材料表征分析技术-化学成分分析UVis

高分子材料成分分析方法

材料的表征技术

材料测试分析方法 现代分析测试技术

第一章1、名词解释：（1）物相:在体系内部物理性质和化学性质完全均匀的一部分称为“相”。在这里，更明白的表述是：成分和结构完全相同的部分才称为同一个相。（2）K系辐射:处于激发状态的原子有自发回到稳定状态的倾向，此时外层电子将填充内层空位，相应伴随着原子能量的降低。原子从高能态变成低能态时，多出的能量以X射线形式辐射出来。当K电子被打出K层时，原子处于K激发

材料物质成分分析表

xrd是x射线衍射，可以分析物相，SEM是扫描电镜，主要是观察显微组织，TEM是透射电镜，主要观察超限微结构。AES是指能谱，主要分析浓度分布。STM扫描隧道显微镜，也是观察超微结构的。AFM是原子力显微镜，主要是观察表面形貌用的扫描SEMEDS（能谱）（分为点、线、面扫map）TEM透射电镜HRTM高分辨电镜明场像暗场像选区电子衍射SAEDEBSD被散射模

成分分析：成分分析按照分析对象和要求可以分为微量样品分析和痕量成分分析两种类型。按照分析的目的不同，又分为体相元素成分分析、表面成分分析和微区成分分析等方法。体相元素成分分析是指体相元素组成及其杂质成分的分析，其方法包括原子吸收、原子发射ICP、质谱以及X 射线荧光与X 射线衍射分析方法；其中前三种分析方法需要对样品进行溶解后再进行测定，因此属于破坏性样品分

材料分析技术(材料的光谱分析技术)

各种材料学分析测试技术总结集团标准化工作小组 [Q8QX9QT-X8QQB8Q8-NQ8QJ8-M8QMN]xrd是x射线衍射，可以分析物相，SEM是扫描电镜，主要是观察显微组织，TEM是透射电镜，主要观察超限微结构。AES是指能谱，主要分析浓度分布。STM扫描隧道显微镜，也是观察超微结构的。AFM是原子力显微镜，主要是观察表面形貌用的扫描SEMEDS（能谱

1、简述材料成分分析中常用的几种主要现代测试技术。2、X射线学的三个主要学科是什么？3、X射线的本质是什么？用于晶体衍射的X射线波长范围是多少？4、X射线连续谱与特征谱及其特点？5、简述X射线衍射的概念及几种基本方法。6、试以面网对X射线的反射作用证明布拉格公式，假设X射线波长不变。7、简述点阵消光法则，说明点阵消光与晶体点阵类型的关系。8、简述XRD定性分

材料表征分析技术-化学成分分析UVis

材料分析测试技术

液相：X射线光电子能谱（XPS）、质谱法、原子吸收光谱1.X射线光电子能谱（XPS）X射线光电子能谱技术（XPS）是电子材料与元器件显微分析中的一种先进分析技术，而且是和俄歇电子能谱技术（AES）常常配合使用的分析技术。由于它可以比俄歇电子能谱技术更准确地测量原子的内层电子束缚能及其化学位移，所以它不但为化学研究提供分子结构和原子价态方面的信息，还能为电子材

材料元素和成分分析表征方法(测试技术)

一、选择题：（8分/每题1分）1. .当X射线将某物质原子的K层电子打出去后，L层电子回迁K层，多余能量将另一个L层电子打出核外，这整个过程将产生（D）。A. 光电子；B. 二次荧光；C. 俄歇电子；D. （A+C）2. 有一体心立方晶体的晶格常数是0.286nm，用铁靶Kα（λKα=0.194nm）照射该晶体能产生（B）衍射线。A. 三条；B .四条；C.

材料表征技术

材料成份分析技术大全1、紫外吸收光谱 UV1.1分析原理：吸收紫外光能量，引起分子中电子能级的跃迁1.2谱图的表示方法：相对吸收光能量随吸收光波长的变化1.3提供的信息：吸收峰的位置、强度和形状，提供分子中不同电子结构的信息2、荧光光谱法 FS2.1分析原理：被电磁辐射激发后，从最低单线激发态回到单线基态，发射荧光2.2谱图的表示方法：发射的荧光能量随光波长

材料元素和成分分析表征方法

《近代材料测试方法》复习题1．材料微观结构和成分分析可以分为哪几个层次？分别可以用什么方法分析？答：化学成分分析、晶体结构分析和显微结构分析化学成分分析——常规方法（平均成分）：湿化学法、光谱分析法——先进方法（种类、浓度、价态、分布）：X射线荧光光谱、电子探针、光电子能谱、俄歇电子能谱晶体结构分析：X射线衍射、电子衍射显微结构分析：光学显微镜、透射电子显微