《晶体光学及光性矿物学》复习提纲

单选题1. 最大双折射率是_____.(6分)(A) Ne-No(B) No-Ne(C) Ng-Np(D) 非均质体最大折射率与最小折射率的差值参考答案：D2. 二轴晶是_____。

(6分)(A) 具有两个光轴的晶体(B) 两轴不等的椭球体(C) 光性非均质体(D) 具有两个高次对称轴的晶体参考答案：A3. 光性方位是_____。

(6分)(A) 晶体的定向(B) 晶体光率体主轴与晶轴之间的关系(C) 晶体的延长方向与光率体主轴之间的关系(D) 晶体延长方向与高次对称轴之间的关系参考答案：B4. 中级晶轴的光性方位是_____。

(6分)(A) Ne与高次对称轴一致(B) Ne与C轴一致(C) Ne与晶体的高次对称轴、C轴一致(D) Ne与光率体长轴一致参考答案：C5. 斜方晶系的光性方位是_____。

(6分)(A)(B)(C)(D)参考答案：D6. 单斜晶系的光性方位是_____。

(5分)(A)(B)(C)(D)参考答案：D7. 糙面的粗糙程度主要决定于_____。

(5分)(A) 矿物折射率与树胶折射率的差值(B) 矿物折射率与树胶折射率的差值，也决定于矿片表面的磨制光洁度，视域的亮度(C) 矿物表面真实的物理粗糙程度(D) 矿物折射率的大小参考答案：B8. 突起高低决定于_____。

(5分)(A) 矿物折射率的高低，折射率高突起高(B) 矿物边缘的粗黑程度和糙面的显著程度(C) 矿物颜色的深浅(D) 矿物表面光洁程度参考答案：B9. 影响解理纹粗黑程度的因素有_____。

(5分)(A) 解理的完善程度(B) 解理面与切面的夹角(C) 解理的完善程度、解理面与切面的夹角、矿物折射率与树胶的差值(D) 解理的完善程度、解理面与切面的夹角、矿物折射率的大小参考答案：C填空题10. 介质的折射率大小取决于介质的性质和光波的______ 。

