手机连接器概述及失效分析方法
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手机充电器原理图讲解及常见故障检修随着手机的使用频率越来越高,手机充电器的使用频率自然也是在逐渐上升的,但是手机充电器用久了之后,总是会出现很多问题,比如充不进去点或者是充电时间过长,下面针对这个问题,小编就为大家介绍一下手机充电器常见故障检修以及对手机充电器原理图做一下讲解。
手机充电器原理图讲解分析一个电源,往往从输入开始着手。
220V交流输入,一端经过一个4007半波整流,另一端经过一个10欧的电阻后,由10uF电容滤波。
这个10欧的电阻用来做保护的,如果后面出现故障等导致过流,那么这个电阻将被烧断,从而避免引起更大的故障。
右边的4007、4700pF电容、82KΩ电阻,构成一个高压吸收电路,当开关管13003关断时,负责吸收线圈上的感应电压,从而防止高压加到开关管13003上而导致击穿。
13003为开关管(完整的名应该是MJE13003),用来控制原边绕组与电源之间的通、断。
当原边绕组不停的通断时,就会在开关变压器中形成变化的磁场,从而在次级绕组中产生感应电压。
由于图中没有标明绕组的同名端,所以不能看出是正激式还是反激式。
不过,从这个电路的结构来看,可以推测出来,这个电源应该是反激式的。
左端的510KΩ为启动电阻,给开关管提供启动用的基极电流。
13003下方的10Ω电阻为电流取样电阻,电流经取样后变成电压(其值为10*I),这电压经二极管4148后,加至三极管C945的基极上。
当取样电压大约大于1.4V,即开关管电流大于0.14A时,三极管C945导通,从而将开关管13003的基极电压拉低,从而集电极电流减小,这样就限制了开关的电流,防止电流过大而烧毁(其实这是一个恒流结构,将开关管的最大电流限制在140mA左右)。
手机充电器变压器左下方的绕组(取样绕组)的感应电压经整流二极管4148整流,22uF电容滤波后形成取样电压。
为了分析方便,我们取三极管C945发射极一端为地。
那么这取样电压就是负的(-4V左右),并且输出电压越高时,采样电压越负。
手机用连接器技术及市场分析手机连接器是手机中一种重要的电子元器件,它们的好坏直接关系到手机的质量和其使用的可靠性。
“虽然没有具体的统计数据,但我们认为手机主要的售后质量问题都与连接器/互连有关。
”泰克美资安普有限公司业务总监徐约翰说。
手机所使用的连接器种类根据其产品的不同而略有差异,平均使用数量约在5~9个之间,产品种类可以分为内部的FPC连接器及板对板连接器、外部连接的I/O连接器,以及电池、SIM卡连接器等。
这些连接器的价格约为0.5美元到2.2美元之间,平均为0.7美元。
与大约50美元的手机原材料成本相比,显得有点微不足道。
技术趋势:高密度、小间距、标准化由于使用连接器的整机产品外形都是集小型化、薄型化和高性能于一身,这也促进了连接器产品朝微型化和小间距方向发展。
FPC连接器用于LCD显示屏到驱动电路PCB的连接,目前以0.5mm产品为主,现已出现0.3mm产品。
随着近来有LCD驱动器被整合到LCD器件中的趋势,FPC的引脚数会相应减少,目前市场上已经有相关的产品出现。
从更长远的方向看,将来FPC连接器将有望实现与其它手机部件的合而为一,并一同整合在手机或其LCD模组的框架上。
手机中板对板连接器的发展趋势是引脚间距和高度越来越小,目前主要以0.5mm间距为主,很快会发展到0.4mm甚至更小。
I/O连接器是手机中最重要的进出通道之一,包含电源及信号两部份之连接,体积的减小和产品标准化将是未来发展的主要方向。
徐约翰表示,目前在产品规格方面还是“群雄割据”的局面,标准不一,一些大厂商采用自己专有的设计。
现在较多采用的是圆形和MiniUSB连接器等,未来将有望建立一种统一的行业标准,Nokia、SEMC等手机厂商已经开始迈出实质性的步伐,而日本市场已经出现了一种针对W-CDMA产品的I/O连接器标准。
SIM卡连接器以6p为主,但也有8p及5p的产品,今后的发展方向主要是在与SIM卡锁定机构和厚度方面作改进,达到最低0.50mm的超低厚度及更便捷的SIM卡锁定方式和防误插功能。
2010年5月第5卷 第2期失效分析与预防M ay,2010Vol .5,No .2[收稿日期]2010年2月18日 [修订日期]2010年4月12日[作者简介]刘平(1976年-),男,博士,高级工程师,主要从事电子材料及元器件失效分析方面的研究。
SE M /E D X 和FT IR 在手机电触点失效分析方面的应用刘 平1,2,刘建勇1,姚 Τ2(1.摩托罗拉材料失效分析实验室,天津300457;2.天津大学材料学院,天津300072)[摘 要]总结了SE M /EDX 和FTI R 在手机电触点失效分析中的几个典型案例,发现大量失效产品中的镀金触点因表面污染和氧化引起的接触电阻升高是造成电接触故障的主要原因。
污染物形貌和成分复杂,通过与手机生产和使用中常见污染源的红外图谱和EDX 图谱进行对比,SE M /EDX 和FTI R 能鉴别出大多数污染物,比如印刷线路板在切板过程中引起的碎屑、手指接触污染、灰尘聚集污染以及工艺带入的粘胶污染等,促进了工艺的改进和生产效率的提高。
