实验47验证性实验——移位寄存器逻辑功能测试和应用.docx

  • 格式:docx
  • 大小:95.20 KB
  • 文档页数:4

实验 47 验证性实验——移位寄存器逻辑功能测试和应用一. 目的l . 移位寄存器的 功能; 2.掌握集成 路 4 位双向移位寄存器的使用方法;3.学会 用移位寄存器 数据的串行、并行 和构成 形 数器。

二. 原理l .移位寄存器的特点寄存器中所存的数据在CP 脉冲作用下能依次左移或右移。

有些集成移位寄存器同有左移或右移控制端, 可根据左移或右移信号 双向移位的要求。

根据 D IR S 1 S 0Q 01615 14 13 12 11 10 9移位寄存器存取信息方式的不同分D 0 49Q 1V DD Q 0 Q 1 Q 2 Q 3 CP S 1 S 0D 1 1串入串出、串入并出、并入串出、D 2 0CD40194(74LS194)4Q 24 种形式。

D 3 DR dD IR D 0 D 1 D 2 D 3 D IL V SS并入并出C本 用的 4位双向通用移D ILQ 312 345678CP R d位寄存器 CD40194 或 74LS194,两者功能和引脚相同, 可互 使用。

(a)(b)符号及引脚排列如47-1 所示。

图 47-1 CD40194 的逻辑符号 (a 图)及引脚功能 (b 图 )其中, D 0、 D 1、 D 2、 D 3 并行入端; Q 0、 Q 1、 Q 2、 Q 3 并行 出端: D IR 右移串行 入端,D IL 左移串行 入端;S 1 、S 操作模式控制端;ˉ R ˉ脉冲 入端。

d 异步 (亦称 无条件 )清零端; CPCD40194 有 5 种不同操作模式:即数据在D 3、 D 2、 D 1、 D 0 端并行送入寄存、右移(数据由 Q 0→Q 3 移 )、左移 (数据由 Q 3→Q 0 移 )、保持及清零。

S 1 、S 和ˉR 端的控制作用如表 47-1 所示。

表 47-1 S 、S 0和 R ˉ 的控制作用0 d 1 d2.移位寄存 功能 输 入输 出器的用途 CP SD D D D DQd 1 0 IRIL 0 1 2 3 0 1 23R ˉ SDQQ Q移位寄存器清零╳0╳╳ ╳╳╳╳╳╳00 0 0 除了可以作 寄 置数↑1 11 ╳ ╳a bc d abc d存器外, 通 适当 右移 ↑ 1 0 1 DSR╳╳ ╳ ╳ ╳ D SR Q 0 Q 1Q 2的 接, 可以成 左移↑11╳DSL╳╳╳ ╳Q 1Q 2Q 3 D SL移位寄存器型 保持↑100n n n n╳╳╳╳╳╳Q 0Q 1 Q 2 Q 3 数器、 序脉冲1nnnn保持↓╳╳ ╳╳╳╳╳ ╳Q 0Q 1Q 2Q 3生器、 串行累加器等, 可用作数据 ,即把串行数据 并行数据、 并行数据 串行数据等。

本研究移位寄存器如何成 形 数器和数据的串、并行 。

其他用途自行参考有关料。

(1) 形 数器形 数器如47-2 所示,是把移位寄存器的 出反 到它的串行 入端,利用循移位 数。

把 出端 Q 3 与右移 入端 D IR 相 , 初始状Q 0Q 1Q 2Q 3=1000 , 在脉冲 CP 的作用下, Q 0Q 1 Q 2Q 3 将依次 0100→0010→0001→1000→⋯⋯,如表 47-2 所示。

然它是利用 4 个有效状 表示 数 果,种 型的 数器通常称 形 数器。

47-2 所示 路可以由各个 出端 出在 上有先后 序的脉冲,因此也可作 序脉冲 生器。

如果将 出端 Q 0 与左移串行 入端 D IL 相 接,即可左移循 移位。

(2) 数据串行、并行 入 出相互 ①串行 入/并行 出 路串行输入/并行输出转换是指串行输入的数据,经转换电路后并行输出。

图47-3 所示是由 CD40194(74LS194)4 位双向移位寄存器组成的7 位串行输入/并行输出转换电路。

Q0 Q1 Q2 Q3CD40194 D IRCP 47-2 形数器并行出束志串行右Q0Q1Q2Q3S1Q4Q5Q6Q7S1移入“1”1⋯dCD40194(1) S0CD40194(2) S0“1”d0d1D IR D IRR d n D 0D 1D 2D 3 R d D0D 1D 2D 3RdCP CPCP“1”47-3 七位串行入/并行出器表 47-2 形数器功能表电路中 S0端接高电平l, S1受 Q7控制,两片寄存器连接成CP Q0Q1Q2Q3串行输入右移工作模式。

Q7是转换结束标志。

当Q7=l 时。

S1为010000,使之成为 S1S0=0l 的串入右移工作方式,当Q7=0 时, S1=1,10100 20010有 S1S0=11,则串行送数结束,标志着串行输入的数据已转换成30001并行输出了。

其中所使用的非门可用74LS04( 见实验43) 或CD4069( 见实验 62)。

串入/并出转换具体过程如下:表 47-3器功能表转换前,ˉR d加低电平,使1、2 两CP Q0Q1Q2Q3Q4Q5Q6Q7明片寄存器的内容清零,此时S1S0=11,000000000清零寄存器执行并行输入工作方式。

