二光衰减器的衰减量回波损耗的测试

光纤回波损耗测量技术的最新进展一、光纤回波损耗测量技术概述光纤通信技术作为现代通信网络的重要组成部分，以其高速、大容量、抗干扰性强等优势，在数据传输领域发挥着不可替代的作用。

在光纤通信系统中，回波损耗是一个关键的性能指标，它直接影响到信号的传输质量和系统的整体性能。

因此，对光纤回波损耗的测量技术进行研究和改进，对于提升光纤通信系统的稳定性和可靠性具有重要意义。

1.1 光纤回波损耗的基本概念回波损耗（Return Loss, RL）是指在光纤通信系统中，由于光纤连接点或设备的不完美匹配，部分光信号会被反射回发送端。

这种反射信号与原始信号叠加，形成干扰，影响信号的完整性和通信质量。

回波损耗的测量，就是对这种反射信号强度的量化评估。

1.2 光纤回波损耗测量技术的应用场景光纤回波损耗测量技术在多个领域有着广泛的应用，包括但不限于：- 光纤网络的安装与维护：在光纤网络的安装过程中，通过测量回波损耗来确保光纤连接的质量和性能。

- 光纤器件的质量检测：对光纤连接器、耦合器等器件进行回波损耗测试，以评估其性能是否符合标准。

- 光纤通信系统的性能优化：通过测量和分析回波损耗，对通信系统进行调整和优化，提高信号传输质量。

二、光纤回波损耗测量技术的发展历程光纤回波损耗测量技术自光纤通信技术诞生以来，经历了不断的创新和发展。

从最初的简单反射测量到现代的高精度测量技术，这一过程反映了光纤通信技术不断进步的历程。

2.1 早期的回波损耗测量技术早期的回波损耗测量技术主要依赖于光学时域反射仪（OTDR），通过测量光纤中反射信号的时间和强度，来评估回波损耗。

然而，这种方法存在一定的局限性，如测量精度不高，对小损耗的识别能力有限。

2.2 现代回波损耗测量技术的发展随着光纤通信技术的发展，对回波损耗测量的精度和速度提出了更高的要求。

现代测量技术采用了多种先进的方法，如：- 基于干涉仪的测量技术：利用干涉原理，通过精确测量反射信号的相位变化，实现高精度的回波损耗测量。

& 结束语
据此方法在 49/::! 回波损耗测 试仪进行试 验 ! 实际 达 到 的 典 型 技 术 指 标 如 图 : 所 示 ! 测 量 值 小 于
!"$ 光纤耦合器偏振敏感性的影响
由于光纤的移动及机械拉伸等均会改变单模光 纤中的偏振状态 ! 偏振状态的改变又将影响耦合器的 耦合比 !从而影响测试准确度 %
部可调谐激光光源 # 它就具有执行波长扫描回波损耗 的测试能力 " 设计的关键在于使用一个额外的功率探测器作 为光源输入功率的监测器 # 它同时记录输入光功率和 返回光功率 # 用于回波损耗测试值的校准 " 这样设计
收稿日期 &!""#="?=". 作者简介 & 王峻宁 男 #-@A- 年生 # 硕士在读 图 ! 回波损耗测试方案 研究方向 & 光电测量仪器 ! 光纤通信 ! 光纤传感
值可根据需要设置 # 使得系统可利用不同的校准
件 # 使用非常灵活方便 " 软件流程如图 ! 所示 "
# 影响准确度因素分析
对回波损耗测试的过程要求较为严格 # 校准件 ! 测试跳线本身的回波损耗值以及各端面的清洁程度 均会对测试结果造成重大影响 # 不洁的端面引起的误
-!1%/0 到 -2#%/0 波长范围的外部光源 " 如果使用外
"’(7 左右 ! 探测器的灵敏度优于82%’(7 % !%( 干涉的影响
当激光光源的相干长度大于两倍的耦合器到被 测端的距离 时 ! 将 会 发 生 干 涉 现 象 ! 从 被 测 端 反 射 回 来的光 与 从 光 源 直 接 过 来 的 光 由 于 具 有 恒 定 的 相 位 差而会在光 功率 探 测 端 产 生 干 涉 ! 当 振 幅 相 同 ! 偏 振 方向一致时 ! 干涉现象最明显 % 主要解决方法是增加 耦 合器 隔 离 度 或 增 加 耦 合 器 到 被 测 端 距 离 以 使 光 程 差超过光源的相干长度 ! 普通 )8- 激光器的相干长度 小于十几毫米 ! 远小于耦合器与被测器件间的距离 ! 所 以干 涉 效 应 的 影 响 很 小 % 只 有 在 使 用 线 宽 很 窄 的

