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测试技术复习资料 -标准化文件发布号：（9456-EUATWK-MWUB-WUNN-INNUL-DDQTY-KII 《无机材料测试技术》 试卷（一）

一、 名词解释（每题2分，共20分）

1． 相干散射 波长不变的散射,又称经典散射. 2． 系统消光 由原子在晶胞中的位置不同而引起某些方向上衍射线的消失称为系统消光. 3． μm 4． 粉晶衍射仪法 利用X射线的电离效应及荧光效应，由辐射探测器（各种计数器）来测定记录衍射线的方向和强度。 5．

6． EPMA 电子探针工 7． 几何像差 透镜磁场几何上的缺陷所产生,包括球差、像散和畸变. 8． 相位衬度像 利用电子束相位变化由两束以上电子束相干成像

9． AES 10． DSC 差示扫面量热法

10．微商热重分析 能记录TG曲线对温度或时间的一阶导数的一种技术，也即质量变化速率作为温度或时间的函数被连续记录下来。

二、填空题（每题4分，共20分）

得分 阅卷人

得分 阅卷人 1．吸收限的应用主要是： 合理的选用滤波片材料害人辐射源的波长（即选阳极靶材料） 以便获得优质的花样衍射。

。

2．影响衍射线强度的因子是： 1.多重性因子2. 结构因子 3.脚因子4.温度因子5.吸收因子

。 3．透射电镜制备样品的方法主要有： 直接法：粉末颗粒样品、超薄切片、直接薄膜样品 间接法：一级复型、二级复型；半直接法：萃取复型 。

4．SEM的主要工作方式有： 发射方式、反射方式、吸收方式、投射方式、俄歇电子方式、X射线方式、阴极发光方式、感应信号方式。

。 5．DTA中用参比物稀释试样的目的是： . j 减少被测样品的数量 。 三、判断题（每题2分，共10分）

1. 滤波片的K吸收限应大于或小于Kα和Kβ。

2. 满足布拉格方程时，各晶面的散射线相互干涉加强形成衍射线。 3. 当物平面与物镜后焦平面重合时，可看到形貌像。（√） 4. 原子序数Z越大的原子，其对入射电子的散射的弹性散射部分越小。（ ×） 5. TG曲线上基本不变的部分叫基线。

四、问答及计算题（每题10分，共50分）

1．简述特征X射线产生的机理？ 1.答：入射电子能量等于或大于物质原子中K层电子的结合能,将K层电子激发掉,外层电子会跃迁到K层空位,因外层电子能量高,多余的能量就会以X射线的形式辐射出来,两个能级之间的能量差是固定的,所以此能量也是固定,即其波长也是固定的。 2．试推导面心点阵晶胞的系统消光规律。（面心点阵有四个同类原子，其坐标为000、 1/2 1/2 0、1/2 0 1/2、0 1/2 1/2，原子散射振幅为fa）

得分 阅卷人 得分 阅卷人 3．精确测定点阵常数时，在实验技术和数据处理上都应注意什么问

题？

4．二次电子像和背散射电子像在显示表面形貌衬度时有何相同与不同之处

4.答：相同点：两者都是通过调制物理信号得到的像衬度 不同点：二次电子的强度与原子序数没有明确的关系，但对微区表面相对于入射电子束的方向却十分敏感。而背散射电子对原子序数或化学成分的变化敏感。 5．与现有一些常用的测试技术相比，试述热分析具有的主要特点？并举例说明。 5.答：（1）不受式样分散的限制，即使是粒度小于1μm的高分散的材料，也同样能在温度变化过程中显示出固有的物化性能变化；（2）无论式样是否是晶体，只要在温度变化过程中有物化反应发生，就可以用此法进行研究。举例如下（1）研究无机非金属材料工业中所用原料，尤其是天然原料在加热时的变化特性，了解原料的主矿成分，进行主矿原料的定量分析；（2）研究矿化剂的效能；（3）研究固相反应机理；(4) 确定物质熔融和结晶温度（5）根据试样是热效应特点，为改进工艺，改良配方、克服产品缺陷提供重要的参考资料（6）研究与制定烧成制度与烧成曲线。

