(完整版)X射线衍射技术在材料分析中的应用
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X射线衍射技术在纳米材料科学的应用摘要本文介绍了包括X射线的性质、X射线衍射技术在纳米材料上的应用、物相定量分析、点阵参数的测定、结晶度的测定、晶粒大小测定等一系列X射线衍射技术在纳米材料科学上的应用,同时随着科学的不断进步与发展,相信X射线衍射技术一定会越发的走向成熟,为人类的生活与科学的发展提供方便和进步。
X射线的性质X射线的本质与可见光、红外线辐射、紫外线以及宇宙射线完全相同,均属电磁波或电磁辐射,同时具有波动性和粒子性特征,波长较可见光短,约为晶体常数为同一数量级。
X射线是用人的肉眼不可见的,但能使某些物质(铂氰化钡)发出可见荧光;具有感光性,能使照相底片感光;具有激发本领,使气体电离。
X射线沿直线传播,经过电场时不发生偏转;具有很强的穿透能力,波长越短,穿透物质的能力越大;与物质能相互作用。
另外,X射线通过物质时可以被吸收,使其强度衰减,偏振化——即经物质后,某些方向强度强,某些方向弱;能杀死生物细胞,实验中要特别注意保护。
X射线的波长为λ=10-10cm~10-6cm。
X射线在空间传播具有粒子性,或者说X射线是由大量以光速运动的粒子组成的不连续的粒子流,这些粒子叫光量子。
X射线衍射技术在纳米材料上的应用由X射线衍射原理可知,物质的X射线衍射花样与物质内部的晶体结构有关。
每种结晶物质都有其特定的结构参数(包括晶体结构类型,晶胞大小,晶胞中原子、离子或分子的位置和数目等)。
因此没有两种不同的结晶物质会给出完全相同的衍射花样。
通过分析待测试样的X射线衍射花样,不仅可以知道物质的化学成分,还能知道他们飞存在状态,既能知道某元素是以单质存在或者以化合物、混合物及同素异构体存在。
同时,根据X射线衍射试验还可以进行结构物质的定量分析、晶粒大小的测量和晶粒的取向分析。
目前,X射线衍射技术已经广泛应用于各个领域的材料分析与研究工作中。
X 射线衍射技术发展到今天,已经成为最基本、最重要的一种结构测试手段,其主要应用有以下几个方面:物相定量分析不同的多晶体物质的结构和组成元素各不相同,他们的衍射花样在线条数目、角度位置、强度上就呈现出差异,衍射花样与多晶体的结构和组成有关,一种特定的物相具有自己独特的一组衍射线条(即衍射谱),反之不停的衍射谱代表着不同的物相。
X射线衍射技术在材料分析中的应用沈钦伟126406324 应用化学1引言X射线衍射分析法是研究物质的物相和晶体结构的主要方法。
当某物质( 晶体或非晶体)进行衍射分析时,该物质被X射线照射产生不同程度的衍射现象, 物质组成、晶型、分子内成键方式、分子的构型、构象等决定该物质产生特有的衍射图谱。
X射线衍射方法具有不损伤样品、无污染、快捷、测量精度高、能得到有关晶体完整性的大量信息等优点。
因此,X射线衍射分析法作为材料结构和成分分析的一种现代科学方法, 已逐步在各学科研究和生产中广泛应用。
2X射线衍射基本原理X射线同无线电波、可见光、紫外线等一样,本质上都属于电磁波,只是彼此之间占据不同的波长范围而已。
X射线的波长较短, 大约在10-8~10-10cm之间。
X 射线分析仪器上通常使用的X射线源是X射线管,这是一种装有阴阳极的真空封闭管, 在管子两极间加上高电压, 阴极就会发射出高速电子流撞击金属阳极靶,从而产生X射线。
当X射线照射到晶体物质上,由于晶体是由原子规则排列成的晶胞组成,这些规则排列的原子间距离与入射X射线波长有相同数量级,故由不同原子散射的X射线相互干涉,在某些特殊方向上产生强X射线衍射, 衍射线在空间分布的方位和强度,与晶体结构密切相关,不同的晶体物质具有自己独特的衍射花样, 这就是X射线衍射的基本原理。
3 X射线衍射技术在材料分析中的应用由X射线衍射原理可知,物质的X射线衍射花样与物质内部的晶体结构有关。
