SPC统计过程控制程序
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- 1 - 佛山市卡仕科电器有限公司 文件编号： PB-8.2.3-01
佛山市丽玛电器有限公司 版本版次： A/0
生效日期： 2014-11-15
SPC统计过程控制程序
1 . 目 的 提供 SPC 的使用准则及步骤，并说明使用方法，以便在运用控制图时能够正确地决定、检讨控 制界限与进行控制图的判读。 2. 范围 X-R控制图、 P控制图、 Cpk（制程能力指数）、 Ppk 的运用管理。 3. 职责 3.1 相关部门： SPC的运用与维持。 3.2 品质部： SPC的使用的规划。 4. 定义 3.1 计量值特性 凡产品的品质特性以实际量测方式取得的特性称为计量特性，例如重量、长度等。 3.2 计数值特性 凡产品的品质特性不连续， 不易或不能以实际量测方式取得， 只能间断取值的 特性， 例如不合格数、 不良品率等。 5. 内容 5.1 控制图使用规划及选择原则 5.1.1 使用规划由 QA及工程部根据各制造工序影响因素及质量影响因素，结合成 本及效益，全面 规划需采取控制图控制的工序和产品特性。 5.1.2 选择原则 5.1.2.1 计量值特性选用 X-R 控制图。 5.1.2.2 计数值特性选用 P 控制图。 5.2 控制图绘制、使用步骤 5.2.1 首次使用控制图的作业程序 5.2.1.1 决定须控制的特性。 5.2.1.2 搜集 25 组数据。 5.2.1.3 计算中心线 （ 平均值 ） 及控制上、下限。 5.2.1.4 绘制控制图。 5.2.1.5 检查是否有超出控制界限的点 5.2.1.6 将这些超出控制界限的资料剔除并重新计算中心线 （ 平均值 ）及控制上、下限。文件编号： 版本版次： 生效日期：
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SPC统计过程控制程序 5.2.1.7 决定控制图的中心线 （ 平均值 ） 及控制上、下限。 5.2.2 现场使用控制图的作业程序 5.2.2.1 在新的控制图纸划出控制图的中心线 （平均值 ） 及控制上、下限。
5.2.2.2 依规定的抽样频率及抽样数，并将所得资料记录于控制图上，且依所使用的控制图 种类进行计算。 5.2.2.3 将计算结果描点于控制图上。 5.2.2.4 控制图判读及异常控制图纠正 / 预防措施 5.2.2.5 检讨控制界限 5.2.2.5.1 当完成一张控制图时，根据控制图图纸上的资料重新计算中心线 （平均值）及控
制上、下限。计算时须剔除超出控制界的资料。 5.2.2.5.2 比较计算前后之中心线（平均值）及控制上、下限。 5.2.2.5.3 若无重大差异时在新的控制图纸延用计算前的中心线（平均值） 5.2.2.5.4 若有明显的差异时，可在新的控制图纸使用计算后的控制中心线（平均值）及控制上、 下限。 5.3 控制图判读原则及异常控制图的纠正 / 预防措施 5.3.1 正常之控制图其各点的动态为： 5.3.1.1 多数的点集中在中心线附近。 5.3.1.2 少数的点落在控制界限附近（但未超出控制界限）。 5.3.1.3 各点的分布呈随机状态，无任何规则可循。 5.3.2 异常控制图的判读 5.3.2.1 任何超出控制限的点 5.3.2.2 连续 7 个点在中心线之上或之下 5.3.2.3 连续 7 个点上升或下降
5.3.2.4 任何其它明显的非随机图形，如 2/3 的描点应落在控制限 1/3 的中间区域，描点成 规则形状。 5.3.2.5 时常出现点接近管理界限的时候 5.3.2.6 点集中于中心线附近的时候 5.3.3 异常之控制图的纠正 / 预防措施
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5.3.3.1 出现任何超出控制界限的点，都应提请相关单位进行原因分析，并采取纠正措施。 5.3.3.2 对于连续 7 个点在中心线之上或之下，或连续 7 个点上升或下降，或其它明显非随 机图形，都应提请相关部门分析原因，留意趋势采取相应预防措施。 5.3.3.3 如相关责任部门无视不良现象的存在或长期行动无效果 , 必要时发出《纠正 / 预防 措施要求书》要求其改善。 5.4 X － R控制图的使用方法