(5分)(1). 参考答案: 波长11. 一轴晶光率体的形态为______ 。

《晶体光学与光性矿物学》教程讲义教案第一至五章第一章：晶体光学基础1.1 引言介绍晶体光学与光性矿物学的重要性概述教程的目标和内容1.2 晶体的基本概念定义晶体及其特点晶体的分类和空间点阵1.3 晶体的光学性质介绍晶体光学性质的基本原理晶体的折射率、双折射和偏振1.4 晶体的衍射和干涉解释衍射和干涉现象衍射和干涉在晶体光学中的应用第二章：光性矿物学基本概念2.1 引言介绍光性矿物学的研究对象和方法概述光性矿物学的发展历程2.2 矿物的基本概念定义矿物及其特征矿物的分类和命名2.3 矿物的光学性质介绍矿物的光学性质及其测定方法矿物的折射率、双折射和偏振2.4 光性矿物学的研究方法介绍光性矿物学研究的基本方法光学显微镜和X射线衍射等技术第三章：矿物的结晶习性3.1 引言介绍矿物结晶习性的重要性概述本章内容3.2 矿物的晶体结构介绍矿物的晶体结构及其类型晶体的空间点阵和晶胞参数3.3 矿物的结晶习性解释矿物的结晶习性及其影响因素晶体的生长和晶体习性的变化3.4 矿物的形态和分类介绍矿物的形态及其分类方法晶体的形状和晶体习性的关系第四章：矿物的光学性质4.1 引言概述矿物光学性质的重要性介绍本章内容4.2 矿物的折射率和双折射解释矿物的折射率及其测定方法矿物的双折射和偏振现象4.3 矿物的颜色和条痕介绍矿物的颜色和条痕的形成原因颜色和条痕在矿物鉴定中的应用4.4 矿物的光泽和硬度解释矿物的光泽及其形成原因矿物的硬度及其测定方法第五章：光性矿物学的实验技术5.1 引言介绍光性矿物学实验技术的重要性概述本章内容5.2 光学显微镜的使用介绍光学显微镜的结构及其操作方法显微镜在光性矿物学中的应用5.3 X射线衍射技术解释X射线衍射技术的原理及其应用X射线衍射在矿物学中的应用5.4 其他实验技术介绍其他光性矿物学实验技术例如：红外光谱、拉曼光谱等第六章：矿物的物理性质6.1 引言概述矿物物理性质的重要性介绍本章内容6.2 矿物的密度和相对密度解释矿物的密度和相对密度的概念测定矿物密度和相对密度的方法6.3 矿物的热性质介绍矿物的热性质及其测定方法矿物的熔点、热膨胀和导热性6.4 矿物的电性质解释矿物的电性质及其影响因素矿物的电阻率和导电性第七章：矿物的化学成分7.1 引言介绍矿物化学成分的重要性概述本章内容7.2 矿物的元素组成解释矿物元素组成的基本概念矿物的化学元素和化合物的鉴定7.3 矿物的离子替代和同质多象解释离子替代和同质多象的概念离子替代和同质多象在矿物形成中的应用7.4 矿物的化学反应介绍矿物化学反应的基本原理矿物的化学反应和化学测试方法第八章：矿物的成因和分类8.1 引言概述矿物成因和分类的重要性介绍本章内容8.2 矿物的成因分类解释矿物成因分类的基本概念火成岩、沉积岩和变质岩中的矿物8.3 矿物的地质分布介绍矿物的地质分布特征矿物的分布规律和成矿条件8.4 矿物的经济价值和应用解释矿物经济价值的概念矿物的开采、利用和保护第九章：光学矿物学的实验操作9.1 引言介绍光学矿物学实验操作的重要性概述本章内容9.2 光性矿物学实验的操作步骤详细介绍光性矿物学实验的操作步骤实验操作的注意事项和技巧9.4 实验结果的分析和讨论介绍实验结果分析和讨论的方法分析实验结果和探讨实验中发现的问题第十章：矿物鉴定的综合应用10.1 引言概述矿物鉴定综合应用的重要性介绍本章内容10.2 矿物鉴定的方法和技巧介绍矿物鉴定的方法和技巧光学显微镜、X射线衍射等技术在矿物鉴定中的应用10.3 矿物鉴定的实例分析分析矿物鉴定的实际案例讨论矿物鉴定过程中的难点和解决方法10.4 矿物鉴定的综合应用解释矿物鉴定在实际应用中的重要性矿物鉴定在地质勘探、矿产开发等领域的应用前景第十一章：光学矿物学实验：岩石薄片的制备与观察11.1 引言介绍岩石薄片制备与观察在光性矿物学中的重要性概述本章内容11.2 岩石薄片的制备方法详细介绍岩石薄片的制备步骤和技术要点包括样品的选择、切割、磨光和抛光等过程11.3 光学显微镜的使用与操作解释光学显微镜的结构和功能操作显微镜进行岩石薄片观察的步骤和技巧11.4 岩石薄片的观察与描述介绍岩石薄片观察的方法和注意事项描述岩石薄片中的矿物组成、结构和构造特征第十二章：光性矿物学实验：X射线衍射分析12.1 引言介绍X射线衍射分析在光性矿物学中的重要性概述本章内容12.2 X射线衍射原理解释X射线衍射的原理和现象X射线衍射在矿物学中的应用12.3 X射线衍射仪的使用与操作详细介绍X射线衍射仪的结构和功能操作X射线衍射仪进行矿物分析的步骤和技巧12.4 X射线衍射分析的应用介绍X射线衍射分析在矿物学中的应用实例讨论X射线衍射分析在矿物鉴定和成因研究中的应用第十三章：光性矿物学实验：红外光谱分析13.1 引言介绍红外光谱分析在光性矿物学中的重要性概述本章内容13.2 红外光谱原理解释红外光谱的原理和现象红外光谱在矿物学中的应用13.3 红外光谱仪的使用与操作详细介绍红外光谱仪的结构和功能操作红外光谱仪进行矿物分析的步骤和技巧13.4 红外光谱分析的应用介绍红外光谱分析在矿物学中的应用实例讨论红外光谱分析在矿物鉴定和成因研究中的应用第十四章：光性矿物学实验：拉曼光谱分析14.1 引言介绍拉曼光谱分析在光性矿物学中的重要性概述本章内容14.2 拉曼光谱原理解释拉曼光谱的原理和现象拉曼光谱在矿物学中的应用14.3 拉曼光谱仪的使用与操作详细介绍拉曼光谱仪的结构和功能操作拉曼光谱仪进行矿物分析的步骤和技巧14.4 拉曼光谱分析的应用介绍拉曼光谱分析在矿物学中的应用实例讨论拉曼光谱分析在矿物鉴定和成因研究中的应用第十五章：总结与展望15.1 总结回顾整个教程的内容和重点知识点强调光性矿物学在地质学和矿物学中的重要性15.2 展望讨论光性矿物学的发展趋势和未来挑战探索光性矿物学在新领域的应用前景重点和难点解析本文档为您提供了一部关于晶体光学与光性矿物学的教程讲义教案，涵盖了从晶体光学基础、光性矿物学基本概念、矿物的结晶习性、矿物的光学性质、矿物的物理性质、矿物的化学成分、矿物的成因和分类、光学矿物学的实验技术、矿物的经济价值和应用，到光学矿物学实验操作以及矿物鉴定的综合应用等十五个章节的内容。

