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碳化硅材料特性及其应用浅析作者：王增泽来源：《新材料产业》2018年第01期一、碳化硅单晶特性以碳化硅（SiC）、氮化镓（GaN）为代表的宽禁带半导体材料，被称为第3代半导体材料。
与第1代、第2代半导体材料相比较，SiC具有高热导率、高击穿场强、高饱和电子漂移速率和高键合能等优点[1]。
SiC是目前发展最为成熟的宽禁带半导体材料之一，SiC在工作温度、抗辐射、耐击穿电压等性能方面具有明显的优势，其良好的性能可以满足现代电子技术的新要求，因此SiC被认为是半导体材料中最具有前途的材料之一[2]。
SiC由于与GaN的晶格常数及热膨胀系数相近（见表1），因此成为制造高端异质外延器件，如高电子迁移率晶体管（HEMT）、激光二极管（LDs）、发光二极管（LEDs）的理想衬底材料。
由于SiC材料拥有这些优异特性，许多国家相继投入了大量的资金对SiC进行了广泛深入的研究。
美国在20世纪末制订的“国防与科学计划”中就提出了关于宽禁带半导体的发展目标。
到2014年，美国联邦和地方政府提出全力支持以SiC半导体为代表的第3代宽禁带半导体，将拨款1.4亿美元用于提升美国在该新兴产业方面的国际竞争力。
近几年日本也有许多的动作，成立了新能源及工业技术发展组织，该组织发布了一系列基于SiC材料与器件的国家计划，主要发展高能量、高速度、高功率的开关器件。
我国在“十一五”重大专项“核高基”中也提出与国际同步开展宽禁带半导体功率器件研究，其中SiC单晶生长技术突破是最关键的。
SiC晶体的基本结构单元是Si-C四面体，如图1所示，原子间通过四面体SP3杂化结合在一起，并且有一定的极化。
目前，已发现的SiC晶型共有200多种，常见的晶型主要有3C、4H、6H及15R-SiC。
其中3C-SiC是立方结构，Si-C双原子层沿着[111]方向按照ABCABC……密堆方式排列；6H和4H-SiC均为六方结构，沿着[0001]方向堆垛，在[1120]投影方向，6H的排列次序为ABCACB……；4H的排列次序为ABCB……。
第三代半导体分类第三代半导体是指在半导体材料和器件方面的新一代技术。
与第一代和第二代半导体相比，第三代半导体具有更高的性能和更广泛的应用领域。
本文将从材料和器件两个方面介绍第三代半导体的分类。
一、材料分类第三代半导体的材料主要包括氮化硅（GaN）、碳化硅（SiC）和氮化镓（GaN）。
这些材料具有优异的电子特性和热特性，使得第三代半导体在高频、高功率和高温环境下表现出色。
1. 氮化硅（GaN）氮化硅是一种宽禁带半导体材料，具有较高的电子饱和迁移率和较高的击穿电场强度。
它在高频功率放大器、射频开关和LED照明等领域有广泛应用。
2. 碳化硅（SiC）碳化硅是一种宽禁带半导体材料，具有较高的热导率和较高的击穿电场强度。
它在功率电子器件、高温电子器件和光电子器件等领域有广泛应用。
3. 氮化镓（GaN）氮化镓是一种窄禁带半导体材料，具有较高的电子迁移率和较高的饱和漂移速度。
它在高频功率放大器、射频开关和蓝光LED等领域有广泛应用。
二、器件分类第三代半导体的器件主要包括高电子迁移率晶体管（HEMT）、功率二极管和蓝光LED。
这些器件利用第三代半导体材料的优异特性，实现了更高的性能和更广泛的应用。
1. 高电子迁移率晶体管（HEMT）高电子迁移率晶体管是一种基于第三代半导体材料的场效应晶体管。
它具有较高的电子迁移率和较低的漏电流，适用于高频功率放大器和射频开关等领域。
2. 功率二极管功率二极管是一种基于第三代半导体材料的二极管。
它具有较高的击穿电压和较低的导通电阻，适用于功率电子器件和高温电子器件等领域。
