东大21秋《现代材料测试技术》在线平时作业3-(辅导资料)-答案

现代材料测试技术复习题及答案现代材料测试技术复习第⼀部分填空题：1、X射线从本质上说，和⽆线电波、可见光、γ射线⼀样，也是⼀种电磁波。

2、尽管衍射花样可以千变万化，但是它们的基本要素只有三个：即衍射线的峰位、线形、强度。

3、在X射线衍射仪法中，对X射线光源要有⼀个基本的要求，简单地说，对光源的基本要求是稳定、强度⼤、光谱纯洁。

4、利⽤吸收限两边质量吸收系数相差⼗分悬殊的特点，可制作滤波⽚。

5、测量X射线衍射线峰位的⽅法有七种，它们分别是7/8⾼度法、峰巅法、切线法、弦中点法、中线峰法、重⼼法、抛物线法。

6、X射线衍射定性分析中主要的检索索引的⽅法有三种，它们分别是哈那⽡尔特索引、芬克索引、字顺索引。

7、特征X射线产⽣的根本原因是原⼦内层电⼦的跃迁。

8、X射线衍射仪探测器的扫描⽅式可分连续扫描、步进扫描、跳跃步进扫描三种。

9、实验证明，X射线管阳极靶发射出的X射线谱可分为两类：连续X射线光谱和特征X射线光谱。

10、当X射线穿过物质时，由于受到散射，光电效应等的影响，强度会减弱，这种现象称为X射线的衰减。

11、⽤于X射线衍射仪的探测器主要有盖⾰-弥勒计数管、闪烁计数管、正⽐计数管、固体计数管，其中闪烁计数管和正⽐计数管应⽤较为普遍。

12、光源单⾊化的⽅法：试推导布拉格⽅程，解释⽅程中各符号的意义并说明布拉格⽅程的应⽤名词解释1、X-射线的衰减：当X射线穿过物质时，由于受到散射，光电效应等的影响，强度会减弱，这种现象称为X-射线的吸收。

2、短波限：电⼦⼀次碰撞中全部能量转化为光量⼦，此光量⼦的波长3、吸收限：物质对电磁辐射的吸收随辐射频率的增⼤⽽增加⾄某⼀限度即骤然增⼤，称吸收限。

吸收限：引起原⼦内层电⼦跃迁的最低能量。

4、吸收限电⼦--hv 最长波长与原⼦序数有关5、短波限 hv--电⼦最短波长与管电压有关6、Ｘ射线：波长很短的电磁波7、特征Ｘ射线：是具有特定波长的X射线，也称单⾊X射线。

8、连续Ｘ射线：是具有连续变化波长的X射线，也称多⾊X射线。

第互号现代材料测试技术材料0902孙伟20090121270第一章X射线衍射分析一、填空题1、X射线从木质上说，和无线电波、可见光、Y射线一样，也是一•种。

2、尽管衍射花样可以干变万化，但是它们的基本要素只有三个：即—、、o3、在X射线衍射仪法中，对X射线光源要有一个基本的要求，简单地说，对光源的基本要求是、、。

4、利用吸收限两边相差十分悬殊的特点，可制作滤波片。

5、测量X射线衍射线峰位的方法有七种，它们分别是、、6、X射线衍射定性分析中主要的检索索引的方法有三种，它们分别是7、特征X射线产生的根本原因是o8、X射线衍射定性分析中主要的检索索引的方法有三种，它们分别是、和字顺索引。

9、X射线衍射仪探测器的扫描方式可分、、三种。

1()、实验证明，X射线管阳极靶发射出的X射线谱可分为两类：和11、当X射线穿过物质时，由于受到散射，光电效应等的影响，强度会减弱，这种现象称为012、用于X射线衍射仪的探测器主要有、、、，其中和应用较为普遍。

13、X射线在近代科学和工艺上的应用主要有x三个方面14、X射线管阳极靶发射出的X射线谱分为两类、。

15、当X射线照射到物体上时，一部分光了由于和原子碰撞而改变了前进的方•向，造成散射线；另一部分光了可能被原了吸收，产生;再有部分光了的能量可能在与原了碰撞过程中传递给了原子，成为。

二、名词解释X・射线的吸收、连续x射线谱、特征x射线谱、相干散射、非相干散射、荧光辐射、光电效应、俄歇电了、质量吸收系数、吸收限、三、问答与计算1、某晶体粉末样品的XRD数据如下，请按Hanawalt法和Fink法分别列出其所有可能的检索组。