1 / 5功率衰减器参数与检测TP-LINK 内销PE 李悦一、概述在无线系统测试中常常需要对从一个设备到另一个设备的信号进行衰减。

例如，射频发射机测试中，涉及的功率等级常常从几瓦到几百瓦甚至上千瓦，这么大功率的信号必须得经过衰减以后才可以连接到大部分的测试设备中，否则会对测试设备有损害。

一种叫做衰减器的简单电路常常能用来减少信号幅度，而且衰减器不但可以把信号电压衰减到一定值还可以对阻抗值进行变换。

衰减器的技术指标包括衰减器的工作频带、衰减量、功率容量、回波损耗等。

工作频带是指在给定频率范围内使用衰减器,衰减量才能达到指标值；衰减量是指输入信号与输出信号功率的对数值之差；功率容量就是衰减器正常工作时能够承受的最大功率损耗，衰减器是一种能量消耗元件，功率消耗后变成热量。

可以想象，材料结构确定后，衰减器的功率容量就确定了；回波损耗指的是传输信号被反射到发射端的比例，可以用驻波比来形容，对于功率衰减器，要求其两端的输入输出驻波比应尽可能小；衰减器是一个功率消耗元件，不能对两端电路有影响，也就是说，与两端电路都是匹配的。

二、两个重要指标进行衰减器设计时，最基础的两个指标要求如下：2.1衰减量无论构成功率衰减的机理和具体结构如何,总是可以用下图所示的二端口网络来描述衰减器。

图中,信号输入端的功率为P 1，而输出端的功率为P 2，衰减器的功率衰减量为A（dB）。

若P 1、P 2以分贝毫瓦（dBm）表示,则两端功率间的关系为： 即：　可以看出，衰减量描述功率通过衰减器后功率的变小程度。

衰减量的大小由构成衰减器的材料和结构确定。

衰减量用分贝作单位,便于整机指标计算。

　2.2阻抗匹配利用电阻构成的T 型或П型网络实现集总参数衰减器，通常情况下，衰减量是固定的，且由三个电阻值决定。

两种电路拓扑下图所示。

图中Z 1、 Z 2是电路输入端、 输出端的特性阻抗。

T 型功率衰减器； π型功率衰减器12()()10lg ()P mW A dB P mW=(a )(b )Port ‐2 P2Port ‐1 P1 ()()()21P dBm =P dBm -A dB对衰减器输入而言，输入阻抗要与信号源的输出阻抗匹配；对衰减器输出而言，输出阻抗要与负载阻抗匹配。

实验十 可调光衰减器参数测量实验一、 实验目的1．了解光衰减器、性能参数及其用途；2．实验操作可调光衰减器参数测量。

二、 实验仪器用具手持式光源1套；手持式光功率计一台；可调光衰减器1只；单模光纤跳线（FC/PC）2根。

三、 学习和实验内容1．光衰减器简介光衰减器是一种用来降低光功率的光无源器件。

根据不同的应用，它分为可调光衰减器和固定光衰减器两种。

在光纤通信中，可调光衰减器主要用于调节光线路电平，在测量光接收机灵敏度时，需要用可调光衰减器进行连续调节来观察光接收机的误码率；在校正光功率计和评价光传输设备时，也要用可调光衰减器。

固定光衰减器结构比较简单，如果光纤通信线路上电平太高就需要串入固定光衰减器。

光衰减器不仅在光纤通信中有重要应用，而且在光学测量、光计算和光信息处理中也都是不可缺少的光无源器件。

可调光衰减器一般采用光衰减片旋转式结构，衰减片的不同区域对应金属膜的不同厚度。

根据金属膜厚度的不同分布，可做成连续可调式和步进可调式。

为了扩大光衰减的可调范围和精度，采用衰减片组合的方式，将连续可调的衰减片和步进可调衰减片组合使用。

可变衰耗器的主要技术指标是衰减范围、衰减精度、衰耗重复性、插入损耗等。

对于固定式光衰减器，在光纤端面按所要求镀上有一定厚度的金属膜即可以实现光的衰耗；也可以用空气衰耗式，即在光的通路上设置一个几微米的气隙，即可实现光的固定衰耗。

2．光衰减器的主要类型及特性参数（1）固定式光连接型衰减器特点：高回波损耗、结构简单、最大承载功率(1W )、波长相关性小、低偏振相关损耗、结构紧凑。

适用于：光配线架、光纤网络系统、高速光纤传输系统、有线电视（CATV）系统、长途干线密集波分复用（DWDM）系统，光分插复用器（OADM）.主要性能指标：z衰减量： 1,2,3,4,5,6,7,8,9, 10,15,20,25,30dBz衰减精度：≤5dB ±0.3dB；≤10dB ±0.5dB；>10dB ±10%z回波损耗： PC：>40dB, UPC：>50dB, APC：>60dBz工作波长： 1310nm 和1550nm (SM) 1550nm (DSF)z可提供连接头类型：FC, SC, ST, LC, MU型（2）1～ 30dB可调式光连接型衰减器特点：衰减值可调、与波长变化无关、衰减精度高，附加损耗低，性价比优、可实现适配器和衰减器的双重功能、适用于：光配线架 、光纤网络系统 、低速光纤传输系统主要性能指标z衰减量（可调）： 1～30dBz 衰减精度：< 5dB±0.3dB<10dB±0.5dB<20dB±1.0dB>20dB±2.0dBz 可提供衰减器类型：FC, SC, ST, FC-SC, FC-ST 型 四、 实验操作可调光衰减器的特性参数测量，根据具体的操作内容，示意图如下。