3. 蓝光LED蓝光LED是一种基于第三代半导体材料的发光二极管。
它具有较高的发光效率和较长的寿命，适用于照明和显示等领域。
总结：第三代半导体是一种具有高性能和广泛应用领域的新一代半导体技术。
通过不同的材料和器件设计，第三代半导体实现了在高频、高功率和高温环境下的优异表现。
随着技术的不断发展，第三代半导体将在各个领域展现出更大的潜力和应用前景。
第三代半导体芯片主要是指基于宽禁带半导体材料的芯片，这些材料具有较高的击穿电压、热稳定性和电子迁移率。
与传统的硅基半导体相比，第三代半导体在高温、高电压和高功率应用中表现出更好的性能。
第三代半导体芯片的主要原料包括：
1. 碳化硅（SiC）：碳化硅是一种典型的宽禁带半导体材料，具有高击穿电压、高热导率和低电子迁移率的特点。
碳化硅芯片适用于高功率和高温的应用，如电动汽车、可再生能源和工业自动化。
2. 氮化镓（GaN）：氮化镓同样是一种宽禁带半导体材料，具有更高的电子迁移率和更低的电阻率。
氮化镓芯片适用于高效率的电力电子转换和高速通信系统。
3. 氧化镓（Ga2O3）：氧化镓是另一种宽禁带半导体材料，其熔点较高，适用于高功率和高温环境下的应用。
4. 金刚石：虽然金刚石不是宽禁带半导体，但它是一种优秀的导热材料，可以用于散热applications。
这些材料在生产第三代半导体芯片时需要经过严格的加工和处理，包括晶体生长、切割、抛光、蚀刻、掺杂和封装等步骤。
第三代半导体芯片的研究和开发正在不断进展，有望在未来的电子和光电应用中发挥重要作用。
浅析第三代半导体材料 SiC晶体生长设备技术及进展摘要：第三代半导体设备技术，是半导体发展历程中的重要技术，也是当前技术发展的支撑。
本文通过浅析第三代半导体材料，对其晶体生长方式进行分析，探究SiC晶体设备构成。
结合国内外进展情况，为国内SiC晶体设备技术发展提供更科学的技术，意在国内也能研制出更加成熟的生长设备。
保证第三代半导体在更多领域得到科学应用，提升半导体材料的商业价值。
关键词：第三代半导体材料；SiC晶；生长设备技术引言：半导体产业发展历经三代发展，从初代到第三代，发展使用的材料也发生变化。
从原本的硅材料，发展碳化硅。
经过一系列的发展和产业化集成，碳化硅也成为当前半导体制造的重要材料。
相较于半导体以往的材料，碳化硅SiC作为晶体材料有着导热率高、抗辐射等优质性能。
在相关产业有着广泛应用，能够推动新一代移动通信、电网等行业发展，为其提供良好的支撑，是当前优质的信息、能源发展新材料。
一、碳化硅SiC晶体概述碳化硅化学式SiC，也是半导体产业生产制造不可或缺的材料。
对于半导体产业而言，芯片是其发展的重要基石。
而制作芯片需要使用到的核心材料，从以往的硅发展到碳化硅。
碳化硅以自身优质的性能，成为未来应用最广泛的基础材料。
SiC的性质分为物理与化学性质，其中物理性质使得SiC能够达到可以切割宝石的硬度。
并且热导率超过金属铜、GaAs等材料数倍。
SiC自身的热稳定性能较高，常规压力下无法将其熔化[1]。
并且SiC有着极好的散热性，对于功率较大的器件应用有着重要作用；SiC的化学性质能够使其具备强大的抗腐蚀性，常规已知的腐蚀剂无法对SiC产生影响。
SiC表面容易氧化并生成二氧化硅，对SiC产生保护。
只有温度高于1700°C时，这层氧化膜才会出现氧化反应。
SiC的穿电场强度高于Si一个数量级，SiC晶片是经过一系列处理的重要材料，对于半导体芯片制造而言是重要的基础材料。
将其作为半导体衬底材料，能够推动半导体产业更好发展。
第三代半导体材料
第三代半导体材料指的是新型半导体材料，其在半导体器件中具有更高的性能和更广泛的应用领域。
与传统的硅材料相比，第三代半导体材料具有更高的能隙、更高的电子迁移率和更好的光电特性，因而被广泛用于太阳能电池、发光二极管、激光器等领域。