2、产生特征X射线的根木原因是什么?3、简述特征X.射线谱的特点。

4、推导布拉格公式，画出示意图。

5、回答X射线连续光谱产生的机理。

6、简述以阴极射线的方式获得X射线所必须具备的条件。

7、简述连续X射线谱的特征8.x射线衍射仪对x光源的要求、光源单色化的方法9.测角仪的调整要求？10.测角仪的工作原理以及各狭缝作用？11.哈纳瓦特与芬克索引的规则？12.定性物相分析的注意事项？电子显微分析部分（第2、3、4章）一、填空题1、电子显微分析是利用聚焦电子束与试样物质相互作用产生的各种物理信号，分析试样物质的、和c2、电子显微镜可分为：、等几类。

东北大学“冶金工程”《现代材料测试技术》23秋期末试题库含答案第1卷一.综合考核(共20题)1.面心点阵的系统消光规律是H+k+L为偶数时出现反射，而H+K+L为奇数不出现反射。

()A.正确B.错误2.在样品台转动的工作模式下，X射线衍射仪探头转动的角速度是样品转动角速度的二倍。

()A.正确B.错误3.扫描电镜二次电子像的分辨率比背散射电子像更高。

()A.错误B.正确4.透镜的数值孔径与折射率有关。

()A.错误B.正确5.入射电子波在样品中振荡的深度周期叫做()。

A.衍射衬度B.消光距离C.偏离矢量6.当X射线照射在一个晶体时，产生衍射的必要和充分条件是必须满足布拉格方程。

()A.错误B.正确7.具有fcc结构晶体的(100)、(110)、(111)、(200)、(210)、(311)对应的倒易点在衍射时都有可能落在反射球面上，而晶面()将出现反射。

A.(311)B.(200)C.(210)D.A和B8.吸收电子的产额与样品的原子序数关系是原子序数越小，吸收电子()。

A.越多B.越少C.不变9.10.11.透射电镜成像系统中，若使中间镜物平面与物镜像平面重合的操作称为成像操作; 而使中间镜的物平面与物镜背焦面重合的操作称为衍射操作。