光回损测试原理引言:随着光纤通信的发展，高速光纤传输系统的广泛生产和应用（如SDH、大功率CATV等），必须具有很高的回波损耗，DF B激光器由于其线宽窄，输出特性很容易受回波损耗的影响。

从而严重影响系统的性能，即使是普通的激光器，也会不同程度地受回波损耗的影响，因此，系统中各种光纤器件的回波损耗的测试变得越来越重要。

关键词: 回波损耗菲涅尔反射瑞利散射偏振敏感性匹配负载1．回波损耗测试基本原理当光传输在某一光器件中时，总有部分光被反射回来，光器件中回波主要由菲涅尔反射（由于折射率变化引起）、后向瑞利散射（杂质微粒引起）以及方向性等因素产生的，则该器件的回波损耗RL为：RL(dB)=－10lg(反射光功率/入射光功率) (1)回波损耗的测试方法有基于OTDR和光功率计测试两种,OTDR测试方法速度快、显示直观可获得反射点的空间分布，且不需要末端匹配（短光纤仍需匹配），但成本高，重要的是某些场合不能使用（例如：光探测器的回波损耗测试等），如美国RIFOCS688及日本NTT-AT的AR-301型回波损耗测试仪。

光功率计法主要将被测器件反射回来的光分离出来引导至光功率计，简单实用，应用范围广，使用时须进行末端匹配。

本文主要介绍光功率计法测试的原理。

光功率计法回波损耗测试基本原理框图如下：图1光功率计法基本原理框图激光经光模块注入到被测器件,反射光再经光模块引导至光功率计,测试方法分为4步：a．测试端连接校准件测出反射功率值Pref，若光源输出功率为P L，光模块衰减系数为k,校准件反射率为Rref，则：Prel = PL.k.Rref +Pp (2)其中，Pp为附加反射功率（指光模块内部及测试端连接器的反射等）b．测出附加反射功率Pp：将测试端进行匹配，使得测试端反射功率为0，即可测出附加反射功率Pp。

