二硫化钼薄膜及其光电器件的制备和性质研究
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《单层二硫化钼的制备及其光学性能研究》篇一一、引言单层二硫化钼(MoS2)作为一种典型的二维材料,因其独特的电子和光学性能,近年来在科研领域引起了广泛的关注。
其具有优异的电子迁移率、高开关比、高光学透过率等特性,使得其在纳米电子学、光电子学以及光电探测等领域有着广泛的应用前景。
因此,对于单层二硫化钼的制备方法以及其光学性能的研究具有重要的理论价值和实际应用意义。
二、单层二硫化钼的制备单层二硫化钼的制备方法主要有机械剥离法、化学气相沉积法(CVD)等。
本研究所采用的方法是CVD法,通过该方法能够得到大面积、高质量的单层二硫化钼。
1. 化学气相沉积法(CVD)制备原理CVD法是一种在高温条件下通过化学反应将气态物质沉积在基底上形成薄膜的技术。
在制备单层二硫化钼的过程中,通过加热硫化物与金属钼,在高温条件下,使两者反应生成MoS2并沉积在基底上。
2. 制备步骤(1)准备基底:选择合适的基底如二氧化硅/硅基底等,进行清洗和预处理。
(2)制备MoS2前驱体:将金属钼与硫化物混合,通过高温反应得到MoS2前驱体。
(3)生长MoS2薄膜:将前驱体放置于高温反应炉中,在一定温度下使其分解为单层MoS2并沉积在基底上。
(4)后处理:对生长好的MoS2薄膜进行冷却、清洗和干燥等处理。
三、单层二硫化钼的光学性能研究单层二硫化钼具有优异的光学性能,包括高的光学透过率、强光致发光效应等。
本部分主要研究单层二硫化钼的光学透过率和光致发光等特性。
1. 光学透过率研究通过测量不同波长下的光学透过率,研究单层二硫化钼的光学透过率特性。
实验结果表明,单层二硫化钼在可见光波段具有较高的光学透过率,且随着波长的变化呈现出一定的规律性。
这为单层二硫化钼在光电器件中的应用提供了重要的理论依据。
2. 光致发光效应研究光致发光效应是单层二硫化钼的重要光学性能之一。
通过测量不同激发光强度下的光致发光光谱,研究单层二硫化钼的光致发光特性和能级结构。
二硫化钼二维薄膜材料的研究与应用摘要:自从石墨烯问世以来,与其结构类似的二维层状纳米材料在众多研究领域引起了更为广泛的关注。
二硫化钼是一种典型的二维瞬态过度金属层化合物,由范德华力连接。
由三层共价S-mo-S原子层组成。
二硫化钼转变为具有优异半导体性能的二维超薄结构材料。
固体材料的带宽不仅增加了1.29ev,而且电子结构也从间接带宽隙变为直接带宽隙。
同时,二硫化钼在光电子器件中表现出优异性能。
二维结构的二硫化钼在锂离子电池和催化剂中有着广泛的应用,二维结构的二硫化钼材料因其优异的性能近年来得到了广泛的研究。
关键词:二硫化钼;结构和性质;材料制备;薄膜表征前言二维材料是由一个或多个原子层组成的晶体材料。
它的概念起源于十九世纪初。
经试验表明,二维材料可以独立存在。
石墨烯的发现为固态电子学中原子薄层材料的研究开辟了一个新领域。
具有二维晶体结构的无机化合物的研究取得了新进展,极大地激发了研究者的热情。
几十种不同性质的二维材料被发现,显示了几种典型二维材料的晶体结构和性能。
给出了相应材料的临界超导体温度和带隙。
二维二硫化钼过渡金属硫化合物由于其固有的可调带宽引起了研究人员的极大关注。
过渡金属硫化合物在横向和纵向异质结构中都具有新的物理性质。
1、二硫化钼结构和性质1.1二硫化钼结构二硫化钼由一个钼原子和两个硫原子组成,其中钼原子和硫原子共价结合形成s-mo-s结构。
钼原子有六个最近的硫原子,而硫原子有三个最近的钼原子。
两者形成三棱柱状配位结构,层与层之间存在微弱的范德华力作用,每层之间的距离大约0.65nm,Mo原子与S原子间的相对位置差异形成晶体结构[1]。
1.2二硫化钼的光学性质二硫化钼薄膜具有层状结构和特殊的能带结构,具有独特的吸收和光发射等光学性质。
这些特性将使二硫化钼薄膜在光电子器件中得到广泛应用。
当二硫化钼薄膜为单原子层时,其带隙结构将由间接带隙转变为直接带隙并成为导体。
当二硫化钼薄膜为多层膜时,其具有独特的光学性质。
二硫化钼纳米材料的制备及其光催化性能的研究二硫化钼(MoS2)是一种重要的纳米材料,具有较好的光催化性能。
制备高质量的MoS2纳米材料并研究其光催化性能对于探索其应用潜力具有重要意义。
本文将介绍MoS2纳米材料的制备方法,并对其光催化性能进行研究。
MoS2纳米材料的制备方法通常包括两种主要方法:化学气相沉积法和氧化物扩散法。
化学气相沉积法是一种常用的制备MoS2纳米材料的方法。
在实验过程中,首先将硫化钼(MoS2)和硫脲(CS(NH2)2)作为前驱体在高温环境中反应,形成MoS2纳米材料。
反应温度通常在500-900℃之间,反应时间为数小时。
通过控制反应参数,可以得到不同尺寸和形态的MoS2纳米材料。
氧化物扩散法也是一种常见的制备MoS2纳米材料的方法。
该方法主要通过蒸发、热分解和扩散等过程来制备MoS2纳米材料。
首先将硼硝酸钠和硫代硫酸钠溶液混合,在高温条件下蒸发结晶,形成硫酸镁纳米颗粒。
然后,在高温条件下,将硫酸镁纳米颗粒与硼硝酸钠共同加热,经过热分解反应,生成MoS2纳米材料。