结晶学一、基本概念：1.晶体（crystal）的概念：内部质点在三维空间周期性重复排列构成的固体物质。

这种质点在三维空间周期性地重复排列称为格子构造，所以晶体是具有格子构造的固体。

2对称型（class of symmetry）晶体宏观对称要素之组合。

（点群，point group）3.空间群：一个晶体结构中，其全部对称要素的总和。

也称费德洛夫群或圣佛利斯群。

4.单形（Simple form）：一个晶体中，彼此间能对称重复的一组晶面的组合。

即能借助于对称型之全部对称要素的作用而相互联系起来的一组晶面的组合。

5.双晶：两个以上的同种晶体，彼此间按一定的对称关系相互取向而组成的规则连生晶体。

6.平行六面体：空间格子中按一定的原则划分出来的最小重复单位称为平行六面体。

是晶体内部空间格子的最小重复单位，是由六个两两平行且相等的面网组成。

7.晶胞：能充分反映整个晶体结构特征的最小结构单元，其形状大小与对应的单位平行六面体完全一致。

8．类质同像：晶体结构中某种质点为性质相似的他种质点所替代，共同结晶成均匀的单一相的混合晶体，而能保持其键性和结构型式不变，仅晶格常数和性质略有改变。

9.同质多像：化学成分相同的物质，在不同的物理化学条件下，形成结构不同的若干种晶体的现象。

10.多型：一种元素或化合物以两种或两种以上层状结构存在的现象。

这些晶体结构的结构单元层基本上是相同的，只是它们的叠置次序有所不同。

二、晶体的6个基本性质1、均一性（homogeneity）：同一晶体的任一部位的物理和化学性质性质都是相同的。

2、自限性（property of self-confinement）：晶体在自由空间中生长时，能自发地形成封闭的凸几何多面体外形。

3. 异向性（各向异性）异向性(anisotropy)：晶体的性质随方向的不同而有所差异。

4. 对称性（property of symmetry）：晶体的相同部分（如外形上的相同晶面、晶棱或角顶，内部结构中的相同面网、行列或质点等）或性质，能够在不同的方向或位置上有规律地重复出现。

