集成电路封装与测试
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集成电路封装与测试
一:封装
1. 集成电路封装的作用
大体来说,集成电路封装有如下四个作用:
(l)对集成电路起机械支撑和机械保护作用。集成电路芯片只有依托不同类型的封装才
能应用到各个领域的不同场所,以满足整机装配的需要
(2)对集成电路起着传输信号和分配电源的作用。各种输人输出信号和电源地只有通过
封装上的引线才能将芯片和外部电子系统相沟通,集成电路的功能才能得到实现和发挥
(3)对集成电路起着热耗散的作用。集成电路加电工作时,会因功耗而发热,特别是功
率集成电路,工作时芯片耗散热量大。这些热量若不散发掉,就会使芯片温升过高,从而影
响电路的性能或造成电路失效,因此,必须通过封装来散发芯片热量,以保证集成电路的性
能和可靠性
(4)对集成电路起着环境保护的作用。集成电路芯片若无封装保护,将受污染等环境损
伤,性能无法实现。由于集成电路的应用愈来愈广泛,多数集成电路必须能耐各种恶劣环境
的影响,因此,封装对集成电路各种性能的正确实现起着重要的保证作用
电路的发展受广泛应用前景的驱动、而集成电路的封装又随着集成电路的发展而发展。
没有集成电路封装的发展,集成电路的发展就很难实现。由此可见,集成电路封装对集成电
路有着极其重要的作用
2.集成电路封装的内容
归纳起来至少有以下几个方面:
(1)根据集成电路的应用要求,通过定的结构设计、工艺设计、电设计、热设计和可靠
性设计制造出合格的外壳或引线框架等主要零部件,并不断提高设计、工艺技术,以适应集
成电路发展的需要;
(2)按照整机要求和组装需要,改进封装结构、确定外形尺寸,使之达到通用化、标准
化,并向多层次、窄节距、多引线、小外形和高密度方向发展;
(3)保证自硅晶圆的减薄、划片和分片开始,直到芯片粘接、引线键合和封盖等-系列
封装所需工艺的正确实施,达到一定的规模化和自动化,并不断研制开发新工艺、新设备和
新技术,以提高封装工艺水平和质量,同时努力降低封装成本:
(4)随着集成电路封装日益发展的需要,在原有的材料基础上,需进一步提供低介电系
数、高导热、高机械强度等性能优越的新型有机、无机和金属材料;
(5)完善和改进集成电路封装的检验手段,统一检验方法,并加强工艺监测和质量控制,
提供准确的检验测试数据,为提高集成电路封装的性能和可靠性提供有力的保证
集成电路封装对器件性能的影响越来越大,某些集成电路的性能受封装技术的限制与受
集成电路芯片性能的限制几乎相同,甚至更大。同时,封装成本在整个集成电路总成本中所
占比例越来越高,有的甚至超过50%,而这种趋势还在进一步发展。集成电路封装既是涉
及材料、电子、热、力学、化学、机械和可靠性等多种学科的技术,也是电子器件发展不可
分割的组成部分。因此,集成电路封装已越来越受到学术界和工业界的广泛重视和关注。
3. 集成电路封装工艺流程
(1)首先对晶圆进行划片,即把以阵列方式做在晶圆上的芯片用机械或激光切割的方式一
颗颗分开
(2)分类如果多种芯片以多项目晶圆的方式制作在一片晶圆上,划片以后则需要对它们
进行分类 (3)管芯键合利用管芯键合机,先将加工好的焊料或聚合物粘接剂涂覆在引线框架或陶
瓷管壳内,然后将芯片压放在涂有焊料或粘接剂的位置上
(4)引线压焊(又称Bonding一绑定)利用手工或自动压焊机,将铝丝或金丝等金属丝、
或金属带的一端压焊在芯片输人、输出、电源、地线等焊盘上,另一端压焊在引线框架上的
引线金属条上,实现芯片与框架引线的电连接。
(5) 密封对多种集成电路需要密封以利于同外界的水汽和化学污染物实现隔离。
(6)管壳焊接作为腔体型载体,需要利用盖板(管帽)实现对封装芯片的(密封)包围
(7)塑封将模塑化合物在一定温度下压塑成型,实现对芯片的无缝隙包围
(8) 测试包括对密封和外观等封装性能质量的测试和封装后芯片电性能的测试。
4.常用集成电路封装形式
(1)DIP(Dual In-line Package) 双列直插式封装
两引脚中心距离为2.54mm(100mil)
(2)SOP(Small Outline Package) 小外形封装
SOP :常规形、窄节距SOP(SSOP)、薄型SOP(TSOP)。
(3)QFP(Quad Flat Package) 4边引脚扁平封装
表12-3 给出了所有的常用封装的名称、外形和基本尺寸。
5.集成电路多芯片组件(MCM Multi Chip Module)封装技术
5.1 概念:(1)MCM:多芯片封装是将两片以上的集成电路封装在一个腔体内的新技
术,是由原来的厚膜电路的概念发展来的。
(2)厚膜电路:厚膜电路是将已封装的小型电子元器件进行二次小型焊接并安装在一个较
大的外壳内,形成一个功能模块。
(3)多芯片封装:多芯片封装是将两个以上未封装的裸片集成电路通过基板进行微互连,