通过控制反应温度和时间,可以调控MoS2纳米材料的尺寸和形貌。
MoS2纳米材料的光催化性能依赖于其能带结构和表面特性。
MoS2是一种典型的层状二维材料,具有较大的比表面积和特殊的光电性能。
MoS2的带隙通常在1-2 eV之间,能够吸收可见光和近红外光。
在光照条件下,MoS2可以通过光吸收激发电子,形成光生电子-空穴对。
这些电子-空穴对可以参与光催化反应,从而实现对有机物降解、水分解和制备其它功能材料的目的。
对于MoS2纳米材料的光催化性能研究,一般采用Rhodamine B (RhB)作为模型有机物进行降解实验。
实验证明,MoS2纳米材料对RhB具有良好的光催化降解活性。
通过调节MoS2纳米材料的形貌、尺寸和结构等,可以进一步提高其光催化性能。
此外,还可以利用MoS2纳米材料在光催化反应中的载流子传输特性,构建MoS2与其它光催化材料之间的复合体系,从而提高光催化性能。
《单层二硫化钼的制备及其光学性能研究》篇一一、引言二硫化钼(MoS2)是一种重要的二维材料,因其独特的物理和化学性质,在众多领域中有着广泛的应用。
近年来,单层二硫化钼因其独特的光学性能和电子特性,成为了科研领域的热点研究对象。
本文将主要介绍单层二硫化钼的制备方法及其光学性能的研究进展。
二、单层二硫化钼的制备制备单层二硫化钼的方法主要包括物理气相沉积法、化学气相沉积法、液相剥离法等。
本文将主要介绍液相剥离法制备单层二硫化钼的方法。
液相剥离法是一种利用化学或物理手段将块状二硫化钼剥离成单层或几层的方法。
首先,将块状二硫化钼置于有机溶剂中,通过超声波或机械搅拌的方式剥离成薄片。
然后,通过离心或过滤的方式将薄片从溶液中分离出来,最后将得到的单层或几层二硫化钼薄膜转移到基底上。
液相剥离法的优点在于操作简单、成本低廉,并且可以得到高质量的单层二硫化钼薄膜。
但是,此方法剥离得到的二硫化钼尺寸相对较小,因此需要进行进一步的优化和改进。
三、单层二硫化钼的光学性能研究单层二硫化钼具有独特的光学性能,如光致发光、光吸收等。
这些性能使得其在光电子器件、光探测器等领域有着广泛的应用前景。
首先,单层二硫化钼具有明显的光致发光效应。
在光激发下,单层二硫化钼能够产生强烈的光致发光现象,且发光强度与激发光波长有关。
这一特性使得单层二硫化钼在光电器件中具有潜在的应用价值。
其次,单层二硫化钼具有优异的光吸收性能。
其光吸收系数高,且可调谐的光学带隙使其在可见光和近红外光区域具有较高的光吸收率。
这一特性使得单层二硫化钼在光探测器、太阳能电池等领域具有广泛的应用前景。
此外,单层二硫化钼还具有非线性光学效应、光学饱和效应等特性,这些特性使得其在超快光子学、非线性光学器件等领域也具有潜在的应用价值。
四、结论本文介绍了单层二硫化钼的制备方法和光学性能研究进展。
液相剥离法是一种简单、成本低廉的制备方法,可以得到高质量的单层二硫化钼薄膜。
而单层二硫化钼的光学性能如光致发光、光吸收等特性使其在光电子器件、光探测器等领域具有广泛的应用前景。
《单层二硫化钼的制备及其光学性能研究》一、引言单层二硫化钼(MoS2)作为一种二维过渡金属二硫族化合物,近年来在材料科学和光电子学领域引起了广泛的关注。
其独特的电子结构和物理性质使其在纳米电子学、光电器件以及能源转换等多个领域展现出潜在的应用前景。
因此,对单层二硫化钼的制备方法及其光学性能的研究显得尤为重要。
本文旨在探讨单层二硫化钼的制备方法,并对其光学性能进行深入研究。
二、单层二硫化钼的制备2.1 制备方法目前,制备单层二硫化钼的方法主要有机械剥离法、化学气相沉积法(CVD)以及液相剥离法等。
其中,CVD法因其可控制性高、产率高、可大面积制备等优点,成为目前应用最广泛的制备方法。
CVD法制备单层二硫化钼的步骤如下:首先,将钼源(如MoO3)和硫源(如S或H2S)分别加热至一定温度,使其在高温下反应生成气态的MoSx;然后,将气态的MoSx引入到基底(如SiO2/Si基底)上,通过化学反应或物理沉积的方式在基底上形成MoS2薄膜;最后,通过退火处理和清洗等步骤得到单层二硫化钼。
2.2 制备过程中的关键因素在CVD法制备单层二硫化钼的过程中,关键因素包括反应温度、硫源与钼源的比例、基底的选择以及退火处理等。
这些因素都会对最终制备得到的单层二硫化钼的形貌、厚度以及光学性能产生影响。
三、光学性能研究3.1 光学吸收特性单层二硫化钼具有独特的光学吸收特性,其吸收光谱在可见光范围内表现出明显的光吸收增强效应。
研究表明,单层二硫化钼的光吸收系数较高,且具有可调谐的带隙结构,使其在光电器件中具有潜在的应用价值。
3.2 光致发光特性单层二硫化钼还具有优异的光致发光特性。
在光照条件下,单层二硫化钼能够产生光生载流子,并通过光致发光现象实现光能的转换与利用。
此外,通过调节激发光的波长和功率等参数,可以实现对单层二硫化钼的光致发光特性的调控。
3.3 光响应速度与稳定性在光电器件中,材料的光响应速度和稳定性是评价其性能的重要指标。
