一种基于dw01的电池保护电路调试测试方法
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一、 概述
本文着重介绍单节锂电池保护IC 注：单颗IC ，而非保护板）的测试方法。
比较下，测试单颗保护IC 的优点是可以准确的测出IC 的电气特性，且因外部线路已固定，可以直接判断IC 的好坏；它的缺点则是测试速度较慢，另因IC 在上板前的抗静电能力较弱，故对测试人员和测试环境的ESD 防护要求也较高。
DW01D 是富满电子半导体股份有限公司所研发出的单节锂电池保护IC 之一，它具有过充保护、 过放保护和过
二、
1. （M2
2. （M1
3. 降）会通过和P-状 态下，L i t h i u m -I o n
4.不正常充电电流的侦测功能：
正常充电时，如果充电电流很大，CSI侦测到的电压（这个大的电流在两个导通的MOS管上所产生的压降）低于不正常充电侦测电压（VCH），它会通过OC pin 相对于CS的电平由高到低，转换控制充电的MOSFET（M2）管由导通到断开，切断充电回路。
1.正常工作时的耗电流（IDD）的测试方法
测量示意图，见图2。
CSI短接到GND。
用FLUKE 5500A 模拟电池，从VCC输入3.9V（V1），使IC处于正常工作状态，闭合开关K，确认OC输出为高
出为低电平。
CSI 短接到GND 。
V1由FLUKE 5500A 提供，FLUKE 5500A 输出一个VPP
为 1.6V 、OFFSET 为 2.8V 、 频率为10Hz 的方波，OD 的电平也会变为一个有规律的波形。
用示波器比较V1和OD 的电平波形，可得到过放保护延迟时间TOD 。
9.过流保护延迟时间（TOI1）的测试方法
测量示意图，见图10。
V1由稳压电源提供,电压为3.6V，使IC处于正常工作状态。
V2由FLUKE 5500A 提供，FLUKE 5500A 输出一个VPP为0.3V、OFFSET 为 0.1V、频率为10Hz的方波，OD
（除非特别指定，Tamb=25℃）
参数符号测试条件最小值典型值最大值单位工作电压
工作电压VDD -- 1.5 -- 10 V 电流消耗
工作电流IDD VDD=3.9V -- 4.0 6.0 uA 待机电流IPD VDD=2.0V -- 0.3 0.6 uA 检测电压
过充电检测电压VOCD -- 4.25 4.30 4.35 V 过充电释放电压VOCR -- 4.05 4.10 4.15 V 过放电检测电压VODL -- 2.30 2.40 2.50 V 过放电释放电压VODR -- 2.90 3.00 3.10 V 过电流1检测电压VOI1 -- 0.12 0.15 0.18 V 过电流2（短路电流）检测电压VOI2 VDD=3.6V 0.80 1.00 1.20 V 过电流复位电阻Rshort VDD=3.6V 50 100 150 KΩ过电器检测电压VCH -- -0.8 -0.5 -0.2 V 迟延时间
过充电检测迟延时间TOC VDD=3.6V~4.4V 150 340 500 ms 过放电检测迟延时间TOD VDD=3.6V~2.0V 80 200 300 ms 过电流1检测迟延时间TOI1 VDD=3.6V 5 13 20 ms 过电流2（短路电流）检测迟延时间TOI2 VDD=3.6V -- 5 50 us 其他
OC管脚输出高电平电压V oh1 -- VDD-0.1 VDD-0.02 -- V OC管脚输出低电平电压V ol1 -- -- 0.01 0.1 V OD管脚输出高电平电压V oh2 -- VDD-0.1 VDD-0.02 -- V OD管脚输出低电平电压V ol2 -- -- 0.01 0.1
六、波形图
过流延时测试结果图：过充保护测试结果图：
过充恢复测试结果图：过放保护测试结果图：
过放恢复测试结果图：过充延时测试结果图：
过放延时测试结果图：短路延时测试结果图：。