[关键词]SE M /EDX;FTI R;电触点;污染物;失效分析[中图分类号]T N929.53;T M501.3 [文献标志码]A do i:10.3969/j .issn .167326214.2010.02.013[文章编号]167326214(2010)022*******Appli ca ti on of SE M /ED X and FT I R to Fa ilure Ana lysisof Electr i ca l Con t acts of M ob ile PhonesL I U Ping 1,2,L I U J ian 2yong 1,Y AO Bei2(1.M FAL,M otorola (China )Electronics L td .,Tianjin 300457,China;2.College of M aterial Science &Engineering,T ianjin U niversity,Tianjin 300072,China )Abstract:Some typ ical cases on electrical contact failure analysis by SE M /E DX and FTI R were su mmarized .It is found that the main failure cause of the electrical contacts is the rise of electric resistance caused by surface conta m inati on and oxidati on .Gen 2erally,the conta m inants have comp lex appearance and compositi on .U sing SE M /E DX and FTI R,most of the conta m inants intr o 2duced in the course of p r oducti on and service can be identified,such as scrap s,man 2made conta m inants,dusts,and viscose conta m inants .Key words:SE M /E DX;FTI R;electrical contact;conta m inant;failure analysis0 引言电子产品和通信设备与人们的关系越来越密切,这类产品的使用也越来越频繁,这就要求除了在性能上使电子产品和通信设备满足设计要求外,还必须对设备本身的可靠性和安全性进行相应的考虑。
手机连接器介绍一、概述手机连接器是手机中一种重要的电子元器件,它们的好坏直接关系到手机的质量和其使用的可靠性。
在各类电子系统中,连接器泛指各种电子组件间的连接单元,主要作为芯片对电路板,电路板之间和电路板对箱体之间进行电气连接和信号传递,是构成一个完整系统所必须的基础元件。
二、连接器的分类1.I/O类(IN /OUT):I/O插座、MINI-USB插座、DC插座、耳机插座等2. SIM卡类:SIM插座3. BATTERY类:电池连接器4. BTB类(包括FPC和BTB):FPC连接器、板对板连接器5. M/C类(MEMORY CARD):T-Flash卡插座6 . RF类:RF连接器三、连接器主要性能1.机械部分•就连接功能而言,插拔力是重要地机械性能。
插拔力分为插入力和拔出力(拔出力亦称分离力),两者的要求是不同的。
在有关标准中有最大插入力和最小分离力规定,这表明,从使用角度来看,插入力要小(从而有低插入力LIF和无插入力ZIF的结构),而分离力若太小,则会影响接触的可靠性。
另一个重要的机械性能是连接器的机械寿命。
机械寿命实际上是一种耐久性(durability)指标,在国家标准GB5095中把它叫作机械操作。
它是以一次插入和一次拔出为一个循环,以在规定的插拔循环后连接器能否正常完成其连接功能(如接触电阻值)作为评判依据。
连接器的插拔力和机械寿命与接触件结构(正压力大小)接触部位镀层质量(滑动摩擦系数)以及接触件排列尺寸精度(对准度)有关。
2、电气性能连接器的主要电气性能包括接触电阻、绝缘电阻和抗电强度。
接触电阻:高质量的电连接器应当具有低而稳定的接触电阻。
连接器的接触电阻从几毫欧到数十毫欧不等。
绝缘电阻:衡量电连接器接触件之间和接触件与外壳之间绝缘性能的指针,其数量级为数百兆欧至数千兆欧不等。
抗电强度:或称耐电压、介质耐压,是表征连接器接触件之间或接触件与外壳之间耐受额定试验电压的能力。
其它电气性能:电磁干扰泄漏衰减是评价连接器的电磁干扰屏蔽效果,一般在100MHz~10GHz频率范围内测试。