第33卷 第9期2013年9月 物 理 实 验 PHYSICS EXPERIMENTATION Vol.33 No.9 Sep.,櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶2013 收稿日期:2013-04-26;修改日期:2013-07-06 资助项目:苏州市科技计划项目资助(No.SYG201121);江苏省大学生科技创新项目资助 作者简介:何 杰(1990-),男,江苏淮安人,苏州科技学院数理学院2010级本科生. 通讯作者:马锡英(1965-),女,甘肃兰州人,苏州科技学院数理学院教授,博士,研究方向为半导体材料.热沉积法制备纳米二硫化钼薄膜及其光电特性研究何 杰,陈康烨,林 拉,张国瑞,顾伟霞,马锡英(苏州科技学院数理学院,江苏苏州215011) 摘 要:以MoS2粉末为原料,以氩气为携载气体,在400~600℃温度范围内利用热蒸发方法在硅衬底表面制备了不同厚度的MoS2薄膜.利用X射线衍射和扫描电子显微镜分析了MoS2薄膜的结构和表面形貌,发现MoS2薄膜由多晶MoS2粒子组成,颗粒均匀,平均纳米颗粒尺寸约为60nm.利用紫外可见光光谱仪测量了其吸收特性,发现样品在720nm附近有很强的吸收.应用霍尔效应和伏安法研究了MoS2/Si样品的接触特性和电子的运输特性,发现该异质结具有良好的整流特性,即正向电压下电流随电压呈指数增长,而在反向偏压下漏电流很小,电子迁移率可达到6.730×102 cm2/(V·s).实验结果表明MoS2薄膜具有良好的电学特性,可用来制备晶体管和集成电路等器件.关键词:二硫化钼;纳米薄膜;热蒸发沉积中图分类号:O484 文献标识码:A 文章编号:1005-4642(2013)09-0001-051 引 言二硫化钼是具有金属光泽的黑色固体粉末,具有良好的的化学稳定性、热稳定(熔点是1 185℃)和防腐蚀性、润滑、催化等性能,不溶于水、稀酸、碱和其他有机溶剂,一般也不与金属表面发生反应,不侵蚀橡胶制品[1].MoS2一直是工业领域广泛使用的润滑剂[2].另外,在石油加氢脱硫催化剂[3]、光电化学电池[4]、非水锂电池[5]、高弹体新材料[6]及涂层[7]等领域也得到了广泛应用.随着纳米科技的兴起,对于MoS2的研究也转入到纳米尺度范围.纳米MoS2比体材料MoS2具有更优越的性能,尤其作为润滑材料在摩擦材料表面的附着性、覆盖程度、抗磨、减摩性能都有明显提高.在L.Margulls等[8]制备出富勒烯结构的纳米MoS2之后,人们开始尝试应用不同方法来制备纳米MoS2,已经得到了许多不同形貌的纳米MoS2,如富勒烯状、棒状、球状等.与此同时,也发现纳米MoS2在润滑剂[9]、电极材料[10]、储氢材料[11]和催化剂[12]等领域有着广泛的应用.MoS2呈六方密堆积的石墨层状结构,层与层间由弱相互作用的范德瓦尔斯力相结合,经过测定,S-Mo-S层的层厚为0.315nm,层间的距离为0.349nm,两层间极弱的S—S键极易滑动[13].因此,与石墨容易剥离为单原子层的石墨烯相似[14],通过微机械剥离也很容易成为单层MoS2膜[15].单层MoS2是具有直接帯隙为1.8eV的半导体.这就使得MoS2在太阳能电池、晶体管、集成电路等方面有良好的发展前景.A.Kis研究组已经利用剥离方法研制了电流开关比达到108、静态漏电流低于2pA的单层MoS2晶体管[16],这表明单层MoS2晶体管具有极好的开关特性、放大特性[17]和超低的静态功耗,MoS2将在微型便携式电子系统和逻辑电路中发挥重要作用.目前,纳米MoS2的制备方法主要有化学法、物理法和单层MoS2重堆积法[18].化学法主要包括硫代钼酸铵酸化法、五氯化钼和硫化氢作前驱体的化学气相沉积法、微滴乳化法等[19].物理法是通过机械研磨和高能物理等方法对MoS2进行粉碎和细化从而制备纳米材料.单层MoS2重堆法是通过正丁基锂还原MoS2生成LixMoS2,然后LixMoS2在离层试剂中发生离层从而得到[MoS2]x-.其中离层试剂中的氢元素转化为氢气,由于气体膨胀导致层与层的剥离,因此得到稳定的单分子层悬浮液,最后单层MoS2又在一定条件下发生重堆积[20].本文主要采用热蒸发沉积法制备MoS2,利用X射线衍射(XRD)、扫描电子显微镜(SME)和金相显微镜等分析测试手段对样品结构和表面形貌进行了表征,分析了薄膜的表面形貌,估算了薄膜晶体的尺寸,并且利用紫外分光可见光光度计分析了MoS2的吸收特性.最后利用霍尔效应和I-V测试仪分析了MoS2的表面电学特性和MoS2/Si异质结的接触特性以及其中电子的运输特性.2 实 验2.1 实验设备和材料实验中利用热蒸发沉积法(PVD)制备MoS2薄膜,实验装置如图1所示.实验仪器主要由5部分构成:真空石英管构成的物理沉积室、真空抽气系统、气体质量流量计、进气系统和温度控制系统.实验所用的硅衬底是电阻率为3~5Ω·cm、晶向(100)的P型硅(Si)片.取20g分析纯度的MoS2粉末,放入玛瑙碗中研磨,滴入PVA胶(7%~8%)20滴,搅拌,再滴入等量的PVA,继续搅拌,完成后放入烘箱,在100~200℃温度下烘烤4~5min,取出.然后取2小勺烘干后的MoS2粉末或混合粉末放入模具中,利用普通陶瓷压机,在约5MPa压力下压成直径1cm的小圆饼状,取出.放入陶瓷纤维高温烧结炉中,在500℃温度下烘烤10h去胶,然后取出.图1 实验装置示意图2.2 样品制备和分析方法将Si片衬底浸泡于稀释的HF酸中去除Si表面氧化的SiO2.