c．测试端连接被测器件,测出反射值PmeasPmeas = ( PL×k) R被测+Pp (3)R被测为被测器件反射率。

如何进行衰减测量的实验与校准实验室中的衰减器被广泛应用于电子、通信、光学等领域。

为确保衰减器的准确性与可靠性，进行衰减测量的实验与校准是必不可少的步骤。

本文将介绍如何进行衰减测量的实验与校准，以确保测量结果的准确性。

一、实验准备在进行衰减测量的实验与校准之前，我们需要准备以下实验仪器和设备：1. 衰减器：选择合适的衰减器，确保其线性度和频率响应的准确性。

2. 信号发生器：用于产生准确的测试信号。

3. 功率计：用于测量输入和输出信号的功率。

4. 阻抗匹配器：用于保证信号的传输质量。

5. 连接线缆：选择低损耗的连接线缆，以确保信号传输的准确性。

二、衰减测量实验步骤以下是进行衰减测量实验的步骤：1. 将信号发生器的输出连接到衰减器的输入端，并将衰减器的输出端连接到功率计。

确保所有连接线缆的接触良好，避免信号损耗。

2. 打开信号发生器和功率计，并将信号发生器的输出功率调至所需测试范围内。

3. 记录信号发生器输出信号的功率值，并记录功率计测量到的衰减器输出功率值。

4. 根据所记录到的功率值计算衰减器的衰减量，即输入功率与输出功率之差。

5. 重复多次实验，取平均值以提高测量结果的准确性。

三、校准衰减器校准衰减器是确保其准确性和可靠性的关键步骤。

下面是衰减器校准的基本步骤：1. 使用一个可靠且准确的功率源(如功率计)以已知功率值输入到衰减器。

2. 在输入功率和输出功率之间进行测量，并记录校准数据。

3. 根据测量到的数据计算衰减器的校准系数。

4. 与已知的校准标准进行比较，并调整衰减器的校准系数以消除差异。

5. 重复该过程多次，以提高校准结果的准确性。

四、实验注意事项在进行衰减测量的实验与校准过程中，需要注意以下几点：1. 确保所有实验仪器和设备的准确性与稳定性。

2. 严格按照实验步骤进行操作，避免误差的产生。

3. 测量数据需要进行记录，以便后续分析和比较。

4. 注意实验环境的影响，如温度、湿度等因素对测量结果的影响。

光衰减器测试一、衰减值测试衰减值测试是评估光衰减器性能的重要指标。

在测试过程中，需要使用光功率计和稳定的光源，对光衰减器的不同档位进行测试，以验证其衰减值的准确性。

二、稳定性测试稳定性测试用于评估光衰减器在不同环境和工作条件下的性能稳定性。

测试过程中，需要监测光衰减器的衰减值随时间的变化情况，以确保其在长时间工作时性能稳定。

三、重复性测试重复性测试用于评估光衰减器的重复性误差，即多次操作后衰减值的偏差。

通过测试，可以了解光衰减器的精度和可靠性，以及其在不同操作条件下的一致性。

四、精度测试精度测试用于评估光衰减器的精度误差，即实际衰减值与标称衰减值之间的差异。

测试过程中，需要使用高精度的测量设备，对光衰减器的不同档位进行精度测量，以确保其符合技术规格和用户需求。

五、温度稳定性测试温度稳定性测试用于评估光衰减器在不同温度下的性能表现。

测试过程中，需要监测光衰减器在不同温度下的衰减值变化情况，以确保其在工作温度范围内性能稳定。

六、机械振动测试机械振动测试用于评估光衰减器在承受机械振动时的性能表现。

通过模拟实际工作环境中的振动情况，对光衰减器进行振动测试，以确保其在实际使用中的稳定性和可靠性。

七、插回损测试插回损测试用于评估光衰减器对信号的损失程度。

测试过程中，需要使用光学信号分析仪对光衰减器的插入损耗和回波损耗进行测量，以确保其符合技术规格和用户需求。

八、光学性能测试光学性能测试用于评估光衰减器的光学性能参数，如光谱响应、偏振相关损耗等。

通过测试，可以了解光衰减器在不同波长和偏振态下的性能表现，以及其对光学信号的影响程度。

九、寿命测试寿命测试用于评估光衰减器的寿命。

通过长时间运行和监测光衰减器的性能参数变化，可以了解其寿命和可靠性。

光回波损耗测试原理及误差分析引言:随着光纤通信的发展，高速光纤传输系统的广泛生产和应用（如SDH、大功率CATV 等），必须具有很高的回波损耗，DFB激光器由于其线宽窄，输出特性很容易受回波损耗的影响。

从而严重影响系统的性能，即使是普通的激光器，也会不同程度地受回波损耗的影响，因此，系统中各种光纤器件的回波损耗的测试变得越来越重要。

关键词: 回波损耗菲涅尔反射瑞利散射偏振敏感性匹配负载1．回波损耗测试基本原理当光传输在某一光器件中时，总有部分光被反射回来，光器件中回波主要由菲涅尔反射（由于折射率变化引起）、后向瑞利散射（杂质微粒引起）以及方向性等因素产生的，则该器件的回波损耗RL为：RL(dB)=－10lg(反射光功率/入射光功率) (1)回波损耗的测试方法有基于OTDR（OTDR的英文全称是Optical Time Domain Reflectometer，中文意思为光时域反射仪。

OTDR是利用光线在光纤中传输时的瑞利散射和菲涅尔反射所产生的背向散射而制成的精密的光电一体化仪表，它被广泛应用于光缆线路的维护、施工之中，可进行光纤长度、光纤的传输衰减、接头衰减和故障定位等的测量。

）和光功率计测试两种,OTDR测试方法速度快、显示直观可获得反射点的空间分布，且不需要末端匹配（短光纤仍需匹配），但成本高，重要的是某些场合不能使用（例如：光探测器的回波损耗测试等），如美国RIFOCS688及日本NTT-AT的AR-301型回波损耗测试仪。

光功率计法主要将被测器件反射回来的光分离出来引导至光功率计，简单实用，应用范围广，使用时须进行末端匹配。

本文主要介绍光功率计法测试的原理。

光功率计法回波损耗测试基本原理框图如下：图1光功率计法基本原理框图激光经光模块注入到被测器件,反射光再经光模块引导至光功率计,测试方法分为4步：a．测试端连接校准件测出反射功率值P ref，若光源输出功率为PL，光模块衰减系数为k,校准件反射率为R ref，则：P rel= PL.k.R ref+P p (2)其中，P p为附加反射功率（指光模块内部及测试端连接器的反射等）b．测出附加反射功率P p：将测试端进行匹配，使得测试端反射功率为0，即可测出附加反射功率P p。

实验二光插入回波损耗综合实验一、实验目的测试：插入损耗、回波损耗掌握：光纤端面处理和熔接技术了解光无源器件特性二、实验器材光纤熔接机、稳定光源、2×2光耦合器、光功率计、转换器、裸光纤连接器、光跳线三、实验原理回波损耗源于电缆链路中由于阻抗不匹配而产生反射的概念。

