Kr、Xe高压气体电离室时间特性研究

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第40卷增刊 

2006年9月 原子能科 

Atomic Energy Science 学 技 术 

and Technology Vo1.40,Supp1. 

Sep.2006 

Kr、Xe .-._I- 口 同 压气体电离室时间特性研究 

谈春明,邬海峰,卿上玉,王立强 

(清华大学核能与新能源技术研究院,北京 100084) 

摘要:对充氪、氙气体的高压电离室的时间响应特性进行理论分析和推导,分别对这2种气体及其混合 

气体电离室在射线入射后的脉冲上升时间进行测量。测量结果与理论计算值吻合。由此验证了此类电 

离室响应时间可达到10 ms以下,满足成像要求。 关键词:充气电离室;时间响应;氪气;氙气 中图分类号:TI 811 文献标识码:A 文章编号:1000 6931(2006)SO一0139—03 

Study on Time Response Character 

for High Pressure Gas Ionization Chamber of Krypton and Xenon 

TAN Chun—ming,WU Hai—feng,QING Shang—yu,WANG Li—qiang 

(Institute of Nuclear and New Energy Technology,Tsinghua University,Beijing 100084,China) 

Abstract:The time response character for Kr and Xe high pressure gas ionization chain— 

ber is analyzed and deduced.Compared with the measure data of pulse rising time for 

three gas—filled ionization chambers,the calculated and experimental results are equal to 

each other.The rising time less than 10 ms for thiS kind of ionization chamber can be 

achieved,SO this ionization chamber is able to meet the requirement for imaging detection. 

Key words:gas—filled ionization chamber;time response;krypton;xenon 

高压充气电离室型阵列探测器应用于集装 

箱检测已获得了成功_j]。与加速器X射线源 

相比, 。Co源7成像系统的检测射线强度较 

低,以至对电离室气体的探测灵敏度要求更高。 

在惰性气体中,Kr、Xe原子序数大,其能量阻 

止本领较高。一般充入几十个大气压Kr或Xe 

的电离室可有较好的灵敏度和饱和特性。这类 

电离室的时间特性,即从射线入射进电离室灵 

敏体积到输出电流达到最大值的响应时间可由 

实验测量。由于气体的正离子漂移速度远小于 电子漂移速度,正离子的漂移对响应时间起决 

定作用。 

1理论分析与计算 

实验用电离室的电极为平行板状,极 

离d为2 mm,极间电压在1 000 V以下。 

得响应时间,可采用简化模型_2 进行推导 

体中离子迁移率可表示为: 

+一 。 

其中: 为离子迁移率、M为离子质量、e 

收稿日期:2006—05—31;修回日期:2006—07—01 作者简介:谈春明(1973一),男,湖北鄂卅1人,高级工程师,博士,核技术应用专业 间距 

为求 

虚 

(1) 

为基 维普资讯 http://www.cqvip.com 140 原子能科学技术 第4O卷 

本电荷、 。为单位气压下离子的自由程、 为乱 

运动平均速度。 

由式(1),通过查获惰性气体Ar的正离子 

迁移率可估算Kr和Xe的相应值。对惰性气 

体可作如下假设: 

1)气体原子半径与质量数立方根A 。成 

正比,由于惰性气体在实验条件下可近似为理 

想气体,则 。与A 成反比; 

2)气体原子平均动能为3kT/2,忌为玻尔 

兹曼常数,T为绝对温度,当温度相同时,其动 

量M 正比于A 。 

在上述假设条件下,Ar、Kr、Xe 3种气体的 

正离子迁移率反比于A 邝・A“ 。由此可得: 

X一 0 (2) a4G- ̄ 

这样,已知Ar的离子迁移率 ,由式(2) 

可得到Kr或Xe的相应值 。 

另外,有: 

㈦ 

t 一 (4) 

式中:/,L 为漂移速度。电场强度E、气压 相 

同时,响应时间t 正比于A 邝,有: 

。/A¨ 。l ) (5) 