再将Si片放置于装有洁净的去离子水的超声波清洗机中清洗,去除Si片上的杂质,再将Si片依次逐个吹干后均匀等距地放置于实验仪器的石英管中,然后将压好的MoS2圆饼放置于石英管中,之后将石英管密封,打开真空泵将石英管内抽到准真空状态,然后打开设置好程序的加热装置.当温度达到设定的实验温度时打开氩气阀门,调节流量计使真空管中的氩气流量稳定.MoS2圆饼在高温下蒸发,蒸发的MoS2颗粒随着携载气体氩气向Si片方向运动.MoS2颗粒输运到Si片表面通过吸附、沉积形成MoS2薄膜.一般影响样品质量的实验参量有温度、时间、氩气流量、实验压强.在本实验中,实验温度为400~600℃,时间为10~40min,氩气流量为10~40cm3/min,工作压强为0.01Pa.通过控制较小的氩气流量,使单位时间内少量MoS2分子到达Si片表面,并且通过控制反应时间,可以得到超薄的MoS2薄膜.反应结束后,依次关闭氩气阀门和气体阀控装置,石英管的温度降到常温时,打开石英管,取出样品,放入培养皿待测.利用X射线衍射仪、光学显微镜和扫描电镜观察样品的结构和表面形貌,利用紫外可见光分光光度计、电流/电压测试装置和霍尔效应研究样品的光电特性.3 实验结果与分析通过金相显微镜观察温度在400~600℃、氩气流量15~20cm3/min,时间为20~30min的条件下制备的样品,发现在温度550℃,20cm3/min,30min生长的样品薄膜比较均匀,面积较大,并有显著形貌特征.图2为该样品的X射线衍射(XRD)谱.在2θ角为13.48°,29.45°,32.99°,47.78°,54.65°,56.45°处有6个非常强的衍射峰,与MoS2晶体的XRD标准卡片对比,发现这6个衍射峰分别与对应的MoS2(002),(104),(100),(105),(106),(110)晶面的衍射峰位基本相吻合,说明实验生长的样品为多晶的MoS2薄膜.由XRD衍射峰的半高全宽,通过Scherrer公式Dhkl=kλ/(βcosθ)可以估算MoS2晶粒的尺寸,其中Dhk1是沿垂直于(hkl)晶面的晶粒大小,λ是入射X射线波长,λ=0.154nm,k是常量,一般取0.89,β是衍射峰的半高全宽,θ为布拉格衍射角.如果有多个峰值,应分别计算每个峰值2 物 理 实 验第33卷图2 X射线衍射图对应的晶粒大小然后取平均值.得到实验制备样品的平均尺寸大约为60nm.由于衍射峰的半高全宽差别很大,Scherrer公式只能对MoS2晶粒尺寸做大概估算.图3为典型的550℃制备的样品的SEM图片,右上角小图是对大图中间的一小块的放大图像.可以看出,MoS2颗粒较均匀地分布在Si衬底上.根据图中的比例尺,可以估算出晶粒的尺寸为50~100nm,与Scherrer公式计算出的晶粒尺寸基本吻合.图3 550℃退火样品的扫描电镜图片利用UV-3600分光光度计测量了550℃制备的MoS2纳米薄膜样品的吸收谱,如图4所示.可以看出,在670nm处有1个小的吸收峰,其对应的带隙宽度为1.8eV,恰好对应了单层MoS2的带隙宽度.另外,MoS2样品在732nm有很强的吸收,可看做为峰值吸收和吸收限,其对应的带隙宽度为1.69eV.与单层MoS2670nm处典型的吸收峰相比,732nm处的峰值较宽,并且向长波长方向发生了移动,这是由于MoS2纳米薄膜颗粒尺寸存在较大的分布,使吸收峰产生了展宽.MoS2纳米颗粒具有较大的比表面积,包含较多的悬挂键、表面态和缺陷态,使吸收峰发生了红移.由于样品制备仪器长期使用,石英管中可能存在其他杂质,实验过程中以及实验样品保存的过程中也有可能引入其他杂质,而其他的峰值可能就是由于这些杂质引起的.对比标准的纳米MoS2吸收谱发现732nm的峰值较宽,分析是由薄膜颗粒尺寸变化引起的.总体上,MoS2薄膜对400~700nm波段的可见光有较强的吸收,表明MoS2可以用作良好的光吸收材料,例如太阳能电池等.图4 纳米MoS2薄膜的吸收谱在待测样品(1cm×1cm)的4个顶角上蒸镀4个镍电极a,b,c,d,如图5所示,电极与薄膜属于欧姆接触.利用HMS-3000霍尔效应测量仪测量MoS2纳米薄膜表面的I-V特性,如图6所示.可以看出,4电极间电压Vab,Vbc,Vcd,Vda与电流I近似成线性关系,表明MoS2薄膜具有良好的表面导电特性.由于4个电极间的对称性和样品表面存在一些颗粒导致表面存在起伏,使MoS2样品的表面I-V曲线并不呈严格的线性关系,而是有所偏离.为了与纯Si片相比较,在图7中给出了纯Si片表面的I-V特性,可以看出,与MoS2纳米薄膜表面的I-V特性存在显著差别.图5 镍电极3第9期 何 杰,等:热沉积法制备纳米二硫化钼薄膜及其光电特性研究图6 MoS2的霍尔效应表面I-V特性曲线图图7 Si衬底的霍尔效应表面I-V特性曲线图在Si衬底的下表面和衬底上MoS2薄膜的上表面蒸镀镍电极,电极与薄膜和Si衬底属于欧姆接触.MoS2/Si异质结的I-V特性如图8所示.图8 MoS2/Si异质结的I-V特性从图中可以看到,样品两端加正向电压时,电流随电压增大成指数增长关系,而当加反向电压时反向电流很小,Is0约为1.128μA,且表现出反向饱和特性,表明MoS2/Si异质结具有良好的整流特性,即单向导电性.