第三代半导体材料之一是氮化镓（GaN），它具有高的热稳定性、高的饱和电流密度和高的耐压能力。
这使得它可以用于制造高功率的激光器和器件。
另外，GaN还可以用于制造蓝光
和白光LED，其具有较高的光效和长寿命。
另外一种第三代半导体材料是碳化硅（SiC），它具有更高的
能隙和更好的热稳定性。
因此，SiC可以用于制造高频、高温
和高功率应用的器件，比如电力电子器件、射频功率放大器等。
此外，磷化铟（InP）也被广泛用作第三代半导体材料，它具
有较高的电子迁移率和较好的光电特性。
因此，InP可以用于
制造高频、高亮度的LED和激光器。
相比于传统的硅材料，第三代半导体材料具有更高的能效、更高的功率密度和更好的性能稳定性。
例如，第三代太阳能电池可以实现更高的光电转换效率，第三代LED可以实现更高的
亮度和更长的寿命，第三代激光器可以实现更高的输出功率和更窄的光谱。
第三代半导体材料的发展对于推动能源转型和促进科技创新具
有重要意义。
它不仅可以提高电子器件的性能，还可以降低能源消耗。
因此，未来的发展方向应当是进一步研发和应用第三代半导体材料，以满足人们对高效能源和高性能电子器件的需求。
第三代半导体材料
第三代半导体材料是指具有较高电子运动性能和导电性的新型材料，通常用于
替代传统的硅材料在电子器件中的应用。
这些材料在电子器件中具有更高的能带宽度和电子迁移率，因此可以实现更高的频率和功耗效率。
第三代半导体材料主要包括氮化镓（GaN）、碳化硅（SiC）和氮化铟（InN）等。
氮化镓（GaN）
氮化镓是一种优良的半导体材料，具有较宽的能隙和高电子迁移率。
它在高功
率电子器件中广泛应用，如射频功率放大器、微波器件和光电子器件等。
氮化镓材料的高电子迁移率和高饱和漂移速度使其成为发展高频率高功率电子器件的理想选择。
碳化硅（SiC）
碳化硅是一种具有优良热导性和耐高温特性的半导体材料。
它被广泛应用于功
率电子器件和光电子器件中，如功率开关、脉冲功率放大器和光伏逆变器等。
碳化硅材料的高击穿电场强度和低导通电阻使其在高功率应用中具有较好的性能表现。
氮化铟（InN）
氮化铟是一种新型的半导体材料，具有较大的载流子迁移率和较高的载流子浓度。
它在光电子器件领域有着广泛的应用，如激光器、光探测器和光伏电池等。
氮化铟材料的优良光电性能使其成为实现高效能源转换和光通信的重要材料之一。
第三代半导体材料的出现为电子器件的性能提升和功能拓展提供了新的可能性，将推动电子科技领域的持续发展和创新。
随着对半导体材料性能要求的不断提高，第三代半导体材料必将在未来的电子设备中发挥越来越重要的作用。
标题：应用场景：SIC功率器件SIC（碳化硅）功率器件是一种新型的半导体功率器件，具有许多优点，如高温稳定性、高频操作能力和低开关损耗等。
由于这些独特的特性，SIC功率器件在许多领域都有广泛的应用。
以下是一些常见的SIC功率器件应用场景：1.工业领域： SIC功率器件在工业领域中的应用非常广泛。
例如，它们可以用于驱动电机和控制电流的变频器。
由于SIC器件具有高温稳定性和高频操作能力，它们在高温和高频环境下可以提供更高的效率和更好的性能。
此外，SIC器件还可以用于工业照明系统和电力传输设备等高功率应用。
2.电动车和混合动力车：由于SIC功率器件具有低开关损耗和高温稳定性，它们在电动车和混合动力车中的应用越来越受到重视。
SIC器件可以提高电动车系统的效率并延长电池寿命。
此外，SIC器件还可以减小电动车的体积和重量，提高整体性能。
3.新能源发电：在新能源发电领域，如风能和太阳能发电中，SIC功率器件也有广泛的应用。
SIC器件可以提高能量转换效率，减少能量损失。
此外，由于SIC器件的高温稳定性，它们可以在高温环境下运行，适应太阳能发电板和风力发电机等设备的工作条件。