这种阻抗不匹配主要发生在有连接器的地方,也可能发生于各种缆线的特性阻抗发生变化的地方。

在光通信中光传输的的光纤链路上，经常需要进行光纤与光纤，光纤与器件，器件与仪器等进行连接。

在连接过程中，光纤端面，器件的光学表面等对其内传输地光不可避免地产生反射。

设PL和Pr分别表示入射和回波反射功率，单位可以是瓦(w)或者毫瓦(mw)；定义回波反射光功率与入射光功率之比为回波损耗Rl式中得到的是除法计算的比值，对于多个器件存在时，需要计算乘积，在光通信中很不方便。

若将Rl以分贝表示（单位为dB）时，上述的乘积运算就化为加减运算.【实验内容】待测器件的输入功率与回波功率测量由回波损耗定义可知，对于光纤链路中的任意器件而言，要测量其回波损耗，就需Pl和RR。

∗为方便计算，本实验所测功率的单位全部采用dBm要首先测量其输入端的光功率和反射回波的光功率，再通过公式计算得到。

插入损耗与回波损耗原理：四、实验注意事项为防止或减小反射损耗，可将两根光纤熔接在一起，形成固定接头，也可在光纤端面之间加入折射率与光纤纤芯相同或相近的匹配液。

因此，在实验的过程中要把多余的光纤头插入匹配液，以减小误差。

要注意安全，不能直接用眼睛对着有激光的光纤看，以免对眼睛造成伤害。

在实验过程中要保持光纤及其连接器的洁净。

光纤连接器的使用前，确保连接器内没有堵塞物。

在做熔接实验前，应该对熔接过程了解，以免误操作，对仪器产生不良影响。

切断下来的光纤头要放入指定的废料盒中，以免发生意外五、实验过程与现象实验步骤：（1）按照实验电路图搭建电路；（2）打开光源，检查各连接器是否正常，测量取值。

光隔离器的插入损耗、反向隔离度、回波损耗的测试一．实验目的和任务1．了解光隔离器的工作原理和主要功能。

2．了解光隔离器各参数的测量方法。

3．测量光隔离器的插入损耗、反向隔离度、回波损耗参数。

二．实验原理光隔离器又称为光单向器，是一种光非互易传输无源器件，该器件用来消除或抑制光纤信道中产生的反向光，由于这类反向光的存在，导致光路系统间将产生自耦合效应，使激光器的工作变得不稳定和产生系统反射噪声，使光纤链路上的光放大器发生变化和产生自激励，造成整个光纤通信系统无法正常工作。

若在半导体激光器输出端和光放大器输入或输出端连接上光隔离器，减小反射光对LD的影响，因此，光隔离器是高码速光纤通信系统、精密光纤传感器等高技术领域必不可少的元器件之一。

光隔离器是利用了磁光晶体的法拉第效应，其组成元件有：光纤准直器（Optical Fiber Collimator）、法拉第旋转器（Faraday Rotator）和偏振器（Polarizator）。

隔离器按照偏振特性来分，有偏振相关型和偏振无关型。

它们的原理图如图1.1和图1.2所示：图1.1 偏振相关的光隔离器图1.2 偏振无关的光隔离器对于偏振相关光隔离器，光通过法拉第旋转器时，在磁场作用下，光偏振方向旋转角为FHL =φ，式中H 为磁场强度，L 为法拉第材料长度，F 为材料的贾尔德系数。

如图1.1，当输入光通过垂直偏振起偏器后，成为垂直偏振光，经过法拉第旋转器旋转了045，而检偏器偏振方向和起偏器偏振方向成045角，使得光线顺利通过，而反射回来的偏振光经过检偏器、法拉第旋转器以后，继续沿同一方向旋转045，即偏振方向刚好与起偏器偏振方向垂直，则光无法反向通过。