图9为半对数的拟合图,电流的对数值与拟合线完全重合,并呈线性关系,说明MoS2和Si形成了良好的异质结.图9 半对数ln I-V曲线及其拟合线 最后,在550℃生长条件下,探究不同氩气流量和不同生长时间对样品的电子迁移率、霍尔系数、载流子浓度和电导率的影响,如表1所示.在550℃、氩气流量20cm3/min、反应时间30min条件下制备的MoS2薄膜的电子迁移率最大,为6.730×102 cm2/(V·s).电子迁移率是半导体材料的一个重要的参量,电子迁移率越大,材料的导电性越好,相同电流下的功耗就越小,电流承载能力也就越强.电子迁移率不仅影响材料的导电性,还对器件的工作频率有着很大的影响.因为半导体晶体管的截止频率与基区材料的载流子迁移率成正比,所以电子迁移率越高,晶体管的开关转换速度越快.另外,通过测量还发现样品的霍尔系数为正数,表明MoS2薄膜的多数载流子为空穴,呈导电类型p型.虽然MoS2薄膜在制备时并没有掺杂,可能是因为在生长过程中p-Si衬底中掺杂的硼原子在高温下扩散到MoS2薄膜中,体现出p型特性.表1 不同条件下制备的MoS2薄膜的电学特性参量样品T/℃qv/(cm3·min-1)t/min ns/cm-2μ/(cm2·V-1·s-1)σ/(S·cm-1)RH/(cm3·C-1)A 550 15 20 3.412×106 1.381×102 7.549×10-6 1.830×107B 550 15 30 3.328×105 1.433×102 7.641×10-7 1.876×108C 550 20 30 2.814×105 6.730×102 2.355×10-6 2.858×1084 物 理 实 验第33卷4 结 论实验通过热蒸发沉积法制备了MoS2薄膜,并研究了其光电特性.发现在温度550℃、氩气流量20cm3/min、沉积时间30min条件下能够沉积质量较好的纳米MoS2薄膜,晶粒尺寸在50~200nm之间.MoS2薄膜具有良好的光学性质,在720nm附近有很强的吸收.MoS2薄膜具有良好的导电性,其电子迁移率可达到6.730×102 cm2·V-1·s-1.MoS2/Si异质结表现出完美的整流特性,可用来制备晶体管和集成电路等器件.参考文献:[1] 杨智甫,姚红爱.二硫化钼新品种的工业性试验研究及开发[J].中国钼业,2004,28(1):39-41.[2] 松永正久.固体润滑手册[M].范煜,吴伟忠,齐尚奎,等译.北京:机械工业出版社,1986:87-98.[3] Takur D S,Delmon B.The role of groupⅧmetalpromoter in MoS2and WS2hydrotreating catalysts[J].J.Catal.,1985,91(2):308-317.[4] Tributsch H.Photoelectrochemiatry of layer-type-zirconium disulfide[J].J.Electrochem.Soc.,1981,128(6):1261-1269.[5] Golub A S,Zubavichus Y V,Slovokhotov Y L,etal.Layered compounds assembled from molybde-num disulfide single-layers and alkylammonium cat-ions[J].Solid State Ionics,2000,128(1/4):151-160.[6] Peters W E.Thermoplastic elastomer-containingbitumen and asphat modifiers and their manufacture[P].US Pat.5393819,1995-02-28.[7] Huggins G E.Flyropolymer surface coated products[P].US Pat.5262241,1993-11-16.[8] Margulis L,Salitra 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detected by silicon photocell and tracked by remote controlled fine motor.The signalwas collected by sound card.Butterworth bandpass filter was used in the circuit and Matlab audioweighting filter was adopted for signal processing and filtering.The results indicated that this methodcould monitor clearly and accurately.Key words:laser monitoring;Matlab;audio weighting filter;remote control fine motor;Butter-worth bandpass filter[责任编辑:任德香](上接第5页)Electrical