()A.正确B.错误12.当X射线照射在一个晶体时，产生衍射的必要和充分条件是必须满足布拉格方程。

()A.正确B.错误13.X射线物相定性分析可以告诉我们被测材料中有哪些物相，而定量分析可以告诉我们这些物相的含量。

()A.错误B.正确14.放大倍数是判断显微镜性能的根本指标。

()A.正确B.错误15.经滤波后的X射线是相对的单色光。

()A.错误B.正确16.当X射线管电压低于临界电压时仅可以产生连续X射线; 当X射线管电压超过临界电压就可以产生特征X射线和连续X射线。

()A.正确B.错误17.产生俄歇电子深度范围为表层以下()。

A.10nm左右B.2nm左右C.1nm左右18.19.选择滤波片只要根据吸收曲线选择材料，而不需要考虑厚度。

【奥鹏】[东北大学]19春学期《现代材料测试技术》在线作业2试卷总分:100 得分:100第1题,系统消光规律中同种原子体心晶胞中存在的衍射晶面是（）。

A、(100)B、(203)C、(110)正确答案:第2题,仅仅反映固体样品表面形貌信息的物理信号是（）。

A、背散射电子B、二次电子C、吸收电子D、透射电子正确答案:第3题,对样品进行表面形貌分析时应使用（）。

A、X射线衍射（XRD）B、透射电镜（TEM）C、扫描电镜（SEM）正确答案:第4题,在debye照相法中，不受底片收缩影响的底片安装方法是（）。

A、正装B、反装C、不对称正确答案:第5题,把透镜物平面允许的轴向偏差定义为透镜的（）。

A、景深B、焦深C、球差正确答案:第6题,影响电镜中透镜分辨本领主要是衍射效应和（）。

A、像散B、球差C、色差正确答案:第7题,塑料一级复型的分辨率一般只能达到（）。

A、5nm左右B、10nm左右C、20nm左右正确答案:第8题,电子枪中给电子加速的称为（）。

A、阳极B、阴极C、栅极正确答案:第9题,在入射电子束作用下被轰击出来并离开样品表面的样品的核外电子叫做（）。

A、二次电子B、背散射电子C、俄歇电子正确答案:第10题,吸收因子A（θ）越大，则X射线衍射累积强度( )。

A、越大B、越小C、不影响正确答案:第11题,X射线是一种电磁波，产生X射线的核心部件是X射线管。

A、错误B、正确正确答案:第12题,扫描电镜二次电子像的分辨率比背散射电子像更高。

A、错误B、正确正确答案:第13题,透射电镜图像的衬度与样品成分无关。

A、错误B、正确正确答案:第14题,X射线物相定性分析可以告诉我们被测材料中有哪些物相，而定量分析可以告诉我们这些物相的含量。

A、错误B、正确正确答案:第15题,扫描电镜的衬度和透射电镜一样取决于质厚衬度和衍射衬度。

A、错误B、正确正确答案:第16题,透射电镜成像系统中，若使中间镜物平面与物镜像平面重合的操作称为成像操作；而使中间镜的物平面与物镜背焦面重合的操作称为衍射操作。

一、X射线物相分析基础原理与思绪在对材料分析中我们大家可能比较熟悉对它化学成份分析, 如某一材料为Fe96.5%,C 0.4%,Ni1.8%或SiO2 61%, Al2O3 21%,CaO 10% ,FeO 4%等。

这是材料成份化学分析。

一个物相是由化学成份和晶体结构两部分所决定。

X射线分析正是基于材料晶体结构来测定物相。

X射线物相分析基础原理是什么呢？每一个结晶物质都有自己独特晶体结构, 即特定点阵类型、晶胞大小、原子数目和原子在晶胞中排列等。

所以, 从布拉格公式和强度公式知道, 当X射线经过晶体时, 每一个结晶物质都有自己独特衍射花样, 它们特征能够用各个反射晶面晶面间距值d和反射线强度来表征。

其中晶面网间距值d与晶胞形状和大小相关, 相对强度I则与质点种类及其在晶胞中位置相关。

衍射花样有两个用途:一是能够用来测定晶体结构, 这是比较复杂;二是用来测定物相。

所以, 任何一个结晶物质衍射数据d和I是其晶体结构肯定反应, 所以能够依据它们来判别结晶物质物相,分析思绪将样品衍射花样与已知标准物质衍射花样进行比较从中找出与其相同者即可。

X射线物相分析方法有:定性分析——只确定样品物相是什么？包含单相定性分析和多相定性分析定量分析——不仅确定物相种类还要分析物相含量。

二、单相定性分析利用X射线进行物相定性分析通常步骤为:①用某一个试验方法取得待测试样衍射花样;②计算并列出衍射花样中各衍射线d值和对应相对强度I值;③参考对比已知资料判定出试样物相。

