菲涅尔干涉实验报告

  • 格式:doc
  • 大小:231.00 KB
  • 文档页数:7

菲涅尔干涉测钠光波长
【实验目的】
(1)观察双棱镜干涉现象,测量钠光的波长。

(2)学习和巩固光路的同轴调整。

(3)通过观察双棱镜产生的双光束干涉现象,理解产生干涉的条件。

(4)学习测微目镜的使用及测量。

【实验仪器】
光源、双棱镜、可调狭缝、凸透镜、观察屏、光具座、测微目镜。

【实验原理】
菲涅耳双棱镜可以看作是由两块底面相接、棱角很小(约为 1°)的直角棱镜合成。

若置单色狭条光源S0于双棱镜的正前方,则从S0 射来的光束通过双棱镜的折射后,变为两束相重叠的光,这两束光仿佛
是从光源S 0的两个虚象S 1 及S 2 射出的一样(见图1)。

由于S 1 和S 2 是两个相干光源,所以若在两束光相重叠的区域内放一屏,即可观察到明暗相间的干涉条纹。

设a 代表两虚光源1S 和2S 间的距离,D 为虚光源所在的平面(近似地在光源狭缝S 的平面内)至观察屏Q 的距离,且a 《D ,任意两条相邻的亮(或暗)条纹间的距离为ΔX ,则实验所用光波波长λ可由下式表示:
X D
a
∆=
λ (12-1)
上式表明,只要测出a 、D 和ΔX ,就可算出光波波长。

由于干涉条纹宽度ΔX 很小,必须使用测微目镜进行测量.两虚光源间的距离a ,可用一已知焦距为f 的会聚透镜L ,置于双棱镜与测微目镜之
间,如图12-3所示,由透镜两次成像法求得.只要使测微目
镜到狭缝的距离大于4f ,前后移动透镜,就可以在透镜的两个不同
图12-2 双棱镜B 外形结构图
位置上从测微目镜中看到两虚光源1S 和2S 经透镜所成的实像,其中之一为放大的实像,另一个为缩小的实像.如果分别测得两放大像的间距1d ,和两缩小像的间距2d ,则根据下式
a= 21d d (12-2)
即可求得两虚光源之间的距离a .
图12-3 双棱镜干涉实验装置
【实验内容】 实验步骤 (1) 仪器调节 ① 粗调
将缝的位置放好,调至竖直,根据缝的位置来调节其他元件的左右和高低位置,使各元件中心大致等高。

② 细调
根据透镜成像规律用共轭法进行调节。

使得狭缝到测微目镜的距离大于透镜的四倍焦距,这样通过移动透镜能够在
测微目镜处找到两次成像。

首先将双棱镜拿掉,此时狭缝为物,将放大像缩小像中心调至等高,然后使测微目镜能够接
收到两次成像,最后放入双棱镜,调双棱镜的左右位置,使得两虚光
源成像亮度相同,则细调完成。

各元件中心基本达到同轴。

(2) 观察调节干涉条纹
调出清晰的干涉条纹。

视场不可太亮,缝不可太宽,同时双棱镜棱脊与狭缝应严格平行。

取下透镜,为方便调节可先将测微目镜移至近处,待调出清晰的干涉条纹后再将测微目镜移到满足大于透镜四倍焦距
的位置。

干涉条纹的调整:要通过测微目镜看到清晰的干涉条纹,实验中必须满足两个条件:①狭缝宽度足够窄,以使缝宽上相应各点为相干光,具有良好的条纹视见度。

但狭缝不能过窄,过窄光强太弱,同样无法观察到干涉条纹。

②棱镜的脊背必须与狭缝的取向相互平行,否则缝的上下相应各点光源的干涉条纹互相错位叠加,降低条纹视见度,也无法观察到干涉条纹。

(3) 随着D 的增加观察干涉条纹的变化规律。

(4) 测量
①测量条纹间距Δx
②用共轭法测量两虚光源S1 和S2 的距离d
③测量狭缝到测微目镜叉丝的距离D
【实验数据】
1
x∆的测量
则x∆
平均=0.242mm
mm d d 727.1280.1330.221=⨯=⋅2 d 的测量
d2平均=1.280mm
d=
3 D=50.70CM
4 不确定度的计算

【实验反思】
1. 测量前仪器调节应达到什么要求才能调节出清晰的干涉条纹?
nm
D
d 9 . 586 70
. 51 10 727 . 1 242 . 0 4
= ⨯ ⨯ =
⋅ =
χ λ mm
S U X A 005.0==∆()
()
mm
i S i i X X X 005.013321
2
=-⨯=∑∆-∆==∆()
mm U B 005774.03
01.03
==
∆=
仪()
mm U U U B A X 007638.02
2=+=∆合成不确定度()nm U x U d U x d
3.622
22=⋅⎪⎭⎫ ⎝⎛∆∂∂+⋅⎪⎭⎫ ⎝⎛∂∂=∆λλλ()()
nm 6.3583.26λ±=
答:共轴,狭逢和棱背平行与测微目镜共轴,并适当调节狭逢的
宽度。

2. 本实验如何测得两虚光源的距离d?还有其他办法吗?
答:d=(d1*d2)1/2 或利用波长λ已知的激光作光源,则d=(D/Δx)λ
3. 狭缝与测微目镜的距离及与双棱镜的距离改变时,条纹的间距和数量有何变化?
答:狭缝和测微目镜的距离越近,条纹的间距越窄,数量不变,狭缝和双棱镜的距离越近,条纹间距越宽,数量越小。

【误差分析】
1.测双缝到屏的距离带来的误差
(1)可通过选用mm刻度尺,进行多次测量求平均值的办法减小误差.(2)通过测量多条亮条纹间的距离来减小测量误差.
2.测条纹间距Δx带来的误差.
(1)干涉条纹没有调到最清晰的程度.
(2)分划板刻线与干涉条纹不平行,中心刻线没有恰好位于条纹中心.
(3)测量多条亮条纹间距离时读数不准确.
【注意事项】
1.调节双缝干涉仪时,要注意调节光源的高度,使它发出的一束光能够沿着遮光筒的轴线把屏照亮.
2.放置单缝和双缝时,缝要相互平行,中心大致位于遮光筒的轴线上.
3.调节测量头时,应使分划板中心刻线和条纹的中心对齐,记清此时手轮上的读数,转动测量头,使分划板中心刻线和另一条纹的中心对齐,记下此时手轮上的读数,两次读数之差就表示这两条纹间的距离.
4.不要直接测Δx,要测几个条纹的间距计算得Δx,这样可以减小误差.
5.调节的基本依据是:照在像屏上的光很弱,主要原因是灯丝与单缝、双缝、测量头与遮光筒不共轴所致;干涉条纹不清晰一般是因为单缝与双缝不平行.。