4.航空航天和国防领域：在航空航天和国防领域，对高温和高频操作能力的需求非常高。
SIC功率器件可以满足这些需求，并提供更高的性能和可靠性。
它们可以用于飞机和导弹的电力系统，提供更高的功率密度和更好的热管理。
5.医疗设备： SIC功率器件还可以在医疗设备中得到应用。
例如，它们可以用于高频电切和电凝手术仪器，提供更高的精确性和效率。
此外，SIC器件还可以用于医疗成像设备和激光治疗系统等高功率应用。
总结： SIC功率器件在工业、电动车、新能源发电、航空航天和国防、医疗设备等领域都有广泛的应用。
它们的高温稳定性、高频操作能力和低开关损耗等特点使其成为许多应用场景的理想选择。
随着技术的不断发展，SIC功率器件的应用前景将继续扩大。
第三代半导体封装技术随着科技的发展，半导体技术在各个领域都得到了广泛的应用。
而半导体封装技术作为半导体产业链的重要环节，也在不断地进行创新和进步。
第三代半导体封装技术作为最新的封装技术，具有独特的优势和前景。
本文将从材料、工艺和应用等方面介绍第三代半导体封装技术的特点和发展趋势。
第三代半导体封装技术使用了新型的材料，如氮化镓（GaN）、碳化硅（SiC）等。
与传统的硅材料相比，这些新材料具有更高的热导率和更好的电学特性，能够在更高的温度和功率条件下工作。
而且，这些材料的能带结构和晶格匹配性也更好，可以提高器件的性能和可靠性。
因此，第三代半导体封装技术可以实现更高的功率密度和更小的尺寸，适用于高性能和高可靠性的应用场景。
第三代半导体封装技术采用了先进的工艺方法，如3D封装和多芯片封装等。
3D封装可以将多个芯片垂直堆叠在一起，减小封装的体积和重量，提高系统的集成度和性能。
而多芯片封装则可以将不同功能的芯片集成在一个封装器件中，实现更高的功能密度和更低的功耗。
此外，第三代半导体封装技术还可以提供更好的散热和抗干扰性能，提高系统的可靠性和稳定性。
第三，第三代半导体封装技术在各个领域都有广泛的应用。
在通信领域，第三代半导体封装技术可以实现更高的频率和更快的数据传输速度，支持5G通信和高速光纤通信等应用。
在汽车电子领域，第三代半导体封装技术可以实现更高的功率密度和更好的抗振动性能，适用于电动汽车和自动驾驶等应用。
在工业控制和医疗设备领域，第三代半导体封装技术可以实现更高的可靠性和更小的尺寸，满足高要求的工作环境和医疗设备的需求。
第三代半导体封装技术具有独特的材料、工艺和应用优势，将在未来的半导体封装领域发挥重要作用。
随着半导体技术的不断进步和创新，第三代半导体封装技术将会得到更广泛的应用和推广。
我们期待着第三代半导体封装技术在各个领域的突破和发展，为人类社会的进步和发展做出更大的贡献。
第三代功率半导体器件是指采用宽禁带半导体材料制成的高性能电力电子器件，其工作频率高、耐高温、损耗低、开关速度快，具有显著优于传统硅基半导体的优势。
这类半导体材料主要包括碳化硅（Silicon Carbide, SiC）和氮化镓（Gallium Nitride, GaN）。
- 碳化硅（SiC）：拥有3.2 eV以上的禁带宽度，远高于硅的1.1 eV，因此在高温下性能更稳定，能够承受更高的电压和更大的电流密度，并且导通电阻小，开关损耗低，适合用于高压大功率设备，如电动汽车充电系统、光伏逆变器、工业驱动器等。
- 氮化镓（GaN）：禁带宽度为3.4 eV左右，与SiC相似，也属于宽带隙半导体。
GaN器件尤其在高频应用领域表现突出，可实现更高的工作频率和更快的开关速度，适用于电源转换器、射频通信、数据中心电源以及无线充电等领域。
第三代半导体器件的应用极大地提升了电力电子系统的效率和功率密度，对于节能减排和绿色能源的发展起到关键推动作用。
同时，它们还在军事、航空航天等领域有着广阔的应用前景。