2007年8月1日CONNECTOR DEGRADATION MECHANISMS连接器失效(退化)机构目录6.连接器失效(退化)机构6.1简介6.2腐蚀A腐蚀对接触电阻的影响B腐蚀膜的形成1.环境腐蚀2.毛孔腐蚀3.腐蚀爬行4.接触腐蚀C腐蚀与对应电镀系统的关联1.金2.钯3.钯-镍4.银5.锌-铅&锌6.镍D防止腐蚀策略1.名贵电镀系统a.增加电镀厚度b.加润滑剂c.毛孔堵塞d.喷金e.环境防护(隔离)f.从开始和整个使用期加足够常态力6.1简介Intrinsic degradation mechanisms 内在(固有)退化机构Active degradation mechanisms 活性退化机构failure criteria失效标准6.2腐蚀A.腐蚀对接触电阻的影响Rcontact= Rconstriction+ RfilmEquation 6.1.6.2腐蚀B腐蚀膜的形成环境腐蚀主要是空气中的成分与金属的化学反应. 接触腐蚀是导体接触界面微运动的结果.1.Environmental Corrosion环境腐蚀Environmental corrosion is primarily an issue with noble metal plating systems, especially in the case of pre-plated stock.noble metal finishes were described as a system which consists of a preciousmetal surface, a nickel underplate and the contact base metal. Each performs differentfunctions. The precious metal surface, in particular gold, provides an inherently corrosionresistant surface. The nickel underplate performs several functions to ensure that the nobilityof the surface plating is retained. 详细重复如下:reduce sensitivity to porosity减少多孔性reduce corrosion migration减少腐蚀移动reduce diffusion of base metal constituents减少基材成分扩散improve contact finish durability提高接触表面的耐久性(寿命)With the exception of gold, environmental corrosion may occur directly on the surface plating,even though the surface plating is a noble metal. While gold does not corrode, other noble platings, primarily palladium and palladium-nickel alloy, are corrosion resistant, but not fully corrosion proof.6.2腐蚀除了表面腐蚀,还有打底电镀层腐蚀和基材腐蚀.很多时候打底电镀层腐蚀和基材露在外面,如表面电镀质量不好或镀得薄.还有边缘,边界棱角的暴露. 以及电镀前在放置时的暴露受到腐蚀.磨损同样暴露打底电镀层或基材.根据腐蚀流程的动力学原理可将环境腐蚀分为孔腐蚀和腐蚀爬行.孔腐蚀中腐蚀部分只在腐蚀起始位置. 腐蚀爬行中腐蚀会从起始扩大到其它位置.2.Pore Corrosion孔腐蚀Pore corrosion occurs in situations where small openings in the surface plating allow corrosiveelements (e.g. oxygen, chlorine, nitrogen dioxide, hydrogen sulfide, sulfur dioxide) in thesurrounding atmosphere to come into contact with the underplate and/or base metals. Oncethe opening is filled with corrosion products, no further corrosion will occur. See Figure 6.2.Pore CorrosionFigure 6.2.6.2腐蚀A film of corrosion may exist in the immediate area around the initiation site, appearing as rings around the initiation site, However, if the dominant mechanism is pore corrosion, the films beyond the initiation site will be relatively thin. Figure6.3 is an example of a surface