properties of nano MoS2thin film prepared bythermal evaporation depositionHE Jie,CHEN Kang-ye,LIN La,ZHANG Guo-rui,GU Wei-xia,MA Xi-ying(School of Mathematics and Physics,Suzhou University of Science and Technology,Suzhou 215011,China)Abstract:MoS2thin films were deposited on Si substrates by thermal evaporation of MoS2powderwith argon as the carrying gas at 400~600℃.The structure and surface morphology were analyzedby X-ray diffraction and scanning electronic microscopy.It was found that the film consisted of MoS2nanoparticles,the average size of which was about 60nm.The film gave strong absorption near 720nm.We also studied the contact and other electrical properties of the MoS2/Si heterojunction bymeans of Hall effect and V-I measurements.The electron mobility of the MoS2film was up to 6.730×102 cm2/(V·s)and the heterojunction has good rectification properties.These results showed thatthe MoS2thin films had high quality of electrical properties and could be used to fabricate transistorand integrated circuit.Key words:MoS2;nanometer films;thermal evaporation deposition[责任编辑:任德香]9第9期 唐丽红,等:利用激光反射法探测微小振动。
二硫化钼及其复合材料的制备与应用二硫化钼(MoS2)是一种典型的层状二维材料,具有优异的电学、光学、力学和化学性质。
MoS2在电子学、光电子学、化学传感器等领域具有广阔的应用前景。
本文主要介绍MoS2及其复合材料的制备和应用。
1. MoS2的制备方法MoS2的制备方法主要有三种:机械剥离法、气相化学气相沉积法(CVD)和气相沉积-结晶法。
(1)机械剥离法机械剥离法是一种简单易行的制备方法。
将天然MoS2矿物进行机械剥离,可以得到单层或多层MoS2。
该方法制备的MoS2具有宽带隙,适合制备场效应晶体管和光电器件。
但机械剥离法的缺陷在于MoS2表面容易产生化学反应,导致在制备过程中MoS2的物理化学性质改变。
(2)气相化学气相沉积法气相化学气相沉积法是一种制备高质量MoS2的方法。
该方法使用Mo和S的前体化合物,如Mo(CO)6和(DMT)2S,通过化学反应制备MoS2。
CVD法可控制MoS2的厚度和形状,得到高质量MoS2,具有优异的电学性质。
(3)气相沉积-结晶法气相沉积-结晶法是一种新型的MoS2制备方法。
该方法通过等离子体化学气相沉积,在Silicon衬底上生长MoS2薄膜,在高温环境下结晶。
该方法制备的MoS2具有非常高的结晶度,垂直于衬底的MoS2纳米片数量高达10层。
这种高质量MoS2具有极佳的电学和光学性质。
2. MoS2的应用MoS2具有较大的比表面积、良好的吸附性能和优异的光学性能,被广泛应用于传感器、光电器件和催化剂等领域。
(1)传感器应用MoS2能够通过吸附分子,在表面产生多种物理化学性质的变化,因此被广泛应用于气体传感器和化学传感器。
在气体传感器中,MoS2可以吸附NH3、NO2、CO、H2等气体,能够实现高灵敏度和高选择性的检测。
在化学传感器中,MoS2可以吸附Na+、K+等离子体,实现高精度的离子浓度检测。
(2)光电器件应用MoS2具有可调谐的光电性质,在光电器件中具有广泛的应用前景。
二硫化钼薄膜晶体管制备一、前言二硫化钼(MoS2)是一种具有优异电学、光学和力学性能的二维材料,近年来受到了广泛的研究关注。
作为一种半导体材料,MoS2薄膜可以用于晶体管等电子器件的制备。
本文将介绍二硫化钼薄膜晶体管制备的相关内容。
二、制备方法目前,制备MoS2薄膜的方法主要有化学气相沉积法(CVD)、机械剥离法和溶液剥离法等。
其中,CVD法是最常用的制备MoS2薄膜的方法之一。
1. 化学气相沉积法CVD法是利用化学反应在基底上生长MoS2晶体。
