清洗与湿法腐蚀
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湿法烟气脱硫装置腐蚀与防腐探讨
浙能发电公司 田斌
摘 要:介绍了石灰石-石膏湿法烟气脱硫工艺原理,结合湿法烟气脱硫腐蚀的基本机理,对脱硫装置腐蚀环境进行分析,提出合理可行的防腐对策,并对国内湿法烟气脱硫工艺的发展趋势进行探讨。
关键词:湿法脱硫;腐蚀环境 ;防腐对策;发展趋势
1.引言:
烟气脱硫系统已是我国新建火力发电机组要求必须具有的环保装置,而石灰石-石膏湿法烟气脱硫是目前世界上技术最成熟、适合我国国情且国内应用最多的高效脱硫工艺,但在实际应用中如果不能针对湿法脱硫烟气中,含有粉尘、SO2、HF、HCl、NOx、水蒸气、H2SO3、H2SO4等复杂的组分,酸碱交替,冷热交替,干湿交替,腐蚀与磨损并存,脱硫设备承受着多种多样的物理、化学、温度和机械负荷,特别是液相成分的SO32-、SO42-、F-、Cl-对设备材料的强烈腐蚀等复杂的脱硫腐蚀环境,从多方面采取合理的防腐对策,将达不到预期的防腐效果,带来一系列脱硫系统投用后的棘手问题,最终影响脱硫系统的投用率和脱硫效率。
2.石灰石-石膏湿法脱硫工艺及原理:
从电除尘器出来大约130℃左右的高温烟气通过BUF(增压风机)进入GGH(换热器),烟气被冷却到80℃左右进入吸收塔,与石灰石浆液进行气液相的喷淋混合。浆液中的部分水份被蒸发掉,烟气得到进一步冷却(60℃左右)。烟气经吸收塔内循环石灰石浆液的洗涤,可将烟气中95%以上的硫脱除。同时还能将烟气中近100%的氯化氢除去。在吸收塔的顶部(或侧部),烟气穿过两级Me(除雾器),除去大部分悬浮水滴(除雾后液滴含量小于75 mg/Nm3)。
离开吸收塔以后,在进入烟囱之前,烟气再次穿过GGH,进行升温到80℃以上。吸收塔出口温度一般为50-70℃,烟囱的最低气体温度在国外常常以排放标准规定下来。如德国规定最低为75℃,在我国目前暂无具体规定,一般烟囱出口的最低气温为80℃左右。大部分FGD都配备有旁路挡板(正常情况下处于关闭状态)。在紧急情况下(如原烟气温度达到160℃或浆液循环泵全停等)或机组启动时,旁路挡板打开,以使烟气绕过FGD,直接排入烟囱。
电子行业电子级硫酸
简介
电子级硫酸(Electronic Grade Sulfuric Acid)是一种高纯度的化学品,广泛应用于电子行业中。其主要用途包括清洗、刻蚀、湿法腐蚀等。
特点
1. 高纯度:电子级硫酸通常具有极高的纯度,不含大部分杂质。 2. 低离子含量:硫酸中离子杂质的含量非常低,可以满足电子器件的高要求。
3. 低金属离子含量:电子级硫酸中金属离子含量也非常低,以避免对电子器件产生污染。
4. 低有机物含量:为保证在电子制造过程中的高度纯净,电子级硫酸中的有机物含量也要尽量低。 应用领域
清洗
电子级硫酸在电子器件生产过程中起到清洁的作用。由于它的高纯度和低离子、金属离子、有机物含量,可以有效清除电子元件表面的污垢,保证元件质量和稳定性。
刻蚀
电子级硫酸在制造半导体和集成电路(IC)的过程中起到刻蚀的作用。它可以与电子元件上的特定材料发生反应,使其表面产生可控的刻蚀。在这一过程中,电子级硫酸的高纯度和低离子、金属离子、有机物含量是确保刻蚀精确、不产生不良影响的关键。
湿法腐蚀
电子级硫酸还用于湿法腐蚀,尤其在制造电容器和电阻器时。它可以与特定材料反应,去除不需要的部分,并实现精确的腐蚀过程。高纯度的电子级硫酸可以保证腐蚀的准确性和可控性。 生产工艺
通常,电子级硫酸是通过硫矿石的炼制过程中得到的。下面是电子级硫酸的主要生产工艺:
1. 矿石选矿:首先从硫矿石中提取硫酸盐。
2. 氧化反应:将提取的硫酸盐氧化为亚硫酸盐。
3. 氧化反应的化学反应方程式:SO3 + H2O
→ H2SO4。
4. 精制和纯化:通过对亚硫酸盐进行精制和纯化,得到高纯度的电子级硫酸。 质量与测试
为了确保电子级硫酸的质量,通常需要进行各项测试和质量控制。以下是一些常见的测试方法:
1. 电导率:测试电子级硫酸的电导率,以确定其离子含量。
2. 金属离子含量:使用光谱分析等技术,测试电子级硫酸中金属离子的含量。
湿法清洗及湿法腐蚀
目 录
一:简介
二:基本概念
三:湿法清洗
四:湿法腐蚀
五:湿法去胶
六:在线湿法设备及湿法腐蚀异常简介
七.常见工艺要求和异常
一:简 介
众所周知,湿法腐蚀和湿法清洗在很早以前就已在半导体生产上被广泛接受
和使用,许多湿法工艺显示了其优越的性能。伴随IC集成度的提高,硅片表面的洁
净度对于获得IC器件高性能和高成品率至关重要, 硅片清洗也显得尤为重要.湿法
腐蚀是一种半导体生产中实现图形转移的工艺,由于其高产出,低成本,高可靠性以
及有很高的选择比仍被广泛应用.