晶体光学造岩矿物复习资料晶体光学是矿物学中的一个重要分支，它研究的是矿物在光学性质方面的表现。

在地质学和矿物学领域中，晶体光学在鉴定和分类矿物方面起着至关重要的作用。

对于从事地质学和矿物学研究的学者和爱好者来说，掌握晶体光学的基本原理和方法是必不可少的。

首先，让我们来了解晶体光学的基本概念。

晶体光学是研究晶体对光的传播和相互作用的学科。

晶体是由具有规则排列的原子、离子或分子组成的固体物质，其结构对光的传播和相互作用产生了特殊的影响。

晶体光学主要研究晶体的各向同性和各向异性光学性质，其中各向同性是指晶体在任何方向上的光学性质都相同，而各向异性则是指晶体在不同方向上的光学性质有所差异。

在晶体光学中，最基本的概念是折射率。

折射率是指光线从一种介质进入另一种介质时，光线的传播速度发生变化的程度。

不同的晶体具有不同的折射率，这是由晶体的化学成分和结构所决定的。

通过测量晶体的折射率，我们可以获得有关晶体的重要信息，如化学成分、晶体结构和晶体的光学性质等。

晶体光学中的另一个重要概念是双折射现象。

双折射是指当光线通过各向异性晶体时，光线在晶体内部会分裂成两束，分别沿着不同的方向传播。

这种现象是由于晶体内部的结构对光的传播产生了不同的影响。

通过观察和测量双折射现象，我们可以判断晶体的各向异性性质和晶体的结构类型。

晶体光学中的另一个重要概念是偏光现象。

偏光是指光的振动方向在传播过程中发生改变的现象。

在晶体光学中，由于晶体的各向异性性质，光线在通过晶体时会发生偏振现象。

通过观察和测量晶体的偏光现象，我们可以了解晶体的光学性质和结构特征。

除了上述基本概念，晶体光学还涉及到一些重要的实验方法和仪器。

例如，偏光显微镜是晶体光学研究中常用的仪器，它可以观察和测量晶体的光学性质。

偏光显微镜通过将偏振光和晶体样品结合起来，可以观察到晶体的双折射现象和偏光现象。

通过调整偏光显微镜的偏振器和旋转样品，我们可以获得有关晶体的详细信息。

填空：1、单偏光下晶体光学性质的研究内容有、、和等四种。

（参考答案：矿物的形态、解理、颜色、突起）2、突起正否确定的依据是。

（参考答案：提升镜筒或下降镜筒时，贝克线的移动方向）3、正交偏光下晶体光学性质的研究内容有和。

（参考答案：消光和干涉现象）4、斜长石按An值可分为、和等三类。

其中，具有卡钠联晶和聚片双晶的斜长石为。

（参考答案：基性斜长石、中性斜长石、酸性斜长石。

基性斜长石）5、一轴晶垂直光轴的切面，是切面，其半径为，在正交镜下具的特点。

（参考答案：圆、No、全消光）6、要准确测定普通辉石的消光角（Ng∧Z），必须选择的切面，这种切面在正交镜下的特征是具有。

（参考答案：平行光轴面、最高干涉色）7、某二轴晶矿物的Y晶轴与光率体主轴Ng一致，其最大双折率为0.009，薄片厚度为0.03mm，在平行（010）的切面上具有垂直Bxa切面的干涉图，此矿物应为光性，光轴面上的干涉色为。

（参考答案：正光性、I级灰白色）8、在正交偏光镜下，矿片处于45°位加入石膏试板干涉色应当增加或减少；如果加入云母试板时，干涉色应增加或减少。

（参考答案：一个级序、一个色序）9、岩石薄片由，和组成，连接它们的是，薄片的标准厚度为，判别厚度的方法是。

（参考答案：载玻璃、矿片、盖玻璃、加拿大树胶、0.03 mm、石英的干涉色）10、二轴晶垂直光轴切面干涉图的用途有，和。

（参考答案：确定轴性和切面方向、测定光性符号、估计光轴角大小）11、矿物在薄片中的突起高低取决于，愈大，突起，愈小，突起。

（参考答案：矿物折射率与加拿大树胶折射率的差值大小、差值、愈高、差值、愈低）12、二轴晶光率体有，，，和等主要切面。

（参考答案：垂直一根光轴、平行光轴面、垂直Bxa、垂直Bxo，斜交切面）13、非均质矿物垂直光轴的切面在正交镜间为消光，而其他方向的切面则会出现消光。

（参考答案：全消光、四次消光）14、判别下图矿物的轴性，光性正负和切面方向。

《晶体光学与光性矿物学》复习思考题第一章晶体光学基础1.光波在均质体和非均质体中的传播特点有何不同？为什么？2.光波在非均质体中传播时,其传播速度及相应折射率值是取决于光波的传播方向?还是取决于光波的振动方向？3.光轴、一轴晶、二轴晶的概念？4。