《无机材料测试技术》 试卷（二）

一、 名词解释（每题2分，共20分）

1． 特征X射线 具有特定波长的X射线 2． X射线强度 是指垂直于x射线传播方向的单位面积上在单位时间内通过的光子数目的能量总和。

3．光电效应 X射线与物质作用，具有足够能量的X射线光子也能激发掉K层的电子，外层电子跃迁填补，多余的能量辐射出来，此时这里被X射线激发出来的电子成为光电子，所

得分 阅卷人 辐射出来的X射线成为荧光X射线，这个过程称为光电效应。 4．XRF

5．TEM 透射电镜

6．球差 是由电磁透镜中近轴区域对电子束的折射能力与远轴区域不同而产生的。

7．衍射衬度象 8．AES 9． 差示扫描量热法 DSC

10． DTA 差热分析

二、填空题（每题4分，共20分） 1．滤波片的K吸收限应刚好位于 和 之间，

且大于 ，小于 。

2．衍射花样由两个方面组成：一方面是 ， 另一方面是 。

得分 阅卷人 3．景深是指在保持 的前提下，试样在 上下沿镜轴所允许移动的距离。 4．SEM的主要性能有： 。 5．影响热重曲线的主要因素是： . 。 三、判断题（每题2分，共10分） 1.有λ0的X射线光子的能量最大。 2.衍射指数可以表示方位相同但晶面间距不同的一组晶面。 3.调节中间镜的焦距，使其物平面与物镜的像平面重合，叫衍射方式操作。 4.原子序数Z越大的原子，其对入射电子的散射的弹性散射部分越小。 5.蒙脱石脱层间水后，晶格破坏，晶面间距增加。

得分 阅卷人 得分 阅卷人 四、问答及计算题（每题10分，共50分） 1．什么是莫赛莱定律，莫赛莱定律的物理意义是什么？ 2．试推导体心点阵晶胞的系统消光规律。（每个晶胞中有2个同类原子，其坐标为000和1/2 1/2 1/2，原子散射振幅为fa）

3．简述特征X射线谱与连续谱的发射机制的主要区别？

4．透射电镜中经投影的二次复型样品怎样形成形貌像？该像是如何改善衬度的？ 5．陶瓷原料在加热过程中出现哪些热效应？

《无机材料测试技术》试卷（三）

一、 名词解释（每题2分，共20分）

1、相对强度 2、步进扫描 3、指标化

得分 阅卷人 4、F 5、JCPDS 6、色差 7、弹性散射 8、EPMA 9、热分析 10、TG

二、填空题（每题4分，共20分） 1．获得X射线的条件是：

。

2． X射线衍射仪有二种扫描方式： 。

得分 阅卷人 3．电磁透镜有以下特点： 。 4．SEM的主要性能有： 。 5．影响差热曲线的主要因素是： . 。

三、判断题（每题2分，共10分） 1、当高速电子的能量全部转换为x射线光子的能量时产生λ0，此时强度最大，能量最高。 2、弦中点法是按衍射峰的若干弦的中点连线进行外推，与衍射峰曲线相交的点。 3、减弱中间镜的电流，增大其物距，使其物平面与物镜的后焦平面重合，叫衍射方式操作。 4、SEM一般是采用二次电子成像，这种工作方式叫发射方式。 5、基线是ΔΤ=0的直线。

得分 阅卷人

四、问答及计算题（每题10分，共50分） 1、简述x射线衍射物相定性分析的一般步骤。 2、试推导体心点阵系统消光规律。 3、TEM萃取复型样品的散射衬度像形成原理是什么？

4、有金的多晶样品（面心立方结构，a=4.07Ǻ）的电子衍射花样，量得R1、R2、R3值分别为8.8、10.3、14.3(mm)，请列表计算有效相机常数K值。 5、如何利用综合热分析曲线制定陶瓷的烧成制度？

得分 阅卷人 《无机材料测试技术》 试卷（四）

二、 名词解释（每题2分，共20分）

1．特征X射线 2．衍射线的相对强度 3．多重性因子 4．XRD 5．AES 6．静电透镜 7．焦深 8．TEM 9．热分析

题号 一 二 三 四 总分 复检人 得分

得分 阅卷人 10．DTA 二、填空题（每题4分，共20分）

1．一束X射线通过物质时，它的能量可分为三部分： 。 2．衍射线的分布规律是由 决定 的，而衍射线的强度则取决于 。 3．扫描电镜的主要结构分为四大系统： 。 4．在陶瓷原料中发生的主要热效应有： 。 5．热分析的主要方法是： . 。

得分 阅卷人 三、判断题（每题2分，共10分）

1．连续X射谱中，随V增大，短波极限值增大。 2．凡是符合布拉格方程的晶面族都能产生衍射线。 3．色差是由于能量非单一性引起的。 4．当中间镜的物平面与物镜背焦平面重合时，可看到形貌像。 5．非晶质体重结晶时DTA曲线上产生放热峰。