最终将外引线连至输出,并按照标准集成电路的封装形式进行封装,形成单封装体集成电路。
5.2 优点:可以将不同工艺的芯片组合在一起,在单片集成电路上实现较为完善的系统
功能;可以利用现有成熟而较为复杂的芯片附加自己设计的较为简单的ASIC组成应用系统,
可以降低产品开发风险,提高芯片性能和经济效益;提高了芯片的保密性和可靠性。
5.3 应用领域:SOC(功能模块需要不同的工艺制造,如果使用同一工艺制造在一片芯
片上非常困难。MCM很好的解决了这样的问题)
5.4 MCM基板:L,C,D,Si(安装芯片,散热,互连,控制,驱动,隔离)。
二:测试
2.1集成电路的三大关键技术:测试技术、设计技术、制造技术
概念:测试是指通过控制和观察电路中的信号,以确定电路是否正常工作的过程。
电路的测试问题可分为两个主要部分:测试生成和测试验证。测试生成是为了检查电路
是否正常工作而选择测试码的过程。测试验证是指一个给定测试集成的有效性测度。
解决集成电路的测试问题有两大途径:一是研究更加有效的测试生成与验证方法;二是
进行可测试设计以降低电路的测试难度。后者就是测试设计。
2.2背景:随着集成电路规模的增大,复杂度的提高,测试生成的费用成指数增长,测试
成本在电路和系统总开销中占的比例不断上升。常规的测试方法正面临着日趋严重的挑战,
单凭改进和研究测试生成的算法已无法满足测试要求。测试算法研究和测试实践都证明了个
基本事实:对一个不具有可测试性的电路进行测试是徒劳的,只有提高电路的可测试性,才
能使电路的测试问题得到简化并最终得到解决。在系统设计时就充分考虑到测试的要求,实
行可测试设计,以降低测试产生的复杂度,提高故障覆盖率,降低测试成本。在讲可测性设
计之前,先讲一下故障的概念以及如何排除故障。 2.3 故障
电路故障一般分为两类:参数故障和逻辑故障。参数故障是指电路参数的变化引起的
故障。逻辑故障是电路逻辑功能发生错误的故障。
逻辑故障按照时间的表现形式可以分为:永久性故障(元件损坏,线路开路、短路)、
间歇故障(线路接触不良)、瞬态故障(外界干扰)。
永久性故障里最常见的是“固定型故障”,即在某一个信号连线上的逻辑值固定不变,
可以用固定故障模型来表示。固定于1称为(stuck-at-1,简称s-a-1),固定于0称为(stuck-at-0,
简称s-a-0),还有一种固定故障是晶体管的固定故障:固定导通和固定开路。
故障模型:1 固定型故障 2 桥接故障(两条或多条信号线意外的连接在一起,输入桥接
故障和反馈桥接故障) 3 固定开路型故障(CMOS电路门输出端一直是高阻状态) 4 IDDQ
故障(出现物理缺陷,CMOS静态电流值会很高)5 延迟故障(某个路径的传播延迟超过
了规定的最小延迟)6 转换故障(0Æ1和1Æ0)
故障测试集:(98-16-1,96-5)
最小故障测试集
第一步:作单故障输出真值表Fi0和Fi1,分别指S-A-0和S-A-1故障,列出后比较观
察,消去相同的真值表故障,合并。
第二步:做故障检测表,将正常输出与故障输出Fi进行异或运算,若Fi列对应的是1,
那么Ti就是故障Fi 的一个测试向量。
第三步:确定最小故障测试集,行消去规则,A行的1被B行完全包含。列消去规则,
A列的1被B列完全包含。得到最小故障覆盖表,删除空项,得出最小故障测试集。
(98-15)当且仅当下列条件满足的时候,逻辑电路的故障可检测:1为永久性故障或间
歇故障2 所有的故障必须是非冗余故障。
举例说明:z=ab+not(b)c+ac ac从方程中消去输出不变,ac的电路就是冗余电路。
测试生成:组合电路和时序电路的测试码的生成
组合电路:1、单路径敏化法 缺点不一定能够找到所有故障的测试向量。(96-5)
2、布尔差分法 能够找到所有的故障测试向量,可以生成多故障的测试码。
(98-16-2,98-16-3)
故障测试方法:JTAG法 (JTAG,Joint Test Action Group,联合测试行动组)
2.4 可测性设计
(1)概念:进行系统设计时充分考虑到测试的要求,即要用故障诊断的理论去指导系
统设计,这就是所谓的可测试设计
可测试性设计在集成电路设计的初始阶段就可将测试性设计作为设计目标之一,而不
单纯考虑系统功能、性能和芯片面积,因为集成电路的可测试性往往与电路的复杂性成反比。
随着半导体工艺技术的不断发展,电路日趋复杂,测试难度大大增加。而测试是指通过控制
和观察电路中的信号,以确定电路是否正常工作的过程。
(2)电路的可测试性涉及两个最基本的概念,即可控制性和可观察性。可控制性表示
通过电路初始输入端控制电路内部节点逻辑状态的难易程度:如果电路内部节点可被驱动为
取 任何值,则称该节点是可控的。可观察性表示通过控制输入变量,将电路内部节点的故
障 传播到输出端以便对其进行观察的难易程度;如果电路内部节点的取值可以传播到电路
的输出端,且其值是预知的,则称该节点是可观察的。设置观察点和控制点是最简单的提高
可测性的方法。