每种结晶物质都有其特定的结构参数(包括晶体结构类型, 晶胞大小,晶胞中原子、离子或分子的位置和数目等)。
因此,没有两种不同的结晶物质会给出完全相同的衍射花样。
通过分析待测试样的X射线衍射花样,不仅可以知道物质的化学成分,还能知道它们的存在状态,即能知道某元素是以单质存在或者以化合物、混合物及同素异构体存在。
同时,根据X射线衍射试验还可以进行结晶物质的定量分析、晶粒大小的测量和晶粒的取向分析。
XRD的原理及其在材料检测的应用1. X射线衍射(XRD)的原理X射线衍射(X-ray diffraction, XRD)是一种广泛应用于材料科学研究和材料检测的非破坏性分析技术。
它基于X射线与晶体结构相互作用的原理,通过测量和分析X射线的衍射图样,获取材料的晶体结构信息和材料的物相组成。
1.1 X射线的衍射现象当X射线通过晶体时,会与晶体内的原子相互作用,形成衍射现象。
这是因为晶体内的原子排列有序,构成了周期性的晶体结构。
当入射X射线的波长与晶体晶格常数的比值满足布拉格衍射条件时,入射X射线会被晶体内的原子散射,在特定的角度上产生衍射。
1.2 布拉格衍射条件布拉格衍射条件可以表示为:nλ = 2d sin(θ)其中,n是一个整数,λ是入射X射线的波长,d是晶面的间距,θ是入射X射线与晶面的夹角。
根据布拉格衍射条件,当满足特定的n和θ时,入射X射线会发生衍射,形成衍射峰。
通过测量衍射峰的位置和强度,可以得到晶体的晶格常数、晶体结构和晶体中原子的相对位置。
2. XRD在材料检测中的应用X射线衍射在材料检测中有广泛的应用,包括材料相组成分析、晶体结构研究、材料表面形貌分析等。
2.1 材料相组成分析X射线衍射可以确定材料的相组成,即材料中存在哪些晶体相。
通过测量材料的衍射峰的位置和强度,可以与材料的标准衍射图样进行对比,确定材料的晶相。
这对于材料的质量控制、材料的配方优化等方面具有重要意义。
2.2 晶体结构研究X射线衍射可以用于研究材料的晶体结构。
通过测量材料的衍射峰的位置和强度,可以确定晶体的晶格常数、晶胞参数等重要参数。
通过衍射峰的宽度和形状,可以了解材料的结晶度和晶体缺陷等信息。
这对于理解材料的物理特性和改进材料的性能具有重要意义。
2.3 材料表面形貌分析除了研究晶体结构外,X射线衍射还可以用于材料的表面形貌分析。
当X射线照射到材料表面时,反射回来的X射线会受到表面结构的影响。
通过测量被表面反射回来的X射线的特征,可以分析材料的表面形貌、表面纹理等信息。
x射线分析在材料科学方面的利用刘世艳 1102900323背景:x射线衍射方法其被广泛用于材料科学研究中,用于分析材料的晶体结构,晶体位错,材料中的相分析,及各相含量的测定,还能用于材料宏观应力大小及方向的测定。
故,深入了解x射线衍射的机理及应用是材料学科学生的基本技能。
针对x射线衍射分析的机理并结合其在相关专业方面的利用作如下报告。
一:x射线分析方法的基本原理1.x射线的产生将阳极靶和阴极密封在玻璃金属管内,阴极通电加热,在阴极和阳极之间产生几千伏的高压,阴极的电子在高压下冲撞阳极靶产生x射线。
主要利用阳极靶的特征谱与物质的作用。
2.X射线与物质的作用,(1)真吸收(俄歇效应和荧光效应,热效应)真吸收可利用与滤波。
(2)x射线的散射,分为相干散射、不想干散射,相干散射是x射线衍射的基础,不相干散射产生的光影是想干散射后的背景。
3.x衍射的方向,由布拉格方程在能产生X衍射的方向及晶格间距和X射线波长应满足θλsin=,2d4.x射线衍射的方法(1)劳挨法;晶体周转法;粉末法(最常用的方法)5.X射线衍射强度X射线衍射的强度与晶体结构因数、洛伦兹因数、多重性因数、吸收因数、温度因数等有关。
6.x射线衍射仪的组成(1)X射线衍射仪由x射线发生器,测角仪,辐射探测器,记录单元和自动控制单元等部分组成,其中测角仪是其中心部分。