查得Ar的正离子迁移率为1.37 cm ・ 

s-。・V_¨。设极间电压为1 000 V,气压为48 

个标准大气压。已知d为2 mm。算得“ 为 

142.7 cm/s,t 为1.40 ms。对于Ar、Kr、Xe, 

原子质量数分别为39.94、83.80、l31.30。由 

此可得出,充Kr气时,t 约为3.32 ms;充Xe 

气时,t 约为5.61 ms。 2实验装置与结果 

实验装置如图1所示,扇面8等分,共 

4组,开启和遮挡交替旋转。1.85×10“Bq 

”Am源的检测射线经准直器和旋转的扇叶后 

进入电离室的灵敏体积,产生的电流信号由前 

放放大后输入至示波器。由于扇叶旋转时一开 

一闭,在示波器上产生交替上升、下降的脉冲信 

号。扇叶转速可调,最大为l 380 r・min,开 

启和关闭时间相等,最小为5.4 ms,实验调为 

2O ms左右时可观测到合适的脉冲波形。理想 

情况下,信号上升下降时间相等,且代表电离室 

中正离子从收集极到负的高压极漂移所花费的 

时间。分别对充48个标准大气压下的Kr气、 

Xe气及Kr和Xe的混合气体(分子个数中Kr 

占80 、Xe占20 )测量其时间特性,所得结 

果列于表1。 

\I,口 m,O 百,I、 l I 

源 准直器 扇11 r 电离室Ij{『置放大器示波器 

图1实验装置示意图 

Fig.1 Simplified diagram of experiment 

由表1中数据可以看出,当电离室极间电 

压较大时,响应时间可在10 ms以下。Kr与 

Xe混合气体的响应时间处在两者之间,因为所 

充氪气比例更大,其结果也靠近充氪气的情况。 

对t 一1/ 采用拟合公式t 一b・1 000/V4-n 

进行拟合,3种气体条件下的拟合参数分别为: 

充Kr气时,n一0.87,6—2.60,r一0.998;充Xe 

气时,n一0.61,6—4.81,r一0.997;充混合气体 

时,a一0.72,b一2.79,r一0.994。拟合参数r为 

表l 3种气体中的电压与响应时间t 关系 

Table 1 Relationship between voltage and rising time t for three kinds of gas 

200 

400 

600 

800 

 O00 维普资讯 http://www.cqvip.com 增刊 谈春明等:Kr、Xe高压气体电离室时间特性研究 141 

相关系数,其数值接近1则拟合结果接近于直 

线。a是电压 趋向无穷大时对应的响应时间 

t ,代表扇叶边线扫过射线束的时间,其大小受 

准直器线宽和扇叶转速的影响。实验中,准直 

器线宽为1 cm,扇叶半径为40 cm,弧长30 cm, 

实验条件下脉冲顶宽为15~30 ms,对时间的 

影响为0.5~1.0 ms。此值为拟合结果中截距 

a值的大小。 

根据拟合结果,极间电压取1 000 V时, 

Kr、Xe的相应时间分别为3.47、5.42 ms。从 

示波器上读取的时间值误差为±1 ms,拟合后 

上述结果的误差为±0.5 ms,这一结果与实验 

前估计值相符合。 

3 结论 

Ar、Kr、Xe 3种气体原子结构相似,它们经 

辐射电离产生的正离子在电场作用下遵循相同 

的规律。经简单推导,可从Ar的气体漂移特 

性得到Kr和Xe的相应值。特别的,在较高压 力(50标准大气压左右)下,这种关系依然存 

在,其气体中正离子的漂移运动仍然能用文中 

的近似公式推导。理论和实验表明,采用充 

Kr、Xe或其混合气体的高压气体电离室,其响 

应时间都不难做到10 ms以下。这对于数字辐 

射成像用阵列探测器已可适用。考虑到Kr、Xe 

电离室探测灵敏度的显著提高,这类电离室的 

应用前景将十分广阔。 

参考文献: 

[1]安继刚,邬海峰,卿上玉.大型客体x或 辐射 

成像阵列探测器的研制[J].清华大学学报(自然 科学版),1994,34(3):56—62. 

AN Jigang,WU Haifeng,QING Shangyu.Re— search and constrution of X or radiography ar— 

ray detector for large objects[J].Journal of 

Tsinghua University(Science and Technology), 

1 994,34(3):56—62(in Chinese). [2]安继刚.电离辐射探测器[M].北京:原子能出 

版社,1995:67—69.

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