当第一101111111送数个 CP 脉冲到来后,寄存器的输出状态2d00111111右3d1d0011111 Q0~ Q7为 01111111,与此同时 S1S0变移4d2d1d001111操为 01,转换电路变为执行串入右移工作5d3d2d1d00111作1 片的 D IR端加6 d 4d3d2d1d0011方式,串行输入数据由七入。

随着 CP 脉冲的加入,输出状态的7d5d4d3d2d1d001次8d6d5d4d3d2 d 1d0047-3 所示。

变化可列成表901111111送数由表 47-3可知,右移操作七次后,Q7变为 0, S1S0又变为 11,说明串行输入结束。

这时,串行输入的数码已转换成了并行输出。

当再来一个 CP 脉冲时,电路又重新执行一次并行输入,为第二组串行数码转换作好了准备。

②并行输入/串行输出转换器并行输入/串行输出转换器是指并行输入的数码经转换电路之后,换成串行输出。

图 47-4 所示是用两片 CD40194(74LS194) 组成的 7 位并行输入/串行输出转换电路,它比图 47-3 所示电路多了两个与非门G1和 G2,电路工作方式同样为右移。

寄存器清零后,加一个转换启动信号 (负脉冲束志或低电平 )。

此时,由于G1&方式控制S1S0为 11,转换电路执行并行输入操作。

当第一个 CP 脉冲到来后 ,Q0Q1Q2Q3Q4Q5Q6Q7的状态为0D l D2D 3D4 D5D 6D7,并行串行出G2起Q 0Q1 Q2Q 3 S1Q4Q5Q6Q7 S1&信号“1”“1”D IR CD40194(2)S0“1”D IR CD40194(1) S0d CP012D3 R d CP D4 D 5D 6D 7R dRD D DCP并行入7 位并行入/串行出器47-4输入数码存入寄存器。

从而使得 G1输出为 1,G2输出为 0,结果 S1S0变为 01,转换电路随着CP 脉冲的加入,开始执行右移串行输出,随着 CP 脉冲的依次加入,输出状态依次右移,待右移操作7 次后, Q0~ Q6的状态都为高电平1,与非门 G1输出为低电平, G2门输出为高电平, S1S0又变为11,表示并 / 串行转换结束,且为第二次并行输入创造了条件。

转换过程如表 47-4 所示。

图 47-4 中的 G1为 8 输入与非门,可使用 CD4068 或 74LS30,相关资料见本实验附录。

中规模集成移位寄存器,其位数往往以 4 位居多,当需要的位数多于 4 位时,可把几片移位寄存器用级连的方法来扩展位数。

三.实验设备及器件l. +5V 直流电源2.单次脉冲源3.逻辑电平开关4、逻辑电平显示器5 .CD40194×2( 或74LS194) 、CD4011( 74LS00)( 见实验37/38) 、 CD4068(74LS30 )(见本实验附录 )四.实验预习表 47-4 转换过程CP Q0 Q1 Q2 Q3Q4 Q5 Q6 Q7串行输出00000000010D1 D2 D3D4 D5 D6 D7210D1 D2D3 D4 D5 D6D73110 D 1D2 D3D4 D5D6 D741110D1 D2 D3 D4D5 D6 D7511110 D1D2D3D4 D5 D6 D761111 1 0 D1D2D3D4D5 D6 D7711 1 1110D1D2D3D4 D5 D6 D7 811111110D1D2D3 D4 D5 D6 D7 90D1 D2 D3D4 D5 D6 D71.复习教科书中有关寄存器原理及串行、并行转换原理有关内容。

2.查阅 CD40194 、 CD4011( 见实验 37)及 CD4068( 见实验 62)的资料,熟悉其逻辑功能及引脚排列。

3.在对 CD40194 进行置数后,若要使输出端改成另外的数码,是否一定要使寄存器清零?4.使寄存器清零,除采用ˉ R d输入低电平外,可否采用右移或左移的方法?可否使用并行置数法 ?若可行,如何进行操作?5.若进行循环左移,图47-4 所示接线应如何改接?6.画出用两片CD40194 构成的七位左移串/并行转换器线路。

7.画出用两片CD40194 构成的七位左移并/串行转换器线路。

五.实验内容与步骤1.测试 CD40194 (或 74LS194 )的逻辑功能按图 47-5 所示接线,ˉR d、S1、S0、D IL、D IR、D0、D1、D 2、D 3分别接至逻辑开关;Q0、Q1、Q2、Q3分别接逻辑电平显示器。

CP 端接单次接逻辑电平接单次脉冲源。

按表 47-5 所规定的输入状态,逐项进行+5V显示插口脉冲源测试。

(1)清零:置ˉR d =0,其它输入为任意态,这时寄存器输出 Q0Q1Q2Q3应均为 0。

清零后,置ˉR d =l 。

(2)置数:令ˉR d=S1=S0=l ,送入任意 4 位二进制数,如 D0D 1D2D 3=1101,加单次脉冲至 CP 端,观察CP=0、CP 由 0→1、CP 由 1→0三种情况下寄存器输出状态的变化,观察寄存器输出状态变化是否发生在CP 脉冲的上升沿。

(3)右移:清零后,令ˉR d =1 、S1S0=01,由右移161514131211109 V DD Q0 Q1 Q2 Q3 CP1SSCD40194(74LS194)RD IRDD1D2DD ILVSS d3 12345678接逻辑开关输出插口图 47-5 CD40194 逻辑功能测试输入端 D IR送入二进制数码,如0100 ,由 CP 端连续加 4 个脉冲,观察输出情况并记录。

(4)左移:先清0 或预置,再令ˉR d =1, S1=1, S0=0 。