其衍射试样为平板试样;在测定中,试样和测角仪转到的角度满足1:2;且只有平行于自由表面的且满足布拉格方程的晶面才会发生衍射。
(2)计数器的工作原理为进入计数管的射线是惰性气体电离产生的高速电子再次使气体电离出现雪崩反应,在短时间内产生的大量电子涌向阳极将出现一个可以探测到的电流,计数器输出的电压脉冲在脉冲高度分析器和定标器的作用后由打印机将结果输出。
(3)X衍射仪的常规测量:连续扫描用于全谱测量时;步进扫描用于精确测定衍射峰的积分强度位置或提供线性分析的数据。
二、相关实验设计在焊接件里,因为焊接时温度的差异难免引起被焊接金属的晶粒大小发生变化以及因为晶体中的晶格畸变而在晶粒内部出现应力,这将对试样的性能产生严重影响。
X射线衍射在材料分析当中的应用X射线衍射是一种重要的材料分析方法,广泛应用于材料科学、物理学、化学、地质学等领域。
它基于X射线与晶体中的原子相互作用而产生的衍射现象,通过测量衍射角度和强度,可以获得关于材料的结构、晶格参数、晶体形态、晶体质量、晶体缺陷等信息。
下面将详细介绍X射线衍射在材料分析当中的应用。
1.结构测量X射线衍射可以用来确定晶体的结构。
晶体的结构是由周期性排列的原子组成的,X射线可以通过与晶体中的原子相互作用而产生衍射现象。
测量X射线的衍射图样可以得到晶体的结构信息,包括晶胞参数、晶体对称性、原子位置等。
这对于研究固体结构和材料的物理、化学性质非常重要。
2.晶体质量分析X射线衍射可以用来评估晶体的质量。
晶体的质量对于材料的性能具有重要影响。
通过测量X射线衍射的强度和形状,可以判断晶体的纯度、晶格缺陷、晶体畸变等信息,从而评估晶体的质量。
这对于工业生产和材料品质控制非常重要。
3.相变研究X射线衍射可以用来研究材料的相变行为。
相变是材料中的原子或分子之间发生的结构转变。
通过测量相变前后X射线衍射的变化,可以确定相变的发生温度、相变类型、相变机制等信息。
这对于研究材料在不同温度、压力等条件下的结构变化和性质变化非常重要。
4.晶体的应力分析X射线衍射可以用来分析材料中的应力状态。
当晶体中存在应力时,晶胞参数会发生变化,进而影响X射线衍射的角度和强度。
通过测量X射线衍射的变化,可以计算材料中的应力状态。
这对于理解材料的力学性能、设计材料的使用条件非常重要。
5.晶体取向分析X射线衍射可以用来分析材料中晶体的取向情况。
当材料中存在多个取向的晶体时,不同晶面的衍射强度会有区别。
通过测量X射线衍射的强度和方向,可以确定晶体的取向分布。
这对于研究材料的制备方法、材料的性能分布等具有重要意义。
6.材料成像利用X射线衍射原理,可以实现材料的成像。
例如,X射线衍射成像技术可以用来观察材料的内部结构,如晶体的缺陷、晶体的结构变化等。
xrd在现代材料中的应用
X射线衍射(XRD)是一种非常重要的材料分析技术,它可以用于研究材料的结构、晶体学和物理性质。
在现代材料科学中,XRD已经成为了一种不可或缺的工具。
本文将从材料分类的角度,介绍XRD在现代材料中的应用。
1. 金属材料
金属材料是XRD应用的一个重要领域。
通过XRD技术,可以研究金属材料的结晶结构、晶体缺陷和晶体取向等。
例如,XRD可以用于研究金属材料的晶体取向,从而优化材料的力学性能。
此外,XRD还可以用于研究金属材料的相变行为,从而为材料的制备和加工提供重要的参考。
2. 无机非金属材料
无机非金属材料是另一个重要的XRD应用领域。
例如,XRD可以用于研究陶瓷材料的结构和晶体缺陷,从而优化材料的性能。
此外,XRD还可以用于研究无机非金属材料的相变行为,从而为材料的制备和加工提供重要的参考。
3. 有机材料
有机材料是XRD应用的另一个重要领域。
例如,XRD可以用于研究
有机晶体的结构和晶体缺陷,从而优化材料的性能。
此外,XRD还可以用于研究有机材料的相变行为,从而为材料的制备和加工提供重要的参考。
4. 生物材料
