特需寄存器，可以改变数值的大小来确定温度采集的频率。 4.采用双绞线作为信号线：串模干扰和被测信号的频率相当，这时很难用滤波的方法消除，此时可在信号源到PLC之间选用带屏蔽层的双绞线作为信号电缆，并确保接地正确可靠。采用双绞线作为信号线的目的是减少电磁干扰，双绞线能使各个小环路的感应电势相互抵消。 5.信号线缆要远离强干扰源，如电焊机、大功率硅整流装置和大型动力设备。 6.交流输入输出信号与直流输入输出信号应分别使用各自的电缆，并按传输信号种类分层敷设 7，采用隔离器，把信号源与PLC隔离开，通过隔离器在把信号输入到PLC。 8，采用隔离变送器，将温度信号通过隔离变送器转换成电压信号或电流信号在送入到PLC 1.2.3 NTC10K/50K/100K
绪论 一、选择题 B1按任务分类的分析方法为 A．无机分析与有机分析 B.定性分析、定量分析和结构分析 C．常量分析与微量分析 D.化学分析与仪器分析 E、重量分析与滴定分析 B2、在半微量分析中对固体物质称样量范围的要求是 A．0.1-1g B.0.01-0.1g C.0.001-0.01g D.0.00001-0.0001g E.1g以上 C3、酸碱滴定法是属于 A.重量分析 B.电化学分析 C.化学分析 D.光学分析 E.色谱分析 A4、鉴定物质的化学组成是属于 A.定性分析 B.定量分析 C.结构分析 D.化学分析 E.仪器分析 E5、在定性分析化学中一般采用 A.仪器分析 B.化学分析 C.常量分析 D.微量分析 E.半微量分析 DE6、下列分析方法按对象分类的是 A.结构分析 B.化学分析 C.仪器分析 D.无机分析 E.有机分析 BC7、下列分析方法为经典分析法的是 A.光学分析 B.重量分析 C.滴定分析 D.色谱分析 E.电化学分析 DE8、下列属于光谱分析的是 A.色谱法 B.电位法 C.永停滴定法 D.红外分光光度法 E.核磁共振波谱法 ABC9、按待测组分含量分类的方法是 A.常量组分分析 B.微量组分分析 C.痕量组分分析 D.常量分析 E.微量分析 ABC20、仪器分析法的特点是 A.准确 B.灵敏 C.快速 D.价廉 E.适合于常量分析 二、是非题 x1、分析化学的任务是测定各组分的含量。 x 2、定量分析就是重量分析。 √3、“主/常量”是表示用常量样品分析主成分。 x 4、测定常量组分，必须采用滴定分析。 x 5、随着科学技术的发展，仪器分析将完全取代化学分析。 分析天平 一、选择题 A1、用半机械加码电光天平称得空称量瓶重为12.0783g，指数盘外围的读数为 A.0mg B.7mg C.8mg D.3mg E.2mg E2、用电光天平称得某样品重14.5827g，光幕上的读数为 A.5mg B.5.8mg C.2mg D.27mg E.2.7mg D3、用万分之一天平称量一物品，下列数据记录正确的是 A.18.032g B.18.03235g C.18.03230g D.18.0324g E.18.03g C4、用电光天平称量某样品时，用了2g和5g的砝码各一个，指数盘上的读数是560mg，光幕标尺上的读数是 0.4mg，则此样品的质量为 A.7.56004g B.7.0456g C.7.5604g D.7.5640g E.7.4560g A5、分析天平的灵敏度应为增加1mg质量使光幕上微分标尺移动 A.10小格 B.1小格 C.100小格 D.0.1小格 E.2-4小格 B6、用直接法称量某样品质量时，若称量前微分标尺的零点停在光幕标线左边，并相差2小格，在此状态下称得该样品的质量为15.2772g，则该样品的真实质量为 A.15.2772g B.15.2770g C.15.2774g D.15.2752g E.15.2792g