《材料分析测试技术》试卷（答案）一、填空题：（20分，每空一分）1. X射线管主要由阳极、阴极、和窗口构成。2. X射线透过物质时产生的物理效应有：散射、光电效应、透射X射线、和热。3. 德拜照相法中的底片安装方法有：正装、反装和偏装三种。4. X射线物相分析方法分：定性分析和定量分析两种；测钢中残余奥氏体的直接比较法就属于其中的定量分析方法。5. 透射电子

北京工业大学２００7—2００8学年第二学期测量技术基础试卷(开卷)班级学号姓名成绩一、填空题（２5分，每空1分)1．时间常数τ是一阶传感器动态特性参数，时间常数τ越小，响应越快，响应曲线越接近于输入阶跃曲线。2．满足测试装置不失真测试的频域条件是幅频特性为一常数和相频特性与频率成线性关系。３．电荷放大器常用做压电传感器的后续放大电路，该放大器的输出电压与传感

一、X射线物相分析的基本原理与思路在对材料的分析中我们大家可能比较熟悉对它化学成分的分析，如某一材料为Fe96.5%,C 0.4%,Ni1.8%或SiO2 61%, Al2O3 21%,CaO 10% ,FeO 4%等。这是材料成分的化学分析。一个物相是由化学成分和晶体结构两部分所决定的。X射线的分析正是基于材料的晶体结构来测定物相的。X射线物相分析的基本原

《材料分析测试技术》试卷（答案）一、填空题：（20分，每空一分）1. X射线管主要由阳极、阴极、和窗口构成。2. X射线透过物质时产生的物理效应有：散射、光电效应、透射X射线、和热。3. 德拜照相法中的底片安装方法有：正装、反装和偏装三种。4. X射线物相分析方法分：定性分析和定量分析两种；测钢中残余奥氏体的直接比较法就属于其中的定量分析方法。5. 透射电子

. ... ..现代材料测试技术复习第一部分填空题：1、X射线从本质上说，和无线电波、可见光、γ射线一样，也是一种电磁波。2、尽管衍射花样可以千变万化，但是它们的基本要素只有三个：即衍射线的峰位、线形、强度。3、在X射线衍射仪法中，对X射线光源要有一个基本的要求，简单地说，对光源的基本要稳定、强度大、光谱纯洁。4、利用吸收限两边质量吸收系数相差十分悬殊的特点

《材料分析测试技术》试卷（答案)一、填空题：(20分，每空一分)1．X射线管主要由阳极、阴极、和窗口构成。2．X射线透过物质时产生的物理效应有：散射、光电效应、透射X 射线、和热。3．德拜照相法中的底片安装方法有: 正装、反装和偏装三种。4. X射线物相分析方法分: 定性分析和定量分析两种；测钢中残余奥氏体的直接比较法就属于其中的定量分析方法。5．透射电子显

《材料分析测试技术》试卷（答案）一、填空题：（20分，每空一分）1. X射线管主要由阳极、阴极、和窗口构成。2. X射线透过物质时产生的物理效应有：散射、光电效应、透射X射线、和热。3. 德拜照相法中的底片安装方法有：正装、反装和偏装三种。4. X射线物相分析方法分：定性分析和定量分析两种；测钢中残余奥氏体的直接比较法就属于其中的定量分析方法。5. 透射电子

一、选择题：（8分/每题1分）1. .当X射线将某物质原子的K层电子打出去后，L层电子回迁K层，多余能量将另一个L层电子打出核外，这整个过程将产生（D）。A. 光电子；B. 二次荧光；C. 俄歇电子；D. （A+C）2. 有一体心立方晶体的晶格常数是0.286nm，用铁靶Kα（λKα=0.194nm）照射该晶体能产生（B）衍射线。A. 三条；B .四条；C.

《材料分析测试技术》试卷（答案）一、填空题：（20分，每空一分）1. X射线管主要由阳极、阴极、和窗口构成。2. X射线透过物质时产生的物理效应有：散射、光电效应、透射X射线、和热。3. 德拜照相法中的底片安装方法有：正装、反装和偏装三种。4. X射线物相分析方法分：定性分析和定量分析两种；测钢中残余奥氏体的直接比较法就属于其中的定量分析方法。5. 透射电子

机械工程测试技术基础(第三版)试卷集.一、填空题１、周期信号的频谱是离散的，而非周期信号的频谱是连续的。２、均方值Ψx2表示的是信号的强度，它与均值μx、方差σx2的关系是。３、测试信号调理电路主要有、、。４、测试系统的静态特性指标有、、。５、灵敏度表示系统输出与输入之间的比值，是定度曲线的。６、传感器按信号变换特性可分为、。７、当时，可变磁阻式电感传感器的