生物材料是XRD应用的一个新兴领域。
例如,XRD可以用于研究生物材料的结构和晶体缺陷,从而优化材料的性能。
此外,XRD还可以用于研究生物材料的相变行为,从而为材料的制备和加工提供重要的参考。
总之,XRD在现代材料中的应用非常广泛,涉及到金属材料、无机非金属材料、有机材料和生物材料等多个领域。
通过XRD技术,可以研究材料的结构、晶体学和物理性质,为材料的制备和加工提供重要的参考。
1.概述x射线衍射是一种常用的材料表征技术,它在陶瓷研究方面具有重要的应用价值。
本文将从晶体结构分析、相变研究、缺陷分析和材料性能表征等方面,探讨x射线衍射技术在陶瓷研究中的应用。
2.晶体结构分析x射线衍射技术能够确定材料的晶体结构,通过分析材料的衍射图样,可以得到材料的晶胞参数、结构空间裙和原子位置等信息。
对于陶瓷材料而言,晶体结构的分析可以帮助研究人员了解其内部的原子排列方式,为材料的性能和制备提供重要参考。
通过x射线衍射技术可以确定陶瓷材料的晶格参数,从而指导材料的合成和改性。
3.相变研究许多陶瓷材料会在特定条件下发生相变,如铁电相-非铁电相转变、铁磁相-顺磁相转变等。
x射线衍射技术可以实时监测材料在不同温度、压力下的结构变化,从而揭示材料相变的机制和规律。
利用这项技术,研究人员可以深入了解相变过程中晶格结构的变化,为设计新型具有特定相变特性的陶瓷材料提供科学依据。
4.缺陷分析陶瓷材料中的缺陷如晶界、孔隙等对材料的性能有着重要的影响。
x射线衍射技术可以通过对衍射峰的形状和位置进行分析,获得有关晶体缺陷的信息,如位错密度、晶界能量、孔隙率等。
这些信息对于研究材料的力学性能、电学性能等具有重要意义。
通过缺陷分析,可以指导陶瓷材料的加工和改性,提高材料的性能稳定性和可靠性。
5.材料性能表征x射线衍射还可以用于研究陶瓷材料的晶体取向、应力分布、晶粒尺寸等性能参数。
这些参数对于评价材料的力学性能、疲劳特性、断裂行为等具有重要意义。
通过采用适当的衍射技术,研究人员可以获取材料的全面性能表征数据,为材料的设计与制备提供科学依据。
6.结论x射线衍射技术在陶瓷研究中具有重要的应用价值,它不仅可以用于分析材料的晶体结构、相变特性、缺陷信息,还可以为材料的性能表征提供科学依据。
随着x射线衍射技术的不断发展和完善,相信它将在陶瓷材料领域发挥越来越重要的作用,为陶瓷材料的研究与应用提供更加准确、全面的支持。
7. 晶体结构优化设计除了可以用来分析陶瓷材料的晶体结构外,x射线衍射技术还能帮助研究人员进行晶体结构的优化设计。
材料分析方法大作业(一)——X射线衍射技术在材料分析中的新应用班级:0836306班学号:**********姓名:***X射线衍射技术在材料分析中的新应用一、X射线衍射原理由于X射线是波长在100Å~0.01 Å之间的一种电磁辐射,常用的X射线波长约在2.5 Å~0.5 Å之间,与晶体中的原子间距(1 Å)数量级相同,因此可以用晶体作为X射线的天然衍射光栅,这就使得用X射线衍射进行晶体结构分析成为可能。
当X射线沿某方向入射某一晶体时,晶体中每个原子的核外电子产生的相关波彼此发生干涉。
当每两个相邻波源在某一方向的光程差(△)等于波长的整数倍时,它们的波峰与波峰将互相叠加而得到最大程度的加强,这种波的加强叫做衍射,相应的方向叫做衍射方向,在衍射方向前进的波叫做衍射波。
在警惕的点阵结构中,具有周期性排列的原子或电子散射的次生X射线间相互干涉的结果,决定了X射线在晶体中衍射的方向,所以通过对衍射方向的测定,可以得到晶体的点阵结构、晶胞大小和形状等信息。
晶体结构= 点阵+ 结构基元,点阵又包括直线点阵,平面点阵和空间点阵。
空间点阵可以看成是互不平行的三组直线点阵的组合,也可以看成是由互相平行且间距相等的一系列平面点阵所组成。
劳厄和布拉格就是分别从这两个角度出发,研究衍射方向与晶胞参数之间的关系,从而提出了著名的劳厄方程和布拉格方程。