1、标准物质粉末衍射卡片标准物质X射线衍射数据是X射线物相判定基础。

为此, 大家将世界上成千上万种结晶物质进行衍射或摄影, 将它们衍射花样搜集起来。

因为底片和衍射图都难以保留, 而且因为各人试验条件不一样（如所使用X射线波长不一样）, 衍射花样形态也有所不一样, 难以进行比较。

所以, 通常国际上统一将这些衍射花样经过计算, 换算成衍射线面网间距d值和强度I, 制成卡片进行保留。

东北大学2021年9月《现代材料测试技术》作业考核试题及答案参考1. 放大倍数是判断显微镜性能的根本指标。

( )A.正确B.错误参考答案：B2. 白口铸铁在高温时可以进行锻造加工。

( )白口铸铁在高温时可以进行锻造加工。

( )错误3. 标准拉伸比例试样的比例系数K值为5．56时，标距长度为直径的( )倍。

A．10B．20C．5D．6标准拉伸比例试样的比例系数K值为5．56时，标距长度为直径的( )倍。

A．10B．20C．5D．6正确答案：C4. 球墨铸铁可通过调质处理和等温淬火工艺提高其力学性能。

( )球墨铸铁可通过调质处理和等温淬火工艺提高其力学性能。

( )正确5. 体心立方点阵的系统消光规律是当H、k、L全为奇数或全为偶数时才出现反射。

( )A.正确B.错误参考答案：B6. 合金是由两种或两种以上元素所组成的具有____的材料。

合金是由两种或两种以上元素所组成的具有____的材料。

正确答案：金属特性金属特性7. 过共析钢正火的目的是( )。

A．调整硬度，改善切削加工性 B．细化晶粒，为淬火作组织准备 C．消除网状二次渗碳过共析钢正火的目的是( )。

A．调整硬度，改善切削加工性B．细化晶粒，为淬火作组织准备C．消除网状二次渗碳体D．防止淬火变形与开裂C8. 沥青混合料中掺加的矿粉应是酸性的为好。

( )沥青混合料中掺加的矿粉应是酸性的为好。

( )错误9. 吸收电子的产额与样品的原子序数关系是原子序数越小，吸收电子( )。

A.越多B.越少C.不变参考答案：A10. 45钢是( )钢，从含碳量来看是属于中碳钢。

A．合金结构B．优质碳素结构C．碳素工具D．碳素结构45钢是( )钢，从含碳量来看是属于中碳钢。

A．合金结构B．优质碳素结构C．碳素工具D．碳素结构正确答案：B11. 陶瓷一般是不导电的绝缘体，其原因是( )。

A．原子排列不规则 B．原子排列不致密，空隙多 C．原子结合键是离陶瓷一般是不导电的绝缘体，其原因是( )。

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东北大学20秋学期《材料科学导论》在线平时作业3
参考答案
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20秋学期《材料科学导论》在线平时作业3
1. 均匀沉淀法是在溶液中预先加入某种物质，然后通过控制体系中的易控制条件间接控制化学反应，使之缓慢地生成。

这样可以避免在一般沉淀法的操作过程中所造成沉淀剂的局部浓度过高，使沉淀物中极易夹带杂质和产生粒度不均匀等问题。

【选项】：
A 水合物
B 沉淀剂
C 碳酸盐
D 硫酸盐
【答案】：B
2. 早在年，前人类己学会使用稻草作增强材料，掺人粘土中，用太阳晒干制砖，以后又学会了火烧制砖。

【选项】：
A l 万年
B 8000。

东北大学《测试技术基础》在线作业3
单选题判断题
一、单选题（共 10 道试题，共 50 分。

）
1.
在电阻应变测量中，电桥四臂阻值均为R，电桥单臂工作输出为U，当桥臂为4个R相并联时，电桥输出为（）。

（A） 0.5U （B）2U （C）0 （D）U
A.
B.
C.
D.
答：D
2.
答题由两个时间具有少量频率差的波形引起的拍频等于 ( ) ：
(A) 两个频率的平均 (B) 两个频率的和
(C) 两个频率的差 (D) 两个频率之比
A.
B.
C.
D.
答：C
3.
由两个时间具有少量频率差的波形引起的拍频等于 ( ) ：
(A) 两个频率的平均 (B) 两个频率的和
(C) 两个频率的差 (D) 两个频率之比
A.
B.
C.
D.
答：C
4.
被测应变一定时，可以采用（）方法使电桥输出增大。

