数字电子技术实验报告(学生版)

  • 格式:doc
  • 大小:689.00 KB
  • 文档页数:8

数字电子技术实验报告

开课实验室 指导教师

班级 学号 姓名 日期

实验项目 实验一 TTL逻辑门电路 和组合逻辑电路

一、实验目的

1.掌握TTL“与非”门的逻辑功能。

2.学会用“与非”门构成其他常用门电路的方法。

3.掌握组合逻辑电路的分析方法与测试方法。

4.学习组合逻辑电路的设计方法并用实验来验证。

二、预习内容

1.用74LS00验证“与非”门的逻辑功能Y1=AB

2.用“与非”门(74LS00)构成其他常用门电路

Y2=A Y3=A+B=BA Y4=ABBABA

实验前画出Y1——Y4的逻辑电路图,并根据集成片的引脚排列分配好各引脚。

3.画出用“异或”门和“与非”门组成的全加器电路。(参照实验指导书P.75 图3-2-2)并根据集成片的引脚排列分配好各引脚。

4.设计一个电动机报警信号电路。要求用“与非”门来构成逻辑电路。 设有三台电动机,A、B、C。今要求:⑴A开机,则B必须开机;⑵B开机,则C必须开机;⑶如果不同时满足上述条件,则必须发出报警信号。

实验前设计好电动机报警信号电路。设开机为“1”,停机为“0”;报警为“1”,不报警为“0”。(写出化简后的逻辑式,画出逻辑图及引脚分配)

三、实验步骤

1. 逻辑门的各输入端接逻辑开关输出插口,门的输出端接由发光二极管组成的显示插口。逐个测试逻辑门Y1-Y4的逻辑功能,填入表1-1

表1-1

2. 用74LS00和74LS86集成片按全加器线路接线,并测试逻辑功能。将测试结果填入表

1-2。判断测试是否正确。

图中Ai、Bi为加数,Ci-1为来自低位的进位;Si为本位和,Ci为向高位的进位信号。

表1-2

根据设计好的3.电动机报警信输 入 输 出(逻辑电平)

A B Y1 Y2 Y3 Y4

0 0

0 1 /

1 0

1 1 /

Ai 0 0 1 1 0 0 1 1

Bi 0 1 0 1 0 1 0 1

Ci-1 0 0 0 0 1 1 1 1

Si*

Si

Ci 号电路用74LS00集成片按图接线,并经实验验证。将测试结果填入表1-3。

表1-3

四、简答题

1. Y4具有何种逻辑功能?

2. 在实际应用中若用74LS20来实现Y=AB时,多余的输入端应接高电平还是低电平?

3. 在全加器电路中,当Ai=0,Si*=1,Ci=1时Ci-1=?

A

B

C

Y 数字电子技术实验报告

开课实验室 指导教师

班级 学号 姓名 日期

实验项目 实验二 组合逻辑电路的设计

一、实验目的

1.掌握用3线- 8线译码器74LS138设计组合逻辑电路。

2.掌握用8选1数据选择器74LS151设计组合逻辑电路。

3.掌握用4位并行加法器74LS283设计组合逻辑电路。

二、预习内容

实验前设计好电路。(写出输出的逻辑函数式,画出逻辑图及引脚分配)

1. 用3线- 8线译码器74LS138和门电路设计1位二进制全减器电路。

设:被减数为Ai,减数为Bi,来自低位的借位Ci-1;

两数之差Si,向高位的借位信号Ci

2.用8选1数据选择器74LS151设计用3个开关控制一个电灯的逻辑电路。要求改变任何一个开关的状态都能控制电灯由亮变灭或由灭变亮。

设:3个开关的状态分别以A、B、C表示,取1代表开关闭合,取0代表开关断开。用Y代表灯的状态,取1代表灯亮,取0代表灯灭。

从ABC=000时Y=000这个状态开始。

3.用4位并行加法器74LS283设计一个将余3代码转换成8421的二–十进制代码的电路。

三、实验步骤

1. 按照设计好的全减器电路接线,测试逻辑功能并将测试结果填入表2-1。判断测试

结果是否正确。

表2-1

Ai 0 0 1 1 0 0 1

1

Bi 0 1 0 1 0 1 0 1

Ci-1 0 0 0 0 1 1 1 1

Si

Ci

2. 按照设计好的开关控制电路接线,并经实验验证。将测试结果填入表2-2。

表2-2

3.按照设计好的二–十进制代码的电路接线,并经实验验证。将测试结果

填入表2-3。

表2-3 余3码 1100 1011 1010 1001 1000 0111 0110 0101 0100 0011

8421码

四、简答题

1. 通过实验你觉得用小规模集成电路和中规模集成电路来设计组合逻辑电路哪个更方便些?

2. 能否以一片74LS151为核心来设计全加器?

3. 以74LS138和门电路来设计全减器,选用TTL或CMOS门电路那种更合适?

数字电子技术实验报告

A 0

B 0

C 0

Y 0 开课实验室 指导教师

班级 学号 姓名 日期

实验项目 实验三 触发器的逻辑功能测试及移位寄存器

一、实验目的

1. 掌握JK和D触发器的逻辑功能

2. 掌握集成触发器的使用方法

3. 学习移位寄存器的构成方法

二、预习内容

1.双JK触发器74LS76的逻辑功能的测试。

2.双D触发器74LS74的逻辑功能的测试。

3. 画出用D触发器构成的四位移位寄存器的逻辑图,并根据74LS74引脚排列标出引脚号。

(参考实验指导书)

三、实验步骤

1.从74LS76中任选一个JK触发器,将其DR、DS、J、K端接逻辑开关输出插口,CP端接单次脉冲源,Q端接至逻辑电平显示输入插口。按表3-1测试其逻辑功能并记录结果。

2.从74LS74中任选一个D触发器,按表3-2测试其逻辑功能并记录结果。方法同上。

3.用74LS74构成四位移位寄存器。

⑴按四位移位寄存器的逻辑图接线。

⑵数据输入端接至逻辑开关输出插口,各触发器的输出端Q接至逻辑电平显示输入

插口。

⑶工作之初请零,在数据输入端送入相应信号。使其经过4个移位脉冲后,输出为“1101”,将工作过程记录于表3-3中。

表3-1 表3-2

表3-3

移位脉冲数 寄存器中的数码

Q3 Q2 Q1 Q0

0 0 0 0 0

1

2

3

4

四、简答题

1.在图3-1中经过一个CP脉冲后,JK触发器为何种状态?

2.用74LS76的JK触发器转换成的D触发器与74LS74的

D触发器在工作中有什么不同之处? 图3-1

3.移位寄存器如果采用串行输出方式应从哪里输出?需送几个脉冲才能把“1101”取出?

CP J K Qn Qn+1

↓ 01 0

01 1

↓ 10 0

10 1

↓ 00 0

00 1

↓ 11 0

11 1 CP D Qn Qn+1

0 0

0 1

1 0

1 1

JKQ001QSDRD1