exhibiting pore corrosion as the dominant environmental corrosion mechanism.Figure 6.3.Surface of a gold/nickel/phosphor-bronze coupon after exposure toa Class NOTE ass II MFGenvironment exhibiting porecorrosion as dominant mechanismwith sometransition to corrosioncreep evidenced by thin film “rings”surrounding the initiationsite.The effect of pore corrosion on interface resistance depends on whether or not the contactarea occurs within an area containing pore corrosion products and on the ability of the contactto penetrate the corrosion film if it does exist in the contact area. The ability to penetrate the corrosion film depends on the normal force, contact geometry, and wipe characteristics.3.Corrosion Creep腐蚀爬行This degradation mechanism can cause a large area to become covered with relatively thick corrosion films.Figure 6.6.Note that the corrosion creep is most severe on the gold plated sections andless severe and in some cases non-existent in the nickel and tin plated areas. It is a characteristic of corrosion creep that migration of the corrosion products is accelerated on noble surfaces.4. Fretting Corrosion 接触腐蚀Fretting corrosion is primarily an issue with non noble plating systems and unplated contacts. It may also occur in plating systems incorporating thin (less than 10 microinch) noble platings, as the surface plating may be quickly worn away leaving the underplate or base metal as the primary contact surface.Figure 6.8.Fretting corrosion resulting fromcyclic micromotion of contactinterface NOTE ace on nonnoblesurfaces.Figure 6.9.At some point, typically between 500 and 1000 cycles,the normal force becomes insufficient to consistently penetrate the oxide layer, and resistancewill rise quickly with additional cycles.C. Corrosion Concerns with Specific Plating Systems腐蚀与对应电镀系统的关联1.Gold金金本身完全不受腐蚀.Gold provides a true noble surface, Any variation in contactresistance due to corrosion of gold plated contacts is due to exposure of the underplate or base metal.The intrinsic degradation mechanisms associated with gold are porecorrosion and corrosion creep. As stated, these mechanisms can become active only if underplate or base metal is exposed. 