由于只有垂直偏振的光能通过光隔离器，因此称为偏振相关光隔离器。

偏振无关光隔离器如图1.2所示，图1.2(a)为光隔离器正向输入。

当包含两个正交偏振的输入光波被一个偏振分束器分离，变为垂直偏振光和平行偏振光。

回波损耗测试方法回波损耗（Return Loss）是衡量信号在传输过程中由于各种因素产生的反射损耗的指标。

回波损耗测试方法是通过使用专用仪器，对设备或连接件进行测试，以评估其在信号传输中的反射性能。

本文将介绍回波损耗测试的原理、测试仪器以及测试步骤。

一、回波损耗测试的原理回波损耗测试的原理基于反射信号的特性。

当信号从一个介质传输到另一个介质时，部分信号会发生反射。

这种反射信号会导致信号的损耗，影响信号的传输质量。

回波损耗测试通过测量反射信号的强度，来评估设备或连接件的反射性能。

二、回波损耗测试仪器回波损耗测试仪器是进行回波损耗测试的关键工具。

常用的回波损耗测试仪器有光纤回波损耗测试仪、网络分析仪等。

光纤回波损耗测试仪主要用于光纤连接件的测试，而网络分析仪主要用于电缆和连接器的测试。

三、回波损耗测试步骤1. 准备测试仪器：根据需要选择合适的回波损耗测试仪器，并确保其正常工作。

2. 设置测试参数：根据测试需求，设置合适的测试参数，如测试频率、测量范围等。

3. 连接被测设备：将被测设备与测试仪器进行连接。

确保连接良好，避免因连接问题导致测试结果的误差。

4. 开始测试：启动测试仪器，开始测试。

测试仪器会向被测设备发送测试信号，然后测量反射信号的强度。

5. 记录测试结果：根据测试仪器的显示，记录测试结果。

通常使用单位dB来表示回波损耗值，数值越大表示反射信号越弱，反射损耗越小。

6. 分析测试结果：根据测试结果进行分析，评估设备或连接件的反射性能。

通常，回波损耗值在一定范围内，可以认为设备或连接件的反射性能良好。

7. 判断测试结果：根据测试结果，判断设备或连接件是否符合要求。

如果回波损耗值超出了规定范围，可能需要对设备进行进一步检修或更换。

回波损耗测试方法的应用范围广泛，涵盖了光纤通信、无线通信、电力系统等多个领域。

在光纤通信中，回波损耗测试可以评估光纤连接件的质量，确保信号的传输质量。

在无线通信中，回波损耗测试可以评估天线的反射性能，提高无线信号的传输效果。

T3/E3/STS-1 LIU的回波损耗测量本应用笔记讲述如何测量Dallas Semiconductor公司的线路接口单元(LIU)和单芯片收发器(包括DS3150、DS315x、DS325x、DS3170、DS317x和DS318x)的回波损耗。

本文还对回波损耗的定义、要求、测量以及改进方法进行了论述。

回波损耗定义当高速信号到达传输线路的终端时，如果传输线路没有很好地端接，部分信号能量将会向发送器反射。

该反射信号与原始信号混合，这将导致原始信号失真，使LIU接收器很难正确恢复时钟和数据。

回波损耗是原始信号与反射信号的功率比(用dB表示)。

因此，回波损耗表示的是反射信号的相对大小，同时也反映了传输线路终端的匹配度或者说失配度。

如果在给定频率下测得LIU卡的回波损耗为20dB，则表明在该频率下反射信号比原始信号功率小20dB。

回波损耗要求对于E3、ITU G.703和ETS 300-686，规定的输入回波损耗如表1所列，输出回波损耗如表2所列。

表1. 输入端最小回波损耗Frequency Range Return Loss860kHz to 1720kHz 12dB1720kHz to 34368kHz 18dB34368kHz to 51550kHz 14dB表2. 输出端最小回波损耗Frequency Range Return Loss860kHz to 1720kHz 6dB1720kHz to 51550kHz 8dBDallas Semiconductor的LIU回波损耗测量ETS 300-686规范中的A.2.5和A.2.6细则描述了测量E3回波损耗的测试设备和程序。

图1所示的测试装置用于测量输入回波损耗，并验证其是否符合表1所列出的要求。

输出回波损耗的测量装置与之相似，只是测量装置被连接到了发送器的输出而非接收器输入。

图1装置中，回波损耗电桥采用的是Wide Band Engineering公司的A57TLSTD。

维普资讯
・４ ２・
测 试 与校准
２０ ０ ６年第 ２ ６卷 第 ２ 期
一
种 新 颖 的 光 回 波 损 耗 测 量 方 法
张 洪喜
（ 国 电子科技 集 团公 司第 ４ 中 １研 究 所 ， 东 青 岛 ２ ６ ５ ） 山 ６ ５ ５
摘 要 ： 绍 了 一 种 新 颖 的 光 回 波 损 耗 测 量 方 法 。 用 该 方 法 测 量 光 纤 器 件 的 回 波 损 耗 不 但 具 有 小 的 介 使 测 量 不 确 定 度 ， 且 有 效 地 解 决 了光 回 波 损 耗 参 数 的 量 值 溯 源 问题 。 而 关 键 词 ： 波 损 耗 ； 纤 耦 合 器 ； 干 长 度 ； 射 传 递 件 回 光 相 反 中图分 类号 ： ＴＢ９ ６ 文献 标识 码 ： Ｂ 文 章 编 号 ：０ ２６ ６ （ ０ ６ ０ —０ ２０ １ ０ —０ １ ２ ０ ） ２０ ４ — ３
倍 的被 测 件 反 射 系 数 的常 用对 数 ， 以 回 波 损 耗通 常 所
为正值 。 回波损 耗 的定义 式为
ｐ．
１ｄ Ｂ的 变 化 ） 其 次 ， 用 菲 涅尔 反 射 或 标 准 反射 件 作 ； 采
为 系 统 的参 考 反 射 标 准 ， 法 有效 地 解 决 光 回波 损 耗 无 参 数 的量 值 溯源 问题 。 作 者 提 出 了一 种 新 颖 的光 回波 损 耗 测 量 方 法 ， 不 但 测 量 结 果 的不 确定 度 小 ， 且 也 有 效 地解 决 了光 回 而 波 损耗参 数 的量值 溯 源 问题 。
Ｒ Ｌ一一 １１ｏＲ ０ ｇ 一一 １１ｏ （ ） ｌ ０ ｇＩ ｌ ＿
■ ｉ ｎ
（） １
式中： ＲＬ为 被 测 件 的 回波 损 耗 ，Ｂ； 为 被 测 件 的 反 ｄ Ｒ