布拉格父子在劳厄实验的基础上,导出了著名的布拉格定律:2d sinθ= nλ其中,θ称为布拉格角或半衍射角,这一定律表明了X射线在晶体中产生衍射的条件。
晶体X射线衍射实验的成功,一方面揭示了X射线的本质,说明它和普通光波一样,都是一种电磁波,只是它的波长较短而已;另一方面证实了晶体构造的点阵理论,解决了自然科学中的两个重大课题,更重要的是劳厄、布拉格等人的发现打开了进人物质微观世界的大门,提供了直接分析晶体微观结构的锐利武器,开辟了晶体结构X射线分析的新领域,奠定了X射线衍射学的基础。
x-射线粉末衍射原理及其应用一、引言x-射线粉末衍射是一种重要的材料结构表征方法,通过衍射图谱可以得到材料晶体的晶胞参数、晶体结构以及晶体内部的原子排列等信息。
本文将介绍x-射线粉末衍射的原理以及其在材料科学领域中的应用。
二、x-射线粉末衍射原理x-射线粉末衍射是基于x-射线与晶体相互作用的一种技术。
当x-射线照射到晶体上时,会发生衍射现象。
根据布拉格方程,衍射角与晶格常数以及入射角有关。
通过测量衍射角的大小以及衍射强度的变化,可以得到晶格常数以及晶体结构的信息。
三、x-射线粉末衍射的应用1. 材料结构表征x-射线粉末衍射可以用来确定材料的晶胞参数、晶体结构以及晶体内部的原子排列等信息。
这对于材料科学研究和材料工程设计具有重要意义。
通过分析衍射图谱,可以确定材料的晶体结构类型(如立方晶系、单斜晶系等)以及晶格常数的数值。
2. 晶体质量分析x-射线粉末衍射可以用来检测晶体的质量和纯度。
晶体的衍射图谱中,不同晶面的衍射峰对应着不同的衍射角和衍射强度。
通过分析衍射图谱中的峰形、峰宽以及峰强,可以判断晶体的质量和纯度。
如果晶体存在缺陷或杂质,会导致衍射峰的形状和强度发生变化。
3. 相变研究x-射线粉末衍射可以用来研究物质的相变过程。
当物质经历相变时,晶体的晶格参数和晶体结构会发生变化。
通过监测衍射图谱中的衍射角的变化,可以确定相变的温度范围、相变的类型以及相变的机制等信息。
这对于理解物质的相变行为和探索新的相变材料具有重要价值。
4. 晶体定向生长x-射线粉末衍射可以用来研究晶体的定向生长。
在晶体生长过程中,晶体的生长方向和晶面的取向会影响衍射图谱的形貌。
通过分析衍射图谱中的衍射峰的位置和强度,可以确定晶体的生长方向和晶面的取向。
这对于优化晶体生长的条件和控制晶体的生长方向具有指导意义。
五、总结x-射线粉末衍射是一种重要的材料结构表征方法,通过测量衍射角和衍射强度的变化,可以得到材料晶格常数、晶体结构和晶体内部的原子排列等信息。
x射线衍射技术的应用以X射线衍射技术的应用为标题,我们将探讨X射线衍射技术在不同领域的应用。
X射线衍射技术是一种利用X射线在物质中的相互作用进行分析和研究的方法。
该技术已经被广泛应用于材料科学、生物医学、地质学等领域,为我们的科学研究和工程实践提供了重要的支持和突破。
在材料科学领域,X射线衍射技术被用于材料的结构分析和晶体学研究。
通过研究材料的衍射图案,可以获得材料的晶体结构、晶格常数以及晶体中原子的排列方式等信息。
这些信息对于材料的性能和应用具有重要意义。
例如,在材料研发过程中,研究人员可以利用X射线衍射技术来确定新合成材料的晶体结构,从而指导进一步的材料设计和优化。
在生物医学领域,X射线衍射技术被广泛应用于蛋白质结构研究。
蛋白质是生物体中最重要的功能分子之一,其结构与功能密切相关。
通过X射线衍射技术,研究人员可以获得蛋白质的三维结构信息,进而揭示其功能机制。
这对于药物研发、疾病治疗等具有重要意义。
例如,通过研究蛋白质的结构,科学家们可以设计出更加高效的药物分子,提高药物的选择性和疗效。
在地质学领域,X射线衍射技术被广泛应用于矿物成分的分析和研究。
地球是由各种不同的矿物组成的,研究矿物的成分和结构对于地质学家来说是十分重要的。