名词解释1.确定性信号：能用数学关系式表达的信号。2.信号的时域描述及信号频域描述的定义？信号的时域描述：直接检测到或记录到的信号一般是随时间变化的物理量，称为信号的时域描述；把时域描述的信号进行变换，转换成各个频率对应的幅值、相位，称为信号的频域描述。3.频谱分析：从时域数学表达式转换为频域表达式。4.非确定性信号：又称为随机信号，是无法用明确的数学表达式

1、测量系统的静态特性指标主要有线性度、迟滞、重复性、分辨力、稳定性、温度稳定性、各种抗干扰稳定性等。2、霍尔元件灵敏度的物理意义是表示在单位磁感应强度相单位控制电流时的霍尔电势大小。3、光电传感器的理论基础是光电效应。通常把光线照射到物体表面后产生的光电效应分为三类。第一类是利用在光线作用下光电子逸出物体表面的外光电效应 , 这类元件有光电管、光电倍增管；

《材料分析测试技术》试卷（答案）一、分，每空一分）20（填空题：构成。、阴极、和窗口射线管主要由1. X 阳极、光电效应、透射X射线2. X射线透过物质时产生的物理效应有：散射、热。和和偏装三种。3. 德拜照相法中的底片安装方法有：正装、反装分析两种；测钢中残余奥分析和定量 4. X射线物相分析方法分：定性氏体的直接比较法就属于其中的分析方法。定量两因素影响

机械工程测试技术基础(第三版)试卷集.一、填空题１、周期信号的频谱是离散的，而非周期信号的频谱是连续的。２、均方值Ψx2表示的是信号的强度，它与均值μx、方差σx2的关系是¢x2=H x2+óx2。３、测试信号调理电路主要有电桥、放大、调制解调电路。４、测试系统的静态特性指标有、、。５、灵敏度表示系统输出与输入之间的比值，是定度曲线的。６、传感器按信号变换特

《材料分析测试技术》试卷（答案）一、填空题：（20分，每空一分）1. X射线管主要由阳极、阴极、和窗口构成。2. X射线透过物质时产生的物理效应有：散射、光电效应、透射X射线、和热。3. 德拜照相法中的底片安装方法有：正装、反装和偏装三种。4. X射线物相分析方法分：定性分析和定量分析两种；测钢中残余奥氏体的直接比较法就属于其中的定量分析方法。5. 透射电子

一、X射线物相分析的基本原理与思路在对材料的分析中我们大家可能比较熟悉对它化学成分的分析，如某一材料为Fe96.5%,C 0.4%,Ni1.8%或SiO2 61%, Al2O3 21%,CaO 10% ,FeO 4%等。这是材料成分的化学分析。一个物相是由化学成分和晶体结构两部分所决定的。X射线的分析正是基于材料的晶体结构来测定物相的。X射线物相分析的基本原

北京工业大学2007—2008学年第二学期测量技术基础试卷（开卷）班级学号姓名成绩一、填空题（25分，每空1分）1．时间常数τ是一阶传感器动态特性参数，时间常数τ越小，响应越快，响应曲线越接近于输入阶跃曲线。2．满足测试装置不失真测试的频域条件是幅频特性为一常数和相频特性与频率成线性关系。3．电荷放大器常用做压电传感器的后续放大电路，该放大器的输出电压与传感

传感器与自动检测技术一、填空题（每题3分）1、传感器通常由直接响应于被测量的敏感元件、产生可用信号输出的转换元件、以及相应的信号调节转换电路组成。2、金属材料的应变效应是指金属材料在受到外力作用时，产生机械变形，导致其阻值发生变化的现象叫金属材料的应变效应。3、半导体材料的压阻效应是半导体材料在受到应力作用后，其电阻率发生明显变化，这种现象称为压阻效应。4、

建筑材料检测试题及答案

一、选择题：（8分/每题1分）1. .当X射线将某物质原子的K层电子打出去后，L层电子回迁K层，多余能量将另一个L层电子打出核外，这整个过程将产生（D）。A. 光电子；B. 二次荧光；C. 俄歇电子；D. （A+C）2. 有一体心立方晶体的晶格常数是0.286nm，用铁靶Kα（λKα=0.194nm）照射该晶体能产生（B）衍射线。A. 三条；B .四条；C.