可由以下原因引起:*多孔性(特别薄时) *边缘暴露*非(名贵)电镀相邻区别*磨损Note:镀金层薄,打底层或基材暴露,接触磨损发生.2.钯钯虽不完全不受腐蚀,但极难被腐蚀. 因此它引起腐蚀的原因和金相似.只是它还容易有小裂纹. *多孔性(特别薄时) *边缘暴露*非(名贵)电镀相邻区别*磨损*产生小裂纹(露下层)3.钯-镍钯-镍(一般80%钯20%镍)可防止微裂纹但防腐蚀性没纯钯好.*随着镍比例增加防腐蚀性变差----Æ非名贵电镀**多孔性(特别薄时) *边缘暴露*非(名贵)电镀相邻区别*磨损4.银Silver tarnishes rapidly in most environments. the primary corrosionconcern is the corrosion of the silver itself*与普通污染物容易反应产生腐蚀层.*多孔性(特别薄时) *边缘暴露*非(名贵)电镀相邻区别*磨损5.锌铅和锌非名贵电镀.容易产生氧化层.但氧化层产生能很好防止下面的金属继续被氧化.主要腐蚀是接触腐蚀.6.镍非名贵电镀.容易产生氧化层.象锡,氧化层产生能很好防止下面的金属继续被氧化.但镍氧化层很硬,不象锡那么软.主要腐蚀是接触腐蚀.它做打底层很好.但一般不做表层,除非已决定表层用大的常态力.D防止腐蚀策略1.名贵电镀系统a.增加电镀厚度.但费用贵b.加润滑剂.可以覆盖暴露的打底或基材层,还可以减少摩擦因而减少磨损.还可以防止接触腐蚀,薄金电镀易产生接触腐蚀c.毛孔堵塞d.喷金(由于薄,只能存在于前若干次插拔中)e.环境防护(隔离) . 插配好的端子远少腐蚀于非插状态. HOUSING防护(隔离). Receptacle or socketcontacts often are far less affected by a corrosion environment than pins.f.从开始和整个使用期加足够常态力. 可更好穿过既有腐蚀层,又可防止微运动,防止接触腐蚀.g.周期(赫兹)压力2.非名贵电镀系统a.加润滑剂. prevent fretting corrosionb.机械顺从. 减少微运动可能.Figure 6.13 illustrates a design incorporating complianceto reduce the likelihood of fretting motions. Small tangentialforces being applied to the contact interface will beabsorbed by the horizontal spring.c.高的常态力Prevented Fretting motions3.镍打底镍打底能有效提高名贵电镀或镀锌表面的防腐性.*减少基材暴露可能,镍比基材防腐性好. *限制腐蚀爬行,使暴露基材的腐蚀不易爬到名贵电镀面. *提高电镀层硬度,减少磨损.*在基材与镀层间作为障碍物,防止基材因金属化合作用而扩散到电镀面降低电镀面防腐性A永久装置卸荷时原点偏移-------因为负荷超出弹性极限,金属弹性变形后再产生塑性变形. While a given deflection will induceplastic deformation in a contactbeam, so long as the deflectionfrom the original (pre yielded)rest position of the beam is thesame, the normal force will remainthe same. This can be seen inFigure 6.14.Figure 6.14 illustrates an example in which the design deflection is intended to be 0.010 inch, at which point the stress within the spring is within the elastic limit. The design normal force at this deflection is 100 grams. However, during mating the contact spring is displaced 0.015 inch, which induces stress beyond the elastic limit of the spring material, and the spring deforms plastically. If the final displaced position remains at 0.015 inch from the original rest position of the spring (i.e. before it was plastically deformed), the normal force will be at the level attained when the spring was first deflected to 0.015", which is 130 grams in this example. This will be true for any subsequent mating which results in a 0.015" deflection from the original rest position and which does not induce further yielding.