第三代半导体面-SiC(碳化硅)器件及其应用作为一种新型的半导体材料，SiC以其优良的物理化学特性和电特性成为制造短波长光电子器件、高温器件、抗辐照器件和大功率／高额电子器件最重要的半导体材料．特别是在极端条件和恶劣条件下应用时，SiC器件的特性远远超过了Si器件和GaAs器件．因此，SiC器件和各类传感器已逐步成为关键器件之一，发挥着越来超重要的作用．从20世纪80年代起，特别是1989年第一种SiC衬底圆片进入市场以来，SiC器件和电路获得了快速的发展．在某些领域，如发光二极管、高频大功率和高电压器件等，SiC器件已经得到较广泛的商业应用．发展迅速．经过近10年的发展，目前SiC器件工艺已经可以制造商用器件．以Cree为代表的一批公司已经开始提供SiC器件的商业产品．国内的研究所和高校在SiC材料生长和器件制造工艺方面也取得厂可喜的成果．虽然SiC材料具有非常优越的物理化学特性，而且SiC器件工艺也不断成熟，然而目前SiC器件和电路的性能不够优越．除了SiC材料和器件工艺需要不断提高外．更多的努力应该放在如何通过优化S5C器件结构或者提出新型的器件结构以发挥SiC材料的优势方面．1 SiC分立器件的研究现状目前．SiC器件的研究主要以分立器件为主．对于每一种器件结构，共最初的研究部是将相应的Si或者GaAs器件结构简单地移植到SiC上，而没有进行器件结构的优化．由于SiC的本征氧化层和Si相同，均为SiO2，这意味着大多数Si器件特别是M帕型器件都能够在Si C上制造出来．尽管只是简单的移植，可是得到的一些器件已经获得了令人满意的结果，而且部分器件已经进入厂市场．SiC光电器件，尤其是蓝光发光二极管在20世纪90年代初期已经进入市场，它是第一种大批量商业生产的SiC器件．日前高电压SiC肖特基二极管、SiC射频功率晶体管以及SiC M OSFET和MESFET等也已经有商业产品．当然所有这些SiC产品的性能还远没有发挥SiC 材料的超强特性，更强功能和性能的SiC器件还有待研究与开发．这种简单的移植往往不能完全发挥SiC材料的优势．即使在SiC器件的一些优势领域．最初制造出来的SiC器件有些还不能和相应的Si或者CaAs器件的性能相比．为了能够更好地将SiC材料特性的优势转化为SiC器件的优势，目前正在研究如何对器件的制造工艺与器件结构进行优化或者开发新结构和新工艺以提高SiC器件的功能和性能．1．1 SiC肖特基二极管肖特基二极管在高速集成电路、微波技术等许多领域有重要的应用．由于肖特基二极管的制造工艺相对比较简单，所以对SiC肖特基二极管的研究较为成熟．普渡大学最近制造出了阻断电压高达4．9kV的4H-SiC肖特基二极管，特征导通电阻为43mΩ?c㎡，这是目前SiC 肖特基二极管的最高水平．通常限制肖特基二极管阻断电压的主要因素是金—半肖特基接触边沿处的电场集中．所以提高肖特基二极管阻断电压的主要方法就是采用不同的边沿阻断结构以减弱边沿处的电场集中．最常采用的边沿阻断结构有3种：深槽阻断、介质阻断和pn结阻断．普放大学采用的方法是硼注入pn结阻断结构，所选用的肖特基接触金属有Ni，Ti．2000年4月Cree和K ansai联合研制出一只击穿电压高达12．3kV的SiC整流器，主要采用了新的外延工艺和改进的器件设计．该器件具有很低的导通电阻，正向导通电压只有4.9 V ,电流密度高，可以达到100A／c㎡，是同类Si器件的5倍多.1.2 SiC功率器件由于SIC的击穿电场强度大约为Si的8倍．所以SiC功率器件的特征导通电阻可以做得小到相应Si器件的1/400．常见的功率器件有功率MOSFET、IGBT以及多种MOS控制闸流管等．为了提高器件阻断电压和降低导通电阻，许多优化的器件结构已经被使用．