OLED显示器自动化视觉检测及缺陷校正(Demura)

aoi检测步骤AOI（Automated Optical Inspection，自动光学检测）是一种非接触式自动检测技术，用于检查电子产品的质量和准确性。

AOI检测步骤主要包括设备准备、图像获取、图像处理以及结果分析。

下面是AOI检测步骤的详细介绍。

1.设备准备在进行AOI检测之前，首先需要准备好AOI设备。

这包括确保设备处于良好工作状态，并进行必要的校准和测试，以确保其准确性和可靠性。

2.图像获取在AOI检测过程中，需要使用相机或光学传感器等设备来获取被检测物体的图像。

这些设备通常被放置在一个适当的位置，并使用特定的光源来照明被检测的区域，以确保获取到清晰的图像。

3.图像处理获取到图像后，需要对其进行处理，以提取出物体的特征和细节。

这通常涉及到使用计算机视觉算法来进行图像分析和处理。

例如，可以使用图像滤波器来去除噪声，并使用阈值分割技术将图像转换为二值图像。

4.缺陷检测一旦完成图像处理，就可以进行缺陷检测。

在这一步骤中，可以使用不同的技术和算法来检测和分析可能存在的缺陷，例如焊点缺陷、元件错位、短路等。

这些技术可以基于图像的亮度、颜色、纹理等特征来识别和分类缺陷。

5.结果分析最后一步是对检测结果进行分析和评估。

根据检测到的缺陷数量和类型，可以判断被检测物体是否合格。

通常会将检测结果显示在计算机屏幕上或以报告的形式输出。

此外，还可以将结果与预先设定的标准或要求进行比较，以确定产品是否符合要求。

总结起来，AOI检测步骤包括设备准备、图像获取、图像处理以及结果分析。

通过这些步骤，可以快速准确地检测电子产品的质量和准确性，提高生产效率，降低人为错误的风险。

不过，值得注意的是，不同的产品和应用可能需要不同的参数和算法来进行检测，因此在实际应用中需要进行一定的定制和调整。

参数设定画面与说明：
参数设定画面与说明：
三、首检
生产过的程序，无需重新扫描大图，也无需调整程序，直接设定对位 MARK点测试，测试完毕后在维修站检查并确认是否错误：
四、AOI测试常见问题
4.1 AOI测试中常见的两类问题：
（1）虚焊
①管脚偏移 ②管脚变形 ③焊盘上有异物
电容
④爬锡不良
（2）连焊
2、对于维修站管脚误报较多的芯片，需进行二次目检确认，如 果发现芯片管脚变形较多，应及时反馈并更换物料。
AOI参数设置详见下图：
（3）焊盘有异物造成虚焊
分 析 ： 因焊盘检测框（ Void ）设定是由（ ColorSpace ）颜色拾取与
（Weighting）亮、暗值计算，当焊盘上的异物呈现与焊盘爬锡后的颜 色和亮、暗值相似时，会造成漏报。 改进：1、调整焊盘检测框（Void）ColorSpace参数值，在现有参数值 的基础上加严，方形电感、阻排（阻容）、二极管、胆电容、chip类元 件面积比例下限由65%上升到70%~80%； 2、IC芯片类元件增加Pad检测框。 AOI参数设置详见下图：
检测框设置详见下图： 连 锡 框
特 例 连 锡 框 连 锡 框 连锡框
（3）管脚有异物
分析：连锡框（Bridge）设定是由（Weighting）亮、暗值计算，当异物 呈现与焊盘爬锡后的颜色和亮、暗值相似时，会造成漏报。
改进：1、根据不良品板件进行二次测试，查找良品与异物导致不良的临 界参数值，优化测试参数，减少误报，杜绝漏报； 2 、 连 锡 框 （ Bridge ） 权 重 比 例 ： 绿 色 100%; 蓝 色 150%; 门 槛 值 （100~120）~255，适当调整，值越小，越严格。上下两个连锡框如误 报较多可分别采用特例去除上面和下面的检测（注：按照元器件大小适 当调整连锡框的大小） AOI参数设置详见下图：