•B应力释放(松弛)应力释放------通过金属内部缺陷结构的重新组合,弹性应力转化为塑性应力. 例如双臂端子,加荷一段时间卸荷后,间隙会增大.应力释放率随着温度的上升而升高. 应力释放率-------单位时间内的应力释放.它与常态力也有关系.C常态力丧失的结果常态力控制接触界面实际接触面积的数量.As the area in contact decreases, resistance will increase. Equation 6.3. relates interface resistance to the contact area.R = k p {(1/nd) + (1/D)}Equation 6.3.R = Interface resistancek = Constant that is a function of materials usedn = Number of asperities微观(不可见)接点数d = Average asperity area微观(不可见)接点平均面积D = Apparent contact area接触[表观]面积常态力上升, n上升,d上升.刚加载,n,d很小, 1/nd大,起主导作用,下降快,电阻下降快;到一定载荷时, 1/nd很小.1/D主导,电阻趋向常数.卸栽时,由于asperities应力释放,弹性变形小,常态力显著减少,电阻趋向稳定,并不显著上升.只到将要界面分离时,电阻突然跃升.Conclusions to be drawn about the effects of loss of normal force, based on the contact Interface model and supported by the heat age study, are as follows:–Loss of normal force, unless quite substantial, has little direct effect on resistance.–Loss of normal force will allow a contact interface to be more easily displaced.–If displaced, resistance will increase substantially only if the interface is re-established in a region with a non conductive film.Based on these conclusions, the primary concern with loss of normal force is that stresses Which may not have induced motion at the original normal force levels will now produce motion at the interface. These stresses are typically temperature cycling and vibration. Once motion is initiated, if corrosion exists outside the contact area, a shift into the corroded area will obviously cause an increase in resistance. Another concern is that the motion itself can induce fretting corrosion and subsequent increases in resistance.D防止常态力丧失的对策1.永久设置*设计时加大弹性余量.*加入可调或导向设计,如斜坡,倒角.2.应力释放(松弛)不能避免,只能从选材考虑提高. 或是选用好的电镀表面减少所需的最少常态力.把磨损作为退化机构不是基于磨损本身,而是因为磨损破坏电镀层.A磨损机构分为缓和(适量)磨损和磨伤磨损.对于一个既定界面,是缓和(适量)磨损还是磨伤磨损取决于常态力.常态力小于某一值,为缓和(适量)磨损. 当大过一定值时,就变为磨伤磨损.两个表面的(相对)硬度影响磨损程度. 破裂(裂纹)浅,只是接近表层,是缓和(适量)磨损;破裂(裂纹)深,渗入到表层底下,是磨伤磨损.B影响磨损的因素*常态力上升,磨损上升*表面硬度上升,磨损下降*表面覆盖物有助磨损下降. *表面粗糙度*几何形状与移动距离.C磨损的设计考虑减少磨损的设计,往往会有其它负面影响. 如减少常态力,机够不稳定,接触磨损增加,及穿透腐蚀膜更难. 设计成平壮界面,难穿透腐蚀膜及排除杂质微粒. 因此应平衡考虑.D防止磨损的对策*加适量润滑剂*加厚电镀层*提升表面硬度,加镍打底.6.5其它磨损机构A金属B聚合物C润滑剂Thank You!。