表1给出了已报道的最好的SiC功率MOSFET器件的性能数据Si功率MOSFET的功率优值的理论极限大约为5MW／㎡．除了横向DM0SFET因为特征导通电阻较高而使得优值较小外，其他Si C功率器件的功率优值均大于Si功率MOSFET器件的理论极限，特别是普渡大学制造的U MOS累积型FET的大功率优值是Si极限值的25倍．1．3 SiC开关器件到目前为止，SzC开关器件，无论是MOSFETs还是半导体闸流管，通常都是采用纵向器件结构，用衬底作为阴极．关态时，电压被一个反偏的pn结阻断．为了获得更高阻断电压，该pn的一边即“漂移区”很厚，而且掺杂浓度要低，所以纵向SiC功率开关器件的阻断电压主要依赖于漂移区的掺杂浓度和厚度．漂移区厚度一定时，不管掺杂浓度如何，总存在一个最大可能的阻断电压．然而至今，所能获得的SiC外延层的厚度最大只有10μm这就决定了最大可能的阻断电压大约为1600V．有效克服这一限制的方法就是改变器件的结构，即采用横向器件结构．普渡大学已经采用横向器件结构制造出了横向DMOSFETs．首先在绝缘4H —SiC讨底上外延n型SiC，然后在外延层上制造器件．显然，横向器件结构的最大阻断电压不受外延层厚度的限制，采用这种结构已经制造出了阻断电压高达2．6kV的LDMOSFET s．然而目前的横向LDMOSFET的特征导通电阻还比较高，这主要是因为当用横向结构代替纵向结构时．所需的器件面积将会增大．如果能够把减小表面电场概念和器件设计结合起来，那么导通电阻能够做得比相应的纵向器件还低．1．4 SiC微波S件SiC的高饱和漂移速度、高击穿场强和高热导率特性使得SiC成为1--10GHz范围的大功率微波放大器的理想材料．短沟道SiC MESFETs的特征频率已经达到22GHz．最高指荡频率f可以达到50GHz．静电感应晶体管(SITs)在600MHz时功率可以达到470W(功率密度为1．3 6W／mm)，3GHz时功率为38W(1．2W／mm)．由于SiC的热导率很高(GaAs的]0倍，G aN的3倍)，工作产生的热量可以很快地从衬底散发．通过改进器件结构，SiC SITs的特征频率目前可以达到7GHz．最近普渡大学在半绝缘4H—SiC上制造出了一种亚微米T型栅M ESFETs，饱和漏电流为350mA／mm，跨导为20m5／mm，漏击穿电压为120V，最大可获得的射频功率密度为3．2W／mm．1. 5 SiC器件的高温特性SiC器件在300°C以上高温条件下的工作特性也被大量研究，NASA制造的6H—SiC掩埋栅JE2T在600°C高温下表现出很好的低泄漏开关特性．然而，该器件在此高温下只工作了3 0个小时，器件发生了很小的退化，退化原因是接触金屑的氧化．但是当SiC器件在惰性气体环境中工作，在600°C高温下寿命要长得多．只要改善工艺控制的精确性并解决好接触金属和封装问题，SiC器件的高温寿命就会大大提高.2 SiC集成电路的研究现状与S1C分立器件追求高电压、大功率、高频以及高温特性不同，SiC集成电路的研究目标主要是获得高温数字电路，用于智能功率ICs的控制电路．由于SiC集成电路工作对内部电场很低，所以微管缺陷的影响将大大减弱，这可以从第一片单片SiC集成运算放大器芯片得到验证，实际成品宰远远高于微管缺陷所决定的成品率，因此，基于SiC的成品率模型与Si 和CaAs材料是明显不同的．该芯片是基于耗尽型NMOSFET技术．主要是因为反型沟道Si C MOSFETs的有效载流子迁移率太低．为了提高Sic的表面迁移率，就需要对SiC的热氧化工艺进行改进与优化．美国普渡大学在SiC集成电路方面做了大量工作．1992年研制成功厂基于反型沟道6H—Si C NMOSFETs单片数字集成电路．该芯片包含与非门、或非门、同或门、二进制计数器和半加器电路，在25°C到300°C的温度范围内均可正常工作．