通过X射线衍射技术,可以准确地确定矿物的成分和晶体结构,从而推断地质过程和环境的演化历史。
例如,在石油勘探中,研究人员可以利用X射线衍射技术来分析地下岩石中的矿物成分,从而判断油气的储集情况和潜在资源量。
除了上述领域,X射线衍射技术还被应用于材料缺陷分析、晶体生长研究、纳米材料表征等领域。
例如,在材料缺陷分析中,通过研究材料的X射线衍射图案,可以检测和定量分析材料中的晶体缺陷,如晶格畸变、晶界、位错等。
这对于材料性能的改进和缺陷修复具有重要意义。
在晶体生长研究中,X射线衍射技术可以用于监测晶体生长动态过程,了解晶体生长机制和控制晶体质量。
在纳米材料表征中,X射线衍射技术可以用于研究纳米材料的晶体结构和尺寸分布,揭示其特殊的物理和化学性质。
X射线衍射技术在材料分析中的应用沈钦伟126406324 应用化学1引言X射线衍射分析法是研究物质的物相和晶体结构的主要方法。
当某物质( 晶体或非晶体)进行衍射分析时,该物质被X射线照射产生不同程度的衍射现象, 物质组成、晶型、分子内成键方式、分子的构型、构象等决定该物质产生特有的衍射图谱。
X射线衍射方法具有不损伤样品、无污染、快捷、测量精度高、能得到有关晶体完整性的大量信息等优点。
因此,X射线衍射分析法作为材料结构和成分分析的一种现代科学方法, 已逐步在各学科研究和生产中广泛应用。
2X射线衍射基本原理X射线同无线电波、可见光、紫外线等一样,本质上都属于电磁波,只是彼此之间占据不同的波长范围而已。
X射线的波长较短, 大约在10-8~10-10cm之间。
X 射线分析仪器上通常使用的X射线源是X射线管,这是一种装有阴阳极的真空封闭管, 在管子两极间加上高电压, 阴极就会发射出高速电子流撞击金属阳极靶,从而产生X射线。
当X射线照射到晶体物质上,由于晶体是由原子规则排列成的晶胞组成,这些规则排列的原子间距离与入射X射线波长有相同数量级,故由不同原子散射的X射线相互干涉,在某些特殊方向上产生强X射线衍射, 衍射线在空间分布的方位和强度,与晶体结构密切相关,不同的晶体物质具有自己独特的衍射花样, 这就是X射线衍射的基本原理。
3 X射线衍射技术在材料分析中的应用由X射线衍射原理可知,物质的X射线衍射花样与物质内部的晶体结构有关。
每种结晶物质都有其特定的结构参数(包括晶体结构类型, 晶胞大小,晶胞中原子、离子或分子的位置和数目等)。
因此,没有两种不同的结晶物质会给出完全相同的衍射花样。
通过分析待测试样的X射线衍射花样,不仅可以知道物质的化学成分,还能知道它们的存在状态,即能知道某元素是以单质存在或者以化合物、混合物及同素异构体存在。
同时,根据X射线衍射试验还可以进行结晶物质的定量分析、晶粒大小的测量和晶粒的取向分析。
目前, X射线衍射技术已经广泛应用于各个领域的材料分析与研究工作中。
3. 1物相鉴定物相鉴定是指确定材料由哪些相组成和确定各组成相的含量,主要包括定性相分析和定量相分析。
每种晶体由于其独特的结构都具有与之相对应的X射线衍射特征谱, 这是X射线衍射物相分析的依据。
将待测样品的衍射图谱和各种已知单相标准物质的衍射图谱对比, 从而确定物质的相组成。
确定相组成后, 根据各相衍射峰的强度正比于该组分含量(需要做吸收校正者除外) ,就可对各种组分进行定量分析。
X射线衍射物相定量分析有内标法外标法、增量法、无标样法和全谱拟合法等常规分析方法。
内标法和增量法等都需要在待测样品中加入参考标相并绘制工作曲线,如果样品含有的物相较多, 谱线复杂,再加入参考标相时会进一步增加谱线的重叠机会,给定量分析带来困难。
无标样法和全谱拟合法虽然不需要配制一系列内标标准物质和绘制标准工作曲线,但需要烦琐的数学计算,其实际应用也受到了一定限制。
外标法虽然不需要在样品中加入参考标相,但需要用纯的待测相物质制作工作曲线, 这也给实际操作带来一定的不便。