X － R 控制图是以控制平均值（ X 控制图）与全距（ R 控制图）的方式达到管 制的目的。 5.4.1 决定样本数
5.4.1.1 使用 X－ R控制图的样本数（ n）以 2 ~ 5 个为适当，但不要超过 10 个为宜。 5.4.1.2 样本数一经决定后必须在使用时固定不变。 5.4.2 平均值与全距的计算
5.4.2.1 平均值（ X） = 各组内数据的和÷样本数。 5.4.2.2 全距（ R） = 各组内的最大值－最小值。 5.4.3 X 控制图与 R控制图之中心线与控制上、下限的计算公式。
5.4.3.1 X 控制图之中心线与控制上、下限的计算公式： 5.4.3.2 R 控制图之中心线与控制上、下限的计算公式： 5.4.3.3 X － R 控制图的系数表
N 2 3 4 5 6 7 8 9 10 A2 1.880 1.023 0.729 0.577 0.483 0.419 0.373 0.337 0.308 D2 1.128 1.693 2.059 2.326 2.543 2.704 2.847 2.970 3.078 D3 0.076 0.136 0.184 0.223
D4 3.267 2.571 2.282 2.114 2.004 1.924 1.864 1.816 1.777 5.5 P 控制图的使用方法
P 控制图是以控制不良率的方式达到控制的目的。 5.5.1 决定样本数 文件编号： PB-8.2.3-01 版本版次： A/0 生效日期： 2014-11-15
- 4 - 5.5.1.1 使用 P 控制图的样本数（ n）以能够发现 1-5 个不良品最为适当，样本数的决定公式为： 5.5.1.2 若未决定样本数，导致控制下限小于 0，则下限取 0。- 5 - 佛山市卡仕科电器有限公司
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SPC统计过程控制程序 5.5.2 控制图的控制界限必须依控制上、下限公式计算，若样本改变时，以实际样本数代 入。 5.5.3 P 控制图之中心线及控制上、下限的计算公式： 5.6 制程能力指数 Cpk 使用规划 5.6.1 工程部根据各制造过程或工序影响以及质量特性，全面规划需进行制程能力控制的制 程或工序并明确相应的 Cpk 值。 5.6.2 制程能力指数 5.6.1.1 使用制程能力指数时，应依统计学的原则，同时衡量制程中的集中（平均）与分数 （变异）状况，以确实掌握制程品质特性。
5.6.1.2 Cpk 值、 Cpk 等级、不合格率及相应措施关系列表如下。 衡量 等级
Cpk 值 Cpk 等级 不良率 （P） 相应措施
A 2.0（ 含以 上） ≥
6
P≤
0.000000002
本公司的优势，需要时配合控
制图控制。 B 1.67~2.0 ≥5 P≤ 0.00000057
希望制程能够达到的水准，应 考
虑配合控制图进行控制 C 1.33~1.67 ≥4 P≤ 0.00006 产品可免检，但应考虑配合控
制图控制。 D 1.0~1.33 ≥3 P≤ 0.0027
制程有改善空间，要改善并可 采
取抽样的方式检验产品 E 0.67~1.0 ≥2 P≤ 0.0455
制程应进行专案改善并考虑 设置检
查站，确认唯有合格的 批才可进入下一制程。
F 0.33~0.67 <2
P≥ 0.3174
制程很差，应考虑实施全检
5.6.3 制程能力指数运用的前提 5.6.3.1 所使用的规格上下限依内部或客户要求。 5.6.3.2 如客户另有特定制程指数值要求时，另和客户协商。 5.6.3.3 指数计算的结果可能因抽样误差而有所差异，使用时掌握其等级，并采取适当措 施即可。 5.6.4 制程能力指数的计算 5.6.4.1 符号说明 USL：表示规格上限。