1995年采用钒注入隔离技术制造出第一个SiC平面MESFET Ics通过精确控制钒的注入量，可以获得绝缘SiC．在数字逻辑电路中，CMOS电路比NMOS电路具有更大的吸引力．1996年9月制造出第一片6H—SiC CMOS数字集成电路．该器件使用了注入n阶和淀积氧化层，但是由于其他的工艺问题，该芯片中PMOSFETs的阂值电压太高．在1997年3月制造第二代SiC CMOS电路时．采用了注入p阱和热生长氧化层工艺．通过工艺改进得到的PMOSEFTs的阂值电压大约为-4．5v．该芯片上所有的电路都能在室温到300°C范围内很好地工作，采用单一电源供电，电源电压可以为5--15V之间的任意电压．随着衬底圆片质量的提高，将能制造出功能更强和成品率更高的集成电路．然而，当SiC材料和工艺问题基本解决以后，器件和封装的可靠性问题将上升为影响高温SiC集成电路性能的主要因素.3 SiC器件的应用现状SiC器件在高温、高频、大功率、高电压光电子及抗辐照等方面具有巨大的应用潜力．3．1 SiC器件在高温环境中的应用在航空航天和汽车设备中，电子器件经常要在高温下工作，如飞机发动机、汽车发动机、在太阳附近执行任务的航天器以及卫星中的高温设备等．使用通常的Si或者GaAs器件，因为它们不能在很高的温度下工作，所以必须把这些器件放在低温环境中，这里有两种处理方法：一种是把这些器件放在远离高温的地方，然后通过引线和连接器将它们和所需控制的设备连接起来；另一种是把这些器件放在冷却盒中，然后放在高温环境下．很明显，这两种方法都会增加额外的设备，增加了系统的质量，减小了系统可用的空间，使得系统的可靠性变差．如果直接使用可以在高温下工作的器件，将可以消除这些问题．SIC器件可以直接工作在3M —枷Y，而不用对高温环境进行冷却处理．SiC电子产品和传感器能够被安装在炽热的飞机发动机内部和其表面上，在这种极端工作条件下它们仍然能够正常发挥功能，大大减轻了系统总质量并提高可靠性．基于SiC器件的分布控制系统可以消除在传统的电子屏蔽控制系统中所用引线和连接器的90％．这一点极为重要，因为在当今的商用飞机中、引线和连接器问题是在停工检修时最经常遇到的问题．根据美国空军的评估，在F—16战斗机中使用先进的SiC电子产品，将使该飞机的质量减轻几百公斤，工作性能和燃料效率得到提高，工作可靠性更高，维护费用和停工检修期大大减少．同样，SiC电子器件和传感器也可以提高商用喷气客机的性能，据报测对每架客机附加的经济利润可以达到数百万美元．同样，SiC高温电子传感器和电子设备在汽车发动机上的使用将能做到更好的燃烧监控与控制，可以使汽车的燃烧更清洁、效率更高．而且，SiC发动机电子控制系统在125°C以上也能很好地工作，这就减少了发动机隔箱内的引线和连接器的数量，提高汽车控制系统的长期可靠性．现在的商用卫星需要散热器去驱散航天器电子器件所产生的热量，并且需要防护罩来保护航天器电子器件免受空间辐射的影响．由于SiC电子器件不但可以在高温下工作，而且具有很强的抗幅照特性，所以SiC电子器件在航天器上的使用能够减少引线和连接器的数量以及辐射防护罩的大小和质量．如果发射卫星到地球轨道的成本是以质量计，那么使用SiC电子器件减轻的质量可以提高卫星工业的经济性和竞争力．使用高温抗辐照SiC器件的航天器可以用来执行太阳系周围的更具挑战性的任务．将来，当人们在太阳周围和太阳系内行星的表面执行任务时，具有优良高温和抗辐射特性的SiC电子器件将发挥关键性的作用、对于在太阳附近工作的航天器来讲，SiC电子器件的使用可以减少航天器的防护和散热设备，于是在每一个运载工具中可以安装更多的科学仪器．3．2 SiC器件的微波应用SiC器件除了可以在高温下工作以外，还具有很多优良的微波特性。