该方法需要先在基底上生长一层金属催化剂(如Ni、Co或Pt),然后在高温下通过气相反应使金属催化剂与硫源反应生成MoS2晶体。
具体步骤如下:(1)清洗基底:将基底放入丙酮中清洗5分钟,然后用去离子水冲洗干净并吹干。
(2)沉积金属催化剂:将清洗后的基底放入含有金属催化剂的溶液中,在高温下进行沉积。
(3)沉积MoS2薄膜:将含有硫源和惰性气体(如Ar或N2)的气体流入反应室,通过控制温度和时间,使硫源与金属催化剂反应生成MoS2晶体。
(4)去除金属催化剂:将生长好的MoS2薄膜在高温下进行退火,使金属催化剂与MoS2分离。
2. 机械剥离法机械剥离法是通过机械力将MoS2晶体从其原始基底上剥离下来,然后再转移到另一个基底上。
这种方法可以制备大面积、高质量的MoS2单晶片。
具体步骤如下:(1)清洗原始基底:将原始基底放入丙酮中清洗5分钟,然后用去离子水冲洗干净并吹干。
(2)制备MoS2单晶片:将原始基底放入含有MoS2晶体的溶液中,在低温下进行生长。
生长完成后,使用粘性胶带将MoS2晶体剥离下来。
(3)转移:将剥离下来的MoS2晶体通过粘性胶带转移到另一个基底上。
3. 溶液剥离法溶液剥离法是通过在MoS2晶体上涂覆一层聚合物,然后将其浸泡在化学试剂中,使聚合物与MoS2分离。
这种方法可以制备大面积、高质量的MoS2薄膜。
具体步骤如下:(1)清洗基底:将基底放入丙酮中清洗5分钟,然后用去离子水冲洗干净并吹干。
二硫化钼及其复合材料的制备与应用二硫化钼是一种重要的功能材料,具有优良的导电性、光学性能和力学性能,因此在许多领域都有着广泛的应用。
二硫化钼的复合材料也具有很高的研究价值和应用前景。
本文将重点介绍二硫化钼及其复合材料的制备方法和应用领域。
一、二硫化钼的制备方法1. 化学气相沉积法化学气相沉积法是一种常用的制备二硫化钼的方法。
通常是将硫化钼挥发体输送到基底表面,经化学反应形成二硫化钼的薄膜或纳米颗粒。
这种方法制备的二硫化钼薄膜具有良好的结晶性和均匀的厚度。
2. 水热法水热法是通过在高温高压水溶液中使金属阳离子和硫阴离子发生反应来制备二硫化钼纳米颗粒的方法。
该方法简单易行,且能够控制产物的形貌和大小。
3. 溶剂热法溶剂热法是将金属硫化合物与有机溶剂在一定温度下进行反应,生成二硫化钼的方法。
这种方法制备的二硫化钼颗粒具有较高的比表面积和较好的分散性。
1. 二硫化钼/聚合物复合材料将二硫化钼纳米颗粒与聚合物进行混合,再经过热压或溶液法等方法制备成复合材料。
这种复合材料不仅具有二硫化钼的良好导电性能,还具有聚合物的韧性和可塑性。
2. 二硫化钼/碳复合材料将二硫化钼与碳材料(如碳纳米管、石墨烯等)进行复合,形成具有优良导电性和光学性能的复合材料。
这种复合材料在光伏器件和储能设备等领域有着广泛的应用前景。
1. 光电器件二硫化钼具有优良的光学性能和导电性能,因此在光伏器件、光电传感器和光催化等领域有着广泛的应用。
二硫化钼复合材料由于具有更高的性能表现,因此在这些领域的应用前景更为广阔。
3. 功能涂料二硫化钼复合材料可以制备成具有防腐蚀、抗磨损和导电性能的功能涂料,因此在航空航天、汽车制造和海洋工程等领域有着广泛的应用。
4. 生物医疗二硫化钼及其复合材料在生物医疗领域也具有重要应用价值,可以用于生物传感器、药物传输和生物成像等领域。
《单层二硫化钼的制备及其光学性能研究》篇一一、引言二硫化钼(MoS2)作为二维材料领域中重要的一员,因其在光学、电子、热学等方面出色的性能引起了科研工作者的广泛关注。
在众多研究中,单层二硫化钼(Monolayer MoS2)由于其独特的能带结构和良好的稳定性,在光电子器件、催化剂等领域有着广泛的应用前景。
因此,研究单层二硫化钼的制备工艺及其光学性能具有重要意义。
本文旨在介绍单层二硫化钼的制备方法,并对其光学性能进行深入研究。
二、单层二硫化钼的制备单层二硫化钼的制备主要采用化学气相沉积法(CVD)。
首先,将钼源(如MoO3)置于石英管中,然后通入硫化氢(H2S)气体进行硫化反应。
通过控制反应温度、气体流量等参数,使得钼源在基底上生长出高质量的单层二硫化钼。
此外,还有机械剥离法、液相剥离法等制备方法。
CVD法具有工艺简单、可重复性好等优点,是目前应用最广泛的制备方法之一。
三、单层二硫化钼的光学性能研究1. 光学吸收与反射特性单层二硫化钼具有独特的光学吸收和反射特性。
在可见光波段,其光学吸收系数较高,反射率较低。
此外,其光学带隙随层数变化而变化,单层二硫化钼的光学带隙较大,使得其在光电子器件中具有较好的光电转换效率。
2. 光学非线性特性单层二硫化钼还具有优异的光学非线性特性。
在强光照射下,其非线性光学效应显著,可用于制备高灵敏度的光电器件。
此外,其非线性光学效应还可用于调控光波的传播和调控光子晶体等光子器件的能带结构。
3. 光学响应速度单层二硫化钼的响应速度较快,具有较高的光响应速度和较低的暗电流。
这使得其在光探测器、光电开关等光电子器件中具有较好的应用前景。
此外,其光响应速度还与材料的质量、制备工艺等因素有关。
四、实验结果与讨论通过实验制备的单层二硫化钼具有较高的结晶度和较好的光学性能。
通过测试其光学吸收光谱、反射光谱等数据,我们发现其光学性能与理论预测相符。
