ASME射线检测
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标准ASME第Ⅴ卷（2004版）《射线检测》前言“ASME锅炉压力容器规范”是由美国机械工程师学会（ASME）中的压力容器委员会（BPVC）制定的。
所有有关NDT的方法标准产组合在第Ⅴ卷中，并分A、B两分卷。
A分卷（第1章～第13章）是强制性标准，B分卷（第22章～第30章）是引用标准（一般为非强制性标准，除非A分卷中明文规定）。
第Ⅴ卷规定了八种方法：射线照相检验（RT）、超声波检验（UT）、液体渗透检验（PT）、磁粉检验（MT）涡流检验（ET）、目视检验（VT）、泄漏试验（LT）和声发射检测（AT）。
射线照相检验的方法要求列在A分卷第2章和B分卷第22章中，验收要求和合格标准则列在相关制造标准中，如动力锅炉按第Ⅰ卷，压力容器按Ⅷ卷，核动力装置按Ⅲ卷，核电厂设备在役检查规则按第Ⅺ卷。
第1章通用要求1.适用范围⑴包括无损检测技术和方法要求，不含验收标准；⑵检测材料、焊缝和零部件表面的和内在的瑕疵；⑶检测方法包括：RT、UT、PT、MT、ET、VT、LT和AT；⑷通用术语在附录中规定。
2.总则⑴ ASME其它各卷中有关无损检测方法的内容一般参照A分卷；⑵ B分卷中的方法标准为引用标准，除非A分卷或其它分卷明确要全部或部分采用后，它们才能成为强制性的标准；⑶使用规范时，任一章节的范围应包括该章节中所有适用条款；⑷英制单位和SI单位都符合要求，但要注意始终如一地使用一种单位体系；⑸无损检测人员的资格应按SNT—TC—IA和CP—189规定鉴定；⑹当规范未作明确规定时，资格鉴定可简化为日常生产操作的验证；⑺仅具备有限范围无损检测资格的人员要求参见强制性附录的规定；⑻ SNT—TC—IA是无损检测人员培训，资格鉴定和认证的的基础性文件。
3.设备检验设备符合规范的要求是用户的责任。
4.检验规程⑴应按相关卷的要求制定通用的无损检验规程和人员资格鉴定规程；⑵遇到特定形状和材料时，还需制定专门的检验规程；⑶所有的无损检验工作应严格按规程进行。
所有的检验规程须向授权检验师演示，并在其满意的条件下，才能实施。
5.检验设备的校验⑴制造厂应保证检验设备能按A分卷和/或B分卷的要求进行校验；⑵校验的条件由制造厂确定。
6.检验和检查⑴授权检验师（检查员）有权力和责任对全部的检验工作核实或重新确认；⑵检查和检验的区别：“检查”在规范中用于授权检验师的职责，“检验”用于制造单位所雇佣的人员进行质量控制的职责，但在B分卷中有时提到“检查”一词，实际上就是规范中所使用的“检验”一词意思，这是因为B分卷来源于美国材料及试验学会的标准（ASTM）。
7.评定（验收标准）验收标准在规范的其它分卷中给出。
如如动力锅炉按第Ⅰ卷，压力容器按Ⅷ卷，核动力装置按Ⅲ卷，核电厂设备在役检查规则按第Ⅺ卷。
8.记录/文件⑴记录/文件应符合规范的有关要求；⑵制造厂或检验单位对记录/文件负责。
9.强制性附录无损检测术语汇总第2章射线照相检验T—210 适用范围适用于铸件和焊缝的射线照相检验。
ASME射线照相检验部分包括胶片射线照相、射线实时成像、数字射线照相。
本章应与第1章一起使用。
T—220 通用要求T—221 规程要求射线检验与其它无损检测（NDT）方法一样，应按ASME标准有关要求制订出相应的通用检验规程和人员资格鉴定规程；对特定形状、材料，还应制定专用工艺卡。
这些规程应送授权检验师认可，并演示使其满意，然后将副本发至无损检测（NDT）人员手中。
射线检验操作必须按书面规程进行。