实验二 光衰减器的衰减量、回波损耗的测试一． 实验目的和任务1． 了解光衰减器的原理。

2． 了解光衰减器各参数的概念和测试方法。

3． 对光衰减器的衰减量和回波损耗进行测试。

二． 实验原理光衰减器是调节光强不可缺少的器件，主要用于光纤通信系统指标测量、短距离通信系统的信号衰减以及系统实验等。

它可分为位移型光衰减器、直接镀膜型光衰减器、衰减片型光衰减器、液晶型光衰减器等。

对于位移型光衰减器来说，它是通过对光纤的对中精度做适当地调整，来控制其衰减量的。

直接镀膜型光衰减器是一种直接在光纤端面或玻璃基片上镀制金属吸收膜或反射膜来衰减光能量的衰减器。

衰减片型光衰减器直接将具有吸收特性的衰减片，固定在光纤的端面上或光路中，达到衰减光信号的目的。

液晶型光衰减器是通过是光线偏振面的旋转，使一部分光不能被自聚焦透镜耦合进入光纤来实现对光信号的衰减的。

耦合器型固定衰减器是有特定的耦合比产生的分束损耗，使通过耦合器实现光衰减器的功能。

对光衰减器的要求是：体积小、重量轻、衰减精确度高、稳定可靠、使用方便等。

在实验中，我们使用的是信息产业部电子第41所的耦合器式固定衰减器。

（一） 光衰减器衰减量的测试原理衰减量是光衰减器的一个主要技术指标。

对于固定衰减器来说，其衰减量指标实际上就是光衰减器的插入损耗。

即光信号经过光衰减器的输出功率与光衰减器输入功率之比的分贝数。

假设光衰减器输入光功率为P 1，输出光功率为P 2，则光衰减器衰减量的计算公式为： ()dB P P A 21lg 10= （2-1） 测量光衰减器衰减量的实验原理图如图2.1所示。

光隔离器图2.1 光衰减器衰减量测量原理图（二） 光衰减器回波损耗的测试原理光衰减器的回波损耗是指入射到光衰减器中的光能量和衰减器中沿入射光路反射出的光能量之比，它是影响系统性能的一个重要指标。

如图5.2所示，设光衰减器的输入光功率为P 1，从光环行器3端输出的光功率为P 2，则其计算公式为： 3221lg 10Re --=Insertloss P P turnloss （2-2） 式中32-Insertloss 是光环行器2-3端的插入损耗。

RL 的测试和计算1、 RL 定义：inoutP P IL lg10-= in ref P P RL lg 10-=* 此处我们对所有的IL 和RL 定义为正值2、 测试设备：A ：Agilent 81680A TLSB ：Agilent 81623A PM （PowerMeter ）C ：50/50（3dB ） Coupler 3、 测试方法和步骤：A⎪⎪⎭⎫⎝⎛-=in in p P dB lg 100B ：测试系统的RL ：RLs ，搭建如图2所示的光路：因为我们在步骤A 中做归零的时候已经将P in 作为基准功率，所以⎪⎪⎭⎫⎝⎛-=-insref s PP RL lg 10（式1） C ：测试器件的RL ：RL d ，搭建如图3所示的光路：()()()31lg 10lg 10lg 10−→−-+--+--+----⎪⎪⎭⎫ ⎝⎛--=⎥⎥⎦⎤⎢⎢⎣⎡⎪⎪⎭⎫ ⎝⎛-⨯⎪⎪⎭⎫ ⎝⎛--=⎪⎪⎭⎫⎝⎛-=IL P p PP P P P P P PP RL in s ref d s ref in s ref d s ref sref d s ref d ref indref d 根据式1，可以得出： 1010sRL in s ref P P --⨯=设定：⎪⎪⎭⎫⎝⎛-=+-+ind s ref d s p p RL lg 10，推出： ()1010ds RL in P d s ref p+-⨯=+-将以上式3和式4带入式2，得到：()311010311010311010lg 101010lg 10lg 10−→−--−→−--−→−-+--⎪⎪⎭⎫ ⎝⎛--=-⎥⎥⎥⎥⎥⎦⎤⎢⎢⎢⎢⎢⎣⎡⎪⎪⎭⎫⎝⎛--=-⎪⎪⎭⎫⎝⎛--=++ILIL P P IL P p P RL sd s sd s RL RL inRL RL in in sref d s ref d 令d s s RL RL x +-=，推出：x RL RL s d s -=+，将其带入式5，有：31101031101031101011010lg 101010lg 101010lg 10−→−-−→−---−→−---⎪⎪⎭⎫⎝⎛⎪⎪⎭⎫ ⎝⎛--=-⎪⎪⎭⎫ ⎝⎛--=-⎪⎪⎭⎫ ⎝⎛--=+IL IL IL RL x RL RLx RL RLRL d s s s sd s 3110311010110lg 10110lg 1010lg 10−→−−→−--⎪⎪⎭⎫⎝⎛--=-⎪⎪⎭⎫ ⎝⎛--⎪⎪⎭⎫ ⎝⎛-=IL RL IL x s x RL s综上，我们得出：3110110lg 10−→−-⎪⎪⎭⎫ ⎝⎛--=IL RL RL x s d 试算如下：设dB RL dB RL d s s 58,62==+，推出dB x 45862=-=，带入式6，得出：31311042.60110lg 1062−→−−→−-=-⎪⎪⎭⎫⎝⎛--=IL IL RL d（式2）（式3）（式4）（式5）（式6）又因为31−→−IL ＝3dB ，所以d RL ＝57.2dB1.接通光路，将功率计清零。