二 基本概念
腐蚀是微电子生产中使用实现图形转移的一种工艺,其目标是精确的去除不被MASK覆盖
的材料,如图1:
图 1
腐蚀工艺的基本概念 :
ETCH RATE (E/R) ------腐蚀速率:是指所定义的膜被去除的速率或去除率,通常用Um/MIN,A/MIN
为单位来表示。 E/R UNIFORMITY------ 腐蚀速率均匀性,通常用三种不同方式来表示:
UNIFORMITY ACROSS THE WAFER
WAFER TO WAFER
LOT TO LOT
腐蚀速率均匀性计算UNIFORMITY=(ERHIGH - ERLOW)/(ERHIGH + ERLOW)*100%
SELECTIVITY-------选择比是指两种膜的腐蚀速率之比,其计算公式如下:
SEL A/B= (E/R A)/(E/R B)
选择比反映腐蚀过程中对另一种材料(光刻胶或衬底)的影响,在腐蚀工艺中必须特别注
意SEL,这是实现腐蚀工艺的首要条件。
Good selectivity Poor selectivity (Undercut) ISOTROPY-------各向同性:腐蚀时在各个方向上具有相同的腐蚀速率;如湿法腐蚀就是各向同性
腐蚀。具体如下图:
ISOTROPY SIN PR PR
SIN
SIO2 SIO2
腐蚀工艺教程(湿法清洗部分)
一、什么是半导体?
半导体是介于导体和绝缘体之间的物质,它的电阻率在10-3~109范围内。自然界中属于半导体的物质很多,用于制造半导体的材料主要是硅(Si)、锗(Ge)、砷化镓(GaAs)。
纯净的半导体电阻率很高,几乎不导电。但在特定的条件下,如光照、掺杂等,它的电阻率可以降到几十欧姆甚至更低,并且随掺入的杂质不同呈不同的导电特性。我们分别称之为P(空穴导电)型半导体和N(电子导电)型半导体。P型半导体和N型半导体相接触时,在接触面就形成了PN结。PN结具有正向导通反向截止的特性,利用它可以制得常用的二极管。
在集成电路制造中,常用的衬底材料是硅单晶片,根据圆片加工过程中硅单晶切割的晶格方向的不同,可把它分为<100>和<111>等晶向。在mos集成电路制造中,选用的是<100>晶向的圆片。
二、 什么是集成电路?
不同导电类型的半导体组合在一起,可以做成二极管、三极管、电容、电阻,如果把这些元件做在同一块芯片上,完成一定的电路功能,就称之为集成电路。
集成电路可分为双极集成电路和MOS集成电路,MOS集成电路又可分为nMOS集成电路、pMOS集成电路和CMOS集成电路。
三、集成电路中的常用薄膜。
多晶硅
常用在MOS器件中作为栅电极。也可用于高电阻的电阻器,及局部电路的短连线
二氧化硅
集成电路中使用的二氧化硅膜可分为热二氧化硅和CVD淀积二氧化硅两类。在MOS集成电路中,它有以下几种用途:作为对付掺杂剂注入或扩散进硅的掩膜,提供表面钝化,使器件一部分与一部分隔离,作为MOS器件的一个组成部分(如栅介质),作为金属步线之间的电绝缘。
氮化硅
能阻挡钠离子的扩散,几乎不透潮气并具有很低的氧化速率。用低压CVD(LPCVD)方法淀积的氮化硅膜,主要用作平面工艺的氧化掩膜;用等离子淀积(PECVD)的氮化硅膜,能在较低温度下生成,可作为钝化保护层。
Al-Si-Cu