（A）.大电阻值应变片；（B）.每个桥臂上有两个或多个应变片串联；（C）.四个桥臂都接入工作应变片；（D）.四个桥臂接入应变量相同的应变片。

A.
B.
C.
D.
答：C
5.。

材料现代测试技术答案【篇一：现代测试技术《传感器》复习题】器件不能够检测温度的是（）。

a. 红外探测器b. 热电偶 c．热电阻 d．ccd2．下列传感器不能测量位移的是（）。

a．迈克尔逊干涉仪 b．电阻应变式传感器c．差动变压器式传感器 d．催化传感器3．下列属于物性型传感器的是（）。

a. 热电偶b. 电容式传感器c．直线位移变阻器传感器 d．磁电式速度传感器4．下列适合用作加速度传感器的是（）。

a. 压电晶体传感器b. 电容式传感器c．差动变压器式传感器 d．电涡流传感器5．下列适合用作生物传感器的是（）。

a. 压电晶体传感器b. 电容式传感器c．应变电阻式传感器 d．酶传感器二、判断题1．无论采用何种测量仪器和方法，都不能测量出被测对象的真值。

（）2．由于测量肯定存在误差，所以粗大误差不能消除。

（）3．任何信号都可以用数学关系式来描述。

（）4．测量仪器经过正确严格的标定后可以得到与标定系统相同的精度。

（）5．应变片式位移传感器不适合直接测量大位移。

（）6．电涡流传感器可以实现非接触距离测量。

（）7．一型系统能够消除速度误差。

（）8．磁电式速度计可以实现非接触式振动测量。

（）9．声波在空气中传播时，随着温度降低，速度升高。

（）10．设备表面粗糙程度不影响涡流位移传感器测量其振动幅值。

（） 11．分贝数相同的噪声，人耳感觉到的响度也是一样的。

（）12．桥式电路能够提高测量灵敏度。

（）13．压电式传感器是能量控制型传感器。

（）14．电容式气体压力传感器可以用来间接测量流量。

（）15．虚拟仪器测量系统除了计算机，可以完全不依赖于其它硬件。

（）三、名词解释1．灵敏度：传感器在稳定工作条件下，输出微小变化增量与引起此变化的输入微小变量的比值。

2．线性度：是表征实际特性与拟合直线不吻合的参数。

3．结构型传感器：是利用物理学中的场的定律和运动规律等构成的，其被测参数变化引起传感器结构变化，从而使输出电量变化。

1.在透射电镜中称为衬度光阑的是()。

[答案：B]A.聚光镜光阑B.物镜光阑C.选区光阑2.透射电镜的两种主要功能是检测()。

[答案：B]A.表面形貌和晶体结构B.内部组织和晶体结构C.表面形貌和内部组织3.在入射电子束作用下被轰击出来并离开样品表面的样品的核外电子叫做()。

[答案：A]A.二次电子B.背散射电子C.俄歇电子4.在debye照相法中，不受底片收缩影响的底片安装方法是()。

[答案：C]A.正装B.反装C.不对称5.样品微区成分分析手段包括() 。

[答案：B]A.WDS、EDS和XRDB.WDS、EDS和EPMAC.TEM、WDS和XRD6.把透镜物平面允许的轴向偏差定义为透镜的()。

[答案：A]B.焦深C.球差7.倒易点阵中的一点代表的是正点阵中的()。

[答案：C]A.一个点B.一个晶面C.一组晶面8.俄歇电子能谱仪的主要功能是()。

[答案：C]A.测表面成分和晶体结构B.测内部化学成分和组织C.测表面化学成分9.把透镜像平面允许的轴向偏差定义为()。

[答案：B]A.球差B.景深C.焦深10.据Ewald图解可知，满足衍射条件的晶面倒易点阵，必落在半径为()的反射球面上。

[答案：A]A.1/入B.2/入C.1/2入11.选择滤波片只要根据吸收曲线选择材料，而不需要考虑厚度。

()[答案：B]B.错误12.透射电镜成像系统中，若使中间镜物平面与物镜像平面重合的操作称为成像操作; 而使中间镜的物平面与物镜背焦面重合的操作称为衍射操作。

()[答案：A]A.正确B.错误13.面心点阵的系统消光规律是H+k+L为偶数时出现反射，而H+K+L为奇数不出现反射。

()[答案：B]A.正确B.错误14.在样品台转动的工作模式下，X射线衍射仪探头转动的角速度是样品转动角速度的二倍。

()[答案：A]A.正确B.错误15.体心立方点阵的系统消光规律是当H、k、L全为奇数或全为偶数时才出现反射。

()[答案：B]A.正确B.错误16.背散射电子像和吸收电子像都可以显示样品的元素分布状态。

东北大学智慧树知到“冶金工程”《现代材料测试技术》网课测试题答案（图片大小可自由调整）第1卷一.综合考核(共10题)1.物质对X射线的吸收主要是由()引起的。

A.散射B.热效应C.光电效应2.原子序数衬度是利用对原子序数变化敏感的背散射电子作为调制信号而形成的形貌像。

()A.正确B.错误3.X射线物相定性分析可以告诉我们被测材料中有哪些物相，而定量分析可以告诉我们这些物相的含量。

()A.错误B.正确4.扫描电镜的衬度和透射电镜一样取决于质厚衬度和衍射衬度。

()A.错误B.正确5.倒易点阵()。

A.是晶体的真实点阵B.是实际晶体点阵经一定转化而得到的抽象点阵C.中倒易矢量[hkl]*与正空间(hkl)晶面平行D.中倒易矢量[hkl]*的模等于正空间(hkl)晶面间距的倒数6.扫描电镜二次电子像的分辨率比背散射电子像更高。

()A.错误B.正确7.随X射线管的电压升高，0和k都随之减小。

() A.错误B.正确8.仅仅反映固体样品表面形貌信息的物理信号是()。

A.背散射电子B.二次电子C.吸收电子D.透射电子9.在样品台转动的工作模式下，X射线衍射仪探头转动的角速度是样品转动角速度的二倍。

()A.错误B.正确10.吸收电子的产额与样品的原子序数关系是原子序数越小，吸收电子()。

A.越多B.越少C.不变第1卷参考答案一.综合考核1.参考答案：C2.参考答案：A3.参考答案：B4.参考答案：A5.参考答案：D6.参考答案：B7.参考答案：B8.参考答案：B9.参考答案：B10.参考答案：A。