每个规程应至少包括下列内容：⑴材料及厚度范围；⑵使用的同位素或最高X射线机电压；⑶射线源至工件的最小距离；⑷工件的源侧至胶片的最大距离；⑸最大射线源尺寸；⑹胶片牌号及名称；⑺所用的增感屏。
按规程所拍摄的底片，可作为规程满意与否的凭证。
特别是密度和像质计的成像情况，也可作为授权检验师演示的凭证。
T—222 表面修整⑴材料（包括铸件）任何表面的不规则不应遮蔽或者混淆任何不连续的成像；⑵焊缝表面焊波或焊缝表面高低不平在射线底片上形成的影像不应遮蔽任何缺陷的影像或与之相混淆。
所有对接焊缝接头的完工表面可与母材平齐，或有合理而均匀的凸起。
被检焊缝及其热影响区内外表面均应符合要求。
余高高度应符合ASMEⅠ卷和Ⅷ卷的有关规定。
锅炉焊缝表面不得有引起应力集中的缺陷：焊波粗劣、沟槽、焊瘤、过渡不圆滑、凹坑。
咬边深度≯0.8mm 或10%t（取两者较小值，t为母材厚度）。
容器由焊接引起的厚度减薄≯0.8mm 或10%t（取两者较小值，t为母材厚度）。
T—223 背散射背散射线的控制：将一个高度不小于1/2in和厚度不小于1/6in的铅字“B”，在曝光时，贴到每个胶片暗盒的背面，以测定背散射是否到达胶片。
T—224 识别系统（底片上的标识）⑴在射线底片上，应能给出永久性的定位标记和识别标记，包括合同号、零件号、焊缝号或部件号等；⑵识别系统不一定要求以射线照相影像的方式显示；⑶在任何情况下，这些标记不能遮蔽被检的区域；⑷透照时定位标记应放在工件上，而不能放在暗盒上；⑸在许可时定位标记应能永久地标在零件上或标注在一张图上。
在射线底片要求的保存期内能根据射线底片在工件上精确地定出被检区域的位置。
⑹底片上的定位标记应能表明，所要求的检验区域已全部得到覆盖。
T—225 射线底片密度范围的检查为了判定底片黑度，应当采用黑度计或阶梯黑度比较片。
T—226 检验程度射线照相检验程度应在本规范的有关篇章中规定。
T—230 设备与材料T—231 胶片⑴胶片的选用胶片的选用应按照SE—1815《工业射线照相胶片体系的标准试验方法》的要求，使用工业射线照相胶片。
胶片制造商应对所生产的胶片进行分级，并向使用者提供相应的分级表。
按SE—1815，射线胶片按三项特性指标，即一定密度下的最小梯度、最大颗粒度和最小梯噪比（梯度/颗粒度），共分为八类，射线照相允许使用的胶片体系级别是：Ⅰ级、Ⅱ级、Ⅲ级、W—A级和W-B级。
实际工作中，应根据被检对象的重要性、所需达到的灵敏度，选用适当类型的胶片，对于高能X射线和γ射线照相时，应考虑选用粒度较细梯度较高的胶片，以弥补因能量过高引起的灵敏度的损失。
⑵胶片的处理SE—999《工业射线照相胶片处理质量控制的标准方法指南》或SE—94《工业射线照相检验标准方法指南》第Ⅲ部分应作为处理胶片的参考依据。
T—232 增感屏进行射线照相检验时，可以使用增感屏。
ASME规范第Ⅴ卷第2章未对增感屏的选用作具体规定。
T—233 像质指示器（IQI）像质指示器应是孔型和线型的。
⑴孔型像质指示器应按照SE—1025要求制造和标识，孔型像质指示器的编号、厚度及孔径见表T—233.1；⑵线型像质指示器按照SE—747的要求制造和标识。
线型像质指示器的名称、线径和线号见表T—233.2；⑶可使用灵敏度等于或优于上述两类像质指示器灵敏度的其他替代型像质指示器。
像质指示器的材料应按SE—1025所规定与被透照材料相同组别或级别或比被透照材料射线吸收性能低的组别或级别的合金材料制作。
T—234 射线底片的观察设施（观片灯）观片灯应能够提供柔和的背景亮度，而不会在射线底片上引起反射、阴影或眩光，观片灯应具有足够强的可变光源，以便能在规定的密度范围内看到孔型像质指示器的基本孔或线型像质指示器的编号线。