四、问答及计算题（每题10分，共50分）

1．试推导体心点阵晶胞（原子坐标为0、0、0，1/2、1/2、1/2）的系统消光规律。 2．简述多晶试样X衍射定性分析的步骤。 3．薄膜样品在透射电镜中如何形成散射衬度像

4．简述扫描电镜中二次电子像的成像原理。 5．绘出高岭、多水高岭的DTA曲线并解释之。

得分 阅卷人 得分 阅卷人

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现代分析测试技术复习知识点答案

现代分析测试技术复习知识点答案

《现代分析测试技术》复习知识点答案(总13页)--本页仅作为文档封面，使用时请直接删除即可----内页可以根据需求调整合适字体及大小--一、名词解释1. 原子吸收灵敏度：也称特征浓度，在原子吸收法中，将能产生1％吸收率即得到的吸光度的某元素的浓度称为特征浓度。

计算公式： S=×C/A （ug/mL/1%）S——1％吸收灵敏度 C——标准溶液浓度——为1％吸收的吸光度A——3次测得的吸光度读数均值2. 原子吸收检出限：是指能产生一个确证在试样中存在被测定组分的分析信号所需要的该组分的最小浓度或最小含量。

通常以产生空白溶液信号的标准偏差2～3倍时的测量讯号的浓度表示。

只有待测元素的存在量达到这一最低浓度或更高时，才有可能将有效分析信号和噪声信号可靠地区分开。

计算公式： D＝c Kδ/A mD——元素的检出限ug/mL c——试液的浓度δ——空白溶液吸光度的标准偏差 A m——试液的平均吸光度 K——置信度常数，通常取2~33．荧光激发光谱：将激发光的光源分光，测定不同波长的激发光照射下所发射的荧光强度的变化，以I F—λ激发作图，便可得到荧光物质的激发光谱4．紫外可见分光光度法：紫外—可见分光光度法是利用某些物质分子能够吸收200 ~ 800 nm光谱区的辐射来进行分析测定的方法。

这种分子吸收光谱源于价电子或分子轨道上电子的电子能级间跃迁，广泛用于无机和有机物质的定量测定，辅助定性分析（如配合IR）。

5．热重法：热重法（TG）是在程序控制温度下，测量物质质量与温度关系的一种技术。

TG基本原理：许多物质在加热过程中常伴随质量的变化，这种变化过程有助于研究晶体性质的变化，如熔化、蒸发、升华和吸附等物质的物理现象；也有助于研究物质的脱水、解离、氧化、还原等物质的化学现象。

热重分析通常可分为两类：动态（升温）和静态（恒温）。

检测质量的变化最常用的办法就是用热天平（图1），测量的原理有两种：变位法和零位法。

测试技术复习题2 (1)

测试技术复习题2 (1)

复习题1 绪论选择题：1.依据机敏材料本身的物性随被测量的变化来实现信号转换的装置称为（ A ）A.物理型传感器B.结构型传感器C.电桥D.A/D转换器2. 一个被测量与一个预定标准之间进行定量比较，从而获得被测对象的数值结果过程称为（ B ）A．测试 B．测量 C. 试验 D．传感3. 电测法具有测试范围广、精度高、灵敏度高、响应速度快等优点，特别适合于（ C ）A．静态测试 B．线性测试 C. 动态测试 D．非线性测试填空题：1.测试泛指测量和试验两个方面的技术，是具有试验性质的测量，是测量和试验的综合。

2.测量是指一个被测量与一个预定标准之间进行定量比较，从而获得被测对象的数值结果，即以确定被测对象的量值为目的的全部操作，可分为直接比较法和间接比较法。

3.依据机敏材料本身的物性随被测量的变化来实现信号转换的装置称为物理型传感器。

4.随着新材料的开发，传感器正经历着从机构型为主向物性型为主的转变。

名词解释：1.电测法答：电测法是将非电量先转换为电量，然后用各种电测仪表和装置乃至计算机对电信号进行处理和分析的方法。

2. 间接比较法答：间接比较法利用仪器仪表把待测物理量的变化变换成与之保持已知函数关系的另一种物理量的变化。

3.直接比较法答：直接比较法无须经过函数关系的计算，直接通过测量仪器得到被测量值。

简答题：1.试述测量与测试的概念及其区别。

答：测量是指一个被测量与一个预定标准之间进行定量比较，从而获得被测对象的数值结果，即以确定被测对象的量值为目的的全部操作。

测试是对信号的获取、加工、处理、显示记录及分析的过程。

测量是被动的、静态的、较孤立的记录性操作，其重要性在于它提供了系统所要求的和实际所取得的结果之间的一种比较；测试是主动地、涉及过程动态的、系统的记录与分析的操作，通过试验得到的试验数据成为研究对象的重要依据。