吴建鹏等制备了一定比例的SiO2和其他物质的混合物,然后分别采用内标法和外标法测量了混合物中SiO2的含量,并与混合物中SiO2初始配比进行对照,发现各个样品的测量结果和初始配比都是比较接近的,说明这两种测定方法是可以用于待测样品的物相定量分析的。
3. 2点阵参数的测定点阵参数是物质的基本结构参数, 任何一种晶体物质在一定状态下都有一定的点阵参数。
测定点阵参数在研究固态相变、确定固溶体类型、测定固溶体溶解度曲线、测定热膨胀系数等方面都得到了应用。
点阵参数的测定是通过X射线衍射线位置的测定而获得的,通过测定衍射花样中每一条衍射线的位置均可得出一个点阵常数值。
吴建鹏等采用X射线衍射技术测量了不同配比条件下Fe2O3和Cr2O3的固溶体的点阵参数,根据Vegard定律计算出固溶体中某相的固溶度,这种方法虽然存在一定的误差,但对于反映固溶度随工艺参数的变化趋势仍然是非常有效的。
刘晓等通过衍射技术计算出了低碳钢中马氏体的点阵常数,并建立了一个马氏体点阵参数随固溶碳量变化的新经验方程, 他们根据试验数据所获得的回归方程可成为钢中相(过饱和)含碳量的实用的标定办法(特别在低碳范围)。
3. 3微观应力的测定微观应力是指由于形变、相变、多相物质的膨胀等因素引起的存在于材料内各晶粒之间或晶粒之中的微区应力。
当一束X射线入射到具有微观应力的样品上时, 由于微观区域应力取向不同, 各晶粒的晶面间距产生了不同的应变, 即在某些晶粒中晶面间距扩张, 而在另一些晶粒中晶面间距压缩,结果使其衍射线并不像宏观内应力所影响的那样单一地向某一方向位移, 而是在各方向上都平均地作了一些位移, 总的效应是导致衍射线漫散宽化。
材料的微观残余应力是引起衍射线线形宽化的主要原因, 因此衍射线的半高宽即衍射线最大强度一半处的宽度是描述微观残余应力的基本参数。
钱桦等在利用X射线衍射研究淬火65Mn钢回火残余应力时发现:半高宽的变化与回火时间、温度密切相关。
与硬度变化规律相似, 半高宽也是随着回火时间的延长和回火温度的升高呈现单调下降的趋势。
因此,X射线衍射中半高宽,回火时间,温度曲线可以用于回火过程中残余应力消除情况的判定。
3. 4宏观应力的测定在材料部件宏观尺度范围内存在的内应力分布在它的各个部分,相互间保持平衡,这种内应力称为宏观应力,宏观应力的存在使部件内部的晶面间距发生改变,所以可以借助X射线衍射方法来测定材料部件中的应力.按照布拉格定律可知,在一定波长辐射发生衍射的条件下, 晶面间距的变化导致衍射角的变化,测定衍射角的变化即可算出宏观应变, 因而可进一步计算得到应力大小.总之,X射线衍射测定应力的原理是以测量衍射线位移作为原始数据,所测得的结果实际上是应变,而应力则是通过虎克定律由应变计算得到。
借助X射线衍射方法来测定试样中宏观应力具有以下优点:(1)不用破坏试样即可测量;(2)可以测量试样上小面积和极薄层内的宏观应力,如果与剥层方法相结合, 还可测量宏观应力在不同深度上的梯度变化;(3)测量结果可靠性高等。
3. 5纳米材料粒径的表征纳米材料的颗粒度与其性能密切相关。
纳米材料由于颗粒细小,极易形成团粒,采用通常的粒度分析仪往往会给出错误的数据。
采用X射线衍射线线宽法( 谢乐法) 可以测定纳米粒子的平均粒径。
顾卓明等采用谢乐法测定了纳米碳酸钙粒子和纳米稀土(主要为CeO2)粒子的平均粒径,测定结果为D CaCO3=39.3nm,D CeO2=11.0nm,另外他们采用透射电镜法测定两种粒子粒径的结果为D CaCO3=40.2nm,D CeO2=12.7nm,两种方法的测量结果比较吻合, 说明谢乐法测定纳米粒子粒径是可信的。
3. 6结晶度的测定结晶度是影响材料性能的重要参数。
在一些情况下,物质结晶相和非晶相的衍射图谱往往会重叠。
结晶度的测定主要是根据结晶相的衍射图谱面积与非晶相图谱面积的比,在测定时必须把晶相、非晶相及背景不相干散射分离开来。
基本公式为:Xc=Ic/(Ic+ KIa)。