aoi检测步骤范文AOI检测步骤，即自动光学检测是一种利用计算机视觉技术和图像处理算法对电子元器件进行检查和判别的方法。

AOI检测可以在高速、精准、灵敏度高的情况下，自动地对电子产品进行无损检测，提高产品质量和生产效率。

下面将介绍AOI检测的步骤，包括前准备、设置参数、图像采集、缺陷检测和结果分析等。

一、前准备：1.准备好AOI设备，包括光源、相机、气缸等，并确保设备运行正常。

2.准备好待检测的电子产品，包括PCB板、组件等，并确保产品的完整性和正确性。

二、设置参数：1.首先设置图像采集的参数，包括分辨率、曝光时间、帧率等。

2.设置缺陷检测的参数，包括缺陷类型、缺陷大小、缺陷形状等。

3.设置产品的检测区域，并确保能够覆盖到所有需要检测的位置。

三、图像采集：1.将待检测的电子产品放置在AOI设备的工作台上，并确保产品的定位准确。

2.启动AOI设备，使其开始进行图像采集。

3.AOI设备的相机会对产品进行多角度的拍摄，并生成多个图像。

四、缺陷检测：1.AOI设备会对采集到的图像进行预处理，包括去噪、图像增强等。

2.利用图像处理算法对图像中的缺陷进行检测，可以使用一些常见的算法，如模板匹配、边缘检测、图像分割等。

3.根据设置的参数，对缺陷进行分类和定位，并生成缺陷图像。

五、结果分析：1.AOI设备会将检测结果显示在计算机上，并以图像的形式呈现出来。

2.检测结果的分析可以通过目视观察，也可以通过计算机算法进行自动分析。

3.对于检测出的缺陷，可以根据缺陷的严重程度和种类，采取相应的处理措施，如修复、替换等。

在进行AOI检测时，需要注意以下几点：1.AOI设备的精度和稳定性对检测结果有重要的影响，因此需要定期进行设备的维护和校准。

2.参数的设置需要根据实际情况进行调整和优化，不同的产品可能需要不同的参数设置。

3.缺陷检测算法的准确性和鲁棒性对检测结果的可靠性有很大影响，因此需要选择合适的算法，并进行优化和改进。

一、目的：规定LCD液晶显示屏的检验项目、检验方法及判定规格，为IQC、OQC、IPQC、QA检验人员提供判定依据。

二、适用范围：适用本公司各供应商及无特殊要求顾客提供的液晶屏的检验判定。

三、抽样水准：进行全检四、使用工具：1、VGA信号发生器2、测屏治具3、静电环、静电手套4、卷尺、放大镜、游标卡尺;五、检验条件：1、照明条件：日光灯600～800LUX；2、目光与被测物距离：30～45CM；3、常温条件下六、PANEL等级：6.1像素缺陷6.1.1定义液晶屏由正方形的像素组成，每一组像素有R/G/B三个子像素组成，如图1或图2所示6.1.2暗点：由于MOS管失效，造成一个子像素点一直不发光，称为暗点暗点的判定：当不发光的子像素面积大于像素面积的1/2时，判定为一个暗点，反之则不计。

如图3，图46.1.3亮点：由于MOS管失效，造成一个子像素一直发光，称为亮点亮点的判定；当发光的子像素面积大于子像素面积的1/2时，判定为一个亮点如图5，图6所示6.1.4微亮点：由于液晶屏内两个电极间侵入了可导电的杂质微粒，造成像素内部分区域一直发亮，符合下面条件时判为微亮点如图76.1.5杂质不良：杂质不良是液晶屏内背光模组部分或偏光片两面等部位侵入杂质引起的不良，杂质不良形状不规则，与像素没有必然的联系，分为圆形和线形，如下图6.1.6偏光片缺陷：液晶屏表面有划伤，凹痕，起泡，气泡等从外表可以看到的不良现象；6.1.7漏光：在黑场，或者蓝场的界面下（有专用测试LCD的颜色软件）能看到有泛白的区域，如图14对于漏光可以根据自己以及客户的接受界限来判定，像上图的大面积漏光且于周围有明显的分别是不允许接受的，如漏光区面积小且与正常区过渡平缓，无明显的分界（如图15）可以适量的接受。

七、屏幕划区：A/B区：八、检验项目及判定标准：1、外包装检查:检查外包装是否完好无损.（全检/批）2、规格型号、等级检查:按入库单号及采购定单，核对每批来料的规格型号、等级是否与实物一致（5PCS/批）.3、外形尺寸检测:检测其长度、宽度、厚度与及灯管线的长度，以工程研发提供相应的规格书为标准，确保所有检测的数据符合要求.（5PCS/批）4、显示画面缺陷判定:通电，用专用检测设备对各个画面进行检九、液晶屏等级判定：9.1 A+ 级等级判定规格备注A＋级亮点N=0所有缺陷不可同时存在微亮点N≤3 Windows桌面不可见暗点N≤3 暗点间距≥5cm连点不允许微暗点忽略污点A区不允许；B区≤1；C区≤2；A区+B区+C区N≤3；且Φ≤0.3mm或W≤0.3，L≤1.0mm；间距≥5cm Windows桌面显示为暗点白点（团）不可见.暗斑无9.2 A级9.3 B 级9.4 C 级十.相关记录:QR-H-02 A/0 --- IQC检验记录表。