连接器的失效原因一、简介连接器是一种用于连接电子设备和电路的组件,常见于计算机、手机、电视等电子产品中。
连接器的失效会导致设备无法正常工作,因此了解连接器的失效原因对维修和保养设备非常重要。
二、机械失效机械失效是连接器失效的主要原因之一,主要包括以下几个方面:1. 机械磨损长期使用会导致连接器内部的金属接触面磨损,从而影响电信号的传输。
磨损严重时,连接器可能无法正常插拔或断开。
2. 弹簧失效连接器中的弹簧起到稳定插头和插座之间的压力作用,保证良好的电气连接。
当弹簧失效时,连接器可能无法正常插入或断开,导致电气接触不良。
3. 粘附和腐蚀连接器接触面积小,容易受到灰尘、污垢和氧化物的影响,导致连接器粘附或腐蚀。
粘附和腐蚀会降低连接器的电气性能,甚至导致连接器完全失效。
4. 连接器外壳破裂连接器的外壳通常由塑料或金属制成,如果外壳破裂或变形,会导致连接器无法正常插入或断开,甚至导致电路短路。
三、电气失效除了机械失效,连接器的电气性能也可能导致连接器失效。
1. 电气接触不良连接器的电气接触不良是一种常见的电气失效。
接触不良可能是由于连接器内部接点松动、氧化、磨损等原因导致的。
电气接触不良会导致信号传输不稳定或中断。
2. 短路和断路连接器内部的金属接点如果发生短路或断路,会导致电路异常。
短路可能由于连接器内部的导线断裂或外壳破裂导致,而断路可能由于连接器内部的导线接触不良或断裂导致。
3. 隔离失效连接器的隔离性能是保证电路安全的重要指标之一。
当连接器的隔离失效时,可能导致不同电路之间的干扰和短路,从而影响设备的正常运行。
四、环境失效连接器的环境失效是由于外部环境的影响导致连接器失效。
1. 高温和低温连接器在高温或低温环境下工作时,可能会出现连接器内部材料膨胀或收缩,导致连接器失效。
高温还可能导致连接器内部的绝缘材料老化,降低电气性能。
2. 潮湿和腐蚀性气体连接器如果长时间暴露在潮湿的环境中,可能会导致连接器内部的金属部件腐蚀,从而影响连接器的电气性能。
SIM卡连接器的技术分析发表时间:2019-05-20T15:15:57.687Z 来源:《电力设备》2018年第34期作者:刘华毛超[导读] 摘要:SIM卡连接器是一种供用户识别模块卡(SIM卡,Subscriber Identification Module Card)插置的连接器,是手机中的重要连接器之一。
(国家知识产权局专利局专利审查协作天津中心天津市 300304)摘要:SIM卡连接器是一种供用户识别模块卡(SIM卡,Subscriber Identification Module Card)插置的连接器,是手机中的重要连接器之一。
由于手机越来越小型化、轻薄化,用户群体越来越大众化,生产越来越大量化,所以对手机使用的元器件,包括SIM卡连接器在内,在小型化方面提出越来越严格的要求。
SIM卡的小型化也进一步的要求了SIM卡连接器的小型化和轻薄化,SIM卡连接器体积的减小对其端子的分布、耐用性等方面均提出了更高的要求。
本文主要针对SIM卡连接器的技术发展路线,通过检索、统计、分析了SIM卡连接器的专利申请,重点梳理了重要申请人、技术分布等状况等信息,同时阐述了重点专利的技术发展脉络。
关键词:SIM卡连接器;技术演进;专利分析一、前言在SIM卡研发的同时,SIM卡连接器也随之产生。
随着手机使用的普及,手机中连接器的可靠性、多功能性以及小型化研究越来越受到人们的重视。
SIM卡是手机中的重要部分,SIM卡的作用就像一把钥匙,当手机开机后,手机内系统就与SIM卡进行通信,把SIM卡从手机中取出,手机就不能正常使用和通信。
SIM卡连接器也是手机中非常重要的连接器,虽然SIM卡已经标准化,但由于手机设计千差万别,常常不能使用单一的标准化的SIM卡连接器。
因此,在SIM卡连接器技术的发展过程中,产生了各种各样的满足不同要求的SIM卡连接器。
SIM卡连接器发展的总趋势是呈现小型化、多合一SIM卡连接器以及提高SIM卡连接器的耐用性。
本讲从手机连接器的五种主要产品类型(FPC连接器、板对板连接器、I/O连接器、卡连接器和电池连接器)入手,介绍了手机连接器产品的发展变化,深入解析手机连接器在小型化、薄型化和高性能化等方面的技术进步和手机连接器的市场变化,最后围绕如何把这种变化融入实际的应用当中,给出了适应市场需求的手机连接器实例。
手机连接器是手机中重要的电子元器件,它们的好坏直接关系到手机的质量和其使用的可靠性。
在手机中连接器的主要元件包括:薄膜按键、超小型按钮开关、滑动开关、手机内置天线、PDA智能电话线、I/O系统连接器、数据及声音I/O系统连接器、SIM卡卡座、手机电池连接器、RF连接器、弹簧式连接器、带耳机连线插头、充电插孔、矩形连接器、手机附件用线缆与插塞插孔、接口等等。
连接器的错误选择和使用,可造成系统无法正常工作,并引发产品召回、电路板损坏、返工维修等一系列连锁反应。