式中: Xc 结晶度Ic 晶相散射强度Ia 非晶相散射强度K 单位质量样品中晶相与非晶相散射系数之比。
目前主要的分峰法有几何分峰法、函数分峰法等。
范雄等采用X射线衍射技术测定了高聚物聚丙烯(PP)的结晶度, 利用函数分峰法分离出非晶峰和各个结晶峰, 计算出了不同热处理条件下聚丙烯的结晶度,得出了聚丙烯结晶度与退火时间的规律。
3. 7晶体取向及织构的测定晶体取向的测定又称为单晶定向, 就是找出晶体样品中晶体学取向与样品外坐标系的位向关系。
虽然可以用光学方法等物理方法确定单晶取向, 但X衍射法不仅可以精确地单晶定向, 同时还能得到晶体内部微观结构的信息。
一般用劳埃法单晶定向, 其根据是底片上劳埃斑点转换的极射赤面投影与样品外坐标轴的极射赤面投影之间的位置关系。
透射劳埃法只适用于厚度小且吸收系数小的样品,背射劳埃法就无需特别制备样品, 样品厚度大小等也不受限制, 因而多用此方法。
多晶材料中晶粒取向沿一定方位偏聚的现象称为织构,常见的织构有丝织构和板织构两种类型。
为反映织构的概貌和确定织构指数, 有三种方法描述织构:极图、反极图和三维取向函数, 这三种方法适用于不同的情况。
对于丝织构,要知道其极图形式,只要求出其丝轴指数即可,照相法和衍射仪法是可用的方法。
板织构的极点分布比较复杂, 需要两个指数来表示,且多用衍射仪进行测定。
宓小川采用X射线能谱法测定了金属板材织构,分别获得了IF钢、冷轧电工钢、CuNi15Sn8合金的织构信息, 说明X射线衍射能谱仪在金属板材的织构测定方面具有快速、高效的优点,在材料性能与织构及生产工艺相互关系研究方面有极大的应用价值。
4 X射线衍射的进展4. 1X射线衍射在薄膜材料中的应用人工低维材料的出现是20世纪材料科学发展的重要标志,它所表现出的生命力不仅是因为它不断揭示出深刻的物理内涵,而且更重要的是所发现的新效应不断地被用来开发新的固态器件,对高技术产业产生深远的影响.薄膜就是一种典型的低维材料.薄膜的成分、厚度、应力分布以及表面和界面状态等都会直接影响材料和器件的性能,需要在原子尺度上对材料微结构品质进行评估.除了上述六种X射线衍射的应用适用于薄膜材料分析之外,X射线衍射还可以对薄膜材料作如下分析:厚度是膜层的基本参数.厚度的测量和控制始终是气相沉积薄膜研究和生产中的主要问题之一.由于厚度会产生三种效应:衍射强度随厚度而变,膜愈薄散射体积愈小;散射将显示干涉条纹,条纹的周期与层厚度有关;衍射线随着膜厚度降低而宽化, 因此可从衍射强度、线形分析和干涉条纹来实现薄膜厚度的测定.用X射线仪测量单层膜的小角X衍射线。
由两种材料交替沉积形成的纳米多层膜具有成分周期性变化的调制结构,入射X射线满足布拉格条件时就可能像晶体材料一样发生相干衍射.由于纳米多层膜的成分调制周期远大于晶体材料的晶面间距,其衍射峰产生于小角度区间.小角度X射线衍射被广泛用来测量纳米多层膜的周期数.因此,不论是薄膜厚度还是多层膜的周期数都可以通过X射线衍射测得。
X射线掠入射衍射(grazing incident diffraction, GID)或散射方法的最大优点在于对表面和界面内原子位移十分敏感,可以通过调节X射线的掠入射角来调整X 射线的穿透深度,从而用来研究表面或表层不同深度处的结构分布,如表面单原子的吸附层、表面粗糙度、密度,膜层次序,表面下约1000A深度的界面结构以及表面非晶层的结构等。
4.2由多晶材料得到类单晶衍射数据确定一个晶态材料晶体结构最有力的手段是进行单晶X射线衍射,通常要求单晶的粒径在0.1~1mm之间,但是合乎单晶结构分析用的单晶有时难以获得,且所发现的新材料通常是先获得多晶样品,因此,仅仅依靠单晶衍射进行结构测定显然不能适应新材料研究快速发展的状况.为加速研究工作的进展,以及对复合材料和纳米材料等的结构研究, 都只能在多晶材料下进行研究和测定其晶体结构,因此,X射线粉末衍射法在表征物质的晶体结构,提供结构信息方面具有极其重要的意义和实际应用价值。