2. 简述电测法概念及其优点。

答：电测法是将非电量先转换为电量，然后用各种电测仪表和装置乃至计算机对电信号进行处理和分析的方法。

测试技术复习

测试技术复习

一部分：绪论部分1、测量系统有那些环节，各个环节有什么功能？答：激励装置作用于被测对象，使之产生有用信息的信号， 传感器将被测信息转化为某种电信号，信号调理环节将电信号转换成更适合进一步传输和处理的形式，信号处理对信号进行运算和分析，信号显示和记录环节显示信号以便观测者观察和分析。

而反馈、控制环节用于闭环控制系统中的测试系统。

2、为什么选用电表时，不但要考虑它的准确度，而且要考虑它的量程？为什么使用电表时应尽可能在电表量程上限的三分之二以上使用？用量程为150V 的0.5级电压表和量程为30V 的1.5级电压表分别测量25V 电压，试问哪一个测量准确度高？为什么？ 答：若被测量超过电表的量程会损环电表；在电表量程的三分之二以上使用可提高测量准确度；用30V 的1.5级电压表分别测量准确度高，因为其测量误差小。

3、如何表达测量结果？对某量进行8次测量，测得值分别为：802.40、802.50、802.38、802.48、802.42、802.46、802.45、802.43。

求其测量结果。

解：81802.40802.50802.38802.48802.42802.46802.4388802.44ii xx =++++++===∑ˆ0.04s σ==，ˆ0.014x σ== ˆ802.440.014x X x σ=±=± 4、请将下列诸测量结果中的绝对误差改写为相对误差： ⑴.1.01825447.8V V μ± ⑵.(25.048940.00003)g ± ⑶.2(5.4820.026)/g cm ±解：（1）1.01825440.00766V ±‰ ⑵.25.048940.001198g ± ‰ ⑶.25.482/0.474%g cm ±第二部分：信号及其描述1、周期信号和非周期信号的频谱图各有什么特点？答：周期信号的频谱具有离散性、谐波性和收敛性，即各谐波分量频率为基频的整数倍，离散分布，且幅值随频率的增加而减小。

2014中南大学《测试技术》复习资料(含模拟试题及答案)

2014中南大学《测试技术》复习资料(含模拟试题及答案)

2014中南大学《测试技术》复习资料（含模拟试题及答案）一．概念题1.测量方法的种类？P32.熟悉仪器的动静态指标及概念：准确度、精度、灵敏度、线性、分辨率等 P463.掌握压电效应（正压电效应、逆压电效应）、霍尔效应的概念 压电效应P145霍尔（Hall ）效应：金属或半导体薄片置于磁场中，当有电流流过薄片时，则在垂直于电流和磁场方向的两侧面上将产生电位差，这种现象称为霍尔效应，产生的电位差称为霍尔电势。

霍尔效应产生的机理（物理本质）：在磁场中运动的电荷受到磁场力 F （称为洛仑兹力）作用，而向垂直于磁场和运动方向的方向移动，在两侧面产生正、负电荷积累。

应用举例：电流的测量，位移测量，磁感应强度测量，力测量；计数装置，转速测量（如计程表等），流量测量，位置检测与控制，电子点火器，制做霍尔电机—无刷电机等。

4.掌握激光多普勒流速仪的工作原理（激光多普勒效应）P181 当激光照射到跟随流体一起运动的微粒上时，微粒散射的散射光频率将偏离入射光频率，这种现象叫做激光多普勒效应。

当光源和反射体或散射体之间存在相对运动时，接收到的声波频率与入射声波频率存在差别的现象称为光学多普勒效应，是奥地利学者多普勒于1842年发现的。

当单色光束人射到运动体上某点时，光波在该点被运动体散射，散(反) 射光频率与人射光频率相比，产生了正比于物体运动速度的频率偏移，称为多普勒频移。

转速测量1.数字式转速表 测量原理：数字式转速测量系统由频率式转速传感器、数字转换电路和数字显示器等部分组成。

首先由传感器把转速转变成频率信号，再通过测量信号的频率或周期来测量转速。

2频率法测转速 把被测转速转换成脉冲信号 5．掌握卡门涡街流量计的工作原理（卡门涡街原理）P224 二．简答题：1.掌握系统误差、过失误差和随机误差的概念及特点P7 P11 P34 P362.熟悉热电偶的冷端温度补偿方法：冷端恒温法、冷端温度校正、补偿导线、热电偶冷端补偿器。