观看的条件，应能使来自底片边缘以外的光线或来自底片低密度部位的光线不至于干扰对底片作出评判。
T—260 校验T—261 射线源尺寸⑴制造厂或供货单位提供的有关射线源或焦点尺寸的书面文件，均可作为射线源尺寸验证之用；⑵当得不到供货单位的书面文件的情况下，可依据相关标准进行实测：（a) X射线机可采用针孔法测量或根据SE—1165测定焦点尺寸。
（b) Ir—192射线源可根据SE—1114工业射线源焦点尺寸的标准测定方法来测定。
T—262 黑度计和阶梯黑度比较片⑴黑度计黑度计在使用期间应至少每90天进行如下校验（定期校验）：(a) 一张国家标准密度片或一张能追踪到国家标准密度片的阶梯校验密度片，至少有5个阶梯，且密度至少自1.0至4.0。
阶梯校验密度片在购买后的有效期内打开使用，可继续使用一年无需校验。
(b) 应遵守密度计制造商规定的一步一步的操作说明。
(c) 应该读出国家标准密度片或阶梯校验密度片上最接近 1.0、2.0、3.0和4.0的读数。
校验读数应保留书面记录。
密度计校验读数应记录在一本合适的记录本上。
(d) 密度读数与国家标准密度片或阶梯校验片上的实际读数的差值不超过±0.05，则该密度计是合格的。
⑵阶梯黑度比较片无需送计量机构检定，为日常工作参考之用。
(a) 阶梯黑度比较片上的阶梯黑度应用一台校验合格的黑度计进行验证。
(b) 测量后，若读数变化不超过±0.1，阶梯黑度比较片验证合格。
(c) 阶梯黑度比较片应每年验证一次，校验读数无需记录。
⑶周期校验(a) 黑度计在每班工作开始，连续使用8小时后，测量光圈改变时，无论上述哪一种情况首先发生，黑度计均应用标准密度片或阶梯黑度比较片进行周期校验验证，密度读数在±0.05以内均为合格。
周期校验读数不需要记录。
(b) 阶梯黑度比较片按照T—262中的⑵每年进行一次校验。
⑷文件（见标准正文）T—270 检验T—271 射线照相技术ASME规范中没有射线照相技术等级相应的内容。
（而JB/T 4730—2005中将射线检测技术分为三个级别：A级、AB级和B级）。
但有射线照相质量等级规定，ASME照相质量等级分为：2—1T、2—2T和2—4T三个级别。
此分级仅指像质计灵敏度。
在任何可以实施的情况下，就当采用单壁透照技术。
当单壁透照技术无法实施时，可采用双壁透照技术。
应进行足够次数的曝光，以充分覆盖被检对象。
透照方式可参考非强制性附录A 。
⑴ 单壁透照技术射线束通过焊缝（材料）的单层壁后在胶片上成像的透照方式。
对于圆筒型工件单壁透照方式可分为：(a)周向（全景曝光）；(b)内透法；(c)外透法，从射线透照工艺安排看，(a)最优，(b)、(c)次之。
⑵ 双壁透照单壁观察技术（双壁单影技术）射线束通过环焊缝的双壁后，但仅在放胶片处的焊缝侧成像的方式。
当要求环焊缝全部覆盖时，至少进行3次互成1200的曝光。
⑶ 双壁透照双壁观察技术（双壁双影技术）对于外径小于等于 3.5in(89mm)的零部件焊缝或材料可采用双壁透照并双壁观察的技术。
采用此方式时，需注意：(a) 像质计应放在射线源侧；(b) 注意几何不清晰度的计算，当几何不清晰度达不到要求时，就应使用双壁单影技术；(c) 椭圆透照时，当要求全部覆盖焊缝，每条焊缝至少要进行二次互成900的曝光；(d) 垂直透照时，当要求全部覆盖焊缝，每条焊缝至少要进行三次互成600或1200的曝光；(e) 当最少曝光次数还不能达到全部覆盖要求时，则应增加曝光次数。