光率体的概念？一轴晶光率体、二轴晶光率体的形态特点？5。

一轴晶光率体平行光轴的椭圆切面、垂直光轴的圆切面各有多少个？6。

一轴晶光率体的光性正负是如何定义的？7。

分别画出一轴晶正光性、负光性光率体的三种（垂直OA、平行OA、斜交OA）主要切面,指出各切面的双折射率，并注明每一个切面的光率体半径名称。

8。

二轴晶光率体的光性正负是如何定义的？9。

二轴晶光率体的主要光学要素有哪些？10.什么是光轴角（2V）、光轴面（AP）、光学法线？11。

分别画出二轴晶正光性、负光性光率体垂直Bxa切面、垂直Bxo切面、垂直OA切面、平行AP切面、垂直AP的斜交OA切面,指出各切面的双折射率，并在各切面上标出光率体要素。

12.什么是光性方位？矿物的光性方位与所属晶系之间有何关系?指出中级晶族、斜方晶系、单斜晶系、三斜晶系矿物的光性方位.第三章单偏光显微镜下的晶体光学性质1。

正交偏光镜下可观察测定透明矿物的哪些光学性质？2.什么叫矿物的边缘、糙面?边缘的粗细和糙面的明显程度与哪些因素有关?为什么有的矿物（如橄榄石)边缘明显、糙面显著，而有的矿物（如石英）轮廓看不清楚、表明较为光滑？3.什么叫贝克线？贝克线的移动规律是什么？4.什么叫突起？薄片中矿物的突起高低取决于什么因素？为什么在偏光显微镜下同一薄片中的不同矿物颗粒给人一种突起高低不同的感觉？5.如何规定突起的正负？在薄片中怎样确定正突起和负突起？6。

举例说明矿物突起划分为哪6个等级？7.什么是闪突起？哪些矿物具闪突起？具有闪突起的晶体是否无论在任何切面都能见到闪突起？什么样的切面闪突起最明显?8.解理纹的可见度与哪些因素有关？9。

晶体光学复习提纲第一章晶体光学原理1.光性均质体(各向同性介质): 传播速度不因振动方向不同而变化,也就是,均质体的折射率不因振动方向不同而变化光性非均质体:光在其中传播的时候,其传播速度和折射率随振动方向不同而变化,其折射率值不只有一个.2.光率体:表示光波在晶体的振动方向和相应的折射率值之间的一种光性指示体.(1)均质体的光率体:是一个圆球体(2)一轴晶光率体:一个旋转椭球体：最大和最小两个主折射率值,分别为Ne和No.Z轴方向的折射率称为Ne,垂直于Z轴方向的折射率称No.光性:正光性: Ne>No,负光性,Ne<No;两个切面:垂直光轴的切面:平行光轴的切面(3)二轴晶光率体有大，中，小三个折射率，Ng，Nm，Np，Ng〉Nm〉Np；形成一个三轴椭球体；光轴：包含两个光轴的平面叫光轴面；两个光轴之间所夹的锐角称2V角两个光轴之间的锐角等分线：Bxa，钝角等分线：Bxo；光性：Bxa=Ng为正光性，Bxa=Np为负光性；Ng与Nm相近：负光性；Np与Nm相近：正光性；光性方位：表示光率体在晶体中的位置，也就是光率体的光学主轴与结晶轴之间的关系。

第二章：偏光显微镜：确定下偏光的方向：用手轻轻移动薄片，找到一个长条形的极完全解理的黑云母颗粒切面，置于视域中心，转动载物台，看到黑云母随着载物台转动其颜色深浅不断变化，当黑云母颜色最深时，其解理缝方向就是下偏光振动方向。

第三章：单偏光系统下晶体的光学性质一、矿物的形态：1．解理：三种解理：极完全，完全，不完全一种现象：当不同矿物的折射率相差较大时，虽然具有相同组数的解理，但在薄片中见到解理的机会是不同的。

例如，斜长石经常不容易见到解理：解理缝的可见临界角当解理面与岩石薄片平面的法线一致时（即解理面垂直薄片平面），解理缝最细、最清晰。

此时，稍微升降物台，解理缝不向左右移动。

当解理面与薄片平面的法线成α夹角时，解理缝变宽。

此时稍微升降物台，解理缝向左右移动。