责任编辑 蔡君JDSU公司 孙景群／文
IEC61300-3-6对回损测试方法的描述。

回损的来源
按照IEC61300-3-6的定义，回损是指在器件输入端、光纤接头或者定义的某一段光路上反射光功率[mW]与的原因是机械接头的空气气隙、中心对齐误差和污染造成的微小颗粒。

● 瑞利散射
光束在光纤中前向传播时，遇到光纤中的不连续点会产生散射，产生不连续点的可能是制作光纤材料的杂质、微小的空气气隙甚至机械拉伸。

图1 无法弯曲的光纤接头
通讯世界 2012.07 （总207期）
图3 OTDR法测量图示
得到准确的测试结果。

1．OCWR法
OCWR 量连接和测量步骤如下：
这种方法分4个步骤：
第一步：第二步：第三步：接入D U T Device Under Test 第四部：测量回损，DUT 除了采用缠绕法消除外，IEC 方法：
● ● 样，通常折弯的角度要大于● 量损纤反射测量的参考点是被测段的前一
RL 测量的入射3是基本的测量设置。

法测量插回损只需要两个将仪表测试发光口直接连接DUT 后直接测量插OTDR 法不需要消除末端的OCWR 法节约了OCWR 法一样，OTDR 法OTDR 发取得理想测量结OTDR 法的一个显著优点是70dB 提高到法的测量仪表可以集成多路PLC 分光器，更好光纤通信技术的发展，传OTDR 法的插回损测试仪由于大规模测试的需求。

图2 OCWR法需要在连接被测件前后进行人工缠绕。

光纤回波损耗测试报告光纤回波损耗测试报告一、测试目的光纤回波损耗测试是用于衡量光纤中信号传输的质量和可靠性的一种测试方法。

本次测试旨在检测光纤回波损耗的数值，并评估光纤的传输性能。

二、测试设备1. OTDR（Optical Time Domain Reflectometer）：用于发射测试信号，并测量光纤中的回波信号。

2. 光纤衰减器：用于模拟光纤中的信号衰减。

3. 光纤连接器和适配器：用于连接测试光纤。

三、测试步骤1. 准备工作：连接OTDR与光纤，确保连接器的稳定性和准确性。

2. 设置参数：调整OTDR的测试参数，包括波长、脉冲宽度和平均时间等。

3. 校准OTDR：进行OTDR的校准，确保测试结果的准确性和可靠性。

4. 开始测试：启动OTDR，发送测试信号，并记录回波信号的强度和时间。

5. 分析数据：通过OTDR的分析软件，对测试结果进行分析和评估。

6. 生成报告：根据测试结果生成测试报告，包括光纤回波损耗数值、曲线图和分析结论等。

四、测试结果经过测试，光纤回波损耗为XX dB（分贝）。

根据测试结果分析，光纤的传输性能良好，回波损耗在正常范围内。

回波信号在光纤中的衰减较小，传输质量可靠。

五、结论通过光纤回波损耗测试，我们得出了以下结论：1. 光纤回波损耗数值在正常范围内，光纤传输质量良好。

2. 光纤的衰减较小，传输信号可靠性高。

3. 光纤连接器的稳定性和准确性得到了验证。

六、建议根据测试结果，我们对光纤的使用和维护提出以下建议：1. 避免光纤弯曲和拉伸，以免影响传输信号的质量。

2. 定期检查光纤连接器和适配器，并确保其稳定性和准确性。

3. 防止光纤受到外界环境的污染和损伤，保持光纤的清洁和完好。

七、备注本次测试是基于指定的测试条件进行的，测试结果仅适用于当前测试场景。

在不同的环境和条件下，光纤的传输性能可能有所变化，需要根据实际情况进行相应的测试和评估。

八、附件测试曲线图。