目前,手机绝大部分的售后质量问题大多与连接器相关。
手机所使用的连接器种类根据其产品的不同而略有差异,平均使用数量约在6~9个之间,产品种类主要分为五种:FPC连接器、板对板连接器、I/O连接器、卡连接器和电池连接器。
对于FPC连接器,FPC连接器用于LCD显示屏到驱动电路(PCB)的连接,目前以0.4mmpitch 产品为主,0.3mmpitch产品也已大量使用。
随着LCD驱动器被整合到LCD器件中的趋势,FPC的引脚数相应减少。
将来FPC连接器有望实现与其它手机部件一同整合在手机或其LCD模组的框架上。
手机中板对板连接器的发展趋势是引脚间距和高度越来越小,目前主要以0.4mmpitch为主,会逐步发展到0.35mm甚至更小,后续要求高度更低和具有屏蔽效果。
同时BTB(板到板连接器)的高度也逐渐降低至0.9mm。
I/O连接器是手机中最重要的进出通道之一,包含电源及信号两部份之连接,体积的减小和产品标准化将是未来发展的主要方向。
其经常安排在手机的下部,要求具有长的拔插寿命,多功能、具有多种形式的端子,并可根据客户的要求定制。
1 失效分析的定义及作用产品失效分析一般是指对发生失效的产品进行分析研究,鉴别失效模式、确定失效机理和失效演变的过程,并提出预防与纠正措施的技术活动与管理活动。
通常接触到的FA 即Failure Analysis,表示失效、故障、损坏、失败分析。
失效分析为产品可靠性设计、材料选型、工艺制造和使用维护等提供科学依据,从而提高产品可靠性。
由于近些年生产技术智能化的提升,大多数电子产品生产采用流水线化作业,存在着批量缺陷的风险,因此在试制和批量生产过程需要对产品进行抽样失效时延和分析,找出产品失效原因,评估风险,有利于生产设计的进一步改善。
而在通信产品设计开发、物料投入试制阶段,需要根据建立的的失效案例库进行设计指导,避免设计缺陷的存在,同时通过失效分析手段或工具,对可能出现的缺陷进行筛查,保证产品的优良率。
在通信产品可靠性试验、测试阶段,利用失效分析检测工具,可以检测产品的薄弱性能,从而进一步改善、提升产品可靠性和安全性。
产品失效分析也可应用于售后服务,找出产品失效原因,有利于责任方的明确,避免法律纠纷或者经济纠纷[1]。
2 通信产品失效分析的方法针对通信产品失效分析,采用的分析手段或者方法分为无损分析和有损分析。
而无损分析又可以分为显微外观镜检、声学扫描、电性能(浪涌测试等)/IV曲线测试以及3D X-Ray透视测试、X-Ray萤光膜厚等方法;而有损分析主要有器件切片、器件开封、红墨水分析、金相厚度分析、SEM+EDS 形貌成分分析等方法。
X-Ray萤光膜厚可以测试镀层厚度;显微观测方法是在光学显微镜下观察失效器件表面以及电路板焊接状况。
浪涌实验则利用浪涌发生器,对产品内部电路形成冲击。
冲击的方法是将浪涌正极依次加在网口上面的信号线,电源线,复位线上,负极加在地线上。
为了控制浪涌回路的电流,在浪涌发生器内阻为12欧的基础上,在回路中串联42欧的水泥电阻。
对失效样品和良品进行曲线对比IV 曲线,可以测试显示Diode、MOSFET、IC、BJT等产品基本参数性能。
连接器分析报告1. 引言连接器在电子领域扮演着至关重要的角色,它们是电子设备中用于连接电路的部件。
连接器的质量和性能直接影响着整个电路的稳定性和可靠性。
本文将对连接器进行详细的分析,包括连接器的种类、功能、应用领域以及常见问题等方面进行探讨。
2. 连接器的种类连接器按照不同的分类标准可以分为多种不同的类型。
根据连接方式,常见的连接器类型有插拔式连接器、卡式连接器、螺纹连接器等。
根据电气性能,连接器可分为电源连接器、信号连接器、数据连接器等。
根据连接器外形,可以分为圆形连接器、矩形连接器、直线连接器等。
3. 连接器的功能连接器的主要功能是提供电路之间的连接,使得电子设备能够正常工作。
此外,连接器还具有防护功能,能够保护电路免受外界环境的干扰和损坏。
一些连接器还具有防水、防尘、防震等特性,以适应不同的工作环境。
4. 连接器的应用领域连接器广泛应用于各个领域的电子设备中。
在计算机领域,连接器被用于连接显示器、键盘、鼠标等外设。
在通信领域,连接器被用于连接手机、路由器、交换机等设备。
在汽车领域,连接器被用于连接汽车电子控制单元、传感器等。
除此之外,连接器还应用于工业自动化、医疗设备、航空航天等领域。
5. 连接器常见问题在连接器的使用过程中,常常会出现一些问题。
例如,接触不良、插拔次数过多、连接器松动等问题都会影响连接器的可靠性。
此外,连接器的形变、磨损、腐蚀等也可能导致连接质量下降。
为了解决这些问题,需要定期检查和保养连接器,及时更换老化或损坏的连接器。
6. 连接器的未来发展趋势随着电子设备的不断进步和多样化,连接器也在不断发展和创新。
未来,连接器将更加小型化,以适应微电子器件的发展。
同时,连接器将更加智能化,具有自动识别、自动连接等功能。
另外,连接器的可靠性和稳定性也将得到进一步提升,以满足更为苛刻的应用需求。
7. 总结连接器作为电子设备中不可或缺的部件,扮演着连接和传输信号的重要角色。
本文对连接器进行了详细的分析,包括连接器的种类、功能、应用领域以及常见问题等方面进行了探讨。