支持带内光信噪比光谱仪技术参数_FTB-5240S-P
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支持带内光信噪比(OSNR)测试的光谱分析仪:
1. 主要用途
支持DWDM、OTN网络测试,可软件升级为40G信号带内OSNR测试,100G偏振复用信号的
带内OSNR测试。可用于对N*40Gb/s,N*100Gb/s波分复用(WDM)线路系统以及分插复用器
(OADM)系统的光谱性能进行测量和分析,支持50GHz通路间隔40Gb/s,100Gb/s光信号带内
OSNR的精确测量。
2. 技术要求
2.1. *该型号光谱分析仪(含投标对应型号测试模块)必须在中国国内客户使用六个月以上,
同时应提供在中国国内客户测试N*40Gb/sWDM系统带内OSNR的使用记录和测试数据。
2.2. 仪表功能和指标要求
2.2.1. 仪表应支持以下功能
提供1250-1650 nm DWDM/CWDM的光谱测试功能;
可以软件升级为支持带内OSNR测试功能;
具有WDM测试模式,可直接读取通道中心波长,信噪比等参数;具有EDFA测试模
式,可直接读取通道增益,通道噪声,增益平坦度,平均增益,增益斜率。
具有合波器、分波器等无源器件等测量模式,直接读取带宽、插损、插损最大最
小值和隔离度;
具有漂移模式,能够分析和7x24h监测DWDM/CWDM系统的光谱性能,包括波长、
功率、OSNR等光谱,并自动存储测试结果;
具有光源(DFB,FP)测试模式,可直接读取中心波长,边摸抑制比,3dB带宽等
参数。
*内置偏振控制器,采用偏振测试方法来测量带内 OSNR,不需配置外部的辅助硬
件;
具有IEC线性噪声拟合以及5次方噪声拟合功能。
具有参考功能:可在同一界面比较最近一次测量曲线,以及原始曲线,快速发现
所有变化。
具有智能WDM感知技术:根据通道的速率,调制格式,网络配置(跨OADM,滤波
器)不同,自动的分别对每个通道进行智能信噪比分析。
可软件升级WDM排障器功能。能够分析通道信号质量劣化原因,如:OUT单板
坏,通道PMD过大,通道间信号串扰,非线性效应;并给出每通道噪声源劣化
程度,并以合格,警告,危险区分显示。能够区分通道信号是偏振复用信号还是
非偏振复用信号。能够区分通道是否经过穿通。
可软件升级以支持100G偏振复用信号的带内信噪比测试。
可自动生成测试报告,报告格式包括.html和pdf格式等。报告内容包括:波长、
功率、OSNR等性能参数的平均值、最小值、最大值以及测量参数相对时间的标准
偏移。
可以通过以太网进行远程控制,支持SCPI命令(FTB-500)。
可自动进行软件版本升级。
2.2.2. 光谱测量指标要求
波长范围: 1250 到 1650 nm;
光信号速率:支持40Gb/s,100Gb/s
支持的光通道间隔:50GHz、100GHz;
显示模式: 图形,表格;
波长测量的绝对精度:典型值± 0.050nm;
*波长测量的重复性:±0.003nm;
波长线性度: ±0.01 nm(在1520~1610 nm范围内);
分辨率带宽(FWHM): 最小分辨率带宽小于0.07nm;
读取分辨力: 0.001 nm。
2.2.3. 带内光信噪比(OSNR) 的测量指标要求
*带内光信噪比(OSNR)动态范围(0.1nm带宽):典型值大于35dB;
*50GHz间隔的40Gb/s信号带内OSNR 测量精度:典型值±0.5dB;
带内OSNR单次测试时间:< 0.8s;
2.2.4. 光功率测量的指标要求
单通道最大功率:+18 dBm;
功率灵敏度:-80dBM
功率绝对精度:± 0.5 dB;
功率重复性:± 0.05 dB;
读取分辨力:0.01 dB;
光抑制比:
在±25 GHz(±0.2 nm)处 典型值 40 dB,
在±50 GHz(±0.4 nm)处 典型值 50 dB;
偏振相关损耗(PDL):±0.1 dB(1550nm);
接口回损:>40dB;
接口安全功率:+23dBm。
2.3. 仪表其它要求
仪表应具备彩色触摸屏,尺寸应不小于6.5英寸,支持Windows操作系统,支持
纯中文界面。
仪表应具备USB接口,RJ-45 10M/100M/1000M以太网接口和FLASH存储接口,需
要内置至少8G存储器。
仪表总的重量不大于4KG
电源:220V±10%、50Hz
仪表应具备充电电池供电功能,需要能够连续使用8小时
防震要求:需要符合GR-196-CORE防震要求
工作环境
工作温度: 0
oC~+40 o
C
相对湿度: 90%(+30
o
C)
储存和运输温度: -20
oC~+50 o
C