此外,我们还研究了不同工艺参数对单层二硫化钼光学性能的影响,为进一步优化制备工艺提供了依据。
二硫化钼薄膜及其光电器件的制备和性质研究以石墨烯、二硫化钼(MoS<sub>2</sub>)为代表的二维层状纳米材料,由于其具有良好的稳定性、丰富的结构及优异的性质,在电子、光电器件和传感器等众多领域展现出巨大的应用前景,逐渐成为了物理、化学、材料科学等诸多领域的研究重点。
不同于石墨烯的零带隙,MoS<sub>2</sub>纳米材料具有可调控带隙。
MoS<sub>2</sub>独特的带隙特点使其在各类功能器件领域具有广阔的应用前景。
本论文利用机械剥离法及化学气相沉积法(CVD)制备了高质量少层
MoS<sub>2</sub>薄膜及MoS<sub>2</sub>/WS<sub>2</sub>异质结复合材料,并
对材料的形貌、组分及光学性质进行表征分析。
成功制备了基于不同层数的
MoS<sub>2</sub>薄膜及其异质结构的背栅场效应晶体管,并将器件应用于高灵
敏光电探测器及低浓度微量葡萄糖生物传感器中。
主要研究内容如下:(1)开展了少层MoS<sub>2</sub>薄膜的制备及光学性质方面的研究。
采用CVD及机械剥离法制备出高质量的少层MoS<sub>2</sub>薄膜,并对材
料的晶体结构、形貌、厚度及光学性质进行表征。
根据CVD法制备的样品在生长过程中不同时间点的形貌对比分析,讨论了MoS<sub>2</sub>薄膜材料的生长机理。
在S-Mo-S成键的过程中,不同晶面的生长速度不同,导致六边形的
MoS<sub>2</sub>晶体逐渐向三个方向生长,最终呈现出三角片状的薄膜结构。
研究还发现,其它少层TMDs薄膜材料在生长过程中具有相同的形态演变规律。
本部分研究为后续MoS<sub>2</sub>异质结的生长及少层MoS<sub>2</sub>薄膜在功能器件中的应用研究奠定了基础。
(2)开展了少层MoS<sub>2</sub>薄膜FET的制备及电学性质方面的研究。
制备了基于不同层数MoS<sub>2</sub>薄膜的背栅场效应晶体管,并对器件
的电学性质进行对比分析。
器件的输出特性曲线反应出栅压对器件具有良好的控制作用,且源、漏电极与MoS<sub>2</sub>沟道层之间形成了良好的欧姆接触,利于载流子的注入。
器件的转移特性曲线表明,0.5V漏压下,双层至五层
MoS<sub>2</sub>薄膜场效应晶体管的载流子迁移率分别为31.7,12.8,4.1及3.2 cm<sup>2</sup>/V·s。
(3)开展了MoS<sub>2</sub>薄膜FET光电性质方面的研究。
考虑到入射光线由上至下照射到器件顶部,故设计并制备了基于少层MoS<sub>2</sub>薄膜的背栅光电晶体管。
通过对比实验讨论了光照功率及栅压对器件光电性能的影响,实验结果表明,固定栅压下,随着光照功率的增加,光电流及光响应度逐渐增大;在相同光照功率下,所加栅压越大,就会获得越大的光响应度。
(4)开展了MoS<sub>2</sub>异质结FET的制备及光电性质研究。
首先利用CVD法制备大面积高质量的MoS<sub>2</sub>/WS<sub>2</sub>异质结构,并对异质结的形貌、组分及光学性质进行表征分析。
研究中,我们详细讨论了异质结样品不同区域的形貌差异及各区域间的形态演变过程,并通过异质结与单一
MoS<sub>2</sub>薄膜材料光学性质的对比分析,揭示了异质结交界面处载流子的运动情况。
随后研究了MoS<sub>2</sub>异质结FET的光电性能,并与单一
MoS<sub>2</sub>器件的光电性能进行对比分析。
20 mW光照
下,MoS<sub>2</sub>/WS<sub>2</sub>异质结光电晶体管的光响应度增大50倍。
而复合高功函数MoO<sub>3</sub>材料后所形成的
MoS<sub>2</sub>/MoO<sub>3</sub>异质结器件的光响应度则提升近100倍。
研究结果表明,MoS<sub>2</sub>异质结构能够有效的增强器件的光电性能,
其中高功函数纳米材料可通过异质结界面处的电荷转移过程诱导产生内建电场,进而有效地促进MoS<sub>2</sub>中光生电子空穴对分离,从而实现对
MoS<sub>2</sub>薄膜光电晶体管良好的光电调制效应。
由能带理论分析可知,器件光电性能提升的主要原因是由于异质结中两种材料能级位置的差异引起交界面处有效的光生电子空穴对分离导致的。
光生少子被异质结交界面处的缺陷捕获,而光生多子则参与导电,有效的提升器件的光电性能。
(5)开展了MoS<sub>2</sub>薄膜场效应晶体管葡萄糖生物传感性能的研究。
研究结果表明,相同栅压及漏压下,随着葡萄糖浓度的增加,器件源漏电流增加,由此可实现对未知浓度葡萄糖溶液的检测。
研究中,我们首次利用
MoS<sub>2</sub>薄膜FET实现了对极低浓度葡萄糖溶液的超灵敏检测。
该葡萄糖传感器的灵敏度高达269.71mA/mM,检测限低至300 nM,线性范围为300 nM<sup>3</sup>0 mM。
此外,其还具有响应时间短(<1s),稳定性好,可实现微量检测等优势。
本部分研究表明少层MoS<sub>2</sub>基FET在